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文档简介

1、可控硅故障及分析一、可控硅故障类型 可控硅有单向和双向可控硅，我们讨论的是双向可控硅 全击穿 全断路 半击穿（正反向阻抗不对称） 不触发 漏电 不触发： 可控硅不触发，是指可控硅主电极用万用表测试双向不通，而可控硅不工作，可控硅触发极的电阻几十，如果测得的数据偏差太大，可怀疑触发极有问题。 可控硅漏电： 完好的可控硅在额定工作电压下是不漏电的，发生漏电说明可控硅本身状况开始恶化。可控硅漏电分为两种情况，一种是可控硅本身漏电，另一种是冷却回路造成的漏电（指管式冷却）。漏电可能造成焊钳对地打火，焊钳麻手状况，这种现象容易和接地不良混淆，排除方法是先易后难，即先查接地后查可控硅。几点说明： 万用表测

2、量可控硅触发极应用R1档， 主电极测量可用R1K或更高档； 万用表R1档经常是精确度较差，不同万用表R1档测量同一电阻数据不一定相同； 不同电流档次可控硅，触发极电阻是不同的，我们使用的500-800A可控硅触发极电阻一般在几十，只能作为参考值； 可控硅在全导通时用万用表测量是最准确的，可以断定损坏。所以如果可控硅不属于全导通损坏，我们经常拿到测试台上试验鉴别； 现场我们判断可控硅好坏，多数不是用万用表鉴别，而是根据焊机其他表现断定可控硅损坏可能性，然后换一个新的试一试。 以焊机其他表现断定可控硅，就是以上介绍的内容； 可控硅入厂试验分耐压试验和温升试验， 耐压试验： 1600V可控硅试验电压2000V DC，泄露小于3mA；1200V可控硅试验电压1500V DC，泄露小于3mA； 温升试

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