光伏器件 第1部分：光伏电流-电压特性的测量 征求意见稿

1GB/T6495.1—202X光伏器件第1部分：光伏电流-电压特性的测量本文件规定了在自然阳光或模拟阳光下测量光伏器件的电流-电压特性（I-V曲线）的程序，该程序适用于单个太阳电池、太阳电池子串或光伏组件。本文件适用于地面用非聚光型光伏器件，其光谱辐照度通常为（但不限于）GB/T6495.3中定义的总参考光谱辐照度AM1.5。如果应用场合采用的是直射阳光，并且光谱辐照度参考依据变更为GB/T6495.3中的直射参考光谱辐照度AM1.5d，那么该标准也可适用于聚光型光伏器件。2规范性引用文件文本中提及以下文件，其部分内容构成本文件的要求。对于注明日期的引用，仅引用的版本适用；对于未注明日期的引用，则引用文件的最新版本（包括任何修订）适用。GB/T6495.2光伏器件第2部分：标准器件的要求（GB/T6495.2—20XX，IEC60904-2:2023,IDT）GB/T6495.3光伏器件第3部分：基于参考光谱辐照度数据的地面光伏器件测量原理（GB/T6495.3—20XX，IEC60904-3:2016,IDT）GB/T6495.5光伏器件第5部分：利用开路电压法确定光伏器件的等效电池温度（ECTGB/T6495.5—20XX，IEC60904-5:2011,IDT）GB/T6495.7光伏器件第7部分：光伏器件测量的光谱失配修正计算方法（GB/T6495.7—20XX，IEC60904-7:2019,IDT）GB/T6495.9光伏器件第9部分：太阳模拟器特性分级（GB/T6495.9—20XX，IEC60904-9:2020,GB/T6495.10光伏器件第10部分：线性相关性和线性特性测量方法（GB/T6495.10—20XX，IEC60904-10:2020,IDT）GB/TXXXXX光伏器件-测量IV特性中温度和辐照度修正程序（GB/TXXXXX—20XX，IEC60891:2021，GB/TXXXX.1光伏组件性能测试与能量评定第1部分：辐照度和温度性能测量和功率评定（GB/TXXXX.1—XXXX，IEC61853-1:2011，IDT）GB/T9535（所有部分）地面光伏组件设计鉴定和定型[IEC61215（所有部分）]注：GB/T9535.X—XXXX地面用光伏组件GB/T9535.X—XXXX地面用光伏组件设计鉴定和定型第1-1部分：晶体硅光伏组件测试的特殊要求（IECGB/T9535.X—XXXX地面用光伏组件设计鉴定和定型第2部分：试IEC60904-4光伏器件第4部分：光伏参考器件建立校准溯源的程序（Photovoltaicdevices-Part4:Photovoltaicreferencedevices-Proceduresforestablishingcalibrationtraceability）IECTR60904-14光伏器件第14部分：标准测试条件下单结光伏组件最大输出功率产线测量和报告指南（Photovoltaicdevices-Part14:Guidelinesforproductionlinemeasurementsofsingle-junctionPVmodulemaximumpoweroutputandreportingatstandardtestconditions）IECTS61836太阳能光伏发电系统术语、定义和符号（Solarphotovoltaicenergysystems-Terms,definitionsandsymbols）2GB/T6495.1—202X注：GB/T2297—XXXX太阳光伏能源系统术语（IECTS6183IECTR63228基于有机、染料敏化或钙钛矿材料的光伏器件测量程序（Measurementprotocolsforphotovoltaicdevicesbasedonorganic,dye-sensitizedorperovskitematerials）ISO9060太阳能测量全半球太阳辐射和直射太阳辐射仪的技术规范和分类（Solarenergy—Specificationandclassificationofinstrumentsformeasuringhemisphericalsolaranddirectsolarradiation）3术语和定义IECTS61836界定的术语和定义适用于本文件。3.1被测光伏器件上的外加电压随时间变化的速率。3.2在I-V测试期间施加电压的变化方向。正向扫描速率被称为正扫或直接扫描（从短路电流到开路电压的扫描方向），而反向扫描速率则被称为反扫或逆向扫描（从开路电压到短路电流的扫描方向）。3.3光伏器件上的外加电压变化与测量该光伏器件电流之间的时间间隔。4一般要求4.1概述图1为电流-电压特性（I-V曲线）示意图，图2为对应的功率-电压特性（P-V曲线）示意图。3GB/T6495.1—202X最大功率（pmax）、最大功率点电压（VPmax）以及最大功率点电流（IPmax）图2功率-电压特性（P-V曲线）示意图以及典型的P-V曲线参数，包括开路电压（Voc）、最大功率（pmax）、最大功率点电压（VPmax）4.2测量方法光伏器件I-V特性测量方法如下：a）当在标准测试条件（见4.5）下进行时，测量平面在测量期间的平均辐照度应介于800W/m2和1200W/m2之间，从而尽量减少因大幅修正而产生的误差。b）测量电池结温的温度传感器应尽可能贴近被测器件放置。在评定测量不确定度时，应考虑温度传感器测量的温度与电池结温之间的差异。由于单个电池的温度可能会因其电气特性而有所不同（尤其是光伏组件处于短路条件下被照射时），因此还应考虑器件（尤其是光伏组件）上可能出现的温度分布不均对测试的影响。GB/T6495.5中规定的等效电池温度（ECT）法可以用于温度差异或温度分布不均的情况。同时，在评定温度测量的不确定度时，还应考虑到通风（如户外测量时的自然风或室内测量时空调）对温度传感器的冷却效应。c）被测器件的有效照射面应与标准器件的有效照射面在±2°范围内保持共面。d）测量电压和电流时，应从被测器件端子引出独立导线，且导线长度应尽可能短。如果被测器件是一个光伏组件、子串或封装太阳电池，宜采用四线连接法，并且连接位置应该位于接线端子或连接器处。