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文档简介
PQD-3 桥桥堆快速堆快速筛选筛选台台 技技术说术说明明书书 杭州杭州萧萧山山专专用用仪仪器厂器厂 二二 00 四年元月四年元月 PQD3 桥堆快速筛选台桥堆快速筛选台 技技术术说说明明书书 1.系系统统简介简介 本筛选台是参照日本 JIS 标准及国家标准,并利用 “75”期间快速筛选成果研制而成。采用微电脑控制,利用二极管热敏参 数作为失效判据,在 3-5 秒内对各二极管的 VF、IR、VDR进行常温和高温一 次性测试筛选,并能剔除热阻大,瞬间热开路,高温漏电流大等热不稳定 性器件,不仅可以替代常规测试,而且可取代直流老化和高温热测。 2. 主要技术指标主要技术指标: 正向压降 VF(1-4) 测试范围: 0.1V 2V 误差5% 测试条件: 1mA 10A 误差5% 反向漏电 IR(1-4) 测试范围: 0.1uA 1mA 误差5% 测试条件: 5V 1000V 误差5% 反向压降 VDR(1-4) 测试范围: 20V 1000V 误差5% 测试条件: 1uA 1mA 误差5% 加温电流 IT : 0.1A 10A 加温时间 T :(1-4) 0 10S 3. 主要功能主要功能: 3.1 能测试加温前、加温后的各个参数,并能任意选择全部或部分选 项,一次性自动检测。 3.2 可任意设定测试条件及判据,并保存在系统中,通过浏览方式任意调 取。 3.3 测试结果在大屏幕液晶显示器 LCD 上显示,超标器件自动声光报警。 3.4 测试结果通过统计可获得最大值、最小值、平均值。 3.5 测试条件、失效判据、检测结果、测试时间、器件型号及编号可通过 打印机打印输出。 3.6 操作简便,只需选择器件型号即可进入连续检测,测试口有否被测管 自动识别。 4使用条件:使用条件: 4.1 电网电压: 220V10% 频率: 50HZ 4.2 整机最大功耗: 150W 4.3 环境温度: 030 4.4 相对湿度:85 4.5 重量:15kg 4.6 外形尺寸:( 宽高深 mm) 450180460 4.7 其它:无强电磁场干扰和有害腐蚀性气体 5控制指示件的功能控制指示件的功能 外形图 控制件的作用(序号与外形图对应) 1. 液晶显示器用于显示设定条件、判据及测试值。详见使用方法。 2. 按键用于输入设定值及控制操作等。 3. 测试指示灯:当在测试时指示灯亮。 4. 报警指示灯:当被测器件不合格时蜂鸣器响长音,同时该灯发亮。 5. 电源开关 。 6使用说明使用说明 6.1 使用前注意事项 6.1.1 仪器使用的电源进线形式为单相三线,其中的地线必须与 大地接触良好,以确保安全。 6.1.2 仪器使用 220V10%,最好使用稳压器。 6.1.3 使用前应先参阅使用说明书的技术性能、使用方法等章节。 6.2 PQD-3 桥堆快速筛选台操作说明书桥堆快速筛选台操作说明书 PQD-3 桥堆快速筛选台采用键盘操作,大屏幕液晶显示,界面友好, 操作简便。键盘布局如下: 123测试打印复位 456返回 确认 789 0.退格 暂停 其中“1”到“9” 、 “0”为数字键,用于输入参数和菜单选择, “.”为 数据输入中的小数点, “退格”键用于删除本行中输入的数字和字符的最后 一个。 “确认”键用于对新增、设置或更改的数据进行保存,并返回上层菜 单或进入下一级菜单。 “返回”按键用于取消或放弃当前所作的修改,并返 回上层菜单。 “向上键” 、 “向下键”用来数据输入时转换输入焦点、输入项 目或手动测试中转换被测项目。 “向左键”也称为“数据清零键” ,可将当 前输入的数据清零。 “向右键”也称为“数据复原键” ,当发生数据错误改 动时,按此键即可恢复原数值。 具体的操作步骤如下: 打开本机电源,开机显示界面如下: 注意事项:如果需要修改、设置测试条件和判据必须先输入密码。注意事项:如果需要修改、设置测试条件和判据必须先输入密码。 ( 仪器初始密码一般为:123456 ) 桥堆快速筛选测试台 1. 