• 现行
  • 正在执行有效
  • 2005-11-17 颁布
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【正版授权-英语版】 ISO/TR 18392:2005 EN Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Procedures for determining backgrounds_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO/TR 18392:2005 EN
  • 标准名称：表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
  • 英文名称：Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for determining backgrounds
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2005-11-17

文档简介

ISO/技术报告18392:2005《表面化学分析—X射线光电子光谱—确定背景的程序》。

ISO/TR18392是一个关于表面化学分析的ISO技术报告，特别关注X射线光电子光谱（XPS）分析。该报告详细介绍了如何进行背景测定，以帮助科学家和工程师准确地了解材料的化学成分和表面特性。

以下是对该标准内容的详细解释：

在XPS分析中，背景是一个重要的考虑因素，因为它通常是由各种来源产生的杂散信号，这可能会干扰对样品真实化学成分的分析。ISO/TR18392提供了几种方法来测定背景，这些方法包括：

1.模拟源方法：使用一个与样品相同或类似的材料（模拟源）产生与样品可能产生的实际信号类似的信号。通过测量这些信号并将其与实际样品信号进行比较，可以确定背景信号的来源和性质。

2.空极片方法：使用没有任何涂层或样品的极片作为空白对照样品。通过测量这个空极片的信号，可以获得基底或测量设备的噪声级别，从而可以将其从实际样品的信号中分离出来。

3.重复扫描方法：在给定的区域或样品上多次扫描，每次扫描都从一个不同的角度或距离进行。通过比较不同扫描结果的差异，可以确定那些来自样品之外（例如，周围的空气或仪器结构）的信号。

这些方法的目的是提供一种系统的方法来确定XPS分析中的背景，并帮

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