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文档简介

2.5TTL和CMOS集成门接口问题及使用注意事项

1.TTL与CMOS系列之间的接口问题

TTL电路和CMOS电路接口时,无论是用TTL电路驱动CMOS电路还是用CMOS电路驱动TTL电路,驱动门都必须为负载门提供合乎标准的高、低电平和足够的驱动电流。(1)TTL与CMOS电路的接口问题当多种逻辑器件混合使用时,一般需要考虑的是电平是否兼容以及带负载能力两方面。a.用TTL电路驱动CMOS电路

(a)当用TTL电路驱动4000系列和HC系列CMOS电路(两者的电源电压相近)时,必须设法将TTL电路的输出高电平提升到3.5V以上。此时可以在TTL电路的输出端接一个上拉电阻至电源VCC(+5V)。如果CMOS电路的电源较高(VDD>>VCC),TTL的输出端仍可接一上拉电阻,但需使用集电极开路门电路。另一种方案是采用一个专用的CMOS电平移动器,它由两种直流电源VCC和VDD供电,电平移动器接收TTL电平(对应于VCC),而输出CMOS电平(对应于VDD),电路如图所示。(b)用TTL电路驱动HCT系列和ACT系列的CMOS门电路时,因两类电路性能兼容,故可以直接相接,不需外加元件和器件。

(2)用CMOS电路驱动TTL电路由于CMOS驱动电流较小(特别是输出低电平时),所以对TTL电路的驱动能力很有限。例如,CD4069(六反相器)只能直接驱动两个74LS系列门负载,提高CMOS电路驱动能力常用的方法:a.将同一封装内的门电路并联使用。b.采用CMOS驱动器c.采用CMOS漏极开路门(OD门)d.用三极管反相器作为接口电路,可用三极管电流放大器扩展电流驱动能力。2.5.2

使用TTL门的几个实际问题1.输入端电阻对TTL门工作状态的影响

T2

T1

T3

+VCC

R

R1

R1

iB2

uI+-

uB1

iR

iB1当uI≈0.7V时,uB1达到1.4V,T1的集电结和T2的发射结导通,但T3仍截止。当自零开始逐渐增加R,则uI和uB1随之增加,T2一直处于截止状态;

T2

T1

T3

+VCC

R

R1

R1

iB2

uI+-

uB1

iR

iB1随着R增加,uI和uBI将继续增加。当uI≈1.4V时T3导通,输出低电平。这时uBI被钳制在2.1V,反过来使uI也限制在约1.4V。以后再增加R,则uI基本上维持在1.4V不变,这时iR将随R的增加而相应减小。典型TTL与非门的ROFF=0.7kΩRON=2kΩ

T2

T1

T3

+VCC

R

R1

R1

iB2

uI+-

uB1

iR

iB1为使与非门可靠地工作在关门状态,R所允许的最大阻值叫该与非门的关门电阻,记作ROFF。为使与非门可靠地工作在开门状态,R所允许的最小阻值叫该与非门的开门电阻,记作RON。若R≥2kΩ,则该端相当于输入逻辑高电平。在工程技术中,常取ROFF=0.5kΩRON=2kΩ

T2

T1

T3

+VCC

R

R1

R1

iB2

uI+-

uB1

iR

iB1即当TTL与非门的某一输入端通过电阻R接地时:若R≤0.5kΩ,则该端相当于输入逻辑低电平;与非门7420在输出端空载情况下,实测的uI~R和uO~R关系曲线。2.不使用的输入端的处理:悬空?容易受外界信号干扰(1)与非门不使用输入端的接法&

+VCC

uI(a)&

+VCC

uI(b)(2)或非门不使用输入端的接法

uI

+VCC1(a)

+VCC

uI1(b)3、不使用的输出端的处理多余的输出端,应该悬空处理,决不允许直接接到VDD或VSS。否则会产生过大的电流而使器件损坏。逻辑功能相同的门电路,它们的输入端并联时,输出端可以并联。不同逻辑功能的CMOS电路的输出端也不能直接连到一起,否则造成电源短路而引起器件损坏。对于TTL系列,除三态门和集电极开路门外,TTL集成电路的输出端也不允许接在一起。4、尖峰电流的影响a.电路间相互影响会导致逻辑上的错误;b.显著增加门的平均功耗。

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