器件型号选择 2. 测试判据设置 3. 测试参数设置 4. 器件自动测试 5. 器件手动测试 6. 测试分析报告 7. 系统设置 QD QL16 2003-01-01 08:08:00 界面左下角显示的“QD QL16”表示系统已经设定的被测器件为桥堆 QL16,右下角显示的为当前日期和时间。 6.2.1 按键盘数字“1” ,进入器件型号选择器件型号选择步骤,显示界面如下: 桥堆型号 输入 1250 的器件序号 10 输入新增加器件的型号 QL16 “向上键” 、 “向下键”可往前、往后改变器件型号, “向左键” 、 “向右 键”可快速往前、往后改变器件型号,器件型号显示在屏幕中间,按“确 认”键即将该器件选为当前被测器件。按“返回”键取消浏览,返回上层 菜单。 在第一行高亮条中输入所要增加的器件的排序号。按“转换”键显 示第二个高亮条,在第二高亮条内输入所要增加器件的型号。按“确认” 键保存器件的序号和型号,自动转入测试条件和测试判据设置。按“返回” 键取消所作更改返回上层菜单。 6.2.2.按键盘数字“2” ,进入测试判据设置测试判据设置,显示界面如下: 桥堆判断值条件设置表 测试型号QL16 测试项目测试选择及判断条件 L_Vf 1.2V Vf 0.12V L_Ir 5uA H_Ir 50uA L_Vdr 990V H_Vdr 990V 项目参数前道“L_” 、 “ H_” 、 “ ”分别表示为该参数为常温参数、 高温参数、常温高温变化量。 “向上键” 、 “向下键”可在输入时移动高亮条转换输入项目, “向左键” 可将当前输入的数据清零。 “向右键”可恢复原数值。 当高亮条所在的该行第二列有图案时,按“转换”键可将图案在“” 和“”之间转换, “”表示该项目在自动测试时进行测试, “”表示 在自动测试中该项不作测试。 按“确认”可将修改数据存盘,并返回上层菜单。按“返回”即放弃修 改结果返回上层菜单。 6.2.3.按键盘数字“3” ,进入测试参数设置测试参数设置, 显示界面如下: 桥堆测试条件设置表 测试型号QD16 测试项目测试条件 VfIf 1A IrVr 1000V VdrIr 5uA 加温电流It 3.2A 加温时间T1 3.3S 加温时间T2 3.2S 加温时间T3 3.1S 加温时间T4 3.0S “向上键” 、 “向下键”可在输入时移动高亮条转换输入项目, “向左键” 可将当前输入的数据清零。 “向右键”可恢复原数值。按“确认”可将修改 数据存盘,并返回上层菜单。按“返回”即放弃修改结果返回上层菜单。 6.2.4.按键盘数字“4” ,进入器件自动测试器件自动测试, 显示界面如下: 测试桥堆 QD16 1. 开始自动测试 2. 浏览测试结果 3. .返 回 (1).按键盘数字“1” ,进行自动测试,测试口有否被测管自动识 别测试。 测试完毕显示测试报表如下: 器件 QD16 测试报表 累计测试:1 次 项目常温高温变化量单位 Vf1V Vf2V Vf3V Vf4V Ir1uA Ir2uA Ir3uA Ir4uA Vdr1V Vdr2V Vdr3V Vdr4V 当将测试端口器件取下,仪器进入自动探测状态,换上下一个被测器件 时,不用按键,仪器就可自动进入测试状态,测试完毕用蜂鸣器的一声短 鸣表示测试合格。测试过程中如果发现某项参数超差或发生短路击穿等情 况,蜂鸣器发出一秒长鸣以示告警,并在液晶屏上显示告警信息。 注意事项:在自动探测状态测试时,换上下一个被测器件后,请注意事项:在自动探测状态测试时,换上下一个被测器件后,请 立刻把手离开测试端口,以免高压打手。立刻把手离开测试端口,以免高压打手。 “测试键”和“1”键类似,可进行一次自动测试。但同时仪器退出自 动探测状态。 “向上键” 、 “向下键”可在测试时翻看前后记录,按“确认”或“返 回”返回上层菜单。 (2).按键盘数字“2” ,浏览测试结果,显示画面同上。 “向上键” 、 “向下键”可在测试时翻看前后记录,按“确认”或“返回”返回上层菜 单。 (3).