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文档简介
1、PCB之ICD失效原因分析及改善1. ICD失效:即Inner connection defects ,又叫内层互连缺陷。对于PCB生产厂家 而言JCD问题在电测工序较难有效拦截彳主往是流到下游甚至是客户端, 在进行SMT贴装过程,PCB板经历无铅回流焊IR、波峰焊接、以及一些 手工焊或是返修等高温制程的冲击下,发生内层互联失效开路,而此时的 PCB板已进行了组装,因而会产生极大的品质风险。2下面简要从钻孔质量和除胶过程这两个方面,阐述ICD失效的影响机 理,对此类问题的检测和分析经验逬行小结。21钻孔庾量对ICD的影响以高频高速材料的加工为例,高频高速板材的基板具有低Dk、低Df 的特性,其
2、极性小,材料活性低,去除胶渣困难,从而进一步加大了孔内 残胶对PTH电镀的影响。部分高频板材介质层树脂填料多,物理特性比 较硬,对钻刀的钻嘴磨耗大,孔壁粗糙度大,以及钻嘴摩擦高温凝胶较多。 因此,在孔壁粗糙度大、钉头异常等瞎况可能导致除胶药水循环不良,造 成除胶效果不佳,未能完全将孔壁残留胶渣去除干净,导致内层孔铜与孔 壁连接处产生ICD失效。也有一部分板材的基材偏软且软化点低,钻孔加 工过程中产生的高温易使钻屑软化、粘附成团,造成入钻排屑不畅而形成间歇性的挤出排屑,钻屑易被挤压粘附在孔壁上,极大的増加了后工序除胶处理难度,存在孔内残胶风险,最终可能会导致ICD问题。对于刚-挠结合印制板(FP
3、C),柔性材料的绝缘介质为聚酰亚胺(PI) 等,这些材料的机械加工性能相对较差,加工过程中产生形变大,容易导 致钉头产生,也就在内层互连的位置留下了应力,因此,这种情况下钻污 残留对孔铜和内层铜层的互连可靠性的影响会更加突出,最终导致产品在 受到焊接过程的高温冲击时,内层互连处裂开而出现开路。2.2除胶不净对ICD的影响CO,MnO4gMnO4J-5MnO4J- MnO?MnOd险JRJSKMnO4止常嚴宸6KMnO410-CH2-CH(OH)-CHrO- 3K2MnO. + 3MnO2 + 3CO2 + 3H2O3二幻祈測试实验中心以昔通环氧树脂体系的FR-4板材为例,在化学除胶过程中,钻孔 后残留在孔壁的高分子环氧树脂胶所包含的C-O、C-H等化学键可被 KMnO4氧化分解,生成对应的二氧化碳和水等无机物,再经水洗或除 油后,可被完全清除干净。当出现KMnO4浓度低于控制限范围等异 常情况时,孔内壁的基铜层就可能会残留树脂胶,经除胶、水洗、除 油等流程后均无法有效除净,电镀时,在有胶的区域基铜层与电镀铜 结合力较差,经热应力处理后,残胶区域受到热应力的"拉扯"而出 现微裂纹现象。对于高频材料而言,其介质层与钻刀的钻嘴磨损更剧烈,钻嘴摩擦 高温导致凝胶过多,因此,高频板的除胶过程需更加注意,有些产品 甚至采用"等离子除胶+化学除胶"
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