技术公司IQC物料检验规范

1、此处填写公司名称Pleasure Group Office T985AB-B866SYT-B182C-BS682T-STT18X技术公司IQC物料检验规范【最新资料，WORD文档，可编辑】文件类别:检验规范文件编 号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部门IQC制定日 期制定人 员修改日 期/页次1 of 35IQC物料检验规范批准记录拟 制审 核批 准受控文件专用章登录印章受控印章报废印章发行记录董事长口生产部(PDA)晶质部(QD)运作部(OD)董审总经理口生产工程部(PIE)文件控制中心(DCC)人力资源部(HR)厂务经理口元件贴装部(SMT)进料检脸部(IQC)财务部(FIN)管理者

2、代表产品组装部(PD)过程检验部(IPQC)销隹部(SD)研发部(RD)物料计划部(PMC)出货检脸部(QA)报关部(CUS)仓管部(WH)技术支持部(FAE)电脑部(MIS)成品维修部(RMA)验证实验室(VL)采购部(PUR)文件名称:IQC物料检验规范文件编 号SMQC-XX-01文件版 本制定部 门IQC制定日 期制定人 员修改日 期/页 次2 of 35修改记录次 数版本升 级记录修改时间修改 矣别修改 頁次修改内容简述修改人员审核批准1生效时间2生效时间3生效时间4生效时间5生效时间6生效时间7生效时间8生效时间9生效时间10生效时间11生效时间12生效时间FM-QM-XX-01

3、Ver: AO文件名称:IQC物料检验规范文件编号SI-IQC-XX-O1文件版 本制定部 门IQC制定日 期制定人 员修改日期/页次3 of 35（一）PCB检验规范1.目的作为IQC检验PCB物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有之PCB检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式情参考抽样计划。4.职责供应商负责PCB品质之管制执行及管理，IQC负贲供应商之管理及进料检验5.允收水准（AQL）严重缺点（CR）: 0: 主要缺点（MA）:; 次要缺点（MI）:6.参考文件1. IPC 一 A 600E. Acceptability of

4、Printed Circuits Boards.2. IPC 一 R -700C. Rework Methods & Quality Conformance7.检验标准定义:检验项目缺点名称缺点定义检验标准检验方式备注线路线路凸出MAa.线路凸出部分不得大于成品最小间距30%。带刻度放大镜残舸MAa. 两线路间不允许有残tHcb. 残铜距线路或锡垫不得小于。C非线路区残销不可大于 且不可露錮。带刻度放大镜线路缺口、 凹洞MAa.线路缺口、凹洞部分不可大于最小线宽的30%。带刻度放大镜断路与短路CRa.线路或锡垫之间绝不容许有断路或短路之现象c放大镜、万用表线路裂痕MAa.在线路或线路终端部分的

5、裂痕.不可超过原线宽1/3。带刻度放大镜线路不良MAa.线路因蚀销不良而呈锯齿状部分不可超过原线宽的1/3。带刻度放大镜线路变形MAa.线路不可弯曲或扭折。放大镜线路变鱼MAa.线路不可因氧化或受药水、异物污染而造成变色。目检线路剥离CRa.线路必须附着性良好，不可翘起或脱落。目检补线MAa补线长度不得大于5mm,宽度为原线宽的 80%100%。b线路转弯处及BGA内部不可补线。c. C/S面补线路不得超过2处，S/S面补线不得超过1 处。带刻度放大镜 目检板边余量MAa.线路距成型板边不得少于。带刻度放大镜刮伤MA刮伤长度不超过6mm,深度不超过钳钳厚度的1/3c放大镜孔孔塞MAa.零件孔不

6、允许有孔塞现象。目检孔黑MAa.孔内不可有锡面氧化变黑之现象c目检变形MAa孔壁与锡垫必须附着性良好，不可翘起，变形或脱 落。目检PAD, RING锡垫缺口MAa.锡垫之缺口、凹洞、露絹等，不得大于单一锡垫之总 面积1/4。目检、放大镜文件名称:IQC物料检验规范文件编 号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部 门IQC制定日 期制定人 员修改日 期/页次4 of 35检验项目缺点名称缺点定义检验标准检验方式备注PAD, RING锡垫氧化MAa.锡垫不得有氧化现象。目检锡垫压扁MAa.锡垫之锡面厚度力求均匀，不可有锡厚压扁之现象或 造成间距不足。目检锡垫MAa锡垫不得脱落、翘起、短路。目检防

