产品加速老化测试方案

1、产品加速老化测试方案1、 试验前准备1.1 试验产品信息样品名称：样品型号： 样品数量： 样品序号：1.2 试验所需的设备信息 设备名称：恒温恒湿箱 设备编号： 设备参数：温度测试范围为： 湿度测试范围为：1.3 测试人员：复核人员： 批准人员：1.4 测试环境：加速老化测试在75、90% rh的恒温恒湿箱中进行1.5 测试时间：2、 试验原理和步骤2.1 使用的物理模型-最弱链条模型最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而

2、逐渐显露出来的。暴露最显著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最先失效的地方。 2.2 加速因子的计算加速环境试验是一种激发试验，它通过强化的应力环境来进行可靠性试验。加速环境试验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因子的含义是指设备在正常工作应力下的寿命与在加速环境下的寿命之比，通俗来讲就是指一小时试验相当于正常使用的时间。因此，加速因子的计算成为加速寿命试验的核心问题，也成为客户最为关心的问题。加速因子的计算也是基于一定的物理模型的，因此下面分别说明常用应力的加速因子的计算方法。2.2.1温度加速因子温度的加速因子计算： （1）其中， 为正常应力下的寿命； 为高温下的寿命； 为失效反应的

3、活化能（ev）； 为室温绝对温度； 为高温下的绝对温度； 为boltzmann常数，8.6210-5ev/k；实践表明绝大多数电子元器件的失效符合arrhenius 模型，下表给出了半导体元器件常见的失效反应的活化能。2.2.2 湿度的加速因子湿度的加速因子计算： ， （2）其中， 为加速试验相对湿度 为正常工作相对湿度 为湿度的加速率常数，一般介于23之间2.3 试验方案本试验采用最弱链条的失效模型，通过提高试验温度和湿度来考核产品电路板和显示屏的使用寿命。在75、90% rh下做加速寿命测试，故其加速因子应为温度加速因子和湿度加速因子的乘积，计算如下： （3）当=0.6 ev，k=8.62

4、10-5ev/k，=298k，= 348k，=75%，=90%，n=2，代入公式（3）可算得af=41.6，af即老化1小时相当于室温下使用41.6小时，预期产品有效期为a年(a 是厂家自己定义的)，为验证有效期，老化时间换算公式：老化时间 = a36524hour41.6(1)老化时间就是产品需要放置在75、90% rh的恒温恒湿箱中的时间。2.4 试验步骤2.4.1 试验前：a. 外观功能检查 外表面及其各种配件的壳体是否出现明显的划痕、凹陷、变形、及裂纹等缺陷； 样品的温度显示及指示，体温模式，警示功能，调焦功能等所有的功能是否能正常使用。b. 性能测试 温度显示范围； 实验室误差； 警示响应时间； 测温一致性。2.4.2 老化试验：将试验样品放进75、90% rh的恒温恒湿箱中上述（1）的时间。2.4.3试验后：停止老化试验后使试验样品回到正常工作状态静止60