如果被测器件是一片裸露的光伏电池，应从电池汇流条处引出接线。对于没有连接器的裸电池，其连接方式宜仔细评估。使用焊接条相比于非焊接方法（如带有接触弹簧的探针或与电池背面大面积接触的导电板）可能会产生差异，非焊接方法可能比组件测量导致更高的填充因子。宜基于电池用途或测量目的选择合适的接触方法。四线法所使用的接触方式（针对裸电池）或接触位置（针对光伏组件）应在报告中明确说明。对于无主栅的裸电池或表面导电性低的多主栅电池，应直接从接触结构处进行四线连接，否则，电池片上的电流和电压探针之间的电阻会造成压降，从而导致测量中的填充因子增加。测量系统在校准时（通常是静态载荷）与实际进行I-V曲线测量（通常是动态载荷）时情况可能存在不同，应考虑其间产生的偏差。4GB/T6495.1—202Xe）采集到的数据应覆盖短路电流点和开路电压点（包括修正后的短路电流和开路电压）。如果需要通过外延法来计算短路电流点和开路电压点，见第8章。f）I-V曲线也可在无光照条件下（即暗态I-V）进行测量（见附录C）。但是通常情况下，暗态I-V测量不是必需的。4.3稳定化应小心处理亚稳态光伏器件的测量。如果条件允许，在测量具有亚稳态特性的光伏器件（如I-V曲线测量或光谱响应测量）之前，应对器件进行稳定化处理，并在报告中体现稳定化程序。对于稳定化程序，可参考本文件的附录E，或GB/T9535系列标准。如果采用稳定化程序，应在稳定化程序执行前后对被测器件进行测量，同时，应评估I-V特性参数的变化，并在报告中体现。如果无法对器件进行稳定化，或未进行稳定化，应报告中指出。4.4稳态性能等效性在测量被测器件的I-V特性时，应尽可能确保测量结果反映的是器件在稳态条件下的性能，即不存在因辐照度漂移、器件温度变化或电压扫描速率引起的任何影响。当电压偏置以过快的速度进行跃阶或扫描时，导致测量电流时器件响应未能达到稳定，就会产生扫描速率效应。在某些晶硅光伏器件中，这种效应可能是由于器件的电容性，或是由于更复杂的器件响应，这现象在钙钛矿电池等一些薄膜器件中经常被观察到，具体参见IECTR63228。光伏器件电容效应导致的测量误差与下列多因素共同作用有关：太阳电池所采用的光伏技术、I-V曲线测量参数（扫描方向、各测量点的时间延迟、在多脉冲法中的脉冲数以及施加电压、电流或辐照度的变化速率）。由光伏器件电容效应导致的测量误差通常在I-V曲线的最大功率点和开路电压上最为显著，而在短路电流处的误差一般最小。附录B给出了确保测量结果接近稳态条件的方法。在评定测量不确定度时，应考虑上述情况对测量结果造成的影响。4.5报告条件通常在报告中给出测试结果时，应同时给出测试条件，以下三个主要测试参数也应该一并在报告中给出：最常用的报告条件是标准测试条件（STC），即平面总辐照度为1000w/m2、光谱辐照度分布符合GB/T6495.3（全光谱）的定义、电池结温为25°C。然而，有时需要在其他条件下获得测试结果。对于任何测试结果，上述三个主要参数都应该4.6测试条件到报告条件的修正有时，I-V曲线的测试条件与报告中给出的测试条件不同。因此，需要将测量结果从测试条件修正到报告条件。修正应依据GB/TXXXXX（IEC60891辐照度和温度修正）结（IEC60891）执行I-V曲线修正程序时，需要注意该程序的适用性，以及修正方法与光的相关性。同时，也应考虑这部分所引入的测在评定测量不确定度时，应考虑测试条件与报告a）如有可能，调整平面总辐照度，例如通过调节太阳模拟器的强度，使GB/T6495.7定义的有效辐照度等于报告的辐照度。之后，按照第6章或第5GB/T6495.1—202Xb）否则，使用给定的辐照度按照第6章或第7章测量I-V曲线。利用GB方法（a）更适合模拟阳光的测试，因为在实际测量中，短路电流或最大功率是准确的，从而5仪器设备a）辐照度测量设备：一个符合GB/T6495.2要求封装和校准的光伏标准器件。在自然阳光条照度呈线性关系。应按照GB/T6495.7进行光谱失配修正，并将修正结果与测量结果一同射特性）。在使用标准器件对被测器件进行测量前，b）监测辐照度的时域波动：需要一个辐照度监测器，用于在采集I-V曲线期间跟踪瞬时辐照监测器记录的数据用于评估辐照度稳定性，并对测量I-V曲线每个数据点时的总入射辐照示例2：GB/T6495.2要求在使用一级标准电池对二级标准器件进行校准时，需采用AAA级别的太阳模拟器。示例3：在光伏电池和光伏组件生产制造时，需采用BBA级或更高级别的太阳模拟器。g）为了进行光谱失配修正和有效辐照度计算（需要时）：需配备一台符合GB/T6495.9要求6GB/T6495.1—202X示例4：晶硅是一个众所周知的间接带隙材料实6自然阳光下测量6.1一般要求在自然阳光下进行的测量时，需要保证在测量完整I-V曲线期间，总辐照度的变化范围保持在±1%之内。应区分两种类型的测量。第一，对被测器件的电性能的测量，通常指的是在标准条件（STC）下的测量（典型光伏校准条件），但有时也针对其他相关条件（例如根据GB/TXXXX-20XXIEC61853-1中描述的能量评定测量）。在这种情况下，被测器件和标准器件都安装在双轴跟踪系统上。第二，随时间变化的电性能测量，通常旨在进行能量评级和监测被测器件。在这种情况下，被测器件和标准器件（或多个标准器件）通常安装在固定支架上（用以模拟实际光伏系统安装条件或定期测量已安装的光伏组件）。本标准适用于这两种类型的测量，因此，除非另有特别说明，下文描述的测试程序适用于任一情况。在任何情况下，应避免周围环境（如窗户或光亮的金属部件）对标准器件和被测器件造成的遮挡或反射光。6.2测试过程以下为测试过程：a）将标准器件安装在尽可能靠近被测器件的位置。对于使用太阳跟踪器进行的光伏校准或功率等级评定，两者都应与入射太阳光束保持垂直(±5°以内）。关于标准器件与被测器件之间的位置对齐，请参阅4.2（c）部分。同时，连接到必要的仪器设备。b）如果被测器件和标准器件配备了温控装置，应将其设置为所需的温度。应使标准器件的温度尽可能接近其校准时的温度，并将被测器件的温度调整到需要报告的温度。如果没有控温装置，可以通过将被测器件调节到目标温度以下的温度，将其放置在自然阳光照射下，并采用临时遮蔽物，使其自然升温。