7、 焊线路防焊脱 落、起泡、漏印。MAa.线路防焊必须完全覆盖，不可脱落、起泡、漏印，而 造成沾锡或露铜之现象。目检防焊色差Minora.防焊漆液面颜色在视觉上不可有明显差异。目检防焊异物MinorN防焊面不可沾附手指纹印、杂质或其他杂物而彫响外目检防焊刮伤MAa.不伤及线路及板材（未露铜）之防焊刮伤，长度不可大 于15mm,且C/S面不可超过2条，S/S面不可超过1 条:目检防焊补漆MAa. 补漆同一面总面积不可大于30mm） C/S面不可超过3 处；S/S面不可超过2处且每处面积不可大于20mnr。b. 补漆应力求平整，全面色泽一致，表面不得有杂质或 涂料不均等现象。目检防焊气泡MAa.防焊

8、漆面不可内含气泡而有剥离之现象c目检防焊漆残留MAa.金手指、SMT PAD&光学定位点不可有防焊漆目检防焊剥离MAa以3M scotch 宽度胶带密贴于防焊面，密贴 长度约25mm,经过30秒，以90度方向垂直拉起,不可有 脱落或翘起之现象。目检BGABGA防焊MAa.在BGA部分，不得有油墨覆盖锡垫之现象，线路防焊 必需完全覆盖。放大镜BGA区域 导通孔塞孔MAa. BGA区域要求100%塞孔作业。放大镜BGA区域 导孔沾锡MAa. BGA区域导通孔不得沾锡。目检BGA区域线 路沾锡、露 铜MAa. BGA区域线路不得沾锡、露铜。目检BGA区域补 线MAa. BGA区域不得有补线。目检BG

9、APADMAa. BGA PAD不得脱落、缺口、露铜、沾附防焊油墨及异 物。目检外 观内层黑 （棕）化MAa内层采用黑化处理，黑化不足或黑化不均，不可超过 单面总面积 （棕化亦同）。目检空泡&分层MAa.空泡和分层完全不允许。目检文件名称:IQC物料检验规范文件编 号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部 门IQC制定日 期2002-04-17制定人员修改日5 of 35检验项目缺点名称缺点定义检验标准检验方式备注外 观板角撞伤MAa.因制作不良或外力捷击而造成板边角）损坏时，则 依成型线往内推不得大于或板角以45度最大 值为允收上限。目检及带刻 度放大镜章记MAa焊锡面上应有制造厂之UL号

10、码、生产曰期、Vendor Mark；生产日期YY （年）、WW （周）采用蚀刻方 式标示。目检外 观尺寸MAa.四层板及金手指的板子，呈板子最厚的部分（销箔 及镀金处）厚度为土，板长和宽分别参考不同Model的SPEC0卡尺板弯&板翘MAa.板弯，板翘与板扭之允收百分比最大值为。塞规 平板玻璃板面污染MAa板面不得有外来杂质，指印，残留助焊剂，标签， 胶带或其他污染物。目检基板变色MAa基板不得有焦状变色。目检幺幺印文字清晰度Minora.所有文字、符号均需清晰且能辨认，文字上线条之中 断程度以可辨认该文字为主。目检重影或漏印MAa.文字，符号不可有重影或漏印。目检印错MA乩极性符号、零件符

11、号及图案等不可印错。目检文字脱落MAa.文字不可有溶化或脱落之现象。目检 异丙醇文字覆盖锡 垫MAa.文字油墨不可覆盖锡垫（无论面积大小）。目检Model No.MAa. MODEL N0不可印错或漏印。目检焊锡性焊锡性MAa.镀层不可有翘起或脱落现象且焊锡性应良好。用供 应商提供的试锡板分别过回流炉和波峰焊，上锡不良 的点不可大于单面锡垫点数的诙。目检金 手 指G/F刮伤MAa.金手指不可有见内层之刮伤c放大镜G/F变色MAa.金手指表面层不得有氧化变色现篆。目检 放大镜G/F镀宏剥离MAa.以3M scotch ”宽度胶带密贴于G/F镀层上， 密贴长度约25mm,经过30秒，以90度方向垂

