YD-T 4020.3-2024城域接入用单纤双向波分复用器 第3部分：LWDM

ICS33.180.01

CCSM33

YD

中华人民共和国通信行业标准

YD/T4020.3—202X

城域接入用单纤双向波分复用器

第3部分：LWDM

Singlefiberbi-directionalwavelengthdivisionmultiplexersformetroaccess

network-Part3:LWDM

（报批稿）

202X-XX-XX发布202X-XX-XX实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

YD/T4020.3—202X

前  言

本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规

定起草。

本文件是YD/T4020《城域接入用单纤双向波分复用器》的第3部分。YD/T4020已经发布了以下

部分：

——第1部分：DWDM；

——第2部分：CWDM；

——第3部分：LWDM；

——第4部分：MWDM。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国通信标准化协会提出并归口。

本文件起草单位：中国电信集团有限公司、中国信息通信研究院、中兴通讯股份有限公司、深圳市

中兴新地技术股份有限公司、华为技术有限公司、中国信息通信科技集团有限公司、长飞光纤光缆股份

有限公司、深圳市迅特通信技术股份有限公司、东莞铭普光磁股份有限公司、江苏亨通光电股份有限公

司、江苏通鼎宽带有限公司、中天宽带技术有限公司、武汉网锐检测科技有限公司，无锡市德科立光电

子技术股份有限公司，苏州苏驼通信科技股份有限公司。

本文件主要起草人：唐建军、刘昊、刘璐、谢俊杰、盛夏、武成宾、孔祥君、蒋臣迪、李建、徐旺

生、薄生伟、魏志坚、陈聪、马钧、芦国斌、张伟、傅晓明、王雷、许助勇。

III

YD/T4020.3—202X

引言

随着5G网络等建设的加速推进，单纤双向波分复用技术在城域接入网络建设中得到大规模使用，

成本、技术成熟度和网络可维护性等因素推动多种波分复用技术并行发展。基于密集波分复用（DWDM）、

粗波分复用（CWDM）、细波分复用（LWDM）、中等波分复用（MWDM）技术的产品已经或即将投

入使用，这些技术的系统标准及部分器件业已发布或正在制定过程中，《城域接入用单纤双向波分复用

器》规定其中重要的无源器件——波分复用器的性能、功能及测试方法。

考虑到上述多种波分复用器件在产品性能、功能、产品形态、测试方法等方面存在较大的差异，因

此将YD/T4020《城域接入用单纤双向波分复用器》依据不同的技术方案分为以下四个部分：

——第1部分：DWDM。明确城域接入用单纤双向密集波分复用器需要遵循的技术方案、产品形

态、技术参数、测试方法、可靠性试验、检验规则等要求。

——第2部分：CWDM。明确城域接入用单纤双向粗波分复用器需要遵循的技术方案、产品形态、

技术参数、测试方法、可靠性试验、检验规则等要求。

——第3部分：LWDM。明确城域接入用单纤双向细波分复用器需要遵循的技术方案、产品形态、

技术参数、测试方法、可靠性试验、检验规则等要求。

——第4部分：MWDM。明确城域接入用单纤双向中等波分复用器需要遵循的技术方案、产品形

态、技术参数、测试方法、可靠性试验、检验规则等要求。

IV

YD/T4020.3—202X

城域接入用单纤双向波分复用器

第3部分：LWDM

1范围

本文件界定了城域接入用单纤双向细波分复用器（以下简称“BiDi-LWDM”）的术语和定义，规

定了BiDi-LWDM的光纤类型、接口、波长分配、光学特性、传输性能、环保符合性等技术要求，描述

了相应的测试方法，规定了检验规则、标识、包装、运输和贮存等。

本文件适用于城域接入用单纤双向细波分复用器的设计、开发、生产、测试和检验。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部份：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划

GB/T9771.3通信用单模光纤

GB/T20440-2006密集波分复用器解复用器技术条件

GB/T26125-2011电子电气产品六种限用物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚）的

