中小尺寸Quick驱动原理ppt课件

1、Page: 1Updated：Printer date： RevPrepared by：中小尺寸中小尺寸Quick驅動原理介紹驅動原理介紹PE/江弘銘江弘銘Page: 2Full Contact架構Vcom pathgatecomdataVGVDVDPage: 3Full Contact訊號Page: 4Quick 架構(1D1G)gatecomdataVGVDVDVGGVGVcomPage: 5Quick 架構(2D1G)gatecomdataVDVGGVGateVcomVDodd VDevenPage: 6Quick 架構(VGG)Page: 7Quick訊號(Hi-Lock/Full o

2、n)-1G1DPage: 8Quick訊號(Normal/Pulse)-2G3DPage: 9Quick Pads5.6IC bonding後:VGG-VGLVgate-VcomVdata-VcomVcom-VcomPage: 10Quick測試優缺點優點:防止IC損失節省測試機台本钱缺點:Fan out斷線無法檢出Dot defect誤判為Line defectITO-M2 short亮點漏放Page: 11Fan out斷線無法檢出現象:缘由: Quick走線與Full Contact走線不同改善措施:導入Inner quick設計 Page: 12Dot defect誤判為Line de

3、fect現象:缘由: 漏電流經過VGG產生之壓降，影響VD訊號。改善措施: 1.降低VGG阻值(設計變更) 2.建立教育sample(人員訓練)Page: 13ITO-M2 short亮點漏放現象:模組段微亮點(全黑) 亮點(上黑下白) Quick無法檢出缘由: 驅動訊號差異改善措施: 1.變更VD測試訊號(測試機台本钱添加)Page: 14Quick訊號異常呵斥之defect無畫面畫面異常全面性偏白 or 偏黑 奇偶線FlickerPage: 15Quick訊號異常分析手法运用三用電表歐姆檔量測Quick Pads尋找能够發生位置layout圖面 or 顯微鏡Laser repair機台驗證

4、repair or 惡化驗證)Page: 162501 No image現象：無畫面分析：框膠處Glass Fiber壓破Passivation layer導致Quick訊號短路改善措施：框膠處不可有金屬cross overPage: 177003 畫面異常現象：分析：外界異物呵斥Quick訊號短路(PDI走線處)改善措施：更改PDI走線位置Page: 188002 No image現象：無畫面分析：ESD damage呵斥Vcom與Vdata短路改善措施：降低ESD發生頻率Page: 19A202 Flicker現象：畫面閃爍分析：ESD damage呵斥Vcom與VGG短路改善措施：降低E

5、SD發生頻率Page: 207004 畫面異常現象：模組段點燈測試畫面異常分析：VGL與VGG連接處之線路遭ESD破壞，构成開路，於IC bonding後之點燈測試時，VGG開關無法被VGL電壓鎖住， 改善措施：降低ESD發生頻率Page: 215602 RA高溫測試畫面異常1.客戶反應5.6“產品於高溫測試時，當溫度超過50，會出現 顯示畫面異常現象，當溫度回到室溫時，畫面則恢復正常。2.量測異常品之Vcom訊號，電壓準位會因溫度上升而有偏移現 象。Page: 223.於不同溫度下，VCOM電壓變化量測結果Page: 23a. Measurement framework b. Measurement result Page: 24Page: 25改善措施: 1.顧客端產品建議客戶按照以下方法進行Lase