一般来说，在升温过程中，器件平均温度与传感器平均温度之间可能存在差异。因此，应对该差异进行修正，或在评定测量不确定度时，应考虑该差异。c）扫描I-V曲线，并同时记录被测器件的电流和电压读数以及标准器件的输出。同时，应记录两个器件的温度，通常在测试I-V曲线期间或测试前后立即对每个器件进行一次温度测量即可。一般而言，温度应尽可能接近voc条件（开路电压条件）下测量。在大多数情况下，在移走遮蔽物后的几秒钟内，由于被测器件和标准器件的热惯性，二者的温度上升会受到限制，并且器件的温度将保持相对均匀。然而，在进行I-V测量过程中，被测器件和标准器件相对于测量时刻的温度差异，会增加测量的不确定度，在评定测量不确定度时，应考虑对这部分不确定度。d）确保在记录每个I-V曲线期间，由标准器件测量的辐照度保持稳定，变化范围应在±1%以内。要实现上述条件，通常只能使用光伏器件监控辐照度，因为日射强度计（总辐射表）的响应时间通常高于测量完整I-V曲线所需的时间。e）测量应在晴天进行（太阳周围无可见云层，太阳辐射的散射成分不超过30%）。如果使用的标准器件的封装方式或电池技术与被测器件不同，应使用光谱辐射计进行同步的光谱辐照度测量，且光谱辐射计的指向需与被测器件一致（即，对于太阳跟踪测量指向太阳，对于固定支架安装的模块则垂直于测试平面）。根据测量的光谱辐照度计算被测器件的有效辐照度（参见GB/T6495.7）。f）对于固定支架安装的情况，应记录直射辐照度的入射角度。只需记录测量的时间和地理位置，基于此计算入射角即可。由于被测器件与标准器件的余弦响应差异会导致入射角效应，需要根据入射角来对该效应进行修正或评估其引入的不确定度分量。如果需要进行光谱失配修正，需要测量光谱辐照度，特别是在使用总辐射表作为标准器件时。7在模拟阳光下测量7GB/T6495.1—202X7.1一般要求应对测量光伏器件I-V曲线的太阳模拟器（稳态或脉冲式）进行标定，并应根据GB/T6495.9的规定定期检查。对于脉冲式太阳模拟器，I-V曲线数据可以在单次闪光期间全部获取，也可通过多次连续闪光分段测量I-V曲线，并进行组合的方式获取。选择哪种方法取决于闪光脉冲持续时间和被测器件的电气特性，特别是其电容效应。更多详细信息和指导见附录B。标准器件的作用是确定、设定太阳模拟器的辐照度。在下述方法（a）中主要采用光伏参考电池来实现。而在方法（b）中，通常使用一个与被测器件相似或名义上等同的且经过校准的光伏器件。除了下面列出的优点外，采用策略（b）还可能使得误差会在一定程度上相互抵消（详情见IECTR60904-14）。以下是两种基本的测量策略：a）将被测器件和标准器件并排放置在测试平面上，采用模拟光源同时照射。测试平面需要能够同时容纳两个器件。由于同时对两个器件进行测量，辐照度的波动应使用辐照度监测器的信号进行修正。可以使用标准器件作为辐照度监测器，也可以使用单独的辐照度监测器。测量过程中应考虑采用合适的方法降低辐照度空间非均匀性的影响。b）将被测器件和标准器件分别放置在测试平面上，采用模拟光源分别照射。如果测试平面辐照度的空间分布是一致的，即标准器件和被测器件在其各自位置上的平均辐照度相同，则二者可以放置在不同的位置进行测试。辐照度的短期波动应使用辐照度监测器进行修正。如果所选标准器件在尺寸和电气特性上（对于参考光伏组件，电气性质的要求包括电池数量、电池类型、电池互连电路和封装方式）与被测器件完全相同，那么在两次测量过程中，辐照度的空间非均匀性对测量的影响相似，因此大部分影响会相互抵消，光谱失配也可忽略不计。这是光伏行业中的常见情况，即生产的组件与同类型的工作参考组件进行比对测量。如果标准器件和被测器件并不相同，则应评估辐照度空间非均匀性和光谱失配的影响，并且进行修正或在不确定度评定过程中考虑该上述影响。应评估辐照度空间非均匀性的影响（见附录D），以下方法可以减少该类影响。最直接的方法是使用与被测器件相同的标准器件，如上述（b）中提及。对于尺寸不同的被测器件和标准器件，建议在较大器件的总面积内，在不同位置测量较小的器件，并使用结果的平均值。根据GB/T6405.9对辐照度空间非均匀性的特性描述，也可能将较小的器件放置在测试平面上，使其接收到的辐照度相当于较大器件总面积上的平均辐照度。这样可以有效减小由于辐照度不均匀性带来的测量误差。7.2测量过程以下是测量过程：a）将标准器件放置在测试平面上，使其有效表面与太阳模拟器的测试平面处于同一平面内，偏差不超过±5°。关于标准器件与被测器件之间的位置对齐，请见4.2（c）部分。b）调整太阳模拟器的辐照强度，使得按照GB/T6495.7定义的“有效辐照度”等于报告辐照度。或者，设置辐照度使得标准器件在其标定的短路电流或最大功率点输出（见下文指导）。记录标准器件的温度。c）如有必要，调整辐照度监测器的数值，使其输出与通过标准器件测量到的辐照强度水平相对应。此步骤是为了将辐照度校准结果从标准器件转移到辐照度监测器上。d）如有必要，移除标准器件，并按照7.2（a）项描述的方法，将被测试器件放置在测试平面上，同时确保符合4.2（c）中规定的共面条件。如果测试区域大于等于被测试器件和标准器件（包括它们的边框或封装）所占面积之和，则可根据7.1（a）中所述，将两个设备并排放置。e）如果对标准器件和被测试器件都使用了温控装置，应将它们设置到所需的温度。应尽可能使标准器件的温度接近其校准时的温度，并使被测试器件的温度达到所需的报告温度。最常见的情况是两者温度均为25℃。在接近这种情况下，如果没有控温装置，实验室环境应控制目标温度附近，并使被测器件与其环境达到热平衡，这一点在使用脉冲式太阳模拟器时尤其适用。对于稳态太阳模拟器，也可采用类似于自然阳光条件下使用的方法（见第6章）。f）扫描I-V曲线，并同时记录被测试器件的电流和电压读数，以及辐照度监测器的输出值。应同时记录被测器件和辐照度监测器的温度，在采集I-V曲线期间或测量前后立刻对每个设备进行8GB/T6495.1—202X一次温度测量即可。对于稳态太阳模拟器，温度应在尽可能接近voc条件进行测量。在大多数情况下，在去除遮蔽物后的几秒钟内，由于被测器件和标准器件的热惯性，二者的温度上升会受到限制，并且器件温度将保持相对均匀。