测定

GB/T26572-2011电子信息产品中有毒有害物质的限量要求

GB/T39560电子电气产品中某些物质的测定

SJ/T11364-2014电子电气产品有害物质限制使用标识要求

YD/T1272.1-2018光纤活动连接器第1部分：LC型

IEC61300-3-2:2009光纤互联器件及无源组件-基本测试及测量程序第3-2部分：检查及测量-单模

光纤器件偏振相关损耗(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestand

measurementprocedures-Part3-2:Examinationandmeasurements–Polarizationdependentlossina

single-modefibreopticdevice)

IEC61300-3-29:2014光纤互联器件及无源组件-基本测试及测量程序第3-29部分：检查及测量

-DWDM器件的光谱传递特性(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestand

measurementprocedures-Part3-29:Examinationsandmeasurements-Spectraltransfercharacteristicsof

DWDMdevices)

TelcordiaGR-1209-CORE:2010光无源器件总规范（Genericrequirementsforpassiveoptical

components）

TelcordiaGR-1221-CORE:2010光无源器件一般可靠性保证要求（Genericreliabilityassurance

requirementsforpassiveopticalcomponents）

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

5

YD/T4020.3-202X

3.1

中心波长centralwavelength

从平均光功率损耗曲线的顶点向下3dB，与光功率损耗波形相交于两点，两交点之间宽度的二分之

一处的波长。

[来源：YD/T2000.2-2018，4.3]

3.2

波长对wavelengthpair

按照单纤双向波长配对规则要求组合在一起的两个波长。

[来源：YD/T4020.1-2022，3.1]

3.3

成对合分波器插损insertionlossofpairedMUXandDMUX

配合使用的两个合分波器构成的每个波长通道的插入损耗，单位为分贝（dB）。

注：单只由TFF技术构成的BiDi-LWDM，其波长通道的插入损耗与波长对应的滤波片所处位置相关，将两只波长

位置排序颠倒的合分波器配合使用，可以使所有波长通道的总插入损耗保持较好的均匀性。

[来源：YD/T4020.1-2022，3.2]

3.4

成对合分波器插损均匀性uniformityofinsertionlossofpairedMUXandDMUX

成对使用的两个合分波器构成的所有波长通道的插损的最大值和最小值之差，单位为分贝（dB）。

[来源：YD/T4020.1-2022，3.3]

3.5

插入损耗insertionloss

某一通道的插入损耗定义为：在规定的工作温度范围内，考虑了偏振特性后光功率损耗曲线（包括

光功率损耗最大、最小两条曲线）上所对应ITU-T通道带宽内的最大损耗值，单位为分贝（dB）。

[来源：YD/T2000.2-2018，4.5]

3.6

带宽bandwidth

从该通道最小光功率损耗曲线的顶点向下ndB(n=0.5,1,3,20...)时与光功率损耗波形的交点之间的

宽度。ITU-T中心波长距离交点之间的宽度为半带宽，当带宽不以ITU-T中心波长为对称时，按照较小

半带宽的2倍计算。

3.7

单纤双向波分复用器singlefiberbi-directionalwavelengthdivisionmultiplexers

按照本文件6.3节规定的波长分配要求，同时实现波长的复用和解复用功能，且至少在线路端实现

单纤双向传输的波分复用器。图1为线路端使用单纤双向、支路端使用双纤双向连接的BiDi-LWDM示

意图。

注：相关工作原理参见附录A。

6

YD/T4020.3—202X

波长对

λ1、λn+1

λ1λ2…λn…λ2n

λi、λn+iBiDi-LWDM单纤双向

线路端

λn、λ2n

支路端/双纤双向

图1支路端非单纤双向的BiDi-LWDM

3.8

相邻通道隔离度adjacentchannelisolation

在某一特定通道上该通道输出光功率对相邻通道输出光功率的抑制比，用dB来表示。

[来源：GB/T20440-2006，3.2.16]

3.9

非相邻通道隔离度non-adjacentchannelisolation

某一特定通道上该通道输出光功率对非相邻的其他通道输出光功率的抑制比，用dB表示。

[来源：GB/T20440-2006，3.2.16]

3.10

方向性directivity

从输入支路端口i到其他支路端口j的传输损耗，单位为分贝（dB）。可用公式(1)表示：

…………（1）

式中：𝐷𝑖=10lg (��/�j)

Pi——为输入支路i的输入光功率，输入信号波长为该支路的工作波长，单位为毫瓦（mW）；

Pj——为其他支路j的输出光功率，单位为毫瓦（mW）。

[来源：YD/T4020.1-2022，3.11]

