表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告 编制说明_第1页
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用中，它被用来确认某种元素在表面的存在与否。XPS用于材料表面低浓度元素含量的常规测量，当没有检测到元素时，对检测限的了解使分析人员能提供可信的陈述，因此检测极限的测量至关重要。检测极限及其影响因素的研究可以提供结果的置信区间，或改变测量条件以达到需要的检测极限。如果需要一个特定的检测限，它允许分析人员计算达到指定检测限所需的采集时间。因此，理解在特定测量条件下某元素能季华实验室，河北工程大学，中国计量科学研究院和北京师范大学。中石化石油化工科学研究院有限公司（以下简称石科院）是中国石化直属的综合性科学技术研究开发术开发为主，注重油化结合，并向新型替代燃料和新能源领域延伸。石科院电子能谱迄今已主持或参与多项国家标准的制定与审查工作，在表面化学分析与标准化方面积chemicalanalysis-X-rayphotoelectrons均赞成标准征求意见稿的技术内容并给出了具体的修改建议，征求意见详见《征求意种情形下所述方法的适应性，开展了多个样品分会的国家标准审定会，经与会专家审定后，形成国家标准报批稿，上报至国家标准本标准等同采用国际标准ISO19668:201708《Surfacechemicalanalysis-X-rayphotoelectronspectroscopy-Estimatingandreportingdet标准化文件的结构和起草规则》和GB/T1.2-2020《标准化工作导则第2部分：以本标准与国际标准在技术内容方面完全相同，仅作部分编辑性修改。本标准中部三、试验验证的分析、综述报告，技术经济论证，预期的经济效益、社photoelectronspectroscopy-Estimatingandreportingdetectionlimit告的步骤，对采用XPS鉴定材料表面低浓度元素的修订本标准在运行过程中所涉及的实验为固体样品快速分析技术，不涉及危化品photoelectronspectroscopy-Estimatingandreportingdetectionlimit等同采用国际标准ISO19668:201708《Surfacechemicalanalysis-X-ray等同采用国际标准ISO19668:201708《Surfaceche

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