可靠度测试规范

1、 第1页 共24页 版本修订历史记录 版本号 修订内容 修订者 修订时间 A/0 首次制作 闵新云 2011-7-11 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 起草: 审核: 批准: 日期: 日期: 日期: THINWIL THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第2页 共24页 1目的： . 3 2编制依据： . 3 3执行原则： . 4 4 .适用范围： . 4 5. 术语、定义: 4 6. 主要职责： . 4 7. 可靠性测试程序 ： . 5 7.1加速寿命测试 ALT :

2、 . 5 7.1.1 室温下参数测试 ( Parametric Test) . 5 7.1.2 温度冲击测试(Thermal Shock) . 5 7.1.3 跌落试验(Drop Test) . 7 7.1.4 振动试验( Vibration Test) . 7 7.1.5 湿热试验( Humidity ) . 8 7.1.6静电测试(ESD) . 9 7.1.7 室温下参数测试( Parametric Test) . 9 7.2. 气候适应性测试(Climatic Stress Test) . 10 7.2.1 低温动作测试( Low Temp. Operating ) . 10 7.2.2

3、 高温动作测试( High Temp. Operating ) . 11 7.2.3 低温放置 (Low Temp. Exposure ) . 12 7.2.4 高温放置 ( High Temp. Exposure ) . 12 7.2.5 盐雾测试(Salt fog Test) . 13 7.3. 结构耐久测试 ( Mechanical Endurance Test) . 13 7.3.1 翻盖寿命测试(Flip Life Test ) . 14 7.3.2 滑盖寿命测试(Slide Life Test) . 15 7.3.3 翻盖旋转测试(Flip Rotation Life Test )

4、 . 15 7.3.4 按键/侧键测试(Keypad Test) . 16 7.3.5 重复跌落测试( Micro-Drop Test ) . 17 7.3.6 耳机插拔测试(Headset Test) . 17 7.3.7 笔插拔测试(Stylus Test) . 18 7.3.8充电器插拔测试 ( Charger Test) . 18 7.3.9 电池/电池盖拆装测试(Battery/Battery Cover Test) . 19 7.3.10 触摸屏点击测试(Touch Panel Point Activation Life Test ) . 19 7.3.11 触摸屏划线测试(Tou

5、ch Panel Lineation Life Test ) . 20 7.3.12 SIM Card 拆装测试(SIM Card Test) . 20 7.4 表面装饰测试 ( Decorative Surface Test) . 21 7.4.1 磨擦测试(Abrasion Test -RCA ) . 21 7.4.2 附着力测试( Coating Adhesion Test) . 21 7.4.3 硬度测试(Hardness TesD . 22 7.5.特殊条件测试(Special Stress Tes。 . 22 7.5.1 低温充电实验( Low Temperature Charge

6、 Test) . 23 7.5.2 高温充电实验( High Temperature Charge Test) . 23 8最终检验： . 24 9判定标准： . 24 THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第3页 共24页 10送样标准： . 24 1目的: 作为产品质量保证系统一部分，可靠性测试标准将力求达到以下目标： 根据相关测试标准，在特定的可接受的环境下对产品、部件施加特定的测试方法，通过不断 的催化产品、部件的寿命和疲劳度，以评估并提高其质量和可靠性； 根据相关测试标准，模拟各种高于客观实际的环境条件，对产品、部

7、件进行全面的考核，以 确定其整个生命期间的实用性。 规范公司产品可靠性试验（PRT）作业方法 2编制依据: 15 GB/T 2423.18-2000电工电子产品基本殊死搏斗试验规程试验 Ka：盐雾试验方法 16 GB/T 2423.44-1995电工电子产品环境试验第 2部分：实验方法 试验Eg：撞击 弹簧锤 17 GB4943-2001信息技术设备的安全 18 GB/T 17626.2-1998电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 19 IEC 60068-2-14:1984 Basic Environmental Testing Procedures: Change of Temp

8、erature 20 IEC 68-2-52:1996 Environmental Testing -Test KB: Salt Mist 21 IEC 68-2-30:1980 Basic Environmental Testing Procedures: Damp heat 22 IEC 60068-2-1:1990 Environmental Testing Part 2: Tests - Test A: cold 23 IEC 60068-2-2:1974 Basic Environmental Testing Procedures: Part 2 Test B: Dry heat 2