3.11

波长热稳定性wavelengththermalstability

表征波分复用器件通道中心波长在规定的工作温度范围内随温度变化而产生的漂移量/变化量，通

常表示为每单位温度（℃）的波长漂移量，即nm/℃。

[来源：GB/T20440-2006，3.2.18]

3.12

插入损耗热稳定性insertionlossthermalstability

表征波分复用器件通道插入损耗在规定的工作温度范围内随温度变化而产生的变化量，通常表示为

每单位温度（℃）的波长漂移量，即dB/℃。

[来源：GB/T20440-2006，3.2.19]

7

YD/T4020.3-202X

4缩略语

下列缩略语适用于本文件。

AAU有源天线单元（ActiveAntennaUnit）

BiDi单纤双向（Bi-Directional）

CWDM粗波分复用器（CoarseWavelengthDivisionMultiplexer）

DMUX解复用器（Demultiplexer）

DU分布单元（DistributedUnit）

DWDM密集波分复用器（DenseWavelengthDivisionMultiplexer）

LWDM细波分复用器（LANWavelengthDivisionMultiplexer）

MUX复用器（Multiplexer）

MWDM中等波分复用器（MediumWavelengthDivisionMultiplexer）

OPM光功率计（OpticalPowerMeter）

PDL偏振相关损耗（PolarizationDependentLoss）

SSE源自发辐射（SourceSpontaneousEmission）

TFF薄膜滤波片(ThinFilmFilter）

TLS可调谐光源（TunableLightSource）

WDM波分复用器（WavelengthDivisionMultiplexer）

5分类

5.1按传输距离应用分

按传输距离应用可分为：

——中距应用，用于10km以内且线路端无50:50分光的场景；

——长距/超长距应用，用于15km以内且线路端无分光的场景，或线路端有50:50分光的场景。

5.2按封装方式分

按封装方式可分为：

——带适配器型，可进一步细分为机架式、托盘式、插片式等子类型；

——连接器插头型。

5.3按工作温度范围分

按工作温度范围可分为：

——室外型：-40℃~+70℃；

——室内型：-5℃~+65℃。

5.4其他分类

按线路端是否提供分光信号输出可分为：

——带分光信号输出型；

——不带分光信号输出型。

注：提供分光功能的BiDi-LWDM工作原理参见附录A。

6技术要求

8

YD/T4020.3—202X

6.1光纤类型

BiDi-LWDM应使用非色散位移单模光纤，光纤应符合GB/T9771.3（B1.3类）的要求。

6.2接口要求

对于带适配器型，接口应为LC型，适配器接口应符合YD/T1272.1-2018的规定。

对于连接器插头型，线路侧接口应为LC型，支路侧尾纤特征参见B.4。

6.3波长分配

BiDi-LWDM两个通信方向分别为远端到局端方向和局端到远端方向，共计6波长对。波长配对关

系应符合表1规定，其中每一行的两个波长为配对波长。

表1BiDi-LWDM波长通道分配表

远端到局端局端到远端

标称中心频率标称中心波长标称中心频率标称中心波长

波长编号波长编号

THznmTHznm

L01236.21269.23L07231.41295.56

L02235.41273.54L08230.61300.05

L03234.61277.89L09229.81304.58

L04233.81282.26L10229.01309.14

L05233.01286.66L11228.21313.73

L06232.21291.10L12227.41318.35

6.4光学特性

6波长对BiDi-LWDM的光学特性应符合表2要求。

表26波长对光复用器参数及要求

指标

参数名称单位

中距长距/超长距

中心波长nm应符合表1

中心波长偏差（最大）nm±1.1

1dB带宽nm≥2.3

插入损耗dB≤3.5≤3a

通带平坦度bdB≤0.5

成对合分波器插损dB≤4.5≤4a

成对合分波器插损均匀性dB≤1.5

相邻通道隔离度dB≥25

非相邻通道隔离度dB≥30

方向性dB≥50

偏振相关损耗dB≤0.3

9

YD/T4020.3-202X