按键盘数字“3” ,返回上层菜单。按“打印”键打印测试结果。 6.2.5.按键盘数字“5” ,进入器件手动测试器件手动测试, 显示界面如下: 手动测试桥堆 QD16 测试项目测试结果单位 Vf1V Vf2V Vf3V Vf4V Ir1uA Ir2uA Ir3uA Ir4uA Vdr1V Vdr2V Vdr3V Vdr4V “向上键” 、 “向下键”可移动高亮条转换测试项目,按“确认”或“返 回”返回上层菜单。按键盘数字“6” ,进入测试分析报告,显示界面如下: 显示测试统计报表 请输入需要统计的器件量: 100 如输入的“器件量”为 100,表示所统计的器件是第 1 至第 100 个所测 器件。统计数字最多为 250 个。 (1).按“转换”按键,显示如下: 显示测试统计报表 请输入需要统计的器件量: 100 1显示常温统计报表 2显示高温统计报表 3显示差值统计报表 4返回上层菜单 A.按数字键“1” ,显示常温统计报表,如下: QD16 常温测试统计报表 累计测试:100 次 项目最小值最大值平均值单位 VfV Vf2V Vf3V Vf4V Ir1uA Ir2uA Ir3uA Ir4uA Vdr1uA Vdr2V Vdr3V Vdr4V B.按数字键“2” ,显示高温统计报表,如下: QD16 高温测试统计报表 累计测试:100 次 项目最小值最大值平均值单位 Vf1V Vf2V Vf3V Vf4V Ir1uA Ir2uA Ir3uA Ir4uA Vdr1V Vdr2V Vdr3V Vdr4V C.按数字键“3” ,显示差值统计报表,如下: QD16 差值测试统计报表 累计测试:100 次 项目最小值最大值平均值单位 Vf1V Vf2V Vf3V Vf4V Ir1uA Ir2uA Ir3uA Ir4uA Vdr1V Vdr2V Vdr3V Vdr4V D.按数字键“4” ,返回上层菜单; E.按“打印”键可打印上述表格,按“确定”和“返回”键可返回上 层菜单。 6.2.6.按键盘数字键“7” ,进入系统设置系统设置,显示界面如下: 1修改系统时间 2系统打印设置 3密码设置 按数字键“1”进入时间设置常态,显示界面如下: * 001 01 01 01: 01:01 修改完毕按“确认”键,返回上层菜单 按数字键“2”进入打印设置常态,按“转换”键,选择“允许自动 打印”或“禁止自动控制打印”常态。 设置完毕按“确认”键返回主菜 按数字键“4”进入密码设置常态,输入当前仪器密码后,如不需要修 改当前密码按“确认”键即可; 如需要修改当前密码按“转换”键,进入 仪器新密码设置常态,用“退格” 键清除当前密码,重输系统新密码。按 “确认”键, 返回上层菜单。 注意事项:如果需要打印,请先连接好打印线,开启打印机,再注意事项:如果需要打印,请先连接好打印线,开启打印机,再 开主机。在测试前打印设置常态选择开主机。在测试前打印设置常态选择“允许自动打印允许自动打印” 。 如果不需要打印,请在测试前打印设置常态选择如果不需要打印,请在测试前打印设置常态选择“禁止禁止 自动打印自动打印” 。 7.根据部标确定热敏参数的测试条件根据部标确定热敏参数的测试条件(室温室温 25)(内内部部资资料料、仅仅供供参参 考考) 7.1失效判据失效判据的具体确定: VFL:根据被测器件技术指标。 VF:硅管 120mv130mv。锗管 70mv80mv IRL:根据被测器件技术指标。 IRH;根据被测器件技术指标 7.2加温条件加温条件的具体确定: (1)加温方式:给各二极管加正向电流 IT,并保持一定时间使各二极管 结温升高,达到温升的目的。 (2)IT和 T 的确定:通过多次调节 IT和 T 的大小,使大部分器件的VF 测试结果满足:硅管:80mv90mv 锗管:40mv50mv 注:A. IT、T 越大,VF越大。 B. 面接触型,T 只需 2.5S 以上即可。 C. 点接触型,T
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