9、4 IEC 31000-4-2:2001 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement Techniques - Electrostatic discharge immunity test 26 IEC 68-2-68 Environmental Testing Part 2: Tests - L: Dust and sand 28 IEC 68-2-18/IEC529 Environmental testing - part 2-18: tests - test R and guidance:

10、water 29 IEC 68-2-70:1995 Environmental testing - Part 2: Tests test Xb: Abrasion of marking and letterings caused by rubbing of fingers and hands 30 IEC 68-2-9:1975 Procedure B: salt fog 32 ISO 1518 33 D/T 1215-2002 GSM9001/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务 (GPRS)设备测试方法：移动台1 GB/T 2421-1999电工电子产品环境试验第一

11、部分：总则 2 GB/T 15844.2-1995移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法 3 GB/T 15844.3-1995移动通信调频无线电话机可靠性要求及实验方法 4 GB 15842-1995移动通信设备安全要求和试验方法 5 GB/T 15844.4-1995移动通信调频无线电话机质量评定规则 6 GB/T 2422-1995电工电子产品环境试验术语 7 GB/T 3187-94可靠性、维修性术语 8 GB/T 4796-2001电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级 9 GB/T 2423.1-2001电工电子产品环境试验第 10 GB/T 2423.1-2001电工电子产品

12、环境试验第 11 GB/T 423.22-2002电工电子产品环境试验第 12 GB/T 2423.1-2001电工电子产品环境试验第 13 GB/T 2423.10-1995电工电子产品环境试验第 14 GB/T 2423.3-93电工电子产品基本环境试验 1部分： 2部分 2部分 部分 实验方法 实验方法 实验方法 实验方法 2部分：实验方法 试验Ca：恒定湿热试验方法 试验A :低温 试验B:周温 试验N :温度变化 试验Ed:自由跌落 试验Fc和导则：振动 THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第4页 共24页 34

13、 D 1032-2000 GSM9001/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测 量方法第一部分：移动台及其设备 35信息产业部科技司-移动电话机入网检验细则， 2000年10月发布 3执行原则： 该标准被纳入公司产品质量保证体系，作为手持式移动通讯产品质量保证的重要组成部分, 要求严格执行并遵守此标准。 4 .适用范围： 本标准适用于自颁布之日后 KICK OFF的新产品。 本标准主要用于进行产品试产后整机的入网预测试和产品可靠性验证，以便于对供应商进行 认证或用于产品分析。 根据研发部门的要求，本标准亦适用于提供相应的测试环境对一些部件进行可靠性测试。 5. 术语

14、、定义： PRT-Product Reliability Test ESD-Electro-static discharge ALT-Accelerated Life Test SE-Stage Evaluation PQ-Parts Qualification TDMA-Time Division Multiple Access GSM-Global System for Mobile Communications GPRS-General Package Radio Service 6. 主要职责： 1. 可靠性测试技术员 1.1产品可靠性具体测试项目的执行、跟踪。 1.2按时完成测试任务

15、。 1.3测试原始数据的归档整理。 1.4参与测试仪器/设备的日常维护和开发。 1.5实验室数据/文件的管理。 2. 可靠性测试工程师 2.1定义项目/产品可靠性测试计划。 2.2完成、跟踪项目/产品可靠性测试测试结果。 2.3参与产品可靠性测试问题的分析及改进。 2.4提供制订/修订可靠性测试程序及标准建议。 2.5参与测试设备/仪器的日常管理、维护。 2.6参与产品可靠性新测试项目开发。 2.7参与可靠性测试设备/仪器的开发。 2.8完成新员工测试培训工作。 产品可靠性测试 静电放电 加速寿命测试 阶段性评估 单项/器件评估测试 时分多址 全球移动通信系统 通用无线分组业务 2.9汇总项目

16、实验结果（数据）。 THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第5页 共24页 7.可靠性测试程序： 7.1加速寿命测试ALT : 样机标准数量：5台 试验周期：7天 测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露生命周期的潜在问题。 测试用所有样机须保证设计功能，射频参数正常，外观及结构符合试产级或整机验收标 准。开始测试前，样机需要进行射频参数测试，此数据将被保留便于与以后所测参数对 比。 试验流程：见下图，其中 Thermal Shock和1st Drop测试的时间间隔应不超过 4小时; Temp/Humi

