• 现行
  • 正在执行有效
  • 2021-12-21 颁布
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【正版授权-英语版】 ISO 18115-2:2021 EN Surface chemical analysis - Vocabulary - Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO 18115-2:2021 EN
  • 标准名称：表面化学分析 词汇表 第2部分：扫描探针显微镜使用的术语
  • 英文名称：Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2021-12-21

文档简介

扫描探针显微镜（SPM）是纳米级或亚纳米级的微观分析工具，通过扫描探针显微镜技术来获取材料的表面化学特性。该标准定义了扫描探针显微镜中使用的术语，包括但不限于以下内容：

*仪器类型：包括扫描隧道显微镜（STM）、原子力显微镜（AFM）、磁力显微镜（MFM）、扫描离子显微镜（SIM）等。

*操作模式：包括探针与样品之间的相互作用模式，如接触模式、轻敲模式、扫描隧道谱模式等。

*探针：包括各种材料制成的探针，如金、钨、碳等，以及探针的形状、大小、硬度、弹性系数等属性。

*样品：包括各种材料和结构，如金属、半导体、绝缘体、生物样品等。

*表面特性：包括表面形貌、粗糙度、表面电荷、表面吸附物等。

*分析方法：包括原子力图像、力曲线、隧道图像等的获取和分析方法。

*数据处理：包括信号处理、数据分析、图像处理等在获取和分析扫描探针显微镜数据时使用的技术。

以上是ISO18115-2:2021ENSurfacechemicalanalysis—Vocabulary—Part2:Termsusedinscanning-probemicroscopy的主要内容，该标准详细解释了扫描探针显微镜中涉及的各种术语和相关技术，为从事

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