GB∕ T 42399.2-2023 无损检测仪器 相控阵超声设备的性能与检验 第2部分：探头

相控阵超声设备的性能与检验国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会I Ⅲ IV 1 1 1 2 26相控阵探头技术信息 2 3 3 47.2.1通则 47.2.2接触法 47.2.3液浸法 4 48.1通则 4 48.2.1方法 48.2.2验收标准 4 48.3.1通则 48.3.2方法 58.3.3验收标准 5 58.4.1通则 58.4.2方法 58.4.3验收标准 6 68.5.1通则 6 68.5.3验收标准 68.6阵元间串扰(可选项) 68.6.1通则 6ⅡGB/T42399.2—2023/IS 8.6.3验收标准 78.7不合格阵元数量 78.7.2方法 78.7.3验收标准 7参考文献 8Ⅲ本文件等同采用ISO18563-2:2017《无损检测相控阵超声设备的性能与检验第2部分：1 本文件不提供相控阵超声检测仪器或组合系统特性的检测方法和验收标准。这些另行在ISO2400无损检测超声检测1号校准试块(Non-destructivetesting—Ultrasonictesting—EN16018无损检测术语相控阵超声检测用术语(Non-destructivetesting—Terminology—2意义中心频率频率带宽%相对带宽SVVVVVVVVV5(符合性的)一般要求表1中列出的技术信息应随探头一起提供(M=测量，OI=其他信息),表2中列出可选的技术3需要的信息商品名外形尺寸阵列几何结构形态、取向、排列、维数、阵元中心距、阵元间隙商品名连接器与阵元间的对应关系电缆线电缆线长度、外径和外层材料内置楔块的尺寸、几何结构和材料如：外壳的材质和接触面形状等，见8.2标称的中心频率、相对带宽、脉冲持续时间中心频率、相对带宽、脉冲持续时间M中心频率平均值、相对带宽平均值、脉冲持续时间MM见8.3M见8.5阵元间串扰的最小值最大允许的偏向角(仅对接触式探头)对比参考回波的背衬回波最大幅度(dB差)可选的信息阵元间串扰M偏向角(仅对接触式探头)M测量参考平面指向上的偏向角M对比参考回波的背衬回波幅度(dB差)应当在探头测试报告中说明第8章规定检测所使用的测量设备。应定期检查设备的一致性。4试块满足对探头的每一个阵元的超声传播路径均相同。无材料明确要求，则材料满足5反射体回波应置于时间窗口上，时间窗口持续时间至少是回波幅度-20dB点测得的回波持续时间的2倍。应测量和记录每个阵元反射回波的电压幅度V,并计算和记录每个Va的算术平均值Vv。每个阵元的相对脉冲回波灵敏度偏差S,可以使用公式(1)进行计算： (1)所有阵元脉冲回波灵敏度偏差Sa的可接受范围在表3中给出。阵元面积≥1mm²阵元面积<1mm²注：n为探头的总阵元数量。按7.2中的发射接收模式进行测量。测量应在8.3相同的条件下进行。6GB/T42399.2—2023/ISO (2) (3)相对带宽的计算使用公式(4): (4)中心频率平均值是计算f。的平均值。相对带宽平均值是计算△f的平均值。中心频率的平均值应在探头数据表中规定标称频率的士10%以内。每个阵元的中心频率应在中心频率平均值的±10%以内。8.5探头灵敏度测量应在8.3的条件下进行。计算所有阵元的平均灵敏度(算术平均)V(见8.3.2)。接收标准只在相同设计的探头生产数量大于或等于10个时有效。8.6阵元间串扰(可选项)阵元数在64个及以内的，需要选择两个位置进行阵元间串扰测量；阵元数超过64个的，需要选择74个位置进行阵元间串扰测量。阵元间串扰的测量方法是激励一个随机选择的阵元并测量其相邻阵元接收到的信号。可直接使用阵元间串扰CT可以按公式(6)进行计算： (6)计算在8.3和8.4中不合格的阵元数量。最大的不合格阵元数量不可以超过表4给出的值。表4最大的不合格阵元数量总阵元数量008[1]ISO18563