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文档简介
材料测试技术及方法知到智慧树章节测试课后答案2024年秋山东理工大学第一章单元测试
衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小,而与晶胞中的原子位置无关。
A:对B:错
答案:对有一倒易矢量为g*=2a*+2b*+c*。
A:210B:110C:220D:221
答案:221下列条件不属于X射线发生衍射的必要条件。
A:厄瓦尔德图解B:布拉格方程C:衍射矢量方程
D:劳埃方程+约束性方程
答案:布拉格方程根据晶带轴理论,同一晶带的各晶面与晶带轴的关系为。
A:垂直B:平行C:角度不确定D:以60度相交
答案:平行M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称。
A:Kβ
B:KαC:KγD:Lα
答案:Kβ
有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生()衍射线。
A:5
B:4
C:6D:3
答案:4
体心立方晶体(111)晶面族的多重性因素是。
A:6
B:12C:4
D:8
答案:8
利用XRD进行分析,下列说法不正确的是。
A:根据衍射峰的峰位进行定性分析B:θ越大,得到的点阵常数越精确
C:利用谢乐公式计算晶粒大小时晶粒尺寸一般<100nmD:衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关
答案:衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关用CuKα辐射(λ=0.154nm)照射Ag(面心立方)求其点阵常数,测得第一衍射峰位置38°,下列说法正确的是。
A:
α=β=γ=90°B:根据消光条件,Ag的第一衍射峰为(111)C:Ag的点阵常数为0.410nmD:根据条件可知,Ag的第一衍射峰对应的θ为19°
答案:
α=β=γ=90°;根据消光条件,Ag的第一衍射峰为(111);Ag的点阵常数为0.410nm;根据条件可知,Ag的第一衍射峰对应的θ为19°已知Ni对CuKα和CuKβ辐射的质量吸收系数分别为49.03和290cm2/g,若将CuKα辐射的强度降低至入射时的70%需要使用多厚的Ni滤波片。
A:0.001cmB:0.008cm
C:0.008mm
D:0.001mm
答案:0.008mm
第二章单元测试
单晶衍射花样中所有斑点对应的晶面属于同一个晶带。
A:错B:对
答案:对SAED照片中多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样,随着环直径增大,衍射晶面指数也由低到高。
A:错B:对
答案:对与X射线衍射相比,电子衍射束的强度较大,拍摄衍射花样时间短。
A:对B:错
答案:对电子衍射常作为透射电镜的附件使用,请叙述观察薄膜样品的基本要求有(
)。
A:样品相对于电子束必须有足够的透明度
B:
在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀
C:薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同,在制备过程中,组织结构不变化
D:薄膜样品应有一定强度和刚度,在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏
答案:样品相对于电子束必须有足够的透明度
;
在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀
;薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同,在制备过程中,组织结构不变化
;薄膜样品应有一定强度和刚度,在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏电子衍射分析只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
A:对B:错
答案:对计算晶面(111)和(100)的晶带轴指数?