12、直拉起， 不可有脱落或翘起之现象。目检G/F污染MAa.金手指不可沾锡、沾漆、沾胶或为其他污染物。目检金 手 指G/F凹陷MAa.金手指凹陷、凹洞见底材或帘面刮伤，不得在金手 指中间3/5的关键位罟，唯测试探针之针点可允收， 凹陷长度不可超过。放大镜G/F密铜MAa金手指上不可有铜色露出。放大镜文件名称:IQC物料检验规范文件编号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部门IQC制定日期2002-04-17制定人 员修改日期/页 次6 of 358.板弯、板翘与板扭之测屋方法板弯：将PCB凸面朝上，放普于平板玻璃上，用塞规测呈其凸起的高度。（如图一）板翘与板扭：将PCB翘曲面朝上，放普于平板玻璃

13、上，用塞规测呈其翘起的高度。（如图二）文件名称:IQC物料检验规范文件编号SI-IQC-XX-01文件版本制定部 门IQC制定日 期2002-04-17制定人 员修改日期/页 次7 of 35（二）IC类检验规范（包括BGA）1.目的作为IQC人员检验IC类物料之依据c2.适用范国适用于本公司所有IC （包括BGA）之检验c3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQL）严重缺点（CR）: 0; 主要缺点（MA）:;次要缺点（MI）:5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对

14、外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确任何有误均不可接受。b包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数呈检验MAa.实际包装数呈与Label上的数蜀是否相同，若不同不可接受； b实际来料数量与送检单上的数呈罡否吻合若不吻合不可接 爻目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；C.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过,且未雷出基质，可接受；否则不可接受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；f. 元件脚弯曲，偏位缺损或少脚，均不可接受；目检或1

15、0倍以上 的放大镜检验时，必须佩 带静电带。备注：凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖免 检印章；该1（2在SMT 拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位詈有没有变成粉红 色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。文件名称:IQC物料检验规范文件编 号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部 门IQC制定日 期2002-04-17制定人 员修改日期/页 次8 of 35（三）贴片元件检验规范（电容，电阻，电感）1.目的便于IQC人员检验贴片元件类物料。2.适用范国适用于本公

16、司所有贴片元件（电容电阻电感）之检验:，3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4 允收水准（AQL）严重缺点（CR）: 0: 主要缺点（MA）:;次要缺点（Ml）：5.参考文件LCR数字电桥操作指引数字万用表操作指引检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正 确任何有误均不可接受。b包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数呈检验MAa.实际包装数呈与Label上的数呈是否相同若不同不可接受； 实际来料数量与送检单上的数星是否吻合若不吻合不可接受。目检 点数

17、外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过，且 未霜岀基质，可接受；否则不可接受；e. Pin 化生锈，或上锡不良，均不可接受；目检10倍以上的放 大镜检验时，必 须佩带静电带。电性检验MA元件实际测量值超出偏差范围内.LCR測试仪 数字万用表检验时，必 须佩带静电带。二极管类型检测方法LED选择数字万用表的二极管档，正向测呈，LED需发岀与要求相符的颜色的光，而反向测呈不发光；否则该二极 管不合格。注：有标记的一端为负极。其它

18、二扱管选择数字万用表的二极管档，正向测呈，读数需小于1.而反向测量溪数需无穷大；否则该二极管不合格。 注：有颜色标记的一端为负极。备注抽样计划说明：对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每 盘中取35pcs元件进行检測；AQL不变。检验方法见M LCR数字电桥测试仪操作指引和- 数字万用表操作指引O文件名称:文件编 号SMQC-XX-01文件版 本制定部 门IQCIQC物料检验规范制定日 期2002-04-17制定人员修改日期/页次9 of 35（四）插件用电解电容.1.目的作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据.2 适用范围适用于本公司所有插

