2013-2014材料现代测试分析技术考卷c_第1页
2013-2014材料现代测试分析技术考卷c_第2页
2013-2014材料现代测试分析技术考卷c_第3页
2013-2014材料现代测试分析技术考卷c_第4页
全文预览已结束

付费下载

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

20132014材料现代测试分析技术考卷C一、填空题(每空5分,共20分)1.材料现代测试分析技术中,______是指通过分析材料表面的微观形貌来获取材料表面结构信息的方法。2.______是一种利用X射线与物质相互作用产生的衍射现象,来研究物质内部微观结构的技术。3.______是通过测量材料对电磁波的吸收或透射特性,来分析材料的组成和结构的方法。4.______是一种基于量子力学和统计力学原理,通过分析材料的红外光谱来研究分子结构和化学键的技术。二、选择题(每题10分,共30分)1.下列哪种技术不属于材料现代测试分析技术?A.电子显微镜B.X射线衍射C.红外光谱D.质谱2.在材料现代测试分析技术中,用于研究材料表面形貌的技术是?A.X射线衍射B.红外光谱C.电子显微镜D.热重分析3.下列哪种技术主要用于分析材料的晶体结构?A.红外光谱B.X射线衍射C.热重分析D.电子显微镜三、简答题(每题15分,共30分)1.简述电子显微镜在材料现代测试分析技术中的应用。2.说明X射线衍射技术在材料结构分析中的重要作用。四、论述题(每题20分,共40分)1.论述红外光谱技术在材料成分和结构分析中的应用。2.详细阐述热重分析技术在材料热稳定性研究中的重要性。五、计算题(每题20分,共40分)1.已知某材料的X射线衍射图谱中,衍射峰的位置与晶面间距d的关系为:λ=2dsinθ,其中λ为X射线的波长,θ为衍射角。现测得某衍射峰的θ为20°,λ为0.154nm,计算该衍射峰对应的晶面间距d。2.已知某材料在加热过程中的热重分析曲线,初始质量为m0,加热至某一温度时质量为m1,求该温度下材料的失重率(失重率=(m0m1)/m0×100%)。六、实验题(每题30分,共60分)1.设计一个实验方案,利用电子显微镜观察某材料的表面形貌,并简要说明实验步骤。2.设计一个实验方案,利用X射线衍射技术分析某材料的晶体结构,并简要说明实验步骤。一、填空题答案:1.扫描电子显微镜2.X射线衍射3.紫外可见光谱4.红外光谱二、选择题答案:1.D2.C3.B三、简答题答案:1.电子显微镜在材料现代测试分析技术中主要用于观察材料表面的微观形貌,如颗粒大小、形状、分布等。2.X射线衍射技术在材料结构分析中主要用于确定材料的晶体结构、晶格常数、晶粒大小等。四、论述题答案:1.红外光谱技术在材料成分和结构分析中主要用于识别材料中的官能团、化学键和分子结构。2.热重分析技术在材料热稳定性研究中的重要性在于通过测量材料在加热过程中的质量变化,来分析材料的热稳定性和热分解过程。五、计算题答案:1.d=0.154nm/(2sin(20°))≈0.087nm2.失重率=(m0m1)/m0100%=(m0m1)/m0100%六、实验题答案:1.实验方案:利用扫描电子显微镜观察某材料的表面形貌。实验步骤:准备样品,将样品固定在样品台上,放入扫描电子显微镜中,调整参数,观察并记录图像。2.实验方案:利用X射线衍射技术分析某材料的晶体结构。实验步骤:准备样品,将样品放置在X射线衍射仪上,调整参数,进行衍射实验,分析衍射图谱。1.材料现代测试分析技术包括扫描电子显微镜、X射线衍射、紫外可见光谱、红外光谱等。2.扫描电子显微镜主要用于观察材料表面的微观形貌。3.X射线衍射技术主要用于分析材料的晶体结构。4.红外光谱技术主要

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论