QZTT 3008-2016 无源分布系统 射频电缆检测规范

1、中国铁塔股份有限公司企业标准Q/ZTT 30082016代替Q/ZTT 1003.42014无源分布系统射频电缆检测规范Passive Distribution System Radio Frequency Cable Test Specification版本号：V2.02016 - 02 - 15发布2016 - 02 - 15实施中国铁塔股份有限公司发布 Q/ZTT 30082016目次前言11 范围22 规范性引用文件23 术语和定义33.1 电压驻波比Voltage Standing-wave Ratio（VSWR）33.2 传输衰减Transmission Attenuation33

2、.3 耦合损耗Coupling Loss33.4 弯曲半径Bending Radius33.5 特性阻抗Characteristic Impedance43.6 绝缘电阻Insulation Resistance43.7 绝缘耐压Dielectric Medium Voltage-withstanding43.8 护套耐压Sheath Voltage-withstanding44 检测项目45 射频电缆检测要求65.1 皱纹铜管外导体射频同轴电缆检测要求65.1.1 材质及要求65.1.2 电气性能115.1.4 环境性能315.2 漏泄同轴电缆检测要求435.2.1 材质及要求435.2.2

3、 电气性能475.2.3 机械物理性能525.2.4 环境性能5458前言本标准依据相关国家标准和行业标准，结合中国铁塔股份有限公司（以下均简称为“中国铁塔”）的实际情况，细化和明确了无源分布系统射频电缆的技术要求，满足多系统共享室内分布系统的应用需求，并为入网检测和无源分布系统建设提供技术依据。本标准主要包含皱纹铜管外导体射频同轴电缆、耦合性漏泄同轴电缆和辐射型漏泄同轴电缆产品的检测项目和检测要求，适用于射频电缆产品的质量检测，适用于送检和抽检产品的检测。本标准应和同期发布的Q/ZTT 3007-2016无源分布系统射频电缆技术要求配套使用。本标准代替Q/ZTT 1003.4-2014无源分

4、布系统射频电缆技术要求和测试方法（V1.0）-试行中测试方法相关的内容。自本标准发布之日起，原标准同时废止。本标准由中国铁塔通信技术研究院负责解释和监督执行。本标准主编单位：中国铁塔通信技术研究院。无源分布系统射频电缆检测规范1 范围本标准规定了皱纹铜管外导体射频同轴电缆、耦合性漏泄同轴电缆和辐射型漏泄同轴电缆产品的检测项目和检测要求。本标准适用于中国铁塔股份有限公司规定的射频电缆产品的质量检测，适用于送检和抽检产品的检测。2 规范性引用文件下列国家及行业标准对于本技术要求的应用必不可少。凡是注日期的，仅注日期的版本适用于本标准。凡是不注日期的，其最新版本适用于本标准。GB/T 11091 电

5、缆用铜带GB/T 15065 电线电缆用黑色聚乙烯塑料GB/T 17737.1-2013 射频电缆 第1部分：总规范-总则、定义、要求和试验方法GB/T 18380.12 电缆和光缆在火焰条件下的燃烧试验 第12部分：单根绝缘电线电缆火焰垂直蔓延试验 1kW预混合型火焰试验方法GB/T 18380.35 电缆和光缆在火焰条件下的燃烧试验 第35部分：垂直安装的成束电线电缆火焰垂直蔓延试验 C类GB/T 19849 电缆用无缝铜管GB/T 228.1 金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法GB/T 2951.11 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第11部分：通用试验方法 厚度和外形尺寸

6、测量 机械性能试验GB/T 2951.13 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第13部分：通用试验方法-密度测定方法-吸水试验-收缩试验GB/T 4909.2 裸电线试验方法 第2部分：尺寸测量GB/T 6388 运输包装收发货标志GB/T 8806 塑料管道系统 塑料部件 尺寸的测定JB/T 10696.3 电线电缆机械和理化性能试验方法 弯曲实验JB/T 8137 电线电缆交货盘SJ/T 11223 铜包铝线SJ/T 11365 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法YD/T 1092-2013 通信电缆 无线通信用50泡沫聚烯烃绝缘皱纹铜管外导体射频同轴电缆YD/T 1113-2015

7、 通信电缆光缆用无卤低烟阻燃材料YD/T 1120-2013 通信电缆 物理发泡聚烯烃绝缘皱纹铜管外导体耦合型漏泄同轴电缆YD/T 2491-2013 通信电缆 物理发泡聚乙烯绝缘纵包铜带外导体辐射型漏泄同轴电缆YD/T 2740.2-2014 无线通信室内信号分布系统 第2部分：电缆（含漏泄电缆）技术要求和测试方法YD/T 837.3-1996 铜芯聚烯烃绝缘铝塑综合护套市内通信电缆试验方法 第3部分：机械物理性能试验方法YD/T 837.4-1996 铜芯聚烯烃绝缘铝塑综合护套市内通信电缆试验方法 第4部分：环境性能试验方法3 术语和定义以下术语和定义适用于本标准。3.1 电压驻波比Vol