19、件用电解电容之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式情参考抽样计划。4.允收水准 （AQL）严重缺点（CR）: 0: 主要缺点（MA）:;次要缺点（MI）:5.参考文件LCR数字电桥操作指引、 数字电容表操作指引。检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确任何有误均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数星是否相同若不同不可接 受；b实际来料数量与送检单上的数屋是否吻合若不吻合不可接爻目检 点数外观检验MAa.极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可

20、接受； b电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受； c本体变形，破损等不可接受； 生锈氧化，均不可接受。目检可焊性检验MA上锡不良，或完全不上锡不可接受。（将PIN沾上现使用之合 格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN星 否100%良好上锡；如果不是则拒收）实际操作每LOT取 5-10PCS 在 小锡炉上验 证上锡性尺寸规格检验MAa.外形尺寸不符合规格要求不可接受。卡尺若用于新的 Model,需在 PCB上对应的 位豊进行试插电性检验MAa.电容值超出规格要求则不可接受。用数字电容表 或LCR数字电 桥測试仪呈测文件名称:IQC物料检验规范文件编 号SI-IQC-XX-01文件版

21、 本制定部 门IQC制定日 期2002-04-17制定人 员修改日 期/页次10 of 35(五) 晶体类检验规范1.目的作为IQC人员检验晶体类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所用晶体之检验C3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR): 0: 主要缺点(MA):; 次要缺点(MI):5.参考文件数字频率计操作指引检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都 正确任何有误均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数蚩与Label

22、上的数星是否相同若不同不可接受； b实际来料数量与送检单上的数屋是否吻合若不吻合不可接 受。目检 点数外观检验MAa字体模糊不清，难以辨认不可接受；b有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；C元件变形，或受损露出本体等不可接受；d. Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin,均不可接受。目检每LOT取5-10PCS 在小 锡炉上验证上 锡性电性检验MAa.晶体不能起振不可接受；b测量值超出晶体的频率范围则不可接受。测试工位 和数字频率 计电性检测方法晶体检测方法在好的样板的相应位罢插上待测晶体再接通电源开机;在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看 測量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量

23、值不在规格范围内，则该晶体不合格。在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机 显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测屋的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规 格范围内，则该晶体不合格C文件名称:文件编 号SI-IQC-XX-01文件版本制定部 门IQCIQC物料检验规范制定日期2002-04-17制定人 员修改日期/页次11 of 35（六）三极管检验规范1.目的作为IQC人员检验三极管类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有三极管之检验：.3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具

24、体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQL）严重缺点（CR）: 0: 主要缺点（MA）:;次要缺点（MI）:5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL 的P/N及实物是否 都正确任何有误均不可接受。b包装必须采用防静电包装，否则不可接受c目检数量检验MAa实际包装数量与Label上的数呈是否相同若不同不可接 受；b实际来料数量与送检单上的数量是否吻合若不吻合不可接 受3目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d

25、元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过，且未露出基质，可接受；否则不可接受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。目检10倍以上的放大镜检验时，必须 佩带静电带。电性检验无文件名称:IQC物料检验规范文件编号SI-IQC-XX-01文件版本制定部门IQC制定日 期2002-04-17制定人 员修改日期/页 次12 of 35(七)CPU Scoket检验规范1.目的作为IQC人员检验CPU Sockel类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有类型CPU Scoket之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽

26、样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA):; 次要缺点(MI):5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确任何有误均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数呈与Label上的数量是否相同若不同不可接 受；b实际来料数量与送检单上的数呈是否吻合若不吻合不可接目检 点数外观检验MAa. Marking 错；b. 塑料与针脚不能紧固连接；c. 塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水； d过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮：e针脚拧结，弯曲，偏位缺损，断针或缺少；f. 针脚高低

27、不平、歪针、针氧化、生锈；g. 内部端子变形，不贴壁，氧化；h拉杆松紧不适，或产生较大的磨探声目检放大锐焊锡性检验MA上锡不良，或完全不上锡，均不可接受；（将零件脚插入现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉5秒 钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒实际操作每LOT取5-10PCS 在小 锡炉上验证上 锡性安裝检骑MAa. 针脚不能与标准PCB顺利安装：b. 上盖过松不可接受；c. 针脚露出机板长度小于或大于；将拉杆扳至卡 位处稍用力继 续下压，检查 上盖是否松脱. 若过松易脱落 不可接受.针脚露出机板 长度的标准为 范围内。文件名称:IQC物料检验规范文件编号SI-I