17、dity和2nd Drop测试时间间隔应不超过 4小时。 7.1.1室温下参数测试(Parametric Test) 测试环境：室温(20-25 C) 测试目的：测试预检查 测试标准：GSM11.10、IS98D 测试设备：综测仪 测试方法：使用测试仪，针对不同产品选择 GSM/DCS /GPRS等测试项目列表(下同)对所有样 品进行参数指标预测试并保存测试结果。 检验标准：所有附件中参数指标正常，功能正常。 7.1.2 温度冲击测试(Thermal Shock) 测试环境：低温-40 C，高温70 C 测试目的：验证样机高低温冲击下的材料性能，结构配合、装配、制成工艺等可靠性 测试标准：GB

18、/T 242423.22-2002; IEC 60068-2-14:1984 测试设备 测试检查项目： 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第6页 共24页 温度冲击箱 1) 2) 3) 4) 功能测试： 电、蓝牙、 结构测显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 卡以及其它未描述到的功能。 结构件配合、天线、 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。 拨打电话、 MINI SD 壳体配合、 喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。 内存中存入 5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 THINWIL

19、测试方法： 1） 样机中预存入5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为当前日期时间。 2） 手机中装入充满电的电池，不插测试卡，设置为关机状态放进高低温冲击箱内。 3） 样机置于70C高温箱内持续60分钟后，在15钞内迅速移入-40C低温冲击箱并持续60分钟 后，再在15秒内迅速回到高温箱。此为一个循环（一个循环用时 2个小时），共循环24次。 （测试曲线如图） 4） 实验结束后将样机从温度冲击箱中取出，在室温（ 能及内存检查。 5） 对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置；对于滑盖手机，应一半样品滑开到上限位置。 检验标准：样机外观、结构功能和内存符合要求。 1） 功能检查：拨打电话、显示

20、、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常。 2） 结构检查：结构无异常。转轴无异响、弹性正常、开合角度无变化、无松动或变紧；壳体无翘 起、脱落以及其他与测试前状态不一致的现象。 3） 外观检查：样机外面无异常。表面喷涂、丝印、电镀无气泡、褶皱、裂纹、起皮、脱落；装饰 件无翘起、脱落以及其他与测试前状态不一致的现象。 4） 样品内存：时钟无异常（内存无丢失；时钟无混舌L、复位、超前、滞后等） THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第7页 共24页 7.1.

21、3 跌落试验（Drop Test） 测试环境：室温（20-25 C） 测试目的：暴露因高低温冲击引诱的样品缺陷 参考标准：GB/T2423.8-1995 测试设备：跌落测试机 测试检查项目： 1） 电性能参数测试：对各参数进行测试。 2） 功能测试：拨打电话，显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MicRo SD卡以及其它未描述到的功能。 3） 结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。 20-25 C）恢复2小时后进行外观结构、功 70T 40C 周闱环境 4） 外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观

22、。 5） 内存时钟：样机中存中存入 5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 测试方法： 1） 样机中存中存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 2） 将样机设置为开机插卡状态，对手机进行 6个面四个角1.2m的自由跌落实验，每个面的跌落次 数为2次，每个面跌落面都要对手机的外观、结构、内存、时间和功能进行检查。 3） 跌落顺序为： 直板及翻盖手机：左侧面、背面、右侧面、底面、顶面、正面、左上角、右上角、左下角、左 下角。 滑盖手机：底面、顶面、背面、正面、左侧面、右侧面、左上角、右上角、左下角、左下角。 4）跌落过程中，对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置，一半

23、样品闭合为初始状态；对于 滑盖手机应将一半样品合上滑盖，一半样品将滑盖打开到上限位置。 5） 若样品数量为奇数，则多的一台打开翻盖或滑开滑盖。 6） 测试条件：跌落高度1.2m, 20mm厚的大理石地板。（对于 PDA手机，根据所属公司质量部 门的建议可调整为跌落高度为 1.0m） 测试标准：手机外观、结构、功能及内存时间无异常。 1） 参数测试：与综测仪连接进行参数测试，电性能符合测试要求。 2） 功能检查：能正常拨打电话、显示、振动、 LED、扬声器、受话器、回声、按键、拍照、充电 功能正常以及其它未描述到的功能均无异常。 3） 结构检查：装饰件、logo及cover等无脱落，壳体卡钩无脱

