- 废止
- 已被废除、停止使用，并不再更新
- 2005-03-16 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO/TR 14999-2:2005 EN
- 标准名称：光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第2部分：测量和评估技术
- 英文名称：Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 2: Measurement and evaluation techniques
- 标准状态：废止
- 发布日期：2005-03-16
文档简介
ISO/TR14999-2:2005，也就是“光学和光子学—光学元件和光学系统的干涉测量法—第2部分：测量与评估技术”，这是一项关于光学元件和光学系统干涉测量的标准，特别是在测量和评估技术方面的规定。
该标准主要关注光学元件和光学系统在干涉测量法中的使用，包括但不限于光波长、干涉仪、样品准备、测量程序、数据处理等方面。该标准提供了一系列具体的操作指南和评估方法，以确保干涉测量法的准确性和可靠性。
该标准涉及到的技术领域包括光学、物理、电子、测量和计算机科学等多个学科，需要多方面的知识和技能才能正确实施。该标准是工业界和学术界在光学元件和光学系统测量和评估方面的重要参考和指导。
在实施该标准时，需要考虑到具体的测量环境和条件，以及样品的特性和参数。同时，需要遵循标准的操作步骤和数据处理方法，以确保测量的准确性和可靠性。此外，还需要根据具体情况进行调整和优化，以提高测量精度和效率。
ISO/TR14999-2:2005ENOpticsandphotonics—Interferometricmeasurementofopticalelementsandopticalsystems—Part2:Measurementandevaluationtechniques是一份重要的标
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