表26波长对光复用器参数及要求（续）

指标

参数名称单位

中距长距/超长距

回波损耗dB≥40

波长热稳定性nm/℃≤0.002

插入损耗热稳定性dB/℃≤0.007

工作温度范围℃室外型：-40～+70

室内型：-5～+65

存储温度℃-40～+85

a在长距/超长距应用场景中，对于线路端带50:50光耦合器的BiDi-LWDM，插入损耗在该数值基础上增加3.3dB。

b通带是以BiDi-LWDM中心波长为中心，向左、右两侧分别扩展1.1nm的带宽。通带内平均光功率损耗曲线的最大

值和最小值之差为通道平坦度。

6.5封装结构

BiDi-LWDM封装结构参见附录B。

6.6波长信息标识

所有端口的波长信息应按以下方式在面板对应位置（或对应尾纤）清楚标识：

a）线路端以COM字符标识；

b）支路端使用表1的波长编号标识，同时可以使用字母T和R分别表示发送和接收等方向信息标识；

c）对于监视端口，使用MON字符标识；

d）对于具有主干光路保护倒换功能的波分复用器，线路端以COM字符标识工作通道，以PRO字符

标识保护通道。

6.7环保符合性

BiDi-LWDM组成单元分类应符合GB/T26572—2011中表1的规定。有毒有害物质的限量要求按

GB/T39560（所有部分）或GB/T26125—2011规定的方法进行检测，应符合GB/T26572—2011中表2

的要求。

7测试方法

7.1测试环境要求

测试环境要求如下：

——温度：15℃～35℃；

——相对湿度：45%～75%；

——大气压力：86kPa～106kPa。

当不能在标准大气条件下进行测试时，应在测试报告上写明测试环境条件。

7.2测试仪器

7.2.1波长可调光源

测试中所用的光源为波长可调谐光源（TLS），性能指标应满足：

10

YD/T4020.3—202X

——波长范围：根据工作波长选择适当的波长，波长连续可调，步长≤3pm；

——输出功率稳定度：优于±0.02dB（静态及波长动态扫描条件下观察时长1hour）；

——波长精度：优于±10pm（静态及波长动态扫描条件下）；

——波长重复性：≤0.5pm（静态及波长动态扫描条件下）；

——波长稳定性：优于±3pm（静态及波长动态扫描条件下观察时长15min）；

——信号对源自发辐射（SSE）比：≥60dB（SSE带宽为1nm条件下）；

——边模抑制比：≥45dB；

——输出光功率：≥+3dBm。

7.2.2光功率计

光功率计应满足：

——工作波长范围：根据工作波长选择适当的波长；

——光功率最大动态范围：-80dBm～+20dBm（连续光）；

——分辨率：≤0.01dB；

——准确度：±3.5%；

——偏振相关性：≤0.02dB；

——对多通道光功率计，除满足上述各条要求外，所有通道间功率测量结果相对差≤0.1dB。

7.2.3偏振控制器

偏振控制器应满足：

——工作波长范围：根据工作波长选择适当的波长；

——邦加球覆盖率：≥99%；

——偏振相关损耗：≤0.005dB；

——最大允许输入光功率：+20dBm。

7.2.4回波损耗测试仪

回波损耗测试仪应满足：

——工作波长：1260nm～1320nm，且在此波长范围内连续可调；

——测试范围：0dB～60dB；

——测试精度：优于±1dB。

7.2.5其他测试仪

对于使用诸如波长计等进行波长精度监视来维持波长精度而不依赖TLS波长精度的测试系统，应满

足以下要求：

——波长范围：满足测试需要的波长范围要求，波长连续可调，步长≤3pm；

——波长精度：优于±10pm；

——波长重复性：优于1pm；

——插损测试动态范围：70dB。

对于BiDi-LWDM的测试，也可以使用宽谱光源和光谱分析仪等测试仪器，应满足以下要求：

——波长范围：1260nm～1320nm；

——波长精度：优于±10pm；

——波长重复性：优于1pm；

——光源功率谱密度：≥-17dBm/nm；

11

YD/T4020.3-202X

——功率谱密度稳定性：优于0.05dB；

——光谱分析仪动态范围：90dB；

——光功率测量范围：-90dBm～+10dBm；

——光功率精度：优于±0.05dB。

7.3中心波长、中心波长偏差、ndB带宽、通带平坦度、插入损耗、插入损耗均匀性、相邻通道隔离

度、非相邻通道隔离度、偏振相关损耗、波长热稳定性、插入损耗热稳定性

7.3.1测试框图

测试框图如图2所示。

触发输入

触发输出

.多通道测试软件

可调谐光源偏振.

