标准解读

《GB/T 35418-2017 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法》是一项国家标准,主要规定了使用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)方法测定碳纳米管材料中特定杂质元素含量的技术要求和测试步骤。该标准适用于研究、生产和质量控制过程中对碳纳米管样品内金属及其他非金属杂质元素进行定量分析。

根据标准内容,首先明确了适用范围及规范性引用文件;接着详细描述了所需仪器设备条件与试剂纯度要求,强调了实验操作前准备工作的重要性,包括样品预处理、标准溶液配制等关键环节;然后具体介绍了采用ICP-MS技术进行检测时的操作流程,涵盖了从进样到数据采集分析的全过程,并给出了如何通过校准曲线来计算待测元素浓度的方法;此外还提出了对于结果表达方式的要求以及重复性和再现性的评价指标;最后附录部分提供了典型工作参数设置建议及相关信息。

整个文档旨在为从事相关领域工作的技术人员提供一套科学合理且可操作性强的指导方案,确保不同实验室间能够获得一致可靠的测量结果。


如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

查看全部

  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-12-29 颁布
  • 2018-04-01 实施
©正版授权
GB∕T 35418-2017 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定电感耦合等离子体质谱法_第1页
GB∕T 35418-2017 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定电感耦合等离子体质谱法_第2页
GB∕T 35418-2017 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定电感耦合等离子体质谱法_第3页
GB∕T 35418-2017 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定电感耦合等离子体质谱法_第4页
GB∕T 35418-2017 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定电感耦合等离子体质谱法_第5页
免费预览已结束,剩余19页可下载查看

下载本文档

GB∕T 35418-2017 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定电感耦合等离子体质谱法-免费下载试读页