然而，在进行I-V测量过程中，被测器件和标准器件相对于测量时温度差异，会增加测量不确定度，在评定测量不确定度时，应考虑对这部分不确定度。在某些太阳模拟器中，会将辐照度监测器集成到反馈系统中，用来稳定光源的辐照度输出。在这种情况下，可能无法获得上述所需的辐照度监测器输出和温度读数。因此，应进行辐照度的时间稳定性验证，并在不确定度评定中考虑该验证结果。关于扫描速率的设置，见附录B。如果使用光伏组件作为标准器件，在设定太阳模拟器辐照度时，需谨慎选择短路电流或最大功率作为设定参数。如果选取短路电流，则几乎不受器件温度和连接方式的影响，但由于辐照度的空间非均匀性影响，可能会引入误差（见附录D）。如果选取最大功率，可以补偿辐照度的空间非均匀性（见附录D），但可能会因器件温度、连接方式以及电容效应问题而引入误差。为了获得最准确的结果，可以采用标准器件的短路电流和最大功率同时设定辐照度，并且结合光谱失配修正。因此，在使用这两个参数中的一个来设定太阳模拟器的辐照度时，并验证另一个参数是否在一定范围内与之相符（例如1%以内）。如果不相符，应调查偏离原因，并尽可能在测试之前进行修正。如果仍然无法同时满足短路电流和最大功率的要求，当辐照度的空间非均匀性较小时，应选择短路电流；当辐照度的空间非均匀性较大时，则应选择最大功率点。注：一个有效的检查方法是：定期在模拟器中将标准器件的位置上下颠倒，并比较结果。辐照空间不均匀性对光伏组件（由电池串联组成）测量的I-V曲线的影响取决于辐照分布、组成电池的短路电流分布和反向I-V特性以及组件中的旁路二极管。由于辐照的空间不均匀性产生的影响应在不确定度评定中进行分析。详情见附录D。对于无法稳定辐照的脉冲太阳模拟器（衰减脉冲），在记录I-V数据时，辐照度可能在大范围内波动。使用组件参数进行辐照度修正时应格外注意。应调整触发器，使得辐照度修正值在目标辐照度上下波动。8数据分析8.1测试条件到报告条件的转换如果在测量过程中标准器件或测试器件的辐照度或温度不是目标值，对于线性器件，根据GB/TXXXXX（IEC60891）对测得的I-V曲线进行修正，对于非线性器件，参考GB/T6495.10确定器件的线性范围及非线性部分修正方法。通常，当参数的偏差对结果存在显著影响时，应根据GB/TXXXXX（IEC60891）进行修正。以下是指导原则：在评定测量不确定度时，应考虑测量条件与报告条件之间的所有偏差。修正会引入不确定度，应对其进行评估。这种不确定度受到原始测试条件的不确定度和修正参数不确定度的共同影响。一般来说，对于以下情况，应进行修正：a）如果光伏标准器件（使用短路电流）的温度与其标定温度相差超过2℃;b）如果光伏标准器件（使用最大功率）的温度与其标定温度相差超过0.5℃;c）如果待测器件的温度与报告温度相差超过1℃;d）如果辐照度与报告辐照度相差超过0.5%。对于参考器件，无论使用类似于被测器件的光伏参考电池还是光伏参考组件a）和（b）中提到的要求都是适用的。如果采用总辐射表作为参考器件，则不需要对其进行温度修正。8.2提取I-V曲线参数为了能够平滑地表示整个I-V曲线的形态，I-V曲线中包含的数据点数量应当足够多，并且可以按照下述要求进行拟合（适用时）。数据点在电压方向的分布可以不均匀，即在被测器件的电流随电压变化较慢的区域（例如短路电流Isc附近）采用较少的数据点，而在电流随电压变化较快区域（例如接近最9GB/T6495.1—202X大功率点pmax附近及最大功率点与开路电压VOc之间的区域）增加数据点的密度。上述数据点分布方式，有利于提取I-V曲线参数。通常需要提取以下部分或全部参数：a）短路电流(Isc)b）开路电压(VOc)c）最大功率(pmax)d）填充因子(FF)e）最大功率点电压(Vpmax)f）最大功率点电流(Ipmax)g）转换效率(η)上述参数并非都是独立的；例如，填充因子可以从短路电流、开路电压和最大功率计算得出。转换效率本身并不是I-V曲线的直接参数，而是由最大功率、辐照度和器件面积计算得出。关于面积的测量，见附录A。短路电流和开路电压直接从I-V曲线中获得，而最大功率来源于P-V曲线。参数应在一定范围内通过对数据进行插值和拟合来确定。在某些情况下，根据测试条件、修正程序以及被测器件的修正参数，在将原始数据转换为报告条件对应的数据时，可能导致转换后的I-V曲线不一定覆盖到短路电流Isc或开路电压VOc点。在这种情况下，应使用外延法。对于Isc，外推范围不应超过器件开路电压的3%。对于VOc，一般不推荐采用外插法，具体见GB/TXXXXX（IEC60891）。应谨慎选择插值、拟合的函数及范围。对于Isc通常采用线性拟合；对于VOc则可以采用线性或低阶多项式拟合；而对于pmax建议使用四阶或更高阶的多项式拟合。在选择拟合函数时，都应考虑拟合的数据点数量与函数参数数量之间的关系。详细信息见文献资料。在评定测量不确定度时，应考虑拟合引入的不确定度分量，并在报告中说明。8.3测量不确定度的评定在评定测量不确定度时，应对下述分量进行分析：a）仪器、装置和参考器件的不确定度；b）偏离报告条件引入的不确定度分量；c）偏离理想稳态条件引入的不确定度分量；d）I-V曲线的转换引入的不确定度分量；e）从I-V曲线中提取性能参数过程引入的不确定度分量。太阳模拟器的分级并不直接影响测量不确定度的评定。但是，模拟器的分级结果可以用于分析测量不确定度来源。电流-电压特性参数的测量不确定度取决于被测器件本身以及测量程序，应对其进行评9测试报告测试机构应提供一份包含性能特性和测试结果的测试报告。如果部分参数是由第三方提供的（如光谱响应度或温度系数应明确指示其来源和具体数值，同时还需要附上关于这些参数不确定度的说明。