A:[211]B:[01-1]C:
[210]D:
[0-1-2]
答案:[01-1]有关电子衍射说法正确的是()。
A:入射电子束、衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。B:只关心衍射斑点的位置,不关心强度。C:只能观察薄膜样品的结构,不能与形貌观察有机结合起来。D:只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
答案:入射电子束、衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。;只关心衍射斑点的位置,不关心强度。;只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。电子衍射花样中,任一衍射斑点到透射斑点的距离可以近似看作对应倒易矢量的放大像,放到倍数为相机常数。
A:对B:错
答案:对由于晶体的倒易点阵是三维点阵,如果电子束沿晶带轴[uvw]的反向入射时,通过原点O的倒易平面只有一个,这个二维平面叫做零层倒易面。
A:错B:对
答案:对电子衍射操作时采用薄晶样品,可以使衍射晶面和透射电子显微镜入射电子束之间的夹角不精确符合布拉格条件仍能产生衍射。
A:错B:对
答案:对
第三章单元测试
透射电子显微镜的成像信号来自于透射电子。
A:错B:对
答案:对能谱仪通过接收元素的特征X射线进行成分分析,因此可以利用其确定材料中氢元素和锂元素的含量。
A:错B:对
答案:错二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。
A:错B:对
答案:对材料吸收电子和吸收光子不同,吸收电子时,入射电子停止运动,停留在材料内部。
A:对B:错
答案:对
用背散射电子进行形貌分析时,其分辨率远比二次电子像低。
A:对B:错
答案:对用来显示组织和细胞的内部超微结构像的电子为(
)
A:弹性散射电子B:入射电子
C:透射电子
D:二次电子
答案:透射电子
合金钢薄膜中极小弥散颗粒(直径远小于500nm)的物相鉴定,可以选择(
)。
A:差热分析
B:透射电镜
C:紫外可见吸收光谱
D:X射线衍射线分析
答案:透射电镜
电子显微镜的分辨率要比光学显微镜的分辨率高,根本原因是(
)。
A:电子束的穿透力比可见光强B:电子束的波长可以很小C:
电子束很容易发生偏转D:电子束可以聚焦成小到几纳米的束斑
答案:电子束的波长可以很小下列说法正确的是()。
A:TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。B:TEM,接收透射电子,观察样品的形貌、结构、粒径。C:SEM,可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。D:EDS,可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用,分析样品的成分。
答案:TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。;TEM,接收透射电子,观察样品的形貌、结构、粒径。;SEM,可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。;EDS,可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用,分析样品的成分。在观察断口形貌的同时,分析断口上粒状夹杂物的化学成分,选择什么仪器?
A:TEMB:SAEDC:XRDD:SEM(配有能谱分析)
答案:SEM(配有能谱分析)
第四章单元测试
在紫外可见吸收光谱中,吸光物质的性质决定吸光物质摩尔吸光系数。
A:错B:对
答案:对振动过程偶极距不发生变化,则不会产生红外吸收峰,是非红外活性的。
A:对B:错
答案:对可用来区别化合物紫外吸收谱带中的π→π*跃迁和n→π*跃迁的是。
A:摩尔吸收系数B:基线高度C:最大吸收波长
D:半峰宽
答案:摩尔吸收系数双光束分光光度计与单光束分光光度计相比,其突出优点是(
)。
A:可以采用快速响应的检测系统
B:可以抵消吸收池所带来的误差
C:可以扩大波长的应用范围
D:可以抵消因光源的变化而产生的误差
答案:可以抵消因光源的变化而产生的误差紫外光谱是带状光谱的原因是由于(
)。
A:波长短B:紫外光能量大
C:电子能级差大
D:电子能级跃迁的同时伴随有振动及转动能级跃迁的原因
答案:电子能级跃迁的同时伴随有振动及转动能级跃迁的原因
符合朗伯特-比耳定律的有色溶液稀释时,其最大吸收峰的波长位置(
)。
