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  • 2008-02-11 颁布
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【正版授权】 ISO 10110-7:2008 EN Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 7: Surface imperfection tolerances_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO 10110-7:2008 EN
  • 标准名称：光学和光子学 光学元件和系统图纸的编制 第7部分：表面瑕疵公差
  • 英文名称：Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 7: Surface imperfection tolerances
  • 标准状态：废止
  • 发布日期：2008-02-11

文档简介

ISO10110-7:2008光学和光子学—光学元件和系统的绘图准备—第7部分：表面缺陷公差这是一个国际标准，专门涉及光学元件和系统的绘图准备。具体来说，它规定了绘制光学元件和系统时表面缺陷的公差范围。这个标准旨在确保光学系统的一致性和准确性，尤其是在高精度应用中。它涵盖了各种类型的表面缺陷，例如表面凸起、凹陷、划痕和纹理变化等。公差是根据光学元件或系统的特定应用和性能要求而定的。对于设计和制造光学元件和系统的人来说，了解这些公差是非常重要的，因为它们直接影响到产品的性能和精度。制定适当的表面缺陷公差可以确保最终产品满足预期的性能要求，并在生产过程中实现高效的流程控制。在进行光学元件和系统的设计时，必须考虑这些公差，并相应地调整绘图和制造过程。在某些情况下，可能需要使用特殊的工具和技术来满足这些公差要求。总的来说，ISO10110-7:2008标准为光学元件和系统的设计者和制造商提供了一个重要的指导，以确保产品的质量和性能达到预期的标准。

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