测试报告应包含以下内容：a）报告的标题；b）测试实验室名称及地址，以及测试地点；c）报告及每页的唯一识别号；d）客户的名称及地址（适用时e）被测器件的唯一识别编号；f）被测器件类型的描述（太阳电池、太阳电池子串或光伏组件）；g）测试样品接收日期及校准或测试日期（如适用h）引用的抽样程序（如适用）；GB/T6495.1—202Xi）测试环境（自然阳光或模拟阳光；如果是模拟阳光，则需描述太阳模拟器及其等级j）如4.5所给定的报告条件；k）参考器件的唯一识别号；l）参考器件的描述（光伏标准电池、光伏组件或总辐射仪）；m）使用的校准或测试方法，特别是电压扫描方法、扫描速率及扫描方向；n）用于四线连接的接触方法及/或接触点；o）对校准或测试方法的偏离、增加或排除，以及与校准或测试相关的其他信息，如环境条件；p）用于测量I-V曲线的温度和辐照度修正方法；q）如适用，使用的稳定化方法及由此引起的器件性能变化；r）通过表格和图表表示的测试结果，包括总辐照度、被测器件和参考器件的温度，用于I-V曲线修正的光伏组件参数；s）光谱失配修正值、测量中使用的光谱辐照度、被测器件和参考器件的光谱响应度，或参考器件采用与被测器件相同的电池技术和封装材料的声明；t）测量不确定度评定结果；u）对报告内容负责的个人签名、职务或等效身份识别，以及报告发布日期；v）结果仅与所测试的器件相关（适用时）；w）报告复制（应完整复制）需要得到实验室书面批准的声明。GB/T6495.1—202X附录A（资料性附录）器件面积的测量A.1一般要求光伏器件的面积可以通过相机、扫描仪、卷尺、直尺或测量显微镜等工具进行测量。测量的面积通常用于计算光伏器件的转换效率。本附录中定义了各种面积的定义并给出了测量程序。A.2器件面积的定义A.2.1一般要求不同类型的面积选择取决于客户的要求。光照区域可以通过不透明遮盖物来限定。该做法通常用来确定被测器件的转换效率。A.2.2总面积（At）总面积是指电池或组件（包括其外边缘在内）在测试平面上的投影面积。对于附着在玻璃上的电池，总面积将包括玻璃片的面积以及边框部分。A.2.3掩膜版开孔面积（Aap）掩膜版开孔面积是覆盖在光伏器件上的遮盖物的透光面积。器件的辐照面积被遮盖物限制在一个小区域中，该面积小于总面积。但器件的所有基本的部件，如主栅线、细栅线和连接部分不应被遮盖物遮挡。A.2.4指定照射面积（Ada）电池或组件的曝光区域被遮盖物限制在一个小区域内，该区域面积小于器件总面积。但是电池或组件的主要部件位于指定的照射区域之外。A.3光伏器件面积测量a）光伏器件或遮盖物的面积应根据需要进行测量。当光照区域由遮盖物（光圈面积或指定照明面积）定义时，应在遮盖物的内边缘处进行测量。遮盖物的材料应对被测器件光谱响应范围内所有的波长都完全不透明。边缘应平滑，材料应具有低反射率。b）器件或遮盖物应放置在面积测量装置中并保持平坦，与测试平面的最大偏差不超过2°。c）根据几何形状（矩形、正方形、圆形、五边形、梯形、其他），每条定义的长度应至少进行三次测量，测量不确定度要求为：：（i）对于光伏组件（最大边长至3m）：不确定度应小于等于2mm；（ii）对于面积大于等于1cm2的太阳电池：不确定度应小于等于0.1%；（iii）对于面积小于1cm2的太阳电池：不确定度应小于等于10μm。当采用光学透镜、显微镜或数码相机对太阳电池图像进行放大测量面积时，上述不确定度指的是器件的实际长度，而不是放大图像中的长度。d）图A.1至图A.4展示了各种光伏器件几何形状的定义长度及测量示例。如果螺丝等小型部件的累计面积相对于总面积可以忽略不计，则无需计入这些部件。如果器件形状为五边形或梯形，请参考图A.2定义长度。e）在（c）中确定每个定义长度的平均值，并根据器件的几何形状计算被测器件的面积。GB/T6495.1—202Xf）评定面积测量的不确定度。图A.1光伏组件（矩形）图A.2不同几何形状的光伏组件（五边形，梯形）GB/T6495.1—202X图A.3光伏电池（切角）图A.4光伏电池（圆角，圆形）GB/T6495.1—202X（资料性附录）存在电容特性的光伏器件I-V特性测量B.1一般要求本附录针对存在电容特性的光伏器件I-V曲线测量进行了详细说明。本附录旨在提供一个标准的基础测试方法，同时也为限制光伏器件测量I-V曲线过程中的电容效应做出指导。此外，对于部分器件，在施加电压时，其响应复杂且不可预测，该类情况不在本附录的讨论范围内。在过去几十年里，传统光伏器件的效率有了显著提高。当太阳电池在更高的注入水平（即更高的内部载流子密度）下工作时，在I-V测量过程中，高效光伏器件的时间响应问题成为一个挑战。测量的电流会受到电容效应的影响，从而引入测量误差。例如，如果扫描速率设置不当，当电压扫描方向为正向(Isc-Voc)时，光伏器件的填充因子可能会被低估；而当扫描方向为反向(Voc-Isc)时，填充因子则可能被高估。通常来说，这与器件的电容效应有关，且随着电压扫描速率的提高（即电压斜坡持续时间更短）以及光伏器件性能的提升，相关的误差会增大。鉴于电容效应已被充分认识，人们已开发出多种方法来抑制这一测量误差。下述内容用于评估在应用这些技术时的测量不确定度，适用于多种测量技术和不同的光伏器件。B.2定义B.2.1电容诱导电流因外部电压、电流或照射到光伏器件的辐照度变化而导致的，由器件的电容特性产生的充放电电流。B.2.2电容特性引起的相对误差由电容特性引入的相对误差，定义为电容诱导电流与稳态电流之比，该比值是光伏器件电压的函数。注：当光伏器件的电压变化无限缓慢时，测量时刻既无充电也无放电发生，相对误差为零。B.3电容特性引起的相对误差光伏器件的电容特性主要源自其内部载流子密度的变化，并受到诸如电池厚度、能带隙、掺杂密度及光伏器件串联电阻等技术因素的影响。通常情况下，光伏器件的电容特性是结电压的函数。对存在电容特性的光伏器件，测量电流采用下式表示：Imeas=Inon—transient—(B.1)式中：Imeas——为给定电压下测量的电流Inon—transient——在稳态下且相同电压条件下所测得的电流。——为由于电压变化导致的电容诱导电流电流测量的相对误差（errcap）可以采用下式表示GB/T6495.1—202Xerrcap=/Inon—transient(B.2)公式(B.1)和(B.2)适用于光伏器件在光照（自然阳光、稳态模拟光源或脉冲模拟光源）条件下的电流测量，也同样适用于在暗环境下通过电流注入方式测试的光伏器件的电流。图B.1展示了一个表现出电容特性的光伏器件的等效电路图。当扫描速率过高时，I-V曲线会因偏离稳态条件而产生畸变，其畸变方式依据扫描方向的不同而不同（见图B.2）。图B.3示例说明了随着扫描速率和扫描方向的变化，由器件电容效应导致的误差情况。