电子探针显微分析仪_第1页
电子探针显微分析仪_第2页
电子探针显微分析仪_第3页
电子探针显微分析仪_第4页
电子探针显微分析仪_第5页
已阅读5页，还剩92页未读， 继续免费阅读

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

1、图2.1 定性分析一例图2.2 线分析一例 （ta-si-ni合金）图2.5 x射线显微分析仪结构示意图图2.5 x射线显微分析仪结构示意图图2.5 x射线显微分析仪结构示意图图2.5 x射线显微分析仪结构示意图图2.6 x射线显微分析仪所采用的各种信号图2.6 x射线显微分析仪所采用的各种信号图2.6 x射线显微分析仪所采用的各种信号图2.12 由35kev电子束和由其激发产生的x射线各自激发产生的x射线波长与强度的关系（mo）图2.16 莫塞莱定律图示图2.17 crk线的强度与加速电压的关系图2.19 铅的质量吸收系数与波长的关系图2.19 铅的质量吸收系数与波长的关系图2.20 背散射

2、系数与原子序数的关系图2.21 样品的倾斜与背散射电子按角度的分布（au）图2.23 背散射电子的成分信息与凹凸信息分离观察图2.24 吸收电流附带的原子序数之外的其它信息图2.25 由二次电子所反映出的样品电位分布说明图图2.26 n-p-n硅平面型晶体管的表面电位分布像图2.27 关于二次电子产生的说明图图2.27 关于二次电子产生的说明图图2.27 关于二次电子产生的说明图图2.27 关于二次电子产生的说明图图2.28 电子作用的有效范围与其能量的关系图2.29 特征x射线产生区域的模型图2.30 分析区域的深度与加速电压的关系图2.31 在fe(90%)、cr(10%)合金中，由荧光激发而产生的crk线分布比例。图2.32 在fe、ni密接样品中的荧光激发效应图2.33 在样品中深度为z的区域所产生信息量的分布图图2.33 在样品中深度为z的区域所产生信息量的分布图图2.34 样品上电子束照射点的温度上升与其热导率的关系加速电压20kv，电子束直径1m。图2.35 x射线的取出角图2.36 x射线的吸收和荧光x射线的产生与x射线取出角的关系。样品：fecr合金图2.37 分光晶体模型与布拉格衍射图2.37 分光

人人文库> 全部分类> 应用文书 > 年终总结

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论