QI-8101-001统计技术管理办法03版.doc

富鴻昌塑膠五金(深圳)有限公司 統計技術管理辦法文件編號：QI-8101-001頁 碼：第 6 頁，共 6 頁版 本：031 目的1.1 爲了確保本公司能適當的運用統計技術來控制和驗證製造過程的能力及産品的特性，本文件界定了統計技術的應用、管理及職責。2 範圍2.1 SPC系統適用於QS9000產品與客戶特別指定產品之制程管制。2.2 良品率管圖P-管制圖分析適用於公司生產之所有產品的良品率管理。3 定義3.1 良品率即由(1-不良率)而得。3.2 SPC：Statistical Process Control的英文簡稱，即為統計制程控制。3.3 MCP：Manufacture Control Plan的英文簡稱，即為生產控制計劃。 4 職責4.1 SPC管制點由NPI單位於MCP中製訂。4.2 SPC QC Flow Chart由品管單位依MCP中定義的SPC管制點製訂。4.3 產品良品率管制界限由品管IPQC單位訂定。4.4 異常分析&矯正措施擬定由PE負責。4.5 糾正措施執行由制造單位執行。5 程序5.1 導入關鍵參數管制的產品識別5.1.1 NPI單位接到新機種時先確認是否QS9000系統內之產品，若是需導入關鍵參數對產品管制，若非QS9000系統之產品但為客戶要求者也需執行關鍵參數的管制。5.1.2 關鍵參數的設定可以依照“關鍵參數管辦法”作業，當該關鍵參數須以SPC進行管控時將需繼續5.3開始的作業。5.2 列入SPC管制的關鍵製程識別：5.2.1 若需進行SPC管制的產品NPI需製作MCP，MCP的製作方法可以依照“製造控制計劃辦法”作業。需用SPC管制的關鍵製程須於MCP中標示出，包括：關鍵參數及管制方法，並選用適當管制圖，關於如何選用適當的管制圖將於5.4中描述。5.3 管制圖的選擇5.3.1 當進行SPC管制產品的變異時必須選擇最為恰當的管制圖才能真正的取得成效。5.3.2 選擇適當的管制圖可以參考本作業辦法的附件一(SPC管制圖應用對照表)，附件一詳細說明了各基本管制圖的用途以及實際於公司生產時可應用的範圍，也對各管制圖使用時注意事項進行了說明。5.3.3 當根據產品的關鍵參數管制要求選定好管制圖後，需於MCP上說明應使用的管制圖，實際執行時將依照MCP上規定的管制圖運作。5.4 決定樣本大小與頻率5.4.1 為有效的建立關鍵參數的管制圖與製程能力，應盡可能的使用最快速的抽樣頻率，每次最少應該有100個的樣本(25組樣本點)作為管制界限與及計算製程能力的樣本數。5.4.2 QS9000產品其初始制程能力分析使用表格：PPK DATA FORM ( ISO-QC-128 )進行分析。當PPK值低於1.67時須及時做反應計劃及改善，須將相關改善記錄予以文件化並保存。5.5 即時量測資料5.5.1 當使用SPC監控制程時，管制圖應該即時的進行分析。失控的樣本點要被標示並注明變異來源及矯正措施。收集數據填入管制圖表，如此量測結果方能完全表示制程產出狀況，特別注意的是不要從數據庫里刪除不良項目的數據。5.6 分析與糾正5.6.1 判定變異的特殊原因5.6.1.1 當關鍵參數不在管制之下時，需知的問題是【什麼被改變了？】（條件和原因），而不是【什麼被弄錯了？】（結果），也就是說，依時間順序所建立的管制圖，將告知何處與何時發生了改變，如果變異能找到，失控的樣本點即可標出（可歸屬原因），生產階段，如能將變異特殊原因確認或可歸屬原因，則在制造系統內應標明與減少該類變異。5.6.2 消除變異5.6.2.1 欲消除特殊變異，需消除導致失控情況產生的原因，比如可檢查作業員操作記錄，或與橫向功能小組成員一起分析，以找出失控效應的產出原因，如使用因果圖排除候選原因，使用已核可的操作程序與教育訓練，都是減少特殊變異產生的一般方法。