24、出、断裂； LCD无破裂；天线无脱 出、脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂、晃动无异响， Lens无 破裂、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象。 4）外观检查：壳体表面无明显掉漆，无裂纹、破损、冲击痕以及其它与测试前状态不一致的现 象。 5） 样品内存：时钟无异常（内存无丢失、时钟无混乱、复位、超前、滞后等） 6） 备注：电池/电池盖脱落、关机及掉卡等、如重启无异常，不记录为有问题。 7.1.4 振动试验（Vibration Test） 测试环境：室温（20-25 C） 测试目的：用于检测因高低温冲击引诱的样品缺陷 参考标准：GB/T2423.10-1995 测试设备

25、：电动震动系统、综测仪 测试检查项目： 1）电性能参数测试：与综测仪连接进行参数测试，电性能符合测试要求。 THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第8页 共24页 2） 功能测试：拨打电话，显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能。 3） 结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、 Lens、装饰件以及其它未描述到的结构。 4） 外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。 5） 内存时钟：样机中存中存入 5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时

26、间。 测试方法： 1） 样机中存入5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为当前时间日期。 2） 将样品设置为开机插卡的状态，固定在振动台上夹紧。并将振动系统参数设置为振幅： 0.38mm/振频：1030Hz;振幅：0.19mm/振频：3055 Hz。 3） 启动振动系统，1个小时之后取下样品，进行外观结构、内存和功能检查。 4） 以上测试分别针对 X、Y、Z轴进行测试，每个轴振动 1个小时。 5） 在三个轴的振动最终完成之后，半个小时之内进行参数测试。 检验标准： 1） 参数检查：与综测仪连接进行参数测试，各种电性能符合测试要求 2） 功能检查：能正常拨打电话、显示、振动、 LED、扬声器、受

27、话器、Loop、MIC、按键、拍照 等功能正常，充电功能正常 3） 结构检查：无零件松动、脱落、晃动无异响以及其它与测试前状态不一致的现象。 4） 外观检查：外观测试无异常。 5） 内存检查：样品内存、时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱、复位、超前、滞后等） 7.1.5湿热试验（Humidity） 测试环境：40 C, 95%RH 测试目的：验证手机耐高温高湿性能的可靠性 参考标准：GB2423.3-93 IEC 68-2-30 : 1980 测试设备：气候试验箱 测试检查项目： 1） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD

28、卡以及其它未描述到的功能 2） 结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。 3） 外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。 4） 内存时钟：样机中存中存入 5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 测试方法： 1） 将样机装入电池，关机，存入 5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为当前日期时间 2） 设置气候试验箱持续条件为： 40 C, 95%RH 3） 将样品放入气候实验箱持续 48小时 4） 取出样品在室温恢复 2小时后对样品进行检查。 5）对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置，一半样品闭合为初始状态；对于滑盖手机应

29、将 一半样品合上滑盖，一半样品将滑盖打开到上限位置。若样品数量为奇数，则多的一台打开翻 盖或滑开滑盖。 6） 测试时间以试验箱达到所需温湿度条件时开始计算 试验标准： 1） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡等功能无异常以及无其它与测试前状态不一致的功能问题 2） 样品结构测试无异常（粘胶部件、装饰件无开胶、错位，以及无其它与测试前状态不一致的结 构问题） 3） 样品外观测试无异常（壳体、 Lens表面无裂纹、气泡；Lens无被腐蚀现象；金属、电镀壳体 THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文

30、件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第9页 共24页 或装饰件无变色、腐蚀，以及无其它与测试前状态不一致的外观问题） 4）样品内存时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱、复位、超前、滞后等） 7.1.6静电测试（ESD） 测试环境：温度1535C，湿度30%60% 测试目的：测试样机抗静电干扰性能 参考标准：GB/T 17626.2-1998 IEC 61000-4-2:2001 测试设备：静电枪、综测仪 测试检查项目： 1） 电性能参数测试：如果被测试样品为 GSM/DCS ,参照附录一进行参数测试。 2） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充

31、 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 3） 外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。 4） 内存时钟：存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 测试方法： 1） 将样机装入电池，关机，存入 5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为当前日期时间。 2） 将样机放置静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态（样机与绝缘垫边 缘距离至少2英寸） 3） 打开静电枪、综测仪。将手机与综测仪连接，调节放电方式，分别选择 +/-4KV （接触放电）， +/-8KV （空气放电），对手机指定部位放电 10次，每测试一次，同时手机对地放电一次。做完 一个部位的