A:向短波方向移动
B:不移动,且吸光度值升高
C:向长波方向移动
D:不移动,且吸光度值降低
答案:不移动,且吸光度值降低紫外-可见光谱的产生是由外层价电子能级跃迁所致,其能级差的大小决定了(
)。
A:吸收峰的形状
B:吸收峰的数目
C:吸收峰的强度
D:吸收峰的位置
答案:吸收峰的位置以下四种化合物,能同时产生B吸收带、K吸收带和R吸收带的是()
A:B:C:D:
答案:
A:环已烷
B:甲醇C:水D:氯仿
答案:水1.0mmol/L的重铬酸钾溶液在450nm波长处的吸光度分别为0.200,已知吸收池厚度为1.0cm,求重铬酸钾在450nm处的摩尔吸光系数()
A:50L/molB:200L/molC:200L/(mol·cm)D:50L/(mol·cm)
答案:200L/(mol·cm)
第五章单元测试
形成氢键后O-H伸缩振动吸收峰峰强不变,峰形变宽。
A:对B:错
答案:错采用溴化钾压片法制样时,一般在红外灯下将样品和溴化钾在玛瑙研钵中混匀。
A:错B:对
答案:对某化合物在紫外光区204nm处有一弱吸收,在红外光谱中有如下吸收峰:3300-2500cm-1(宽峰),1710cm-1,则该化合物可能是(
)。
A:酮
B:羧酸C:烯烃D:醛
答案:羧酸
H2S分子的基频峰数有(
)个。
A:3
B:2
C:1D:4
答案:3
对以下3种分子式中C=C双键的红外吸收描述正确的是():(a)CH3-CH=CH2;(b)CH3-CH=CH-CH3(顺式);(c)CH3-CH=CH-CH3(反式)。
A:b最强B:a最强C:强度相等D:c最强
答案:a最强若O-H键的力常数为5.0N/cm,则该键的振动频率是。
A:4.6*1013HzB:13.8*1013HzC:2.3*1013HzD:9.2*1013Hz
答案:9.2*1013Hz一含氧化合物的红外光谱图在3600~3200cm-1有吸收峰,下列化合物最可能的()。
A:CH3-CO-CH3B:CH3-CHOC:CH3-O-CH2-CH3D:CH3-CHOH-CH3
答案:CH3-CHOH-CH3
A:(1)式和(2)式在~2200cm-1都有吸收B:(1)式在~3300cm-1有吸收而(2)式没有C:(1)式在~2200cm-1有吸收D:(1)式和(2)式在~3300cm-1都有吸收,后者为双峰
答案:(1)式在~2200cm-1有吸收H2O为非线性分子,具有3种振动形式,具有红外活性;CO2为线性分子,具有4种振动形式,其中面内弯曲振动和面外弯曲振动振动对应吸收峰重合。
A:错B:对
答案:对下列说法正确的是()。
A:C6H12的不饱和度为1,说明存在1个不饱和键,或者环B:C8H8O的不饱和度为5C:C10H13NO的不饱和度为4,存在苯环D:不饱和度为4,说明可能存在1个苯环。
答案:C6H12的不饱和度为1,说明存在1个不饱和键,或者环;C8H8O的不饱和度为5;不饱和度为4,说明可能存在1个苯环。
第六章单元测试
热分析技术不能测试的样品是(
)。
A:液体
B:固体
C:气体
D:薄膜
答案:气体
DTA测试中,提高升温速率会导致峰位置向()方向迁移,峰形变尖锐,相邻峰分辨率会()。
A:低温、降低
B:高温、降低
C:高温、提高D:低温、提高
答案:高温、降低
下列热分析技术中,()是对样品池及参比池分别加热的测试方法。
A:DSC
B:TMA
C:TGAD:DTA
答案:DSC
有热效应时,DTA曲线的()重复性比较好。
A:终止温度TfB:峰值温度Tp
C:起始温度Ti
D:外推起始温度Te
答案:外推起始温度Te
以下关于TG曲线描述正确的是(
)。
A:其它选项都对B:横坐标是温度,纵坐标是质量分数
C:横坐标是升温速率,纵坐标是质量百分比
D:横坐标是升温速率,纵坐标是质量
答案:横坐标是温度,纵坐标是质量分数
下列哪些热分析技术可以测定高聚物的玻璃化转变温度?(
)
A:TG
B:DSC
C:DTGD:DTA
答案:DSC
;DTA差热分析中,参比物的要求是(
)。
A:用1520摄氏度煅烧的高纯氧化铝粉B:比热和导热性能与试样接近C:在整个测温范围内无热效应
D:无任何要求
答案:用1520摄氏度煅烧的高纯氧化铝粉;比热和导热性能与试样接近;在整个测温范围内无热效应
试样的纯度对DSC曲线影响较大,下列描述正确的是(
)。
A:杂质含量的增加会使峰型变窄
B:杂质含量的增加会使峰型变宽
C:杂质含量的增加会使转变峰向高温方向移动
D:杂质含量的增加会使转变峰向低温方向移动高温方向移动
答案:杂质含量的增加会使峰型变宽
;杂质含量的增加会使转变峰向
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