5.6.3 收集新量測值與持續管制圖5.6.3.1 當變異被確定並移除，需再收集新量測值，移除樣本的方式相當於將失控點自計算管制界限公式內移除，每次移除一組樣本點需再次收集一組樣本，如此方能保持最少100個樣本(25組樣本點)於管制狀態內，以建立一個新的管制界限，然后再於新的管制圖上繪出管制界限，失控的樣本點仍應保留在管制圖內。5.7 培訓5.7.1 培訓對象：實際執行SPC管理的人員，該人員必須通過SPC的培訓才可執行SPC的管理作業，且每年還得進行年度的評鑑並需考核合格才可繼續執行該項作業。5.7.2 培訓教材：依照附件二之(SPC標準教材)進行培訓。5.8 制程缺失模式數據計算與改善流程方式規定：（僅適用於Microsoft客戶機型）。5.8.1 在生產制程中采用DPMO計算方式，以提供規範真實的數值。DPMO = (Defects / Defect Opportunities * 1065.8.1.1 Defects：缺失機會數量5.8.1.2 Defect Opportunities：檢驗總點數5.8.1.3 元件不良被記作一個不良點5.8.1.4 錫橋式短路兩個PIN相連算一個不良點，三個相連記作兩個不點5.8.2 直通率計算方式(僅適用於Microsoft客戶機型)FPYLC = FPYstation1 * FPY station2 * FPY station3FPYLC代表單個產品累計良品合格率，FPYstation1、FPY station2、FPY station36 參考文件6.1 【生產及其檢驗控制程序】QP-82036.2 【糾正預防措施管制程序】CP-85017 記錄7.1 無8 附件8.1 SPC管制圖應用對照表8.2 SPC運作流程圖版本修 改 内 容修改日期01初版发行2006.8.1102修訂文件編碼2006.12.2903修改字誤及增加條文72007.12.20批 准審 核擬 制8.3 SPC管制類別名稱主要應用範圍KINPO管制參數制作注意事項說明計量值均值和极差圖 -R使用於過程中關鍵參數的計量型測量數據分析，為最為常用之計量型分析管制圖.(適用於樣本容量較小的子組，子組樣本小于9的制程參數分析.)如:SMT錫膏測厚分析、重要零組件關鍵尺寸、耗電流值分析等.1. 成對使用均值和极差圖，是從對過程輸出的特性的測量發展而來的，這些數據是以樣本容量恆定的小子組的形式報出的，這种子組通常包括2-5件連續的產品，並周期性地抽取子組(例如:每小時抽樣一次或每班抽樣兩次等.)，應制定一個收集數據的計劃，並將它作為收集、記錄及將數據畫到控制圖上的依據. 2. 分析管制圖上的數據數點. 3. 識別並標注特殊原因. 4. 分析改善後重新計算控制限.計量值均值和標準差圖 -s使用於過程中關鍵參數的計量型測量數據分析，為最為常用之計量型分析管制圖.(適用於樣本容量較大的子組，子組樣本大于9的制程參數分析.)一般來說，當出現下列一种或多种情況時用s圖代替R圖: 1.數腒是由計算機按實時時序記錄和或描圖2.使用的子組樣本容量較大.(易於求取S值時.)如:測試數據直接輸入電腦時可使用.1. 成對使用均值和標準圖，是從對過程輸出的特性的測量發展而來的，這些數據是以樣本容量恆定的小子組的形式報出的，這种子組通常包括9個以上連續的產品，並周期性地抽取子組(例如:每小時抽樣一次或每班抽樣兩次等.)，應制定一個收集數據的計劃，並將它作為收集、記錄及將數據畫到控制圖上的依據. 2. 分析管制圖上的數據數點. 3. 識別並標注特殊原因. 4. 分析改善後重新計算控制限.計量值中位數圖可替代均值极差圖，但在統計意義上不如均值那樣理想，其優點有: 1.易於使用，容易計算. 2.可顯示過程輸出的分布寬度並且給出過程變差的趨勢. 3.可用來對幾個過程的輸出或同一過程的不同階段的輸出進行比較.(子組均值不方便計算時.)如:SMT錫膏測厚分析、重要零組件關鍵尺寸、耗電流值分析，各產品間比校用.1. 對於現行過程控制，其控制限是由先前收集的數據得到的， 2. 