EMC电磁兼容测试报告2

1、编号no. 2812共 页检 验 记 录产 品 名 称name of sample智能读卡锁商 标 型 号trade mark & type chd1200m制 造 厂 商manufacturer深圳市纽贝尔电子有限公司委 托 单 位client深圳市纽贝尔电子有限公司检 验 类 别test sort委托检 验 项 目test item静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度深圳电子产品质量检测中心shenzhen electronic product quality testing center深 圳 电 子 产 品 质 量 检 测 中 心检 验 记 录第 2 页 共 页

2、样品名称智能读卡锁商 标/制造厂商深圳市纽贝尔电子有限公司型号规格chd1200m委托单位深圳市纽贝尔电子有限公司取样方式委托人送样抽样单位/抽样母数1台抽样地点/样品数量1台生产日期-抽样日期/送检日期2008年11月14日检验日期2008年11月14日-2008年12月4日检验环境1535 4575%rh样品说明: 检测样品1台，检测编号：1#，检测前后样品外观完好，功能正常。测试时供电电压：dc 12v 检验项目:静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度检测依据:iec 61000-4-5:2005、iec 61000-4-2：2001、iec 61000-4-4-20

3、04、企业要求检验概况:依据标准和企业要求对1台样品分别进行了静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度共3项的检测，测试结果均符合企业要求。详见后页。检验结论: 共检3项，3项均符合企业要求检验负责人：审核：批准：职务：年 月 日年 月 日年 月 日 抗扰度试验判据说明：序号判定准则类别说明1判据a试验中eut在规范极限值内性能正常2判据b试验中eut功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复3判据c试验中eut功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据d试验中eut因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低或丧失检验项目：浪涌（冲击）抗扰度试验依据标准：i

4、ec 61000-4-5:2005 、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：chd1200m 样品编号：1#试验条件：温度： 23 ， 湿度： 52 %rh， 正常大气压。 电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。eut状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及rs485命令开锁正常，使受试设备处于正常工作状态。试验等级：在受试设备的dc电源和信号线端口：正-负：电压峰值2kv，开路电压波形1.2/50s（短路电流波形8/20s），2内阻正（或负）-地：电压峰值2kv，开路电压波形1.2/50s（短路电流波形8/20s），12内阻信号线对线：电压峰值2kv，开路电压波形1.2/50s

5、（短路电流波形8/20s），15内阻信号线对地：电压峰值2kv，开路电压波形1.2/50s（短路电流波形8/20s），15内阻要求符合性能判据b。试验布置：严格按标准要求。试验过程：浪涌（冲击）电压施加在eut的dc电源和信号线端口，60秒钟一次，正、负极性各做5次。试验电压由低等级增加到规定的试验等级，较低等级均应满足要求。eut表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，eut工作正常，表现出抗扰能力。符合性能判据 a 。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后eut工作正常。符合性能判据要求。检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期：抗扰度试验判据说

6、明：序号判定准则类别说明1判据a试验中eut在规范极限值内性能正常2判据b试验中eut功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复3判据c试验中eut功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据d试验中eut因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低或丧失检验项目：静电放电抗扰度试验依据标准：iec 61000-4-2：2001 、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：chd1200m 样品编号：1#试验条件：温度 24 ，湿度： 52 rh ，正常大气压。 电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。eut状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及rs485命令开锁正常。

7、，使受试设备处于正常工作状态。试验等级：a) 接触放电：试验电压6kv。 b) 空气放电：试验电压8kv。要求符合性能判据 b 。试验布置：严格按标准要求。试验过程：a) 对eut可接触的导电表面、螺钉、端口等金属体进行接触放电，分别选择4个以上试验点进行（每点至少50次，正负极性各25次），其中一个试验点承受水平耦合板前边缘中心距eut 0.1m处至少50次间接（接触）放电。试验电压4kv，用尖端接触放电枪头，最大放电重复频率为1次/s。试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。 b) 对eut可接触的壳体表面，按键、指示灯、显示屏、壳体等的缝隙进行空气放电，分别选择3个

8、以上试验点，每点进行至少20次单次放电，正负极性各10次，试验电压8kv，用圆形空气放电枪头。试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。eut表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，表现出抗扰能力，符合性能判据 b 。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。符合性能判据要求。检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期： 抗扰度试验判据说明：序号判定准则类别说明1判据a试验中eut在规范极限值内性能正常2判据b试验中eut功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复3判据c试验中eut功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复

9、位)4判据d试验中eut因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低或丧失检验项目：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验依据标准：iec 61000-4-4-2004、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：chd1200m 样品编号：1#试验条件：温度： 23 ， 湿度： 52 %rh， 正常大气压。 电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。eut状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及rs485命令开锁正常。，使受试设备处于正常工作状态。试验等级：在eut供电电源端口：线对线和线对地：试验电压峰值2kv；重复频率2.5khz，5/50ns tr/td脉冲群波形。脉冲群持续时间、周期分别为15m

10、s，300ms。要求符合性能判据b。在信号线端口，通过电容耦合钳耦合：试验电压峰值2kv；重复频率5khz，5/50ns tr/td脉冲群波形。脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms。要求符合性能判据b。试验布置：严格按标准要求。试验过程：eut的电源插入电快速瞬变脉冲群发生器的eut插座端口，加峰值为2kv的试验电压，分别加在+、-和+/-线、地线上，每根线上的试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验。 eut的信号线放入电快速瞬变脉冲群发生器的电容耦合钳里，通过耦合，加峰值为2kv的试验电压，试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验。eut表现：在整个试验过程中没有出现危险或不

11、安全的后果，试验中及试验后，eut工作完全正常，表现出抗扰能力。符合性能判据 b 。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。符合性能判据要求。检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期：试验仪器设备清单序号名称型号编号有效日期本次使用21静电放电测试仪pesd 1600a01031082009.06.1022电快速瞬变测试仪peft juniora01031102009.06.1023电容耦合钳ip4aa01032082006.06.1025雷击测试仪tss 500 m10a07125112009.11.1926浪涌脉冲发生器vcs500 m10a07125092009.11.1927浪涌耦合网络cnv503 s9a07125102009.11.19注：打“”为本次试验使用仪器、设备，所有仪器、设备均在校准有效期内。检查人：检验报告审批登记表qr-31 工作任务通知书28-4271检验报告编号产 品 名 称智能读卡锁生