《硅光电倍增管可靠性评估方法》编制说明

1、标准范围。

标准规定了符合性试验（光电特性、外形尺寸、外部目检）、机械完整性试验（机

械冲击、变频振动）、环境试验（温度循环、强加速稳态湿热试验、盐雾、稳态工作寿

命、高温寿命）及物理特性试验（密封性、引线键合强度）四种可靠性评估试验类型的

具体要求，主要适用于所有的SiPM，不受器件技术和尺寸的限制

2、工作简况。

（一）任务来源

为落实《国家中长期科学和技术发展规划纲要（2006-2020年）》《国家创

新驱动发展战略》等规划，由北京邮电大学牵头，中国科学院半导体研究

所、无锡中微晶园电子有限公司、上海联影医疗科技股份有限公司等单位

参与，制定《硅光电倍增管可靠性评估方法》团体标准。

（二）目的和意义

硅光电倍增管（SiliconPhotomultiplier,SiPM），作为一种新兴的光电探测

器件，具有单光子灵敏度、探测效率高、光子数分辨能力强、对磁场不敏

感等优点，是医疗影像设备、激光雷达等系统中的核心传感器，决定了相

关设备的成像质量和探测距离。尽管国际上SiPM及相关产品形成了一定

的产业规模，但目前国内依赖进口，也缺乏涉及该器件可靠性试验方法的

标准。该标准规定了SiPM的相关术语定义及可靠性试验方法。该标准的

制定有利于指导SiPM产品的检测和使用，填补国内该器件可靠性试验方

法的空白，完善半导体光电子器件标准体系，为推动产业发展提供技术支

持。

（三）主要工作过程

本标准和编制工作从2023年10月开始，北京邮电大学成立标准预立项工

作小组，提出《硅光电倍增管可靠性评估方法》的团体标准立项建议。2023

年12月26日召开团体标准专家论证会，对标准草案进行修改和完善，形

成征求意见稿，于2024年1月开始向全体委员和全社会进行广泛征求意

见。截止时间为2024年6月。

3、标准编制原则和确定标准主要内容的依据：

1、标准编制原则

本标准按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构

和起草规则》的规定起草。坚持实用性和有效性为准则，并结合当前发展现状

与特点，提高标准贯彻实施的实用性和可操作性。

2、确定标准内容的依据

考虑到现阶段国际上该技术已相对稳定，我们参考《GB/T21194-2007通信设

备用的光电子器件的可靠性通用要求》、《GBT33768-2017通信用光电子器件

可靠性试验方法》等国家标准制定了本标准草案。

4、主要试验（或验证）的分析、综述报告。

本文件的技术内容在广泛调研国内外研究现状的基础上，根据我国硅光电倍增管发

展的现状和特点，加入自身的理解和要求，制定出符合发展需求的标准，提升硅光

电倍增管的可靠性。

5、标准在起草过程中遇到的问题及解决办法：重大分歧意见的处理

经过和依据：有无重要技术问题需要说明。

无。

6、与国外标准的关系：包括：采用国际标准和国外先进标准的程度，

与国外标准主要技术内容的差异（可引用标准前言的内容）：

无。

7、修订标准时，说明与标准前一版本的重大技术变化，并列出所涉

及的新、旧版本的有关章条（可引用标准前言的内容）：废止/代

替现行有关标准的建议：

无。

8、说明标准与其他标准或文件的关系（可引用标准前言的内容），特

别是与有关的现行法律、法规和强制性国家标准的关系：

对国家标准和行业标准进行搜索，以及对AFDS外文特种文献集成系统

（:8080/search?all=&config=）以“SiPM”、“MPPC”、“APD”、“可

靠性”、“二极管可靠性”、“APD可靠性”、“半导体可靠性”等作为关键词对军事标准进

行搜索，未找到与SiPM可靠性试验方法直接相关的标准。其中，《GB/T21194-2007通

信设备用的光电子器件的可靠性通用要求》、《GBT33768-2017通信用光电子器件可靠

性试验方法》等国家标准可以作为参考。

9、标准作为强制性标准或推荐性标准的建议：

无。

10、贯彻国家标准的要求和措施建议（包括组织措施、技术措施、过

渡办法等内容）：标准发布后，对国内外业界可能产生的影响。

无。

11、标准是否涉及知识产权的情况说明；如标准中含有自主知识产权，

说明产品研发程度、产业化基础及进程。

无。

12、其他应予说明的事项。

无。

《硅光电倍增管可靠性评估方法》

标准编制说明

北京邮电大学

2023年10月

1、标准范围。

标准规定了符合性试验（光电特性、外形尺寸、外部目检）、机械完整性试验（机

械冲击、变频振动）、环境试验（温度循环、强加速稳态湿热试验、盐雾、稳态工作寿

命、高温寿命）及物理特性试验（密封性、引线键合强度）四种可靠性评估试验类型的

具体要求，主要适用于所有的SiPM，不受器件技术和尺寸的限制

2、工作简况。

（一）任务来源

为落实《国家中长期科学和技术发展规划纲要（2006-2020年）》《国家创

新驱动发展战略》等规划，由北京邮电大学牵头，中国科学院半导体研究

所、无锡中微晶园电子有限公司、上海联影医疗科技股份有限公司等单位

参与，制定《硅光电倍增管可靠性评估方法》团体标准。

（二）目的和意义

硅光电倍增管（SiliconPhotomultiplier,SiPM），作为一种新兴的光电探测

器件，具有单光子灵敏度、探测效率高、光子数分辨能力强、对磁场不敏

感等优点，是医疗影像设备、激光雷达等系统中的核心传感器，决定了相

关设备的成像质量和探测距离。尽管国际上SiPM及相关产品形成了一定

的产业规模，但目前国内依赖进口，也缺乏涉及该器件可靠性试验方法的

标准。该标准规定了SiPM的相关术语定义及可靠性试验方法。该标准的

制定有利于指导SiPM产品的检测和使用，填补国内该器件可靠性试验方

法的空白，完善半导体光电子器件标准体系，为推动产业发展提供技术支

持。

（三）主要工作过程

本标准和编制工作从2023年10月开始，北京邮电大学成立标准预立项工

作小组，提出《硅光电倍增管可靠性评估方法》的团体标准立项建议。2023

年12月26日召开团体标准专家论证会，对标准草案进行修改和完善，形

成征求意见稿，于2024年1月开始向全体委员和全社会进行广泛征求意

见。截止时间为2024年6月。

3、标准编制原则和确定标准主要内容的依据：

1、标准编制原则

本标准按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构

和起草规则》的规定起草。坚持实用性和有效性为准则，并结合当前发展现状

与