文档简介

ICS71040 A 40 . 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T354182017/ISO/TS132782011 : 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 NanotechnologiesDeterminationofelementalimpuritiesin samplesofcarbonnanotubesInductivelycoupledplasmamassspectrometry (ISO/TS13278:2011,NanotechnologiesDeterminationofelemental impuritiesinsamplesofcarbonnanotubesusinginductivelycoupled plasmamassspectrometry,IDT)2017-12-29发布 2018-04-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 GB/T354182017/ISO/TS132782011 : 目 次 前言 引言 范围1 1 规范性引用文件2 1 术语 定义 符号和缩略语3 、 、 1 样品和试剂4 2 仪器5 4 样品预处理6 5 实验步骤7 6 数据分析8 8 不确定度9 8 测试报告10 9 附录 资料性附录 碳纳米管中元素杂质分析举例 A ( ) 10 参考文献 15 GB/T354182017/ISO/TS132782011 : 前 言 本标准按照 给出的规则起草 GB/T1.12009 。 本标准使用翻译法等同采用 纳米技术 应用电感耦合等离子体质谱法测定 ISO/TS13278:2011 碳纳米管中的杂质元素 。 本标准做了如下编辑性修改 : 修改了标准名称 。 本标准由中国科学院提出 。 本标准由全国纳米技术标准化技术委员会 归口 (SAC/TC279) 。 本标准主要起草单位 国家纳米科学中心 中国科学院高能物理研究所 : 、 。 本标准主要起草人 白茹 陈春英 李柏 李玉锋 赵宇亮 : 、 、 、 、 。 GB/T354182017/ISO/TS132782011 : 引 言 电感耦合等离子体质谱 是一种被广泛认可的多元素分析技术 可快速 精确检测样品中 (ICP-MS) , 、 的痕量元素 与原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法 相比 电感耦合等离子体 。 (ICP-AES) , 质谱法具有很多优势 如 基体干扰小 灵敏度高 检出限低等 , : , , 。 碳纳米管 具有独特的物理和化学性质 在许多领域具有潜在应用 引起了广泛的研究兴趣 (CNT) , , 。 应用化学气相沉积法大量生产碳纳米管时 需要使用金属颗粒作为催化剂1-3 去除残留的催化剂 如 , 。 ( 对于碳纳米管的应用具有重要意义4 经过复杂的纯化步骤 测定催化剂的含量 由于金Fe,Co,Ni) 。 , 。 属催化剂的存在 可随着碳纳米管的使用而被释放 从而对碳纳米管的毒理学和生态学作用结果产生影 , , 响5-7 此外 碳纳米管的功能可能取决于这些催化剂杂质 所以必须采用可靠的技术检测杂质含量 。 , , 。 目前分析碳纳米管纯度的方法包括 中子活化分析 含有电子能量损失谱 的透射电 : (NAA), (EELS) 子显微镜 含有能量色散 射线光谱 的扫描电子显微镜 拉曼光谱 射线光电 (TEM), X (EDX) (SEM), ,X 子能谱 热重分析 和 射线荧光 光谱8-12 颁布了一些表征单壁碳 (XPS), (TGA) X (XRF) 。ISO/TC229 纳米管和多壁碳纳米管的技术方法标准 如 多壁碳纳 , SEM (ISO/TS10798),TEM (ISO/TS10797), 米管表征方法 (ISO/TR10929)。 然而 每种检测方法都有其局限性 热重分析仅能反应物质在受热条件下的质量变化 受到许多因 , , , 素的影响 包括仪器 实验条件和样品因素等 所以检测结果可信度不高 中子活化分析是一种基于核反 , 、 , ; 应的定量定性方法 该方法灵敏度 准确度和精密度高 可同时测定痕量 微量和主量的元素 灵敏度达 , 、 , 、 , -6 -9 因此 常被用作标准参考物制定 但是由于需要大型核反应堆照射样品 中子活化分析的10 10 , , 。 , 应用受到了极大的限制 此外 高成本与放射危害 较长的分析周期 复杂的操作技术 较差的实用性 限 , , , , , , 制了中子活化分析方法的应用 电感耦合等离子体质谱 也具有高的灵敏度 准确度和精密 。 (ICP-MS) 、 度 广泛用于实验室检测 它要求样品被完全消解 传统的消解方法适用于土壤 岩石和生物样品分析 , 。 , 、 。 碳纳米管具有极其稳定的结构 并且金属残留物可能包裹在碳壳结构中 因此 需要采用特定的样品预 , , , 处理方法12-15 电感耦合等离子体质谱法比石墨炉原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法 。 具有更高的灵敏度 。 本标准为应用电感耦合等离子体质谱准确检测单壁碳纳米管和多壁碳纳米管中残留的杂质元素 , 提供了最优的样品预处理方法 附录 是方法应用举例 。 A 。 GB/T354182017/ISO/TS132782011 : 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法1 范围 本标准规定了使用电感耦合等离子体质谱 测定单壁碳纳米管 和多壁碳纳米 (ICP-MS) (SWCNT) 管 中残留杂质元素的方法 (MWCNT) 。 本标准为单壁碳纳米管和多壁碳纳米管样品提供了优化的消解和预处理方法 从而应用电感耦合 , 等离子体质谱准确定量测定杂质元素 。2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 凡是注日期的引用文件 仅注日期的版本适用于本文 。 , 件 凡是不注日期的引用文件 其最新版本 包括所有的修改单 适用于本文件 。 , ( ) 。 纳米科技 术语 第 部分 碳纳米物体 GB/T30544.32015 3 : (ISO/TS80004-3:2010,IDT)3 术语 定义 符号和缩略语 、 、31 术语和定义 . 中界定的以及下列术语和定义适用于本文件 GB/T30544.32015 。311 . 电感耦合等离子体源 inductivelycoupledplasmasource 大气压下通过射频电磁场在氩气中产生等离子体的部件 。312 . 电感耦合等离子体质谱 inductivelycoupledplasmamassspectrometryICP-MS ; 由进样系统 电感耦合等离子体源 等离子体 真空接口 质谱仪 包括离子聚焦 分离和检测系统 、 、 / 、 ( 、 ) 构成 。 注 电感耦合等离子体质谱可定量检测样品中痕量 微量和主量的元素 适用于分析化学领域 : 、 , 。313 . 杂质元素 elementalimpurity 样品中的非碳元素 在样品中出现的且不以碳纳米管形式存在的元素 , 。 注1 这些杂质主要是在大规模生产碳纳米管时使用的金属催化剂的残留物 : 。 注2 无定形碳可做为碳纳米管中的另一种杂质 不在本文件范围内 : , 。32 符号和缩略语 . 下列符号和缩略语适用于本文件

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题。

评论

0/150

提交评论