8、tage Standing-wave Ratio（VSWR）电缆长度方向各点结构尺寸不均匀，引起各点区域阻抗差异，产生反射波，形成驻波。驻波会导致传输效率下降，衰减坛大，误码率上升，图像虚影，等不良后果。3.2 传输衰减Transmission Attenuation反映电磁波在电缆中传输时能量损耗大小，主要影响信号强度。漏缆衰减主要包括内/外导体损耗、绝缘介质损耗、辐射损耗、驻波损耗。3.3 耦合损耗Coupling Loss反映漏缆辐射出来信号大小的指标，主要影响信号强度。3.4 弯曲半径Bending Radius反映电缆的弯曲性能。在规定的弯曲半径下满足电缆的使用要求。3.5 特性阻抗

9、Characteristic Impedance行波状态下的电压与电流比值，主要与电缆内导体等效外径和外导体等效内径、等效绝缘介电常数有关，标称特性阻抗主要有50、75、100。其中移动通信中的产品标称特性阻抗一般为50。3.6 绝缘电阻Insulation Resistance电缆内、外导体之间的直流绝缘电阻，反映电缆绝缘层的绝缘性能。3.7 绝缘耐压Dielectric Medium Voltage-withstanding电缆内、外导体之间的交流或直流条件下介质的耐电压性能，反映电缆绝缘层的绝缘耐压性能。3.8 护套耐压Sheath Voltage-withstanding通过浸水试验或

10、火花试验来确定护套的耐电压性能，体现电缆护套的耐压击穿性能，一般电缆生产时都是在线监测，保证电缆任何地方在规定的护套耐压下，电缆护套不击穿。4 检测项目表1 皱纹铜管外导体射频同轴电缆检测项目明细表序号分类指标备注1材质及要求内导体2外导体3护套外观4护套最小厚度5电缆最大外径6电缆参考重量7电气性能内导体/外导体最大直流电阻8绝缘介电强度9最小绝缘电阻10特性阻抗11最大衰减常数12机械物理性能重复弯曲13最小弯曲半径14抗压强度15导体最小抗拉强度16导体最小断裂延伸17护套抗张强度18护套断裂伸长率19绝缘附着力20环境性能老化后护套断裂伸长率21老化后护套抗张强度22绝缘热收缩率23低

11、温弯曲24温度冲击25阻燃电缆的燃烧性能26护套火花试验护套耐压性表2 耦合型和辐射型漏泄同轴电缆检测项目明细表序号分类指标备注1材质及要求内导体2外导体3护套外观4护套最小厚度5电缆最大外径6电缆参考重量7电气性能内导体/外导体最大直流电阻8绝缘介电强度9最小绝缘电阻10特性阻抗11纵向衰减12耦合损耗13最大电压驻波比14机械物理性能抗压强度15重复弯曲16最小弯曲半径17抗压强度18导体最小抗拉强度19导体最小断裂延伸20护套抗张强度21护套断裂伸长率22绝缘附着力23环境性能老化后护套断裂伸长率24老化后护套抗张强度25绝缘热收缩率26低温弯曲27温度冲击28阻燃电缆的燃烧性能29护套

12、火花试验护套耐压性5 射频电缆检测要求5.1 皱纹铜管外导体射频同轴电缆检测要求5.1.1 材质及要求5.1.1.1 内导体5.1.1.1.1 铜包铝的实验方法（直径测量）测试工具：千分尺/游标卡尺。试样制备：从样品上面截取1根试样，长度大于1米。测试过程：对于直径0.1mm的试件，千分尺测试应力在0.1-1N，测试头直径在2-8mm；对于测试投直径在0.1mm,千分尺测试应力在1-3N，测试头直径在5-8mm。在测量的时候需要在垂至于试样轴线的同一截面上，在相互垂直的了两个方向分别测量；至少在试样的两端和中部共计测量3处。计算方式：在对试样的各点测量完成之后，需要计算外径的平均值，这个作为最

13、终的测量结果，体现在测试报告中。Di1nDin （1）式中：Di第i次侧测量数值，mm； n测量次数。5.1.1.1.2 光滑铜管内导体实验方法a) 铜管外径以分度0.01 mm 的千分尺，在内导体上沿圆周大约均匀分布的4 个位置进行测量；b) 管壁厚度使用千分尺，在选定的被测截面上移动测量量具直至找处最大和最小壁厚，并记录测试值。每个被选定的测试截面上，沿环向均匀间隔至少6个点进行壁厚测量。由测量值计算算术平均值，按表3的规定修约并记录结果作为平均壁厚。表3 管壁厚度要求壁厚单个结果要求的准确度算术平均值修约值101030300.030.050.10.050.10.1c) 导体的断裂伸长率和

