实验1集成门电路功能测试

1、集成门电路功能测试集成门电路功能测试n一、实验目的1掌握逻辑值与电压值的关系。2掌握常用逻辑门电路的逻辑功能及测试方法。3熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能及使用方法。1.基本门电路的逻辑功能测试;观测输入输出端的逻辑值，测量出输出端对应的电压值。2.逻辑门的转换:利用74S00与非门组成非门，2输入与门,2输入或门电路。3.门电路的基本应用:测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能。n1.门电路的基本概念n门电路：实现各种逻辑关系的电路n 正逻辑系统：高电位用 1 表示，低电位用 0 表示n负逻辑系统：高电位用 0 表示，低电位用 1 表示。nTTL集成门:输出高电平约3.6V，低

2、电平约0.3VnCMOS集成门:阈值电压为电源电压的一半，即VCC/2。输入全为输入全为 1设设 VA= VB= 3.6 V VB1升高，足以使升高，足以使 T2 、T5 导通，导通，Vo = 0.3 V,Y = 0。VC2 = VCE2 + VBE5 = 0.3 + 0.7 = 1 V，使，使 T3 导通，导通，T4 截止。截止。与非门的逻辑功能：全与非门的逻辑功能：全 1 出出 0，有，有 0 出出 1。输入不全为输入不全为 1VY = 5 Vbe3 Vbe4 VR2T2 、T5 截止，截止， T3、 T4 导通，导通，= 5 0.7 0.7 = 3.6 V 设设: VA= 0.3 V V

3、B= 3.6 V，则，则 VB1 = 0.3 + 0.7 = 1 VT4 与与 T3 并联，并联，T1 与与 T2 串联；串联； 当当 AB 都是高电平时都是高电平时,T1 与与 T2 同时导通，同时导通，T4 与与 T3 同时截止；输出同时截止；输出 Y 为为低电平。低电平。 当当 AB 中有一个是中有一个是低电平时，低电平时，T1 与与 T2 中有中有一个截止，一个截止，T4 与与 T3 中有中有一个导通，输出一个导通，输出 Y 为高为高电平。电平。3.集成逻辑电路封装4.逻辑值的测试：数字电路实验箱图解116位0-1电平输出显示; 40脚带自紧活动芯片座 ;双列直插式芯片插座; 16位0

4、-1信号开关; 电阻、电容、整流二极管; 脉冲信号源 ; 直流信号源;与计算机通信的串口（9针） PLCC芯片座（44脚; 3个不同阻值的电位器; 蜂鸣器74LS00与非门组成非门， 2输入与门,n 2输入或门电路测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器5.门电路的转换及应用6.实验线路图四、实验内容四、实验内容 n1、验证74LS08(与门)、74LS32(或门)、74LS04(非门)、74LS00(与非门) 、74LS86(异或门)的功能n 将被测芯片插入实验区的空插座,连接好测试线路,拨动开关,改变输入信号,观测输入输出端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验正TTL电路的逻辑功能, 记录实验数据。n2、利用74S00与非门组成非门，2输入与门,2输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。 3、测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数S是输入A、B（二进制数）的“异或”，而进位数C是A、B的相“与”，故半加器可用一个集成“异或”门和二个“与非”门组成，如图1.9a.3所示。 在实验箱上用“异或”门(74LS86)和“与非”门连接图1.9a.3所示逻辑电路。