图B.1电容特性的设备的等效电路图图B.2三条I-V曲线（稳态、正向扫描和反向扫描），器件电容对曲线形状的影响GB/T6495.1—202X注：偏差并不对称，通常情况下，正扫的偏差比相同扫描速图B.3对于存在电容特性的光伏器件，最大功率偏差与扫描速率的关系图（偏差相对于稳定态测量结B.4控制测量误差的方法B.4.1一般要求采用下述方法可以最大程度上降低由电容效应引起的测量误差。B.4.2稳态下测量在测量I-V曲线过程中，相对于瞬态条件，稳态条件意味着光伏器件半导体材料内部的载流子密度保持恒定。实现稳态条件的一种方法是等待足够长的时间（较大的时延），直到电容诱导电流消失，即dI/dt=0。理论上，稳态的定义为：同时满足dv/dt=0和dI/dt=0条件，但在实际操作中这一状态难以准确达到。因此，应在电压阶跃后，光伏器件达到准稳态条件时测量电流。注：数据采集系统无需针对时间进行校准，因为与时间相关的不确度分量对结果的影响可以忽略不计。此外，从被测器件曝光到开始测量I-V曲线之间的时间延迟应足够长，以确保器件在光照强度突然改变后能达到稳定。实际上，采用某些光伏技术的器件在光照条件突然改变时（如触发、闪光脉冲、快门开启等），初期的I-V值也可能展现出瞬态偏移，之后达到稳定状态。这种瞬态行为可能与结电容特性或其他与材料相关的过程（比如载流子寿命短、陷阱饱和、作为复合中心的界面或带电势垒层）有关。在这些情况下，如果在器件曝光后立即开始电压扫描，I-V曲线的形状可能发生改变。这种现象可以在测量I-V曲线前通过监测电信号（例如使用示波器）观察到。B.4.3准稳态条件下的测量对于特定的光伏器件来说，达到完全稳态所需的时间可能非常长。因此，为了得到最小的测量不确定度，可以在器件刚达到准稳态条件时就进行测量。为了减小器件电容特性引起的误差，可以采用下述方法：以稳定步进（即阶梯上升）的方式改变电压，同时，对于每一个I-V曲线上的点，等待其dv/dt和dImeas/dt同时达到0时记录数据。在评定测量不确定度时，需要考虑到采用可接受的电容误差（如B.4.4中定义）引入的测量不确定度分量。GB/T6495.1—202XB.4.4光伏器件电容效应分析的常用方法B.4.4.1一般性考虑因素针对含有电容特性光伏器件的测量，有多种方法可供使用，包括使用长脉冲太阳模拟器、多闪光法、稳态太阳模拟器或自然阳光法。采用下述建议能够减少因被测器件电容效应造成的误差。可以通过改变扫描速率验证测量的有效性，即如果测量I-V曲线的扫描速率加倍之后，所有I-V曲线电性能参数的变化率都未超过0.5%，则认为在这两种扫描速率（或更慢的扫描速率）下的测量的电容误差可以接受。B.4.4.2线性扫描B.4.4.2.1单次线性扫描单次线性扫描I-V测量可以在连续光源（模拟或自然阳光）下进行，或在长脉冲太阳模拟器上进行（通常是100毫秒或更长脉冲）。在这种情况下，可以达到准稳态条件，因为这种情况可以达到足够低的电压扫描速率，由此产生的电容误差在可接受范围内。B.4.4.2.2分段（多次闪光）扫描在脉冲太阳模拟器上，可采用分段（多次闪光）线性扫描的测量方法。将电压扫描范围划分为多个部分，从而延长总测量时间并降低电压扫描速率。在每一部分开始时，太阳模拟器发出闪光，之后在较小的电压扫描范围内进行电流测量。之后，通过组合各部分测量数据来得到完整的I-V曲线。如果任一分段的扫描速率足够慢，则由于电容效应导致的测量误差在可接受的范围内，测量结果足够准确。B.4.4.2.3变扫描速率通过不断改变扫描速率来寻找合适的速率，直到连续两次扫描的所有I-V曲线参数之间的差异不超过0.5%。另一种方法是比较正扫和反扫的I-V曲线。如果正反向扫的所有I-V曲线特性参数的差异都优于0.5%，则电容误差在可接受范围内。否则，应更改测量参数或步骤，直到达到上述要求。B.4.4.3阶梯式扫描B.4.4.3.1单次阶梯式扫描整个I-V曲线通过单次阶梯式电压扫描进行测量，保持每个施加的电压恒定，直到电流足够稳定。如果对每个电压阶跃使用相同的时间延迟，那么这个延迟必须足够长，以确保在任意电压下器件电流都能达到稳定。或者，由于光伏器件电流稳定所需的时间取决于所施加的电压，可以为不同类型的光伏器件定制电压扫描策略。B.4.4.3.2单点（多次闪光）每次闪光时，都会施加一个固定的电压，从而使光伏器件尽可能接近准稳态。因为每次测量都对应于整个I-V曲线上的一个单一数据点，所以这种方法通常需要仔细选择测量点的总数以及插值方法（线性或多阶多项式插值）。过少的测量点数量或多项式插值阶数过低会导致测量结果的不确定度增加。B.4.4.3.3监控阶梯式扫描对于每个电压步进，监测dv/dt和dI/dt。当两者都达到可接受的稳定水平时，记录下该点数据并进行下一个电压步进测量。B.4.4.4迟滞测量与修正通过使用光伏器件电容模型，从正扫和反扫的I-V数据中得出稳态I-V曲线。通常，将得到的稳态I-V曲线与多闪光法或变扫描速率法来进行比较，确定在给定类型的器件上达到的精度。如果I-V曲线的扫描速率加倍之后，任何I-V曲线电性能参数的变化都未超过0.5%，则认为在这两种扫描速率（或更慢的扫描速率）下的测量的电容误差可以接受。GB/T6495.1—202XB.4.4.5电压调制向光伏器件施加一个随时间变化的电压，目的在于维持光伏器件内部电荷的恒定。通过这种方式，它可以抵消光伏器件中电子和空穴密度分布的变化，以及由于接线、太阳电池金属化和内部串联电阻引起的电压降。该方法需要预先进行测量以确定正确的电压调制，对于给定类型的不同器件，根据制造商、生产批次或类别，电压调制可能会有所不同。B.4.4.6开路电压的测定另一种验证开路电压的方法是进行一项单独的测量，只需使被测器件保持在开路条件下，而不进行电压扫描。B.5报告在对电容特性进行研究时，应报告以下内容：——最大功率点处的由电容效应引起的电流测量误差(errcap)，包括测量的Vpmax和Ipmax——开路电压处由电容效应引起的电流测量误差(errcap)，包括测量的Voc——如适用，用于确定Vpmax和Ipmax的数据点对应的dI/dt和dV/dt。对于因电容效应导致的测量相对误差的评估，只适用于与被测器件在各方面都完全相同的光伏器件。任何vpmax、voc、dI/dt或dv/dt的变化都将需要重新进行测量或计算误差。