14、抗拉强度按如下规定进行试验；试样获取：从铜管原材料轴上截取一段完好的样品，并将这段样品截成3或5条长度符合表4的试样；表4 试样获取要求L0/mmLC/mmL0+D0/2 仲裁试验：L0+2D050100上表中：S0试样原始横截面积； L0试样原始标距； D0试样原始管外径； Lc试样平行长度。试样要求：试样表面需要完好，没有被氧化或腐蚀；金属镀层或包覆没有破损或剥落；在测试之前需要测试记录试样的外径和管壁厚度（选取不同的5个点，计算平均外径、管壁厚度参照b的规定测量），计算出试样的截面积S0（单位：mm2）。（2）式中：S0铜管截面积，单位mm2；m试样的质量，单位克，g；Lt试样总长度，单

15、位毫米，mm；试样材料密度，单位克每立方厘米，gcm3。管段试样尺寸见表2，应在试样两端加以塞头。塞头至最近的标距标记的距离不小于D0/4，只要材料足够仲裁试验时次距离为D0。试样使用拉伸试验机加紧固定后拉伸，拉伸时的应力速率应满足表5的要求。表5 拉伸应力速率要求材料弹性模量E/MPa应力速率R/（MPas-1）最小最大150000220150000660注： 铜材的弹性模量150000Mpa（3）式中：Lu试样拉伸后长度，单位mm；L0试样拉伸前长度，单位 mm。（4）式中：F试样拉伸断裂时承受的最大力，单位牛顿，N。注： 在取样过程中导体不能受到任何外界的拉力，否则会影响最终的测试数据；

16、在试件上面上标距的情况下，断口应在标距之内或应在试验机夹头钳口之间，并且断口应距标距线或夹头钳口不小于25mm。如果试件的伸长率小于规定值，而该试件的断口又发生在离标距线或夹头钳口25 mm之内，那么该组数据可不计，需另取试件重做。d) 椭圆度以分度0.01 mm 的千分尺在内导体圆周上的不同位置反复测量相互垂直的两个外径；当两个外径值的差值最大时，记录这两个外径值并按公式（5）计算椭圆度。（5）式中：D1在铜管横截面上测得的较大外径值，单位为毫米（mm）；D2在与D1 同一横截面上测得的较小外径值，单位为毫米（mm）。5.1.1.1.3 螺旋形皱纹铜管内导体的试验方法截取约15倍标称轧纹节距

17、长的一段电缆并将其校直，以适当的方法去除电缆的护套、外导体、绝缘并避免损伤内导体。制成试样后，结构尺寸的测量按下面方法进行：波峰外径以分度0.02 mm 的游标卡尺在导体皱纹的波峰上沿圆周大约均匀分布的4个位置进行测量，测量时应用游标卡尺对导体皱纹波峰外径的最大点进行测量，应尽可能包含最大值和最小值，计算其平均值；皱纹节距以分度0.02 mm 的游标卡尺测量至少5 个连续的节距长度，计算其平均值；螺旋形皱纹内导体的波谷外径用不易伸缩的适当材料制成的细线（直径不大于0.25 mm）；沿内导体皱纹的波谷缠绕至少6 个皱纹节距，将细线适当拉紧并在细线上以适当方法做出两点标记。此两点标记应在一条电缆轴

18、线的平行线与细线的交叉点做出；标记点间应包含至少5个皱纹节距。测量细线拉直后两点标记间的长度并按公式（6）计算波谷外径。（6）式中：L标记间的直线长度，单位为毫米（mm）；n标记间的节距数；测试用细线直径，单位为毫米（mm）；P实测皱纹节距平均值，单位为毫米（mm）。环形皱纹内导体的波谷外径以分度0.02 mm 的游标卡尺在内导体皱纹的波谷上沿圆周大约均匀分布的4 个位置进行测量，测量时应以游标卡尺对内导体皱纹波谷外径的最小点进行测量，应尽可能包含最大值和最小值，计算其平均值；轧纹前管壁厚度参照4.1.1.1.2 中b的规定进行测量。5.1.1.2 外导体截取约15倍标称轧纹节距长的一段电缆并

19、将其校直，以适当的方法去除电缆的护套并避免损伤外导体。制成试样后，结构尺寸的测量参照4.1.1.1.3的规定进行。5.1.1.3 护套外观护套外观应用正常或矫正视力检查。5.1.1.4 护套最小厚度护套的最小厚度按照如下规定进行测量。a) 测量装置读数显微镜或放大倍数至少10倍的投影仪，两种装置读数均应至0.01mm。档测量护套厚度小于0.5mm时，则小数点后第三位数为估读数。b) 试样制备去除护套内外所有元件（若有的话），用一适当的工具（锋利的刀片）沿与导体轴线相垂直的平面窃取薄片。如果护套上有压印标记凹痕，则会使该处厚度变薄，则试样应该取含该标记的一段。c) 测量步骤将试样件置于测量装置工