28、QC-XX-01文件版 本制定部 门IQC制定日 期2002-04-17制定人员修改日 期/页次13 of 35（八）排针&插槽（座）类检验规范1.目的作为IQC人员检验排针&插槽（座）类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有排针&插槽（座）之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQL）严重缺点（CR: 0： 主要缺点（MA）:;次要缺点（MI）:5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正 确任何有误均不可接受。目检数量检验M

29、Aa.实际包装数蚩与Label上的数呈是否相同，若不同不可接受； 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. Marking 或模糊不能辩认；b塑料与针脚不能紧固连接；c塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；d过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮：匕针脚拧结，弯曲，僞位缺损，断针或缺少；f针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈：g.针脚端部成蘑菇状影响安装.目检焊锡性检验MAa. PIN上锡不良，或完全不上锡，均不可接受；（将零件脚插入 现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉5秒钟 左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收）实泳操作每

30、LOT取5-10PCS 在小 锡炉上验证上 锡性安装检验MAa. 针脚不能与标准PCB顺利安装；b. 针脚露出机板长度小于或大于；卡尺针脚霜出机板 长度的标准为范围内。文件名称:IQC物料检验规范文件编号SMQC-XX-01文件版 本制定部门IQC制定日 期2002-04-17制定人 员修改日期/页次14 of 35（九）电池检验规范1.目的作为IQC人员检验电池类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所用电池之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR): 0: 主要缺点(MA):;次要缺点

31、(MI):5.参考文件数字万用表操作指引。检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确任何有误均不可接受。目检数量检验MAa实际包装数屋与Label上的数呈是否相同若不同不可接 受；b实际来料数蚩与送检单上的数量是否吻合若不吻合不可接 受。目检 点数外观检验MAa液面要光滑，若有明显划痕不可接受；b. 电池表面腐蚀、生锈等，不可接受；c. 电池极性标记要清晰，否则不可接受；d来料品名错或混装不同规格的电池均不可接受。目检尺寸规格检验MAa池外径：D=若不符不可接受。卡尺电性检验MAa.字万用表指向直流电压档20V,两表笔分

32、别接在电池两端 (即正负极)，电压的渎数需在以上。若电池电压小于 则不可接受。用数字万用表 量測检验时不能短 路电池两端文件名称:IQC物料检验规范文件编 号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部 门IQC制定日期2002-04-17制定人 员修改日期/页 次15 of 35文件编号文件名称:（十）CABLE类检验规范1.目的作为c人员检验CABLE类物料之依据。2适用范国适用于本公司所有CABLE类之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQL）严重缺点（CR）: 0: 主要缺点（MA）:;次要缺点（Ml

33、）：5参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确任何有误均不可接受。目检数量检验MAa.数量与Label上的数量是否相同若不同不可接受； b料数屋与送检单上的数星罡否吻合若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa.五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良； b塑料体变形、划伤、毛边、破（断）裂、异色等不良； c排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不可接受；d排线与支架等组装不牢，易松脱；匕标识CABLE接插方向的颜色不能明确分辩；c.排线接头的颜色不符合规格要求：g排线表面的丝印错.1 目检

34、2 按前后左右 上下各轻摇3 次排线接头 处，看有无松 脱现康参考 Mechanical Drawing of Cable尺寸检验MAa.长度不符合规格要求不可接受.卷尺尺寸参考 Mechanical Drawing of Cable电性测试检 验MAa.排线的接线方式错不可接受；b排线接触不良或不能运行不可接受；c. IDE排线的传输速率不符合要求不可接受.每批取1 Opes送 QA请QA的同 爭帮助测试拉力测试检 验MAa.与公端对插，插拔力不符合规格要求的不可接受.（拉力测 试：用标准Box Header与排线对插好，用拉力计測出其 CABLE完全被拉出后的嵌大拔出力。）实际操作备注1.

