UT设备与器材练习题_第1页
UT设备与器材练习题_第2页
UT设备与器材练习题_第3页
UT设备与器材练习题_第4页
免费预览已结束,剩余1页可下载查看

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、UT中级设备与器材知识练习题是非题1.A型脉冲反射式超声波探伤仪是以判断回波位置.回波高度和回波形状来评价缺陷的0(O)2. B型显示能展现工件中缺陷的埋藏深度。(O)3. C显示能展现工件中缺陷的投影形状,不能展现深度。(O)4. 探头的近场区就是探头的盲区。(X)6.5. 单晶直探头始脉冲宽,盲区大。双晶直探头盲区小。(O)硬保护膜适用于表面较光洁的工件检测,但较软保护膜带来更大的始波宽度,分辨力变差,灵敏度降低。(O)7.阻尼块的作用是使探头晶片振动时间缩短,但同时也吸收了探头产生的杂波(O)毛面探伤时,用软保护膜探头灵敏度比硬保护膜低_生9.双晶直探头相当于一个粗糙的聚焦探头,探头中两

2、个晶片的倾角越大则探测深度越大(X)10聚焦探头的主要优点是声束细,指向性好,能量集中,定位精度高,扫查范围大。(X)11 由于水中只能传播纵波,所以水浸探伤只能进行纵波探 伤。(X)12使用耦合剂的主要目的是去除探头与工件间的空气间隙,使超声波能够传入工件。(O)13手工探伤,为使探头与工件良好接触,用力越大越好。(X) 14斜探头前部磨损较大,则K值将会增加。(X) 15 调节衰减器不会影响仪器的垂直线性,而改变增益和抑止旋钮则会影响仪器的垂直线性(X)16增大仪器的发射强度,则仪器灵敏度会进一步提高,同时对缺陷的分辨率也会减小(O) 二.选择题1- A型扫描显示中,从荧光屏上直接可获得的

3、信息是:A缺陷的性质和大小B缺陷的形状和取向C缺陷回波的大小和超声传播的时间D.以上都是2. A型扫描显示中,荧光屏上垂直显示波高的大小表示:(A )A. 超声回波的幅度大小C.被探材料的厚度3.影响仪器灵敏度的旋纽有:A.发射强度和增益旋纽B缺陷的位置D超声传播时间(D )B.衰减器和抑制C.深度补偿D.以上都是4.仪器的垂直线性好坏会影响(A )A.缺陷的当量比较C.缺陷的定位B.AVG曲线面板的使用D.以上都对5.调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的(D )A.垂直线性B.动态范围C.灵敏度D.以上全部6. 单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往 往不能有效地检出,这是

4、因为(C )A.近场干扰C.存在盲区B.材质衰减D.折射7. 表示探伤仪与探头组合性能的指标有:(B )A水平线性.垂直线性.衰减器精度B灵敏度余量.盲区.远场分辨力C动态范围.频带宽度.探测深度D垂直极限.水平极限.重复频率&目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是(C )A.石英C.错钛酸铅B.钛酸顿D.硫酸锂9.以下哪一条,不属于双晶探头的优点(A )A.探测范围大B.盲区小C.工件中近场长度小D.杂波少10对超声波试块材质的基本要求是(D )A.其声速与被探工件声速基本一致B. 材料中没有超过4)2mm平底孔当量的缺陷C材料衰减小且均匀D.以上都是11 超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为:(D )A.检测灵敏度C.垂直线性B.时基线性D分辨力12下面关于横波斜探头的说法哪一句是错误的(C )A.横波斜探头是由直探头加透声斜楔组成B.斜楔前面开槽的目的是减少反射杂波C. 超声波在斜楔中的纵波声速应大于工件中的横波声速D横波是在斜楔与工件的交界面上产生 13探测粗糙表面的工件时,为提高声能传递,应选用(C )A声阻抗小且粘度大的耦合剂B.声阻抗小且粘度小的耦合剂C声阻抗大且粘度大的耦合剂D以上都不是 14关于耦合剂选用的说法错误的是(D )A

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论