BiDi_LWDM.光功率计通信连接

（TLS）控制器

（OPM）

温度试验箱

图2插入损耗谱测试配置

7.3.2测试步骤

测试步骤如下：

a）清洁所有光连接的端面及适配器，按图2虚线连接，TLS连接至多通道OPM的任意通道x；

b）设置TLS的波长扫描范围为1267nm～1320nm，扫描波长点数至少为扫描波长范围宽度（单

位为nm）乘以300/nm；

c）分别设置偏振控制器为四种偏振态：（1）水平线性偏振，（2）垂直线性偏振，（3）45°线性

偏振，（4）右旋圆偏振，在每种偏振态下启动波长扫描，并在触发信号作用下同步测量OPM

通道x的每个波长点的光功率，得到测试波长范围内TLS输出功率随波长变化曲线数据P1(λ)、

P2(λ)、P3(λ)、P4(λ)，单位为毫瓦（mW），其中下标数字代表偏振态的序号；

d）确保除图2虚线所示光连接器外的其他所有光连接及仪表连接状态不变，按图2实线连接，设

置温度试验箱的温度值t为23℃并启动温箱，等待温箱温度达到设定值；

e）在步骤c)相同的四种偏振态下分别启动TLS波长扫描，并同步测量OPM所有通道的每个波长

点的光功率，得到测试波长范围内待测试器件每个通道输出功率随波长变化曲线数据Pi1(λ)、

Pi2(λ)、Pi3(λ)、Pi4(λ)，单位为毫瓦（mW），其中下标中数字为偏振态序号，i为通道序号；

f）对步骤c）及e）所获得的每个波长通道扫描数据，按照IEC61300-3-2：2009的计算方法，根

据以下公式（1）～（8）计算得到Mueller矩阵的m11(λ)、m12(λ)、m13(λ)、m14(λ)元素；

……………（1）

��1�=��1(�)/�1(�)……………（2）

��2�=��2(�)/�2(�)