20、作面上，切割面与光轴垂直。试样内侧为圆形时，应按照图1径向测量6点。图1图2若试件内原表面实质上是不规整或不光滑的，则应按照图2在护套最薄处径向测量6点。在任何情况下，第一次测量应在护套最薄处进行。如果护套试样剥壳压印标记凹痕，则该处厚度不应用来计算平均厚度。但在任何情况下，压印标记凹痕处的护套厚度应符合相关标准中的护套最小值要求。读数应到小数点后两位（以mm计）。d) 测量结果的评定测量结果按照相关电缆产品技术要求的规定进行评定。进行机械性能试验时，每个试件的厚度平均值应按照该试件上测量的所有值计算。5.1.1.5 电缆最大外径a) 电缆的外径不超过25mm时，用测微计、投影仪或类似的仪器在

21、互相垂直的两个方向上分别测量。例行试验允许用刻度千分尺或游标卡尺测量，测量时应减小接触压力；b) 电缆外径超过25mm时，应用测量带测量器圆周长，然后计算直径。也可使用能直接读数的测量带测量；c) 电缆应使用测微计、投影仪或类似的仪器沿着横截面的长轴或短轴进行测量。除非有关电缆的产品标准中另有规定；尺寸为25mm及以下者，读数应到小数点后两位（以mm计），尺寸为25mm以上者，读数应到小数点后一位。测量结果应按照相关电缆产品标准中的试验要求进行评定。5.1.1.6 电缆参考重量采用计量称进行测量。5.1.2 电气性能5.1.2.1 内导体/外导体最大直流电阻5.1.2.1.1 试验设备试验设备

22、的测量不准确度应在被测值的0.5%以内。使用桥式电路或带有电压表的电流源。依据电阻值的大小，可采用二端法或四端法测量。5.1.2.1.2 试样制备剥开试样两端，外导体两端的制备应确保电流在外导体的所有构件中流动。试样应在15-35的常温下预置足够长的时间，以使试样温度稳定。5.1.2.1.3 程序当使用带有电压表的电流源时，应测量试样两端的电位差及电流。为了避免试验时产生显的温升，电流密度应不超过1A/mm3,测量试样长度，其误差不超过1%。5.1.2.1.4 结果表示电阻实测值应对长度进行校正，并用/km表示。该值应用下式换算成标准温度(20 )时的值：R=Rml.1+.t-20(/km)（

23、7）式中：Rm电阻实测值，；l试样长度，km；温度系数 ，K-1(对于铜，=3.9310-3/K)；t测量时的温度，。5.1.2.1.5 要求：导体电阻值应符合有关电缆规范的规定。5.1.2.2 绝缘介电强度5.1.2.2.1 试验设备a) 交流或直流电源：交流电压的频率应为40Hz-60Hz，其波形应为正弦波；b) 千伏表(kV)。5.1.2.2.2 试样制备试验应在通过连续性试验的电缆成品上进行。导体应剥出足够长，以防击穿或局部放电。该处绝缘也应作适当的清洁处理。5.1.2.2.3 程序电缆内、体之间或导体之间的绝缘应承受交流或直流电压1min。电压值应符合有关电缆规范的规定。试验电压的升

24、压速度应不超过2kV/s。5.1.2.2.4 要求介质不应有击穿。5.1.2.3 最小绝缘电阻5.1.2.3.1 试验设备a) 直流电源，最大电压500V；b) 兆欧表，量程大于或等于2x105M。5.1.2.3.2 试样制备试验应在经过15-35的温度预置并通过导体连续性检验的电缆成品上进行，试样最短长度以100米为好，导体两端应剥去绝缘。5.1.2.3.3 程序对于同轴电缆，绝缘电阻应在内、外导体之间测量对于对称电缆，绝缘电阻应在线对的导体之间测量，如有屏蔽，则还应在连接在一起的导体和屏蔽之间测量。如有关电缆规范未作规定，则试验电压应为80V-500V，最短加压时间为1分钟。5.1.2.3

25、.4 结果表示绝缘电阻应用M.km表示。当试验长度不为1km时，实测值应作如下校正：R=Rm.l(M.km)（8）式中:Rm绝缘电阻实测值，M；l电缆长度，km。5.1.2.3.5 要求绝缘电阻的校正值应符合有关电缆规范的规定。5.1.2.4 特性阻抗5.1.2.4.1 平均特性阻抗a) 定义Z是平均特性阻抗在高频时的渐近值。它可从测量电气长度和电容来获得。Z=le,cC=1/(fC)（9）式中： le,试样在200 MHz附近的电气长度;c自由空间的传播速度；C试样的电容；f一大约在200M Hz频率下试样相位变化360所对应的频率变化。b) 试验设备准确度等于或优于千分之一的电容表或电容电

