如何制作标准的ICT测试程序

1、 如何制作标准的ict测试程序来源： 作者：赐鸿科技 热度：836 日期:11-08-05, 07:17 pm 注意事項:一.  一般情况下不允許修改r 的標准值（电阻并联电阻除外）二.  修改程式的上下范圍必須按以下的標准执行 .ü  跳線 connecter fuse電感排感 以j測試 exp-v用1表示+-10% mode為 0 無guarding ， 无 offset 。跳線 當pin-pin間有跳帽時exp-v用1表示否則pin-pin間測試exp-v采用4表示。開關探針 以j測試 exp-v用1表示+-10% mode為 0ü

2、60; 電阻排阻 10 按3 為標准+10%-1%或按j測試mode為1無offset+-10%22.2 :  +60%-30%一般不采用mode 3無guarding34.7 :  +40%-20% 一般不采用mode 3 ,  無guarding410.0  +15% -10%一般不采用mode 3可根據各機台稍加offset510. 0 以上 +-10%一般不采用mode 3 不加 offset6熱敏電阻可適當放寬范圍 , 一般不采用mode 37電

3、阻并聯可按并聯值(r 1 *r 2 )/(r 1 +r 2 )作標准值+-10%  一般不采用mode 38nc元件一般50k為標准值+lim:-1% -lim10% 有并聯除外9并聯 ic 時100k以上電阻+lim+10%-lim可稍放寬10 no pin的電阻可適當考慮用串聯的方式進行測試 小電阻并聯大電阻相差20倍時大電阻不予測試11蜂鳴器做電阻測試exp-v采用44ohm （据实际情况） +-10%無 guarding 一般不采用mode 312fet管作電阻測試mode 一定 為5+20% -10% 也可直接選用type:qf,mode:22

4、或2313對測試極不穩定的電阻可按pca上實際電阻量測值作為exp-v或根據線路圖分析14bom-v一律根據bom進行填寫。15可調電阻以最大值測試+-10% ；或取中间值测试，+ -50%。 ü  電容、排容1.  10pf或10pf以下電容測試會極不穩定exp-v可加大到30pf或50pf+50%,-40%,也可依實際情況定exp-voffset定好后不允許隨意更改 具體依debug原則2.  10pf以上1nf以下+45%,-35%, offset定好后不允許隨意更改mode參見debug原則3.  exp-

5、v 1nf99nf+45%,-35%, mode參見debug原則4.  exp-v 100nf+70%,-30% 無offset , mode參見debug原則5.  exp-v 1uf+40%,-30% 無offset , mode參見debug原則6.  exp-v 10uf以上470uf以下+-30%mode參見debug原則7.  exp-v470uf以上+-20%8.  并聯電容exp-v= c 1 +c 2  + + c n

6、60;9.  nc元件可以不進行測試10.  fet管作電容測試exp-v約210nf+20%-15%exp-v定下后不能隨意更改11.  bom-v一律根據bom進行填寫nc元件bom-v為0u12.  小電容并大電容相差20倍以上小電容可以不予測試 (c 1 /(c 1 +c 2 +c n )<=5%) 。13.  微法級電容的電容值小於 1000uf ， mode4  的測試會比 mode8 來得好且速度也較快;14.  較大微法級電容值測試不穩時可以加放電15.  當規定的limit 與 bom上規定

7、的 小時 一律依據bom作為標准。16.  电容极性测试：必加三端测试针，mode8、18。exp-v：0.2v,g 以第三脚为g。17.  實際值以 5v 10v 量測時，標準值之漏電流值約 0.2ma 0.5ma ，若反插時 , 其反向漏電流值會遠大於正向漏電流值。高點之腳號即是電容端之測試針號碼 , 而低點之腳號即是電容端之測試針號碼，通常須加較大的延遲時間，漏電流才會穩定。ü  電感 除了作j測試外電感主要以l測試+-30%ü  二極體1.  發光二極管用d作typemode 用1或 24當用24

8、mode時exp-v為1. 5v 不允許交換高低點 偏差 +-30% （把管子点亮）2.  每個二極管分作兩步測試高低點互調測試不允許交換高低點和修改exp-v, 范圍依(1)規定。ü  三極管1.  以 q 測試+-30% 具體參考 debug原則 不允許交換高低點2.  以qh為type的三端測試+-30% 具體參考 debug原則 不允許交換高低點3.  以上3種方法測試必須同時使用選用mode時必須參考其實際為pnp還是npn4.  nc時采用type:qn測試 bom-v0.7v exp-v為0.7v左右+-30

9、%ü  fet管1.  以qf為type量測漏電流 ids bom-v依線路圖提供的電壓供給 +-30%不允許交換高低點其guarding pin為g。2.  以qf為type量測漏電流 vds bom-v依線路圖提供的電壓供給+30%-1%exp-v:0.2v, 不允許交換高低點 其guarding pin為g 。3.  還 必須同時采用電阻 或 電容測試不允許交換高低點ü  clamping diode1.  對gnd量測+-30%mode 為2 guarding

10、60;pin 以它本身學到的為准 不允許交換高低點2.  對vcc量測+-30%mode 為2 guarding  pin 以它本身學到的為准 不允許交換高低點3.  測試不穩定時可加放電或4ms以內的延遲或重測。4.  當標准樣板測試值小于0.1v時可以0.1v為exp-v+30%,-1%5.  對于較脆弱的clamping diode,可根據實際情況決定其是否測試6.  如有几種料導致無法測試時可舍測其中一種。ü  ic open 學習好的ic open接受值其limit