32、测试，检查手机功能、内存、信号和灵敏度，并观察手机在测试过程中有无死机、 通信链路中断、LCD显示异常、自动关机及其他异常现象。 4）样机应与综测仪建立起呼叫连接的状态下进行各个放电方式、级别和极性的测试，若因软件故 障等无法建立呼叫时可呼“ 112”或拨打“ 1860” / “1001”建立起呼叫。 5） 样机放电点的定义：+/-4KV （接触放电）仅对于样机的金属部件、金属装饰件、金属材料或 有金属性能的涂层，Lens等放电，+/-8KV （空气放电）对于样机经常被直接接触到的有缝隙的 地方，如按键、侧键、天线、转轴处空气放电前，支队所有的塞子如充电器耳机塞子等。如果 不能确认所测试部分应

33、该采取什么样的放电方式，请和有关部门联系。 6） 样机放置方式：对于折叠手机，打开手机，显示屏面向上；侧面测试时，应将侧面向上；背面 放电时，应将手机背面向上；对于直板手机，背面放电时将 LCD面向下。滑盖手机参照直板手 机，但须进行打开和不打开滑盖两种方式测试。 试验标准： 1） 性能要求：放电过程中，不允许有屏闪、屏抖、黑线、横纹、竖纹，屏无显示、变暗、变黑、 重新启动，关机通讯链路断等，以及其它未描述到的异常现象发生。 2） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡无异常以及其它与测试前不一致的外观。 3） 外观测试：

34、喷涂、印刷、电镀无明显脱落以及与测试前不一致的外观。 4） 样品内存、时钟无异常（内存无丢失；时钟无混舌L、复位、超前、滞后等） 7.1.7室温下参数测试（Parametric Test） 测试环境：室温（2025C） 测试目的：测试参数对比 参考标准：GSM11.10、IS98D 测试设备：综测仪、射频头等 测试方法：使用测试仪，参照附录中针对不同产品选择 GSM/DCS /GPRS等测试项目列表（下 同），对所有样品进行参数指标预测并保存测试结果。 检验标准：所有附件中的参数指标正常，功能正常。 7.2. 气候适应性测试（Climatic Stress Test 样品标准数量：一般气候性测

35、试 5台，恶劣气候性测试2台。 试验周期 测试目的：模拟实际工作环境对产品进行性能测试 试验流程 .股气仗性测试 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号： TW-Re-01 版本：V1.0 第10页 共24页 般气候性测试为串行，恶劣气候性测试中盐雾试验独立进行。见下图。 恶劣气候性测试 A: 一般气候性测试： 7.2.1 低温动作测试（Low Temp. Operating） -20 C 验证样机低温下工作性能 GB/T 2423.1-2001 IEC 60068-2-1:1990 综测仪、气候实验箱 测试环境 测试目的 测试标准 测试设备 测试检查项目： 1） 电性能参数测试

36、：如果被测试样品为 2） 功能测试： 电、蓝牙、 3） 结构测试： 4） 外观测试： 5） 内存时钟： 测试方法： GSM/DCS ,参照附录一进行参数测试。 拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 MINI SD卡以及其它未描述到的功能 壳体配合、结构件配合、天线、 喷涂、 存入 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构 印刷、电镀等以及未描述到的外观 5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间 5条短信息，并将手机时钟设置为当前日期时间。 1） 存入5个电话和 2） 手机带满电电池并插卡，设置为开机状态后，放入气候实验箱内，调节温度控制器到 -

37、20 C。 THINWIL THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第11页 共24页 3） 持续8个小时之后，立即取出用综测仪进行电性能参数测试及功能、结构、外观、内存检查。 4） 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算。 5）对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应 将一半样品滑开到上限位置。 检验标准：手机外观、结构、功能、内存和电性能参数符合要求。 1） 参数检查：可以与综测仪建立连接进行参数测试；测试中无掉话；各种电性能参数符合要求。 2） 功能检查：拨打电话、显示、铃声

38、、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 3） 结构检查：结构无异常（壳体无变形、配合缝隙无变大；转轴无松动或变紧、无异常手感等） 以及其它与测试前状态不一致的现象。 4）外观检查：样品外观无异常（表面喷涂、电镀无裂纹等）以及其他与测试前状态不一致的现 象。 5） 样品内存、时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱、复位、超前、滞后等） 7.2.2 高温动作测试（High Temp. Operating） 测试环境：55 C 测试目的：验证样机高温下工作性能 测试标准：GB/T 2423.2-2001 IEC 60068-2-2:1974