12

YD/T4020.3—202X

……………（3）

��3�=��3(�)/�3(�)……………（4）

��4�=��4(�)/�4(�)……（5）

�11�=∣[��1�+��2�]/2∣……（6）

�12(�)=∣[��1�−��2�]/…2∣……（7）

………（8）

�13(�)=∣��3�−�11�∣

式中Ti1、Ti2、Ti3、Ti4分别为通道序号i的4种偏振态条件下的传输系数；

�14(�)=∣��4�−�11�∣

g）按照IEC61300-3-29:2014的Mueller矩阵计算方法，根据以下公式（9）～（11）分别计算最

大、最小、平均传输系数Timax(λ)、Timin(λ)、Tiave(λ)，其中下标首字母i为波长通道序号，然后

根据公式（12）计算得到以分贝（dB）为单位的每个波长通道的最大、最小、平均插入损耗谱

曲线ILimax()、ILimin()、ILiave()，见图3所示；根据公式(13)计算PDL随波长变化的曲线PDLi(λ)；

λλλ…（9）

222

���𝑚�=�11�+[�12�+�13�+�14�]…（10）

222

���𝑚�=�11�−[�12�+�…1…3…�…+…�…14…�…]…（11）

���𝑎�=���𝑚�+…��…�𝑚…�……/2………（12）

𝐼�=−10𝑙 (��)………（13）

h）根据相关参数的定义��和��计λ算=方�法���，�从�(每λ)个−波𝐼长���通�(道λ)插入损耗谱曲线中得到每个波长通道的中心

波长、中心波长偏差、ndB带宽、通带平坦度、插入损耗、插入损耗均匀性、相邻通道隔离度、

非相邻通道隔离度等测试结果,从PDL(λ)曲线中计算PDL测试结果；

图3BiDi-LWDM波长通道插入损耗谱示意图

i）分别设置温度试验箱的温度值t为待测器件的工作温度范围下限值tmin和上限值tmax，待温度值

到达设定值后30min，重复步骤e）~h），当TLS功率长期稳定性（超过1h）不足时，重复步

骤为a)～h）；得到每个波长通道在工作温度范围下限和上限点对应的中心波长和插入损耗；

j）找出三个温度点对应的每个波长通道的中心波长最大值和最小值，并计算二者之差为Δλi，单位：

13

YD/T4020.3-202X

nm，则每个通道中心波长温度热稳定性等于Δλi除以tmax减tmin的差值，单位：nm/℃；

k）找出三个温度点对应的每个波长通道的插入损耗最大值和最小值，并计算二者之差为ΔILi，单

位：dB，则每个通道插入损耗温度热稳定性等于ΔILi除以tmax减tmin的差值，单位：dB/℃。

7.4成对合分波器插损、成对合分波器插损均匀性

7.4.1测试框图

测试框图如图4所示。

触发输入

触发输出

.

.多通道测试软件

.

可调谐光源.

BiDi-LWDMBiDi-LWDM.

.光功率计通信连接

（TLS）12

（OPM）

长度L=1m

注：图中BiDi-LWDM1与BiDi-LWDM2为成对使用器件。

图4成对合分波器插损测试配

7.4.2测试步骤

测试步骤如下：

a）按图4虚线连接，TLS连接至多通道OPM的任意通道x，设置TLS的波长扫描范围为1267nm～

1320nm，扫描波长点数至少为扫描波长范围宽度（单位为nm）×300/nm；

b）在触发信号作用下同步测量OPM通道x的每个波长点的光功率，得到测试波长范围内TLS输

出功率随波长变化曲线数据P0(λ)，单位：dBm；

c）按图4实线连接，TLS连接BiDi-LWDM1的通道i；

d）用OPM测量BiDi-LWDM2的通道i的光功率随波长变化曲线数据Pi(λ)，单位：dBm；

e）计算P0(λ)减Pi(λ)得到通道i的成对合分波器插损谱ILi(λ)，在标称中心波长的通带内找出插损

最大值即为通道i的成对合分波器插损，单位：dB；

f）改变i值，重复步骤a）～e），直到完成所有波长通道的测试；

g）找出所有波长通道的成对合分波器插损的最大值和最小值之差，即为成对合分波器插损均匀性。

7.5回波损耗

按GB/T20440-2006中5.4.6的规定进行测试。

7.6方向性

7.6.1测试框图

14

YD/T4020.3—202X

测试框图如图5所示。

.多通道测试软件

可调谐光源.