35、要求如下（低于20PIN的不作要求）：80PIN: ; 40PIN : 34PIN: :26PIN :20PIN2接插CABLE要轻插，不可插坏主板之插座；3.测拉力时，必需沿水平方向拔出，如果拉拔力均不符合要求，须重测三次；如有一次符合，则此CABLE拉拔 力合格；如三次均不符合要求，需转换另一 BOX HEADER （可连续转换三次新的BOX HEADER）,以同样的 方式测试。更换三次后仍不符合，则拒收退货。SI-IQC-XX-01IQC物料检验规范文件版本制定部 门IQC制定日期2002-04-17制定人 员修改日期/页次16 of 35(十一)散热片检验规范1.目的作为IQC人员检验

36、散热片类物料之依据。2.适用范国适用于本公司所有散热片之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR): 0: 主要缺点(MA):;次要缺点(MI):5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL 的P/N及实物罡否 都正确任何有误均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数蜀是否相同若不同不可接受； b实际来料数呈与送检单上的数呈是否吻合若不吻合不可接目检 点数外观检验MAa. 将散热片的正面朝向检验员，若可见表面的镀

37、漆脱落且露 出内部基材，则不可接受；b. 若正表面有TOMATO-LOG0印刷要求的，则字体断层、 模糊，或字体上有直径大于的漏漆等，不可接受：c. 散热片的四个侧面若有碰捷掉漆其直径大于则不可接受:对于两个剪切侧面的电镀痕若未延伸至正面则可接受； d表面、边沿或凹槽内残留任何脏污、铁屑及毛边等，均不 可接受；e. 对于正表面上未露出基材的划痕，可将散热片巻于检验者 的正前方约一臂远，与视线分别成90度和45度，若两个角 度均可见则不可接受；f. 散热片正表面在拉铝过程中留下的针孔，若其直径大于 则不可接受；g. 散热片被切割不整齐不可接受；h散热片背面的双面胶须平整地贴在其内部：若胶纸皱在一

38、 起或伸出散热片均不可接受。目检 样品比对尺寸检验MAa.用直尺或卷尺測呈实际尺寸与规格尺寸是否相符不符不可 接受。直尺或卷尺试贴检验MAa按BOM要求，将散热片贴到对应的主板上的芯片上，若散 热片的尺寸小于芯片或散热片过大而碰撞到芯片周围的元 件均不接受C试贴文件名称:文件编 号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部 门IQCIQC物料检验规范制定日 期2002-04-17制定人 员修改日期/页 次17 of 35（十二）海棉检验规范1.目的作为IQC人员检验海绵类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有海棉之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划

39、；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQL）严重缺点（CR）: 0: 主要缺点（MA）: 次要缺点（MI）:5.参考文件表面阻抗测试仪操作指引。检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装LABEL上的P/N及实物是否都 正确任何有误均不可接受。目检数蚤检验MAa.实际包装数量与Label 的数呈罡否相同若不同不可接受； b实际来料数星与送检单上的数呈是否吻合若不吻合不可接爻目检 点数外观检验MAa.表面无明显色差，或空洞，虚边，划伤，破裂等否则不可 接受：b表面无明显污迹等,否则不可接受；c.表面无永久性折皱，否则不可接受。目检尺寸检验CRa.用直尺或

40、卷尺测呈实际尺寸与规格尺寸是否相符，不符不可接爻直尺或卷尺表面阻抗检测MAa表面阻抗要求达到lOQJOUQ.否则不可接受。表面阻抗表试装检验MAa将对应MODEL装配后的主板与海棉配叠好，若海棉明显小 于机板或海棉尺寸过大均不接受：试装文件名称:IQC物料检验规范文件编 号SI-IQC-XX-01文件版本制定部 门IQC制定日 期2002-04-17制定人 员修改日期/页次18 of 35(十三)静电袋检验规范1.目的作为IQC人员检验静电袋类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有静电袋之检验C3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样