然而，可以为较低电容特性 的光伏器件给出一个参数范围，在此范围内，之前计算的误差评估值可以看作是在这类低电容特性器件上可能出现的最大误差界限。B.6参考文献GuidelinesforPVpowermeasurementinindustry,EuropeanUnion,2010,EUR24359EN,doi:10.2788190247NFerretti,YPelet,JBerghold,VFakhfouri,PGrunow,"PerformancetestingofhighefficientPVmodulesusingsingle10msflashpulses",Proc.28thEuropeanPVSEC,2013,pp.3184-3187AVirtuani,GRigamonti,GFriesen,DChianeseandPBeliean,"Fastandaccuratemethodsfortheperformancetestingofhighly-efficientc-Siphotovoltaicmodulesusinga10mssingle-pulsesolarsimulatorandcustomizedvoltageprofiles",Meas.Sci.Technol.23,2012,115604(8pp.)CMonokroussos,DEtienne,KMorita,CDreier,UTherhaagandWHerrmann."AccuratepowemeasurementsofhighcapacitancePVmoduleswithshortpulsesimulatorsinsinaleflash"Proc.27thEuropeanPVSEC,2012,pp.3687-3692HVahlman,JLipping,JHyvarinen,ATolvanenand$Hyvarinen,"Capacitiveeffectsinhigh-efficiencysolarcellsduring1-/curvemeasurement:considerationsoferrorofcorrectionandextractionofminoritycarrierlifetime",Proc.35thEuropeanPVSEC,2018,pp.254-261GB/T6495.1—202X（资料性附录）在无光照条件下测量光伏器件电流-电压特性（暗态I-V特性测量）C.1一般要求通常情况下，光伏器件的电流-电压特性是在光照条件下测量的（称为I-V曲线）。本附录提供了一种在无光照条件下测量光伏器件I-V特性的方法，这称为“暗态I-V曲线”。结合暗态I-V曲线和常规光照条件下的I-V曲线，可以揭示更多关于光伏器件性能的信息。图C.1无光照下的I-V特性（暗态I-V曲线）GB/T6495.1—202X图C.2光照下的I-V特性（I-V曲线）本附录中提出的无光照条件下的I-V特性（暗态I-V曲线）代表了光伏器件本身二极管的I-V特性，如图C.1所示。通过电源向pn二极管（即光伏器件）注入正向电流。暗态电流Idark（=Idiode+IRsh）为被测量，并且其为vdark的函数。另一方面，当负载如图C.2所示连接到光伏器件上时，将在光照条件下测量常规的I-V特性（I-V曲线）。通过负载的光生电流Iphoto为被测量，并且其为vphoto的函数。需要注意的是，有无光照条件下的I-V特性和光照条线下的I-V特性本质上是不同的，因为所测量的对象分别是充当无源负载的光伏器件和作为电源发生器的光伏器件。C.2设备用于测量光伏器件电压、电流和温度的设备应符合4.2节中的要求，但需进行如下调整：仪器测量不确定度应参照各关注范围的最大值，而非开路电压和短路电流。此外，还需要一个适当的直流电源，用以向被测器件注入正向电流，推荐使用恒定电流控制的电源，但也可采用恒定电压控制的电源。电源的最大电流应超过被测器件在标准条件下的短路电流（Isc，STC）。然而，这对于某些高光导电的光伏技术（例如非晶硅和CdTe）的电池可能造成损害，因为在电流被迫通过旁路时，会因串联电阻损耗而使被测器件加热。对于这类器件，可以通过限制偏置使其不超过STC下的Isc值来避免这种情况。C.3测量程序C.3.1一般要求光照条件下的I-V特性（I-V曲线）应根据本文档的前述部分进行测量。暗态I-V特性测量的位置应足够黑暗，即由于环境或杂散光造成的背景辐照度应限制在很低的水平（见下文）。GB/T6495.1—202X应在进行暗态I-V曲线测量之前测量Isc，STC。为了便于分析，暗态I-V测量中电流的跨度应大于两个数量级。所需电压范围取决于被测器件。在确定最大电压时，应考虑到因串联电阻导致的电压降。C.3.2暗态I-V曲线测量暗态I-V特性应该遵循以下测量步骤：a）根据条款6或7安装被测器件；b）在进行暗态I-V测量期间，背景辐照度应足够低，使得由此产生的短路电流Isc小于或等于Isc，STCc）电源应设置为恒定电流或恒定电压控制模式。1）最大注入电流（即接近在光照条件下I-V曲线中VOc位置所处的状态）应大于被测器件的Isc，STC值。需要注意的是，试图在无光照条件下获得Isc电流会损坏某些材料，因为电流会被迫通过旁路；2）注入电流的最小值（即接近在光照条件下I-V曲线中Isc位置所处的状态。）应小于Isc，STCd）电源的输出电压范围应足够大，以便在考虑被测器件串联电阻造成的电压降后，能确保所需的最大电流供应。GB/T6495.1—202X（资料性附录）辐照度空间非均匀性对I-V曲线参数的影响D.1一般要求辐照度空间非均匀性对光伏组件I-V曲线形态的影响是一个复杂现象，由众多参数决定。通常，光伏组件受到的非均匀照射会导致串联电池的短路电流分散。这种效应会与制造公差引起的电池性能离散相互叠加。在进行I-V测量时，光伏组件的输出电流通常从最大电池电流变到零，每个电池会根据其当前的工作状态（在I-V特性曲线上所处的位置）产生相应的电压变化，这些电压汇总起来决定了组件的整体输出电压。当存在辐照度空间非均匀性时，意味着从某一特定组件电流开始，短路电流低于该电流的电池将开始在其反向I-V曲线上工作，从而产生负电压贡献。