39、 测试设备：综测仪、气候实验箱 测试检查项目： 1） 电性能参数测试：如果被测试样品为 GSM/DCS ,参照附录一进行参数测试。 2） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 3） 结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构 4） 外观测试：喷涂、印刷、电镀等以及未描述到的外观 5） 内存时钟：存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间 测试方法： 1） 存入5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为当前日期时间。 2） 手机装入带满电电池并插卡，

40、设置为开机状态后，放入气候实验箱内的架子上，调节温度控制 器到55 C。 3） 持续8个小时之后，立即取出使用综测仪进行电性能参数测试及功能、结构、外观、内存检 查。 4） 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算。 5）对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应 将一半样品滑开到上限位置。（若样品数量为奇数，则多的一台打开翻盖或滑开滑盖） 检验标准：手机外观、结构、功能、内存和电性能参数符合要求。 1） 参数检查：可以与综测仪建立连接进行参数测试；测试中无掉话；各种电性能参数符合要求。 2） 功能检查：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器

41、、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 3） 结构检查：结构无异常（壳体无变形、配合缝隙无变大；转轴无松动或变紧、无异常手感等） 以及其它与测试前状态不一致的现象。 4）外观检查：样品外观无异常（表面喷涂、电镀无裂纹等）以及其他与测试前状态不一致的现 象。 5） 样品内存、时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱、复位、超前、滞后等） THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第12页 共24页 7.2.3 低温放置（Low Temp. Exposure） 测试环境：-40 C 测试目的：验证样机在

42、低温环境下长期放置后是否会出现异常 测试标准： 测试设备：气候实验箱 测试检查项目： 1） 电性能参数测试：如果被测试样品为 GSM/DCS ,参照附录一进行参数测试。 2） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 3） 结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构 4） 外观测试：喷涂、印刷、电镀等以及未描述到的外观 5） 内存时钟：存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间 测试方法： 1） 在手机中预存入5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为

43、当前日期时间。 2） 将手机设置为关机插卡状态，并将样品放入 -40C的实验箱内，持续48小时。 3） 持续48小时之后，然后放到常温下恢复 2小时后，对手机的射频参数、功能、结构、外观、内 存进行检查。 4） 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算。 5） 试验过程中，对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于 滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。（若样品数量为奇数，则多的一台打开翻盖或滑开 滑盖 检验标准：手机外观、结构、功能、内存和射频参数无异常。 1） 参数测试：可以与综测仪建立连接，各项射频参数均符合标准。 2） 功能检查：拨打电话、显示、铃声、振动

44、、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能无异常。 3） 结构检查：装饰件、logo、Lens等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象。 4） 外观检查：壳体表面无裂纹及其它与测试前状态不一致的现象。 5） 样品内存、时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱、复位、超前、滞后等） 7.2.4 高温放置（High Temp. Exposure） 测试环境：70 测试目的：验证样机在高温环境下长期放置后是否会出现异常 测试标准： 测试设备：气候实验箱 测试检查项目： 1） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照

45、、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 2） 结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构 3） 外观测试：喷涂、印刷、电镀等以及未描述到的外观 4） 内存时钟：存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间 测试方法： 1） 在手机中预存入5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为当前日期时间。 2） 将手机设置为关机插卡状态，并将样品放入 70C的实验箱内，持续48小时。 3） 持续48小时之后取出，并放置 2小时，恢复至常温，然后进行功能、结构的检查。 4） 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算。 5） 试验过程中，对于

46、翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于 THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第13页 共24页 滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。 检验标准：手机功能、结构、外观及内存时间无异常 1） 功能检查：拨打电话、显示、铃声、振动、 LED、扬声器、受话器、Loop、MIC、按键、拍 照、充电、蓝牙、 MINI SD卡以及其它未描述到的功能无异常。 2） 结构检查：装饰件、logo、Lens等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象。 3） 外观检查：壳体表面无裂纹及其它与测试前状态不一致的现象。 4

47、） 样品内存、时钟无异常（内存无丢失；时钟无混舌L、复位、超前、滞后等） B:恶劣气候性测试 7.2.5 盐雾测试（Salt fog Test 测试环境：箱体温度： 35 C 测试目的：验证样机抗盐雾腐蚀性能 测试标准：GB/T 2423.18-2000 IEC 68-2-52:1996 测试设备：盐雾实验箱 测试样品数量：不少于 2台样机 测试检查项目： 1） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 2） 结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构 3）