41、计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA):;次要缺点(MI):5.参考文件表面阻抗测试仪操作指引。检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装LABEL 的P/N及实物是否都 正确任何有误均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数呈与Label上的数呈罡否相同若不同不可接受； b实际来料数呈与送检单上的数量是否吻合若不吻合不可接目检点数外观检验MAa.表面光滑，无明显折皱、破损、裂纹等否则不可接受； b表面无明显污迹、水迹等，否则不可接受；c两侧边的压合须牢固，若压合不牢，开裂等不可接受。目检尺寸检验CRa.用直尺或卷尺测量实际尺寸

42、与规格尺寸是否相符不符不可接 受。直尺或卷尺所测尺寸为内 部尺寸表面阴抗检 测MAa表面阻抗要求达到10”Q10Q否则不可接受。表面阻抗表试装检验MAa.将对应MODEL装配后的主板与海棉小心翼翼地装入 静电袋.注童不要刮伤袋若不能顺利装入袋内或袋 的尺寸太大均不接受；实际换作文件名称:文件编 号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部 门IQCIQC物料检验规范制定日 期2002-04-17制定人 员修改日 期/页次19 of 35(十四)说明书检验规范1.目的作为IQC人员检验说明书类物料之依据。2.适用范国适用于本公司所有说明书之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL

43、 II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR): 0: 主要缺点(MA):； 次要缺点(MI):5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL 的P/N及实物是否 都正确任何有误均不可接受。目检数蚤检验MAa. 实际包装数呈与Label上的数量是否相同.若不同不可接受；b. 实际来料数呈与送检单上的数呈罡否吻合若不吻合不可接受C目检 点数外观检验MAa.少页，空白页（指漏印了内容），内容缺少等均不可接受； b若说明书中间夹有空白页，即使没有漏印内容：也不可接 受；c. 关键内容错误，或张冠李藪制

44、作了不屈于本说明书的内容， 致使产品使用会出错误；d. 内容明显制作错误，虽不会导致产品使用出现错误，也不可 接受；e. 内容模糊，不能理解其意思，不论是否会导致产品使用出现 错误，均不可接受；F大面积污迹，如墨印，发黄等，严重影响阅溪，不可接受； g掉页，指内容完全，但某一页或多页掉落，未装订等，不可 接受；h页面破损导致影响阅读或外观均不可接受；i.封面明显印刷不良或印错，包括：明显色差，多墨；字体不 易辩认，或易于混淆等，字体印错；明显污迹，明显折皱， 刮伤，压痕等液面严堇不良。目检 样品比对对于新 MODEL 的说明书，若 没有样品核 对，首先取样 送VL,请VL 的同爭帮忙检 查。M

45、Aa.多页，指杲页或多页重复出现，不可接受；b书内有污迹,虽不影响阅決，但明显影响外观，不可接受； c连页，页未裁开，或页内有多余的纸屑等均不可接受；c.说明书的边沿裁剪不齐，不可接受。目检文件名称:IQC物料检验规范文件编 号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部 门IQC制定日 期2002-04-17制定人 员修改日期/页 次20 of 35（十五）CD碟检验规范1.目的作为IQC人员检验CD碟类物料之依据。2.适用范国适用于本公司所有之CD碟检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR

46、): 0; 主要缺点(MA):;次要缺点(MI):5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL 的P/N及实物是否 都正确任何有误均不可接受。目检数呈检验MAa. 实际包装数呈与Label上的数量是否相同,若不同不可接 受；b. 实际来料数呈与送检单上的数呈是否吻合若不吻合不可接 受。目检 点数外观检验MAa.光碟表面刮伤严堇，不能读出其内容；或读碟时不能正常 起动；b内容制作错误，或内容遗漏，或张冠李戴制作了不属于该光 碟的内容，致使产品无法使用；c光碟表面有刮花、脏污等现象，不可接受；d光碟表面印刷内容不符合要求，不可接受；e光碟袋脏污、破损等不可接受。目检 用 CD ROM对于新版的CD driver,取样送 VL请VL同爭 帮助安装检验.文件名称:IQC物料检验规范文件编 号SI-IQC-XX-01文件版 本制定部 门IQC制定日 期2002-04-17制定人 员修改日期/页次21 of 35文件编号文件名称:（十六）彩盒检验规范1.目的作为IQ