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材料研究方法(一)知到智慧树章节测试课后答案2024年秋武汉科技大学第一章单元测试

1912年,英国物理学家布拉格父子利用X射线衍射测定()晶体的结构。

A:NaClB:CaCl2C:CuCl2D:KCl

答案:NaClX射线的波长范围是()。

A:10-2~102ÅB:10-5~10-6ÅC:102~103ÅD:104~106Å

答案:104~106ÅX射线是一种(),具有波粒二象性。。

A:可见光B:电磁波C:射线D:机械波

答案:电磁波根据X射线的物理,化学和生物性质,可以判断X射线穿透力强。()

A:错B:对

答案:对根据X射线的物理,化学和生物性质,可以判断X射线对生物组织、细胞就有损伤作用。()

A:对B:错

答案:对根据X射线的物理,化学和生物性质,可以判断X射线不能产生干涉与衍射。()

A:对B:错

答案:错高速运动的电子流在突然被减速能产生X射线。()

A:对B:错

答案:对旋转阳极X射线管作用是()

A:降低X射线管功率B:降低阳极管速度C:提高X射线管功率D:提高阳极管速度

答案:提高X射线管功率激发X射线特征谱必然伴随着连续谱,而激发连续谱一定有特征谱。()

A:对B:错

答案:错线吸收系数与物质的密度成反比。()

A:对B:错

答案:错

第二章单元测试

同一晶体的各个部分的宏观性质是相同的,称为此即晶体的均一性。()

A:错B:对

答案:对晶体的宏观性质也随方向的不同而有所差异,此即晶体的异向性。()

A:对B:错

答案:对从微观来看,组成晶体的原子在空间呈周期重复排列。即以晶体中的原子或其集合为基点,在空间中三个共面的方向上,各按一定的点阵周期,不断重复出现。()

A:错B:对

答案:错正空间的任一晶面对应于倒易空间的一个面。()

A:对B:错

答案:错具有代表性的基本单元(最小平行六面体)作为点阵的组成单元,称为晶胞。()

A:错B:对

答案:对劳厄法的测量方式有()。

A:衍射法B:反射法C:干涉法D:投射法

答案:反射法;投射法

第三章单元测试

布拉格定律只是晶体周期性的结果,也给出了基元中原子的具体排列情况。()

A:错B:对

答案:错相干散射是内层电子对X射线的散射,散射后能量不损失,散射波波长与入射波相同。()

A:对B:错

答案:对电子对X射线的散射强度与观测点距离的平方成反比。()

A:错B:对

答案:对一般情况下,原子核比电子对X射线的散射强。()

A:对B:错

答案:错晶胞对X射线的散射波是晶胞中所有原子对X射线的散射波的合成。()

A:错B:对

答案:对非相干散射是外层电子对X射线的散射,散射后能量不损失。()

A:对B:错

答案:错

第四章单元测试

照相法中根据试样和底片相对位置不同可分为()。

A:针孔法B:聚焦照相法C:德拜谢乐法

答案:针孔法;聚焦照相法;德拜谢乐法德拜相机底片的安装方式根据所在位置不同可分为()。

A:反装法B:偏装法C:正装法

答案:反装法;偏装法;正装法衍射仪的衍射花样都是来自于与试样表面相平行的某些反射面上发生反射的X射线。()

A:错B:对

答案:对粉末衍射仪的工作方式分为()。

A:全谱扫描B:连续扫描C:步进扫描

答案:连续扫描;步进扫描X射线衍射仪是采用衍射光子探测器和测角仪来记录衍射线位置及强度的分析仪器。()

A:对B:错

答案:对常用粉末衍射仪核心部件是()。

A:测距仪B:扫描仪C:测角仪

答案:测角仪晶体单色器的作用是消除衍射花样的背底和Kβ散射。()

A:错B:对

答案:对电压一定时,正比计数器所产生的脉冲大小与吸收的x射线光子的能量成呈反比。()

A:错B:对

答案:错正比计数器是一种高速计数器,它能分辨输入率高达()的分离脉冲。

A:106/SB:103/SC:102/SD:109/S

答案:106/S定标器的工作方式有()

A:指针计数方式B:定数计时方式C:间隔计时方式D:定时计数方式

答案:定数计时方式;定时计数方式

第五章单元测试

1938年,J.D.Hanawalt等就开始收集并摄取各种已知物质的衍射花样。()

A:对B:错

答案:对1979年,粉末衍射标准联合委员会编制成PDF卡片并出版。()

A:错B:对

答案:错戴维无机字母索引是按物相英文名称的字母顺序排列。()

A:错B:对

答案:对X射线定量物相分析中选择标样,其物相的理化性能可以不稳定。()

A:错B:对

答案:错1942年,美国材料试验协会出版了最早的晶体物质衍射数据标准ASTM卡。()

A:错B:对

答案:对芬克数字索引以八根最强线的强度为分析依据,将d值作为次要依据进行排列。()

A:对B:错

答案:错PDF卡片索引,只能在已知物相或可能存在的情况下进行索引。()

A:对B:错

答案:错在定性物相分析前,应尽可能详细了解其来源、化学成分、工艺状况等性质,为检索工作提供线索。()

A:对B:错

答案:对

第六章单元测试

X射线应力常数中包括材料的弹性模量、泊松比和布拉格角。()

A:对B:错

答案:对衍射仪法测量根据衍射几何分为()。

A:同倾法B:外倾法C:测倾法

答案:同倾法;测倾法宏观应力必然造成衍射峰位移动。

A:错B:对

答案:对X射线应力测定方法对非晶材料也有效。

A:错B:对

答案:错微观应力有时也可造成衍射峰位移动。

A:对B:错

答案:对

第七章单元测试

板织构是一种晶粒取向为轴对称分布的织构。()

A:对B:错

答案:错不能用衍射仪法测定丝织构。()

A:对B:错

答案:错反极图是表示宏观坐标轴相对于晶体坐标系的取向分布密度。()

A:对B:错

答案:对实际的多晶体材料的晶粒存在择优取向,称这种组织状态为织构。()

A:对B:错

答案:对表征织构与择优取向分布的主要办法有()

A:平板针孔法B:三维取向函数C:极图法D:反极图法

答案:平板针孔法;三维取向函数;极图法;反极图法

第八章单元测试

CT成像是从不同角度获得样

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