活计量校准技术PPT学习教案

1、会计学1活计量校准技术活计量校准技术第1页/共81页3第2页/共81页4第3页/共81页2021-10-175第4页/共81页6第5页/共81页7第6页/共81页第7页/共81页第8页/共81页第9页/共81页第10页/共81页第11页/共81页13第12页/共81页辨率应优于12%（137Cs）HPGe14第13页/共81页15第14页/共81页16第15页/共81页17第16页/共81页核素，示踪核60Co、134Cs第17页/共81页0NN0NN0NNc0NNNNc第18页/共81页第19页/共81页第20页/共81页22)NN(-NN-NcRRcN12第21页/共81页23)(1111

2、/)1(2)()(1)(0cedcRcbcRbbNNNNNNNNNNNN第22页/共81页24第23页/共81页第24页/共81页1)1 (1 0 NNNNcnkkknkkkkkknkkkcekkkPCPCP111/ )1 ()1/()(1 第25页/共81页第26页/共81页第27页/共81页29第28页/共81页30第29页/共81页31第30页/共81页32第31页/共81页33第32页/共81页34第33页/共81页信号信号快速ADC将和脉冲信号的幅度信息和时间信息转换为数字信息，并通过高速数据传输总线将这些数字信息存储于海量存储器数据重建：将存储在海量存储器中的数据还原为和信号的幅度

3、谱，即能谱和能谱。根据所测量核素的特点，选取感兴趣的窗。并设置数据处理中采用的死时间和符合分辨时间。选取不同的幅度的信号根据和信号的时间关系进行统计处理，得到满足各条件的、和符合道的计数率，然后进行效率外推，得到待测样品的活度或比活度。对重建的谱进行分析，计算各射线全能峰面积，并由探头效率刻度数据和所测得的待测样品的活度值计算得到核素射线的发射几率或分支比。软件图1 数字符合测量程序框图2021-10-17第34页/共81页36第35页/共81页第36页/共81页第37页/共81页第38页/共81页BV-V)N-N(VAsLsL211=第39页/共81页不确定度分量A类评定方法B类评定方法端效

4、应补偿差0.00%0.50%壁效应修正0.00%0.05%死时间0.10%0.01%计数管体积测量0.06%0.01%气体容器及混合瓶体积测量0.10%0.01%测量时间0.03%0.01%重复性0.30%稳定性0.30%本底0.05%合成不确定度uc0.6%扩展不确定度U1.2%(k=2)第40页/共81页22+=jicuuu第41页/共81页第42页/共81页第43页/共81页第44页/共81页第45页/共81页47第46页/共81页48第47页/共81页49第48页/共81页50第49页/共81页该方法利用三个PMT同时得到三个双管符合和一个三管符合导出效率。51第50页/共81页52u

5、2.2 TDCR效率计算方法效率计算方法 第51页/共81页2021-10-1753第52页/共81页2021-10-1754第53页/共81页2021-10-1755第54页/共81页2021-10-1756第55页/共81页n几十keV-2 MeV2021-10-1757第56页/共81页2021-10-1758第57页/共81页59第58页/共81页2021-10-1760第59页/共81页2021-10-1761第60页/共81页2021-10-1762第61页/共81页高 压 电高 压 电源源前放光电管光电管高 压 电源前放快 符合相加放大线性门死时间控制脉 冲 幅 度分析器数 据

6、处 理系统第62页/共81页2021-10-1764第63页/共81页2021-10-1765第64页/共81页2021-10-1766第65页/共81页第66页/共81页电离电流所对应的特定核素样品的活度第67页/共81页第68页/共81页70第69页/共81页第70页/共81页第71页/共81页2021-10-1773第72页/共81页总/总测量仪器类型流气式正比计数器塑料闪烁体探测器半导体探测器 液体闪烁计数器核素可测量，效率高可测量，效率高可测量，效率中等可测量，效率高氚不能测量不能测量不能测量可测量，效率中等-衰变核素可测量，效率中等可测量，效率中等可测量，效率中等可测量，效率高+衰变核素可测量，效率高可测量，效率高可测量，效率中等可测量，效率高电子俘获核素（EC）能测量，效率差可测量，效率中等2021-10-1774第73页/共81页2021-10-1775第74页/共81页2021-10-1776第75页