这些负电压贡献的总和将导致组件I-V曲线变形。一般而言，电池短路电流越低，且电池的并联电阻（反向I-V曲线的斜率）越高，太阳电池的负电压就越大。然而，负电压的总和通常受到与各个电池子串并联连接的旁路二极管的限制。当负电压之和等于正电压之和加上组件电流下旁路二极管的正向电压时，旁路二极管将导通。基于组件I-V曲线的这一构建原理，图D.1展示了一个示例，说明了光照强度空间非均匀性对I-V曲线参数的影响。这些曲线基于以下设置的蒙特卡洛模拟：——电池互联电路：采用6×10的电池排列方式，其中电池分为3个子串，并且每个子串都并联有旁路二极管。——电池短路电流的制造公差为±1%（呈矩形分布）。——存在高并联电阻的电池，其平均并联电阻为100Ω（呈高斯分布）。——平均光照强度为1000w/m2，电池间的光照强度在最小值与最大值之间随机生成。图D.1显示，对pmax（最大功率）的影响明显小于对Isc（短路电流）和填充因子（FF）的影响。只有当辐照度空间非均匀性超过5%时，pmax相对于均匀情况的偏差才会大于0.5%。因为在该非均匀性范围内（平均辐照度保持恒定的情况下pmax通常对辐照度的空间非均匀性表现出较弱的依赖性，因此，存在显著辐照度空间非均匀性的情况下，更倾向于使用这一参数来校准太阳能模拟器。如果辐照度不是随机分布在组件上，而是集中在某一部分电池子串上，那么组件参数Isc（短路电流）和FF（填充因子）并不会遵循图D.1所示的线性关系。这是由于不同电池子串在不同的平均辐照度下工作，导致组件I-V曲线呈现阶梯状。在这种情况下，即使平均辐照度相同，组件的短路电流甚至可能超过均匀辐照度情况下的短路电流。另一方面，当辐照度的空间非均匀性超过5%时，才会观察到pmax（最大功率）偏差大于0.5%的现象仍然存在。了解更多信息，请参阅D.2条款中的参考文献。GB/T6495.1—202X对于每次运行，辐照度分布取随机值，并且平均辐照度被归一图D.1-具有高并联电池的60片光伏组件的蒙特卡洛模拟D.2参考文献W.Herrmann,W.Wiesner,“ModellingofPVmodules-Theeffectsonnon-uniformirradianceonperformancemeasurementswithsolarsimulators",Proc.16thEuropeanPVSEC,2000,pp2338-2341C.Monokroussos,D.Etienne,K.Morita,V.Fakhfouri,J.Bai,C.Dreier,U.TherhaagandW.Herrmann,"lmpactofCalibrationMethodologyintothePowerRatingofc-SiPVModulesUnderIndustrialConditions",Proc.28thEuropeanPVSEC,2013,pp.2926-2934GB/T6495.1—202X（资料性附录）亚稳态光伏器件I-V特性测量的稳定性处理方法E.1一般要求大量科学试验结果表明，在HJT电池和组件及薄膜组件存在亚稳态现象。因此，为获得精确的I-V特性参数，需预先进行稳定性处理。本附录提供了光诱导和电诱导两类稳定性处理方法，其中电诱导稳定性处理对被测器件外加电流或电压偏压，使其产生与光照相似的效果。本附录规定的方法适用于具有亚稳态特性的光伏器件（如HJT光伏组件与薄膜光伏组件），其他N型晶体硅光伏组件可参照使用。E.2光诱导稳定性处理方法E.2.1模拟阳光测试法E.2.1.1测试设备测试设备应符合如下要求：a）符合GB/T6495.9规定的CCC级及更高等级的稳态太阳模拟器。b）该太阳能模拟器带有合适的辐照度计，用于监测辐照度。c）合适的支架，便于放置光伏器件，且被测器件与辐照度计应保持同一平面。d）设置太阳能模拟器的辐照强度在800W/m2～1000W/m2范围。e）测试设备应保证：在测试期间，器件温度可以保持在50±10℃范围内。所有后续的操作应在与初始操作相同的温度下，温度保持±2℃内进行。用于监测器件温度的温度传感器，其精度为±2.0℃,重复性为±0.5℃。温度传感器应安装在器件具有温度代表性的位置上，如靠近器件的中心位置。f）应具备合适的电阻负载或电子最大功率点跟踪器，使器件在其最大功率点（MPPT）附近工作。推荐使用微型逆变器。E.2.1.2测试步骤试验步骤如下：a）将被测器件正面朝上，放置于支架上。b）将负载接入到被测器件的正负极端子，并保证器件与辐照度计处于同一平面上。c）记录器件的辐照强度水平、累计辐照度、器件温度和使用的电阻负载。d）对被测器件进行一定量的初始辐照，辐照后进行I-V特性测量，将最大输出功率记为P1。e）对被测器件进行一定量的单次辐照，辐照后进行I-V特性测量，将最大输出功率记为Pn，其中n为辐照次数。f）重复步骤e)，直到测得的最大输出功率值满足E.3的要求。），），E.2.2自然阳光测试法E.2.2.1测试设备测试设备应符合如下要求：GB/T6495.1—202Xa）开放式支架用于放置测试器件和辐射探测器，按规定的方式安装。支架应设计成可尽量减少器件的热传导，并尽可能少地干扰其正面和背面的自由散热。对于不设计用于开放支架安装的器件，测试器件应按制造商的建议安装。b）辐照度计：准确度为±5%，监控太阳辐照度的设备应安装在与器件同一平面，用以记录辐照强度和总辐照累计量；应安装在距离测试阵列0.3m范围内。c）用于监测器件温度的温度传感器，其精度为±2.0℃,重复性为±0.5℃。温度传感器应安装在器件具有温度代表性的位置上，如靠近器件的中心位置。d）准备合适的电阻负载或电子最大功率点跟踪器，使器件在其最大功率点（MPPT）附近工作。推荐使用微型逆变器。E.2.2.2测试步骤试验步骤如下：a）将器件正面朝上，放置于支架上。测试器件的安装倾角应参照当地纬度±5。范围内。b）将负载接入到器件的正负极端子，并保证器件与辐照度计处于同一平面上。同时，应保证器件附近无遮挡，防止产生热斑效应。c）记录器件的辐照强度水平、累计辐照度、器件温度和使用的电阻负载。d）低于500W/m2的辐照强度不应计入有效累计辐照度。g）对被测器件进行一定量的初始辐照，辐照后进行I-V特性测量，将最大输出功率