26、桥，其频率为800Hz-1000Hz。测量电气长度的试验设备应能适应相位计法或谐振法的测量要求。如无其他规定，设备的频率覆盖范围应为30MHz-300MHz，能在各种情况下进行试验，可以使用把所示试验电路各部分组合在一起的其他设备，如网络分析仪。c) 程序试样的电容应如下方法进行测量：将屏蔽与电容电桥的接地端相接，则电容应用下式确定：电容=Ca+Cb2-Cc4（10）式中:Ca一导体b接屏蔽时，导体a与导体b之间的电容；Cb一导体a接屏蔽时，导体b与导体a之间的电容；Cc一导体a和导体b接在一起时，与屏蔽之间的电容。为避免杂散电容的影响，可用同一电缆的两个不同长度试样测量值的差来确定电容。试样

27、的频率变化应按如下规定进行测量：插人试样，将信号发生器调谐到200M Hz附近的某一频率(频率f1)，此时，相位计应正好指示出某一规定值。增加频率，使相位改变nX360 (频率f2)。对于单端连接的试样，频率差f从下式获得：f=f2-f1n(MHz)（11）对于两端连接的试样，f则从下式得到：f=f2-f1n2(MHz)（12）d) 结果表示平均特性阻抗应用下式确定：Z=1000fC()（13）式中： f一单位为MHz；C单位为nF。要求平均特性阻抗实测值与标称值的偏差应符合有关电缆规范的规定。5.1.2.4.2 时域特性阻抗a) 定义试样的特性阻抗由下式给定：Z=Z01+r1-r1-rs2(

28、) （14）式中: Z试样的特性阻抗；Z0标准线的特性阻抗；r标准线末端与试样之间台阶的反射系数；rs试验系统与标准线特性阻杭的差异(如存在的话)产生的反射系数。对于阶跃函数，上升时间tr定义为阶跃幅度的10%与90%之间的时间差。b) 试验设备试验设备通常按图3配置。为确定试样两端的特性阻抗，应优选特性阻抗等于试样的标称特性阻抗的标准线。时域反射计（TDR）；2标准线（自选件）；3试样；4终端负载图3 阶跃函数试验设备配置图c) 程序用于测量试样的阶跃函数，应具有符合有关电缆规范规定的上升时间。测量阶跃反射系数，用式(14)计算特性阻抗。d) 要求时域特性阻抗应符合有关电缆规范的规定。5.1

29、.2.5 最大衰减常数5.1.2.5.1 原理本试验旨在测定射频同轴电缆在优选频率大于或等于10M Hz时的衰减常数。如果试样的复数特性阻抗Z1的幅值近似等于其标称值Z2，则也可在较低频率下测定。5.1.2.5.2 定义衰减常数定义为：a=10lg(P1P2)(100l)(dB/100m)（15）式中: P1当负载阻抗及信号源的阻抗等于试样的标称特性阻抗时，信号源的输出功率;P2当试样插入试验系统时测得的输出功率; l试样的物理长度m。如果在很低的频率下，Z和Z的偏差不能忽略，则试样的长度应如下选取:al/1008.7r2r=(Z-Z)/(Z+Z)3（16）式中:a标称衰减常数，dB/100

30、m；l试样的物理长度，m。5.1.2.5.3 试样制备试样长度应使测量误差不超过试样衰减的2%。试样长度的测量误差应不超过1%。因此，衰减的总误差应不超过3%。如果采用谐振法，试样的速比为已知，且其误差不超过标称值的1%，试样长度可由相邻谐振频率之差f来确定。除了谐振法的试验电路A之外，试样的每一端都应安装连接器。连接器应与试验设备的端口直接相匹配，否则应采用试验转接器。在很高频率下，应考虑这些转接器的插人损耗。5.1.2.5.4 试验方法试样既可以在匹配条件下测量，也可以用谐振电路测量，这取决于其衰减值。当在谐振电路法中试样的特性阻抗显得不重要时，如果它与其他程序中试验设备的阻抗不相同，则应

31、采用匹配变压器。谐振法优选适用于具有任何特性阻抗的低损耗短段试样。a) 衰减器替代法(插人损耗3 dB)试样的衰减用步进衰减器替代，其剩余值指示于测试接收机的度盘上。1) 配置图试验设备通常按图4和图5所示两种配置图之一来进行配置。电路A：1-信号发生器；2衰减器，6dB；3同轴开关，隔离度20dB；4衰减装置，0dB50dB，1dB一档；5试样；6插入单元；7指示器，分辨率0.1dB；8终端负载图4 替代法电路A配置图电路B：1信号发生器；2衰减器，6dB； 4衰减装置，0dB50dB；5试样；6插入单元；7指示器，分辨率0.1dB；8终端负载a,b试验端口图5 替代法电路B配置图2) 程序