48、外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观 4） 内存时钟：存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间 试验方法： 1） 溶液含量：5%的氯化钠溶液。 2） 将手机关机放在盐雾实验箱内，喷雾水压力为 80KPa,水流量为600cm3/h,合上翻盖或滑盖， 堵上手机Cover将样机侧立，用绳子悬挂起来，以免溶液喷漆不均匀或有的表面喷不到。 3） 样机摆放：应一台样机大线侧朝上，一台样机大线侧朝下。 4） 样机需要立即放入测试箱，实验周期为 24小时。实验过程中样机不得被中途取出。 5） 取出样机后，用棉布和离子枪清洁，将手机和电池分离，翻盖或滑盖打开放置 24小时进行常 温干燥后

49、，对其进行外观检查和拆开手机对内部进行检查。 检验标准：常温干燥2小时后对样机进行如下检查 1） 功能检查：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能无异常。 2） 结构检查无异常：Lens、天线、装饰件、标牌、电池、 Connector、螺钉等无腐蚀以及与测试 前不一致的现象。 3） 外观检查无异常：表面中喷涂、丝印、电镀无脱落、起泡、腐蚀以及其它与测试前状态不一致 的现象。 4） 实验结束后，需拆机检查主板、显示屏、 FPC、Connector等无腐蚀。 7.3. 结构耐久测试（Mechanical Endur

50、ance Test 样机标准数量：11台 试验周期：7天 测试流程： 7.3.1 翻盖寿命测试（Flip Life Test） 测试环境：室温（20-25） C 测试目的：验证手机翻盖寿命的可靠性 测试设备：翻盖试验机 测试样品数量：不少于 4台样机 测试检查项目： 1） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 2） 结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构 3） 外观测试：按键、喷涂、印刷、电镀以及未描述到的外观 4） 内存时钟：存入5个电话和5条短信息

51、，设置手机时钟为当前日期时间 测试方法： 1） 将样品设置成开机状态，在手机中预存入 5个电话和5条短信息，并将手机设置为当前日期时 间。 2） 样机打开到使用位置，将其固定在翻盖试验机夹具上。夹紧进避开侧按键，并将样机调节到合 适的高度和前后位置。 3） 打开翻盖机，调节前后摆杆的位置，当翻盖打开时翻盖不会碰到后摆杆，翻盖闭合时应该和初 始状态一致；调节摆杆打开角度到合适的位置，使样机能自动断续打开，调节摆杆闭合角度到 合适的位置，使样机能自动闭合。打开检测开关。 4） 设置翻盖次数并启动翻盖机。 5） 每打开闭合一次样品为一个循环，重复 50,000个循环，对于翻盖旋转类手机，翻盖旋转测试

52、与 翻盖寿命测试交替循环进行，即进行 10,000次翻盖测试后，接着做10,000旋转测试，至IJ 50,000 翻盖旋转结束后继续进行 50,000次翻盖。 6） 每10,000个循环对样品进行功能、结构、外观检查，并对样机进行清洁 7） 翻盖速度为40次/分钟 试验标准：每10,000个循环后对样品进行如下检查 1） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡等功能无异常，以及无其它与测试前状态不一致的功能问题。 2） 结构测试：翻盖可以平稳地开合、无异响，翻盖转轴功能无松动、变紧等其它与测试前状态不 THIN(WILL

53、深圳市信可通讯技术有限公司 可文件编号：TW-Re-01 靠性测试规范 版本：V1.0 第15页 共24页 一致的结构问题。80,000次后允许翻盖转轴有一些松动、发涩和磨损，但不影响继续使用。 3） 外观测试：按键、镜片等无显示磨损痕迹，壳体配合缝隙无变大，转轴连接区域无裂纹或断裂 等异常；表面喷涂无破裂及明显磨损及无其它与测试前状态不一致的外观问题。 4） 样品内存、时钟无异常（内存无丢失，时钟无混乱、复位、超前或滞后等） 7.3.2 滑盖寿命测试（Slide Life Test） 测试环境：室温（20-25） C 测试目的：验证手机滑盖寿命的可靠性 测试设备：滑盖试验机 测试样品数量：不