使用一個圖，其刻度增量的設置與所使用的量具一樣(在產品規範值內至少有20個刻度值)並畫上已填入的中位數的中心線和控制限; 3. 使用一張卡片標上极差的控制限，假設有影響极差的特殊原因會產生失控的點而不只是趨勢; 4. 操作者將每個單值點標在圖上，但不需要將這些數據記錄下來; 5. 操作者將极差卡片與每個子組的最大標記點和最小標記點進行比校，對任何超出卡片上控制限的組用窄垂直框圈上， 6. .操作者計算出每個子組的中位數，並圈上，標注任何超出任一個控制限的中位數. 7. .對於超過控制限之外的极差或中位數，操作者可采取適當的措施來調整或糾正過程， 或者通知管理人員或支持人員.計量值單值和移動极差圖(X-MR)必須用單值進行過程控制時使用.如:測量費用很大時(例如破壞性試驗)，或者當在任何時刻點的輸出性質比較一致時(例如:化學溶液的PH值，)(性質上是均勻或不能按子組取樣時.)如:錫爐的成份測試、RoHS物質檢測值、QA破壞性試驗等.1. 單值圖在檢查過程變化時不如均值极差圖敏感; 2. 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單控制圖時要非常小心; 3. 單值控制圖不能區分過程的零件間重復性，因此，在很多情況下，最好還是使用常規的子組樣本容量較小(2-4)的均值极差圖，盡管在子組間都要求較長的時間;4. 由於每一子組僅有一個單值，總平均數與標準差值會有較大的變異性，直到子組數達到100以上為止. 5. 單值圖的刻度按下列最在者選取: a.產品的規範容差加上超過規範的讀數的允許值. b.最大單值讀數與最小單值讀數之差的1.5到2倍.計數值不合格率的P圖用來測量在一批檢驗項目中不合格品(不符合或所謂的缺陷)項目的百分數.(樣本容量不必相等.)(關心的是不合格品率-即壞零件的百分比!)如:IQC&IPQC&PQC&OQC等檢驗批之產品不合格率分析.1. 把被檢查的每一個元件，零件或項目記錄成合格或不合格(即使一個項目有幾處不合格，也僅記錄為一個不合格項). 2. 把這些檢驗的結果按一個有意義的基礎條件分組，並且把不合格的項目用占子組大小的十分之幾來表示.計數值不合格品數的np圖用來度量一個檢驗中的不合格(不符合或所謂的缺陷)品的數量，與P圖不同，np圖表示不合格品的實際數量而不是與樣本的比率.P圖和np圖適用的基本情況相同，當滿足下列情況時可選用np圖: a.不合格品的實際數量比不合格品率更有意義或更容易報告， b.各階段子組的樣本容量相同.(關心的是不合格品率-即壞零件的百分比!)NA1. 受檢驗樣本的容量必須相等.分組的周期應按照生產間隔和反饋系統而定.樣本容量應足夠大使每個子組內都出現幾個不合格品， 在數據表上記錄樣本的容量. 2. 記錄並描繪每個子組內的不合格品數np.計數值不合格數的c圖用來測量一個檢驗批內的不合格(或缺陷)的數量(與描在np圖上的不合格品的數量不同).c圖要求樣本的容量恆定或受檢材料的數量恆定，它主要應用於以下二類: 1.不合格分布在連續的產品流上(例如每匹維尼龍上的瑕疵，玻璃上的气泡或電線上絕緣層薄的點)，以及可以用不合格的平均比率表示的地方，(如每100m2 維尼龍上的瑕庛.). 2.在單個的產品檢驗中可能發現許多不同潛在原因造成的不合格(例如:在一個修理部記錄，每輛車或元件可能存在一個或多個不同的不合格).(關心的是不合格數-即單位零件不合格數!)N/A檢驗樣本的容量(零件的數量，織物的面積，電線的長度等)要求相等，這樣描繪的c值將反映質量性能的變化(不合格的發生率c)而不是外觀的變化(樣本容量n).在數據表中記錄樣本容量， 記錄並描繪每個子組內的不合格數c.計數值單位產品不合格數的u圖用來測量具有容量不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內每檢驗單位產品之內的不合格數量.除了不合格數是按單位產品為基本量表示以外，它是與c圖