32、对于试验电路A，在试验频率下将试样接人试验电路，调整信号发生器电平，使其指示比满刻度偏转低1 dB(读数a1，dB)。然后将衰减装置接人试验电路并进行调整，使偏转读数(a2,dB)与原始读数的偏差为最小，此时衰减装置的调定值aa。对于试验电路B，试验程序与试验电路A时相同，但衰减装置调为零。然后移去试样，将试验端口。和b连接在一起。再按试验电路A那样调整衰减装置。3) 结果表示衰减常数应按下式确定：a=as+(a2-a1)l1+0.002(t-20)100(dB/100m)(20)（17）式中: as 衰减器调定值，dB；a1 接收机首次读数，dB；a2接收机最后读数，dB；l 试样长度，m；

33、t 试样温度，。b) 输人、输出电压(或功率)比较法(插人损耗3 dB)衰减常数由输人、输出电压(或功率)之比来确定。两者可用一只测量接收机分别测量，也可用网络分析仪或双通道功率计同时测量。1) 配置图试验设备通常应按图6或图7所示两个配置图之一来进行配置。1-信号发生器； 5试样； 8终端负载；9网络分析仪；a,b试验端口图6 比较法A的试验配置图1 信号发生器；2衰减器，6dB； 5试样；6插入单元；7测量接收机；8终端负载；a,b试验端口图7 比较法B的试验配置图2) 程序对于试验电路A，先将试验端口连接在一起，在试验频率下校准试验电路。然后将试样插人电路，记下输人与输出电压(或功率)之

34、比值(读数a,dB)。对于试验电路B，先将试验端口连接在一起，在试验频率下校准试验电路(读数a1,dB)。然后插人电缆试样，进行第二次测量(读数a2，dB)。3) 结果表示衰减常数由下式确定：电路A：a=a100l1+0.002t-20(dB/100m)(20)（18）电路B：a=a1-a2100l1+0.002t-20(dB/100m)(20) （19）式中：a试验电路A的读数，dB；a1试验电路B不接试样时的读数，dB；a2试验电路B接试样时的读数，dB；l试样长度，m；t试样温度，。c) 谐振法(插人损耗3 dB)电缆被用作线路谐振器，衰减常数由谐振曲线的带宽来确定。1) 配置图试验设备

35、通常应按图8和图9所示的两种配置图之一来进行配置。合信号信号发生器或附带频率计的稳定信号信号发生器，10dBm；2衰减器，10dB；5试样；7测量接受机，灵敏度10V；10可变容性耦合器（可采用带有分离的可移动内导体的短段同轴线）；a,b试验端口图8 谐振法A 试验配置图1综合信号信号发生器或附带频率计的稳定信号信号发生器，10MHz1000MHz，10dBm；2衰减器，10dB；5试样；7测量接受机，灵敏度10V；10可变容性耦合器（可采用带有分离的可移动内导体的短段同轴线）；图9 谐振法B 试验配置图2) 程序在试验电路A 中：对试样终端开路，当fn=150vrnl (MHz) （20）对

36、试样终端短路，当fn=150vr(n-0.5)l (MHz) （21）时，试样输人端电压为最大。式中：fn试验频率；V1试样的标称速比；l试样长度，m；n整数。信号发生器的频率应调谐到谐振频率fn。信号发生器的频率和输出电压应同时调节，以使接收机偏转至满刻度。为了防止试样的阻尼作用，应调节容性藕合器，使满足下式（即小于66dB）：UR0.07 (电路A)或b =f/2f0.10(电路B)，则使用上式引人的误差会超过试样总衰减的0.4%。此时，应使用更精确的公式。电路A：a=434.3l1+0.002(t-20)ln1+tanhx1-tanhx(dB/100m)(20) （26）式中：tanhx

37、=tanb/0.25+2tan4b0.5+0.50.5。电路B：a=868.6l1+0.002(t-20)ln(1+sinb+sin2b)（27）4) 要求衰减常数应符合有关电缆规范的规定。5.1.2.6 最大电压驻波比5.1.2.6.1 定义任一频率下的输人阻抗是局部特性阻抗变化的函数，如变化是周期性的，则输人阻抗也是变化间隔的函数。在高频时输人阻抗可以与试样的平均特性阻抗有很大的差异，回波损耗是上述差异在频域内的度量。回波损耗定义为：a=20lg(ui/ur)(dB)（28）式中:ui对应于阻抗Zn的入射波的幅值；ur试样端接阻抗为Zn的负载时反射波的幅值；Zn有关电缆规范中规定的标称特性

38、阻抗。回波损耗与反射系数r的关系为：r=ur/ui=10-(a/20)（29）它与驻波比s有间接关系：s=(1+r)/(1-r)（30）试验设备通常按图10所示来配置。1信号发生器，10dBm；2频率计，分辨率1kHz；3可变衰减器0dB50dB步进；4衰减器，6dB；5电桥/反射计，定向度36dB；6试验转换器，固有回波损耗40dB；7试验连接器，固有回波损耗40dB；8试样；9终端负载，固有回波损耗40dB；10信号处理单元；11指示器准确度0.1dB注1： 为了把误差减至最小，反射计或电桥的标称特性阻抗应与试样相同，推荐将具有足够衰减量(如6dB)的缓冲衰减器直接接至电桥输入和输出端口，