BiDi-LWDM.光功率计通信连接

（TLS）

无回损（OPM）

终端

图5方向性测试配置

7.6.2测试步骤

测试步骤如下：

a）按图5虚线连接，设置TLS输出波长对应待测试器件通道波长i，测量TLS输出光功率P0，单

位：dBm；

b）按图5实线连接，将待测器件波长通道i连接TLS，其余波长通道连接至OPM的各通道，WDM

的线路端及分光口（如果有）连接无回损终端；

c）用OPM测量所有连接通道的光功率Pdj，j为待测试器件与OPM连接的波长通道号，单位：dBm；

d）计算各通道对波长通道i的方向性为P0减去Pdj的差值，单位：dB；

e）改变i值，重复步骤a）～d），直到完成所有波长通道的方向性测试。

8可靠性试验

BiDi-LWDM产品可靠性试验包括机械完整性试验和环境温度耐久性试验，按表3要求进行。

表3BiDi-LWDM可靠性试验要求

批内允许抽允许

试验项目名称参考章、条试验条件不合格品样失效合格判据

率(%)数数

Telcordia

加速度500g，脉冲持续时间1

GR-1221-CO

机械冲击ms，5次/每方向，方向X1、X2、20110

机RE:2010

、、、。1）插入损耗变化

械Y1Y2Z1Z2

6.2.1量≤0.5dB；

完2）其它性能参数

整满足表2要求；

性3）不得有机械损伤，

如变形、龟裂、松弛

试Telcordia

加速度20g，振动频率20Hz～等现象。

验GR-1221-CO

变频振动2000Hz，4min/每循环，4循环/20110

RE:2010

每轴向，方向X、Y、Z。

6.2.2

15

YD/T4020.3-202X

表3（续）BiDi-LWDM可靠性试验要求

批内允许抽允许

试验项目名称参考章、条试验条件不合格品样失效合格判据

率(%)数数

负载4.41N，扭转±180°,10个循

Telcordia

环，距离壳体22cm～28cm或

GR-1209-CO

光纤扭曲c光纤尾端起10cm处，取短者20110

RE:2010

（250μm涂敷光纤、紧套光纤不

5.4.3.2

机要求）。1）插入损耗变化

械松套光纤拉力负载4.41N（除量≤0.5dB；

Telcordia

完250μm涂敷光纤、紧套光纤的侧2）其它性能参数

GR-1209-CO

整光纤侧拉c拉力负荷为2.25N外），侧拉20110满足表2要求；

RE:2010

性90°,时间5s，3次，距离壳体223）不得有机械损伤，

5.4.3.3

试cm～28cm。如变形、龟裂、松弛

验负载：9.8N（除250μm涂敷光等现象。

Telcordia

纤或紧套光纤负载为4.41N外），

光纤光缆GR-1209-CO

保持时间1min，距离壳体2220110

保持力cRE:2010

cm～28cm或光纤尾端起10cm

5.4.3.4

处，取短者。

Telcordia

温度85℃，相对湿度＜40%RH，

高温贮存GR-1221-CO20110

持续时间2000h。

RE:20106.2.4

温度75℃、相对湿度85%或温

Telcordia

度85℃，相对湿度85%，COa

恒定湿热GR-1221-COR20110

贮存时间500h、UNCb贮存时

E:20106.2.5

间2000h。

环

Telcordia

境1）插入损耗变化

低温贮存dGR-1221-COR-40℃，贮存时间1000h。20110

温量≤0.5dB；

E:20106.2.6

度2）其它性能参数

耐COa，温度范围-40℃～+70℃，满足表2要求；

久温度变化速率>10℃/min，极限3）不得有机械损伤，

性温度下的停留时间≥15min，100如变形、龟裂、松弛

Telcordia

试次循环；等现象。

温度循环GR-1221-COR20110

验UNCb，温度范围-40℃～

E:20106.2.7

+70℃，温度变化速

率>10℃/min，极限温度下的停

留时间≥15min，500次循环。

Telcordia温度范围+65℃～+25℃～

湿热循环GR-1221-COR-10℃，高温时湿度90%，低温20110

E:20106.2.8湿度不控制，循环10次。

注：每项试验不需进行在线监控，只需进行试验前后插入损耗的测试，计算出变化量，依据变化量来判断合格与

否。

aCO——可控环境。

bUNC——非可控环境。

c仅适用于连接器插头型。

d仅适用于UNC环境的产品。

9检验规则

16

YD/T4020.3—202X

9.1出厂检验

9.1.1日常检验

该检验是生产厂家对全部产品进行的检验，其检验数据应随同产品提交给用户。BiDi-LWDM需要

进行日常检验的项目是：外观、插入损耗、插入损耗均匀性、通带平坦度、中心波长、中心波长偏差、

带宽、相邻通道隔离度、非相邻通道隔离度、偏振相关损耗、回波损耗。检验方法按照第7章中相关测

试方法执行。

9.1.2抽样检验

由质量部门从一个生产批或几个生产批（这些生产批是在基本相同的材料、工艺、设备等条件制造）

的产品抽取样品进行检验。抽样检验项目同9.1.1条，检验方法见第7章。抽样方案按GB/T2828.1规

定，检验水平IL=Ⅱ、允许质量水平AQL=1.0。

9.2型式检验

9.2.1检验条件

有下列情况之一时，应进行型式检验：

a）产品定型时或已定型产品转场；

b）正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时；

c）产品长期停产12个月后，恢复生产时；

d）出厂检验结果与产品定型时的型式检验有较大差别时；

e）正常生产24个月后；

f）国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。

9.2.2型式检验要求

在进行型式检验前，应按表3的要求，对样品的性能参数进行测试，并记录测试结果。

9.2.3检验项目及抽样方案

型式检验的检验项目及抽样方案见表3。

9.2.4产品不合格的判定

各项试验完成后，若其中任何一项试验不符合表3所示的合格判据时，则判该批不合格。

9.2.5不合格批的重新提交

对不合格分组的产品，可进行返工，以纠正缺陷或筛除失效