54、少于 4台样机 测试检查项目： 1） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 2） 结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、 Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构 3） 外观测试：喷涂、印刷、电镀以及未描述到的外观 4） 内存时钟：存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间 测试方法： 1） 把样品处于闭合状态，用手分别拿住上滑盖和下滑盖 ，检查样品是否会因为自身的重量而打 开。 2） 将样品设置成开机状态，手机中预存入 5个电话和5条短信息，并将手机设置为当前日期时 间。 3） 将

55、样品固定在滑盖试验机上。打开闭合一次样品为一个循环，重复 50,000个循环。 4） 第10,000个循环对样品进行功能、结构、外观检查，并对样机进行清洁。 5） 滑盖速率为30次/分。 6） 如样品为自动或半自动滑盖，打开与闭合的限位为滑盖可自然开合的临界点。 试验标准：每10,000个循环后对样品进行如下检查 1） 当拿住上滑盖和下滑盖，样品不能因为自身的重量而打开。（如果样品初始设计便容许因自身 重量使样品打开，则不进行此项判断） 2） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡等功能无异常，以及无其它与测试前状态不一致的

56、功能问题。 3） 样品结构测试无异常：滑盖滑盖可以平稳地开合，滑轨无明显松动、变紧，滑动时无异音和其 它与测试前状态不一致的结构问题。 4）样品外观测试无异常：按键、镜片、滑轨无显示磨损痕迹，壳体配合缝隙无变大，壳体无裂纹 或断裂等异常现象；表面喷涂无裂纹及明显磨损及无其它与测试前状态不一致的外观问题。 5）样品内存、时钟无异常（内存无丢失，时钟无混乱、复位、超前或滞后等） 7.3.3 翻盖旋转测试（Flip Rotation Life Test） 测试环境：室温（20-25） C 测试目的：验证手机翻盖旋转可靠性 测试设备：翻盖旋转试验机 测试样品数量：不少于 4台样机 测试检查项目： 1）

57、 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 2） 结构测试：壳体配合、结构件配合以及其它未描述到的结构 3） 外观测试：壳体磨损，喷涂磨损 THIN(WILL 深圳市信可通讯技术有限公司 可靠性测试规范 文件编号：TW-Re-01 版本：V1.0 第16页 共24页 4）内存时钟：存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间 测试方法： 1） 将样品设置成开机状态，在手机中预存入 5个电话和5条短信息，并将手机设置为当前日期时 间。 2） 将样品固定在翻盖旋转试验机上，进行 50,000个循环的

58、旋转测试。 3） 每10,000个循环对样品进行功能、结构、外观检查，并对样品进行清洁。 4） 翻盖旋转速率为30次/分钟。 5） 翻盖旋转测试与翻盖寿命测试交替循环完成。每进行 10,000次翻盖寿命测试后进行10,000次翻 盖旋转测试，交替完成，直至 50,000次翻盖旋转测试结束。 6）样品从初始位置开始，先顺时针旋转至最大角度位置，再逆时针旋转至最大角度位置，再回到 初始位置，定义此过程为一个循环 7） 对于可自由停止型翻盖手机，就将一半样品打开至与壳体成垂直状态，一半样品完全打开进行 测试。 试验标准：每10,000个循环后对样品进行如下检查 1） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、

59、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡等功能无异常，以及无其它与测试前状态不一致的功能问题。 2） 结构测试：可以平稳顺畅旋转，转轴无明显松动，变紧；旋转时无异响；壳体、卡钩无裂纹或 断裂；壳体配合缝隙无明显变大，以及无其它与测试前状态不一致的功能问题。 3） 外观测试：壳体与转轴的喷涂无裂纹或无明显磨损，以及无其它与测试前状态不一致的外观问 题。 4） 样品内存、时钟无异常（内存无丢失，时钟无混乱、复位、超前或滞后等）。 5）样品进行50,000个循环测试后，需要进行拆机检查，壳体内部不能出现裂纹、断裂。 7.3.4按键/侧键测试（Keypad Tes

60、t） 测试环境：室温（20-25） C 测试目的：验证样机按键寿命可靠性 测试设备：按键测试仪 测试样品数量：不少于 2台样机 测试检查项目： 1） 功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充 电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 2） 结构测试：按键弹性、壳体配合、结构件配合以及其它未描述到的结构 测试方法： 1） 将样机设置成开机状态，固定在按键测试夹具上，将音量调节到最大，以不小于 0.6N的力保 证有效行程下，用按键击打试验机击打手机最薄弱的键和使用最多的键 （一般情况下为5键和挂机 键）按键速率为50-60次/分钟。 2） 按键次数