39、以使测试端口开路及短路测试引起的扫描图形控制在1dB之内。注2： 如有关电缆规范未作规定，则由电桥或反射计的定向度以及其他元件的固有损耗引起的误差应小于相当于最小允许回波损耗的反射的1/4，但不小于0.01。图10 回波损耗测量的试验配置图5.1.2.6.2 试样制备除非另有规定，试样的长度应使最低试验频率时的插人损耗至少为6dB。如达不到此要求，则最小长度应不小于100m,试样两端应安装固有反射较小的连接器，使试样能直接与电桥或反射计以及终端负载相连接。5.1.2.6.3 试验设备的校准a) 用全反射来校准进行校准时，应将电桥或反射计的试验端口先开路，再短路。此时，反射信号相当于反射系数为1

40、00%或回波损耗为0dB。如果试验端口开路及短路得到的信号电平有差异，则取两者的平均值作为基准电平。为了得到与各个小反射系数或大回波损耗相对应的信号电平，应在规定的频率范围内建立并记录频率校准曲线。可用可变衰减器或带有步进衰减器的信号处理单元来获得不同的信号电平。b) 用标准失配器来校准本校准可用标准失配器来进行，失配器的反射系数或回波损耗为已知，且在规定的频率范围内具有几乎平直的响应特性。校准时，为了使电桥或反射计的固有误差的影响减至最小，标准失配器的反射系数至少应为此误差的5倍。应按上述所述作出校准曲线。5.1.2.6.4 测量准确度回波损耗的实测值将具有下述反射系数引起的测量误差：r=r

41、A+rBe-2lrm/k（31）式中: rA=rd+rc+ra；rB = rc + ra + rl ；rd对应于电桥/反射计定向度的反射系数；rc连接器的反射系数；ra试验转接器的反射系数；rl负载的反射系数；rA电缆输入端的总反射系数；rB电缆输出端人射波的总反射系数；试样的传输常数；rm试样的最大允许反射系数；l试样的物理长度；k除非有关电缆规范另有规定，k=4。误差r 只能根据试验来确定。为此，试样用一短段同一类型的电缆来代替，短段电缆的特性阻抗尽可能接近其标称值。电缆的反射系数应在尽可能宽的频带内测量，其物理长度应满足下述条件：l=(2或3)150vr/(f2-f1) （32）式中:

42、l试样的物理长度，m；f1，f2频率，MHz。该电缆首先用匹配负载进行测量，得到如图11所示那样的反射系数曲线。然后用失配器来代替匹配负载重复进行测量，得到图12所示的结果。失配器的失配量大于rA的设定值。图11 反射系数曲线示意1图12 反射系数曲线示意2rA和rB的模如下：rA=(r3-r4)/2和rB=(rl-rA) （33）因此，固有误差反射引起的测量误差近似为：r=(rA+rB10-a/10) （34）式中:a试样的插人损耗，dB。5.1.2.6.5 程序在用模拟信号进行处理和记录时，扫频速度应与处理单元显示和记录的瞬态响应相适应。降低扫频速度，直至峰值的大小不再变动为止。除非使用现

43、代网络分析仪来进行数字信号处理和/或记录，否则，应满足下列条件:n3(f2-f1)l150vr（35）式中：n在回波损耗曲线频带(f2f1)中的取样点数；f1频带的最低频率，MHz；f2频带的最高频率，MHz；l试样的物理长度，m；vr试样标称速比。当使用现代网络分析仪时，测量结果与所用的专用设备的型号和调整有很大关系。所以当使用此类设备时，必须全面规定有关的测量参数，以防对测量结果产生误解和偏差。5.1.2.6.6 要求除非另有规定，所测得的回波损耗最小值应符合有关电缆规范的规定。为确定试样两端的特性阻抗，应优选与试样的标称特性阻抗相同的标准线。5.1.3 机械物理性能5.1.3.1 重复弯

44、曲进行重复弯曲试验的电缆试样长度应足以绕规定直径的芯轴3整圈。弯曲试验用芯轴直径应符合表6的规定。将电缆试样的一端固定在芯轴圆周上，将电缆试样绕芯轴缠绕不小于一整圈，解开电缆并将其自由端拉直，共重复15次。在卷绕和解绕过程中，电缆试样的弯曲部分应始终贴在芯轴的表面上。表6 弯曲试验用圆柱体直径（单位mm）电缆规格代号5678912172122233242圆柱体直径501601002001102504002605005507601000完成试验后，用正常或矫正视力检查试样的金属部件是否有裂纹。试验前后应测试试样的电压驻波比，要求如下：a) 试验前的电压驻波比测试在试验前，按5.1.2.6规定的方

