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  • 2015-06-29 颁布
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【正版授权】 ISO 13142:2015 EN Electro-optical systems - Cavity ring-down technique for high-reflectance measurement_第1页
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基本信息:

  • 标准号:ISO 13142:2015 EN
  • 标准名称:电子光学系统 用于高反射率测量的腔环向下技术
  • 英文名称:Electro-optical systems — Cavity ring-down technique for high-reflectance measurement
  • 标准状态:废止
  • 发布日期:2015-06-29

文档简介

ISO13142:2015标准主要涉及到光电系统的高反射率测量。它主要关注的是一种称为腔环减少(CRD)的技术,这种技术被广泛应用于光电系统的反射率测量。

首先,我们需要了解腔环减少技术的基本原理。它是一种光测量技术,通过测量激光脉冲在光学腔中传播时衰减的程度来获取光强信息。在腔环减少技术中,激光脉冲被引入到一个光学腔中,并在腔内多次反射。每次反射都会使激光脉冲的强度衰减,这种衰减是线性的,因此我们可以使用这个衰减量来计算腔内的光强。

而在这个标准中,主要讨论的是如何使用腔环减少技术来测量高反射率的系统。高反射率系统通常是指那些反射率非常高的物体,如镜子、金属表面等。对于这些系统,传统的光度测量方法可能无法得到准确的结果,因为反射光可能会淹没入射光,导致测量误差。

为了解决这个问题,ISO13142:2015标准提出了一种新的方法,即使用腔环减少技术。这种方法通过调整激光脉冲的参数和腔的结构,使得激光脉冲在腔内多次反射时衰减的程度可以被精确地测量出来。然后,通过测量高反射率系统的反射光强度与腔内光强的比值,就可以得到高反射率系统的反射率。

此外,该标准还详细介绍了如何使用这种技术进行实际测量,包括如何选择合适的激光脉冲参数、如何设计腔的结构、如何进行校准等等。这些步骤都是非常重要的,因为它们直接影响着测量的准确性和可靠性。

ISO13142:2015标准提供了一种新的方法来测量高反射率的系统,这种方法基于腔环减少技术,具有较高的准确性和可靠性。它为光电系统的反射率测量提供

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