45、法测试其在Q/ZTT 3007-2016无源分布系统射频电缆技术要求（V2.0）中4.1.6.2规定的所有工作频段内的电压驻波比，测试结果应符合表以上规定的在至少2 个工作频段内符合相对应的要求。记录所有电压驻波比符合要求的工作频段；b) 试验后的电压驻波比测试在试验结束后，按5.1.2.6规定的方法测试电缆试样在进行(1)条规定的测试后记录的工作频段内的电压驻波比。5.1.3.2 最小弯曲半径最小弯曲半径性能测试参照本文5.1.3.1中的要求进行。5.1.3.3 抗压强度电缆试样应放置在试验装置的基板上，以防止横向移动。用平行于基板的可移动钢板或圆柱形钢轴压住试样。试验装置示意图见图13。应

46、逐渐加载，避免任何突然变化。如采用逐级加载法，则其增加率应不超过1.5：1。图13 抗压强度试验装置应采用可移动钢板进行试验；可移动板应在100mm长度的试样上均匀地增加压力。可移动钢板的边缘倒角半径不应小于2 mm；对于各种规格电缆抗压强度应符合表7 的规定；试验时，负载加载持续时间应为20 min；在试验前和试验结束后，应分别按5.1.3.1 中的a)和b)条规定测试电缆试样的电压驻波比。表7 抗压性试验抗压强度要求(单位为牛顿/毫米)电缆规格代号5678912172122233242抗压强度1814182019201314141424205.1.3.4 导体最小抗拉强度、导体最小断裂延伸

47、参照本文5.1.1.1.2中c)条的规定测试。5.1.3.5 护套抗张强度、护套断裂伸长率5.1.3.5.1 试验设备拉力试验机、指针式测厚仪（精度0.01mm）、千分尺（分度值0.02mm）、钢直尺（分度值0.5mm）、哑铃试片刀具（1号-图14，2号图15各一个）、电热老化箱或烘箱。5.1.3.5.2 试样制备a) 从成品电缆护套上切取足够长的样段，供制作5个试样。如果还要进行老化试验，则需另外制作5个同样的试样；图14 1号哑铃试片图15 2号哑铃试片b) 将护套内外可能有的附着物全部去除，沿轴线剥开试样。削平护套内部可能有的凸脊，使标志线之间具有平行表面。削平后的试样厚度应不小于0.6

48、mm，也不大于2.0mm。若护套试样的原始厚度较大，但其两个表面都比较平整时，试样厚度可不必减少至2.0mm；c) 用1号哑铃刀从加工好的试样上冲取哑铃状试片。最好能在式样上并排冲出两个。试片厚度等于试样厚度。如果试样太小不能冲取1号哑铃状试片时，可冲取2号哑铃状试片；d) 在哑铃试片狭带部分的中部标出两条平行的标记线，见图14和图15。5.1.3.5.3 试验条件表8 护套抗张强度和护套断裂伸长率试验条件试验温度拉伸速度mm/min夹具见得距离mm235255常规试验时允许取250501号哑铃片 约502号哑铃片 约345.1.3.5.4 试验步骤拉力试验前的试片应在235下至少保存3小时，

49、且应避免阳光的直接照射。试验时，将试片对称并垂直地夹在拉力试验机上下夹具上，按照试验条件的规定进行试验。记录试片断裂时的负荷及两标记线间的距离。抗张强度和断裂伸长率应在同一试样上同时进行测定。在夹头处拉断的任何试样的实验结果应作废，在这种情况下计算抗张强度和断裂伸长率至少需要4个有效试验数据，否则试验应重做。在标记线外断裂的试样可重做。每个哑铃试片的截面积应按照标记线之间试片的宽度和在3点上测量的试片最小厚度之积计算。对试片宽度的均匀性有疑问时，则在3点上测量厚度的同时测量与每个测量点对应的厚度。由每处测量的宽度和厚度计算出3个截面积，取其中的最小值来计算抗张强度。5.1.3.5.5 试验结果

50、及计算a) 抗张强度及断裂伸长率按照下式计算：（36）（37）式中：试样抗涨强度。MPa；P试样断裂时的负荷，N；S试样截面积，mm2；试样的断裂伸长率，%；L0试样拉伸前两标记线间的距离，mm；Lu试样断裂时两标记线间的距离，mm。b) 抗张强度和断裂伸长率的实验结果取各该项实验结果的中间值。以上所述的实验方法同样适用于老化后的护套试样，须经受老化的一组试样与不须经受老化的一组试样应尽可能相同，它们的拉伸试验应接连进行。5.1.3.6 绝缘附着力5.1.3.6.1 试样制备从电缆成品上截取至少300mm长的二根试样，除非相应电缆规范另有规定，每根电缆试样应按图16、17或18来制备。图16 柔软电缆剥头图17 半硬电缆剥头图18 护套剥头5.1.3.6.2 程序将试样装人拉力机，试验夹具如图19或20所示。试验板上小孔的直径应比内导体直径、介质外径、或外导体直径大0.100.03 mm。将内导体、介质芯子或外导体穿过试验板上的小孔，用稳