• 现行
  • 正在执行有效
  • 2022-07-20 颁布
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【正版授权】 IEC TS 63342:2022 EN C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC TS 63342:2022 EN
  • 标准名称：C-Si光伏（PV）组件-光照和高温诱发电学性能下降（LETID）测试-检测
  • 英文名称：C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2022-07-20

文档简介

IECTS63342是一个关于C-Si光伏（PV）模块的标准测试方法，它关注的是在光照和高温环境下，光伏模块的寿命和性能变化。LETID测试（LightandElevatedTemperatureInducedDegradationTest）是对此标准的重要部分，其目标是检测模块是否会因为光照和高温而出现性能下降的情况。

详细的步骤如下：

1.**样品准备**：在光伏模块中，需要选取一小部分进行测试，这部分需要包括模块的核心部分，同时确保它不会被暴露在测试过程中。

2.**环境设定**：温度设定在75℃（预热阶段）和85℃（试验阶段），并保持光照条件一致。预热阶段持续4小时，试验阶段持续24小时。

3.**测试操作**：在光照条件下，将模块置于预设的高温环境中，观察并记录模块的性能变化。

4.**结果分析**：根据模块的电压、电流等参数的变化，判断模块是否出现了光热诱发的性能下降。如果参数出现明显变化，则说明模块可能存在光热诱发的性能下降问题。

此外，IECTS63342还对测试设备的精度、测试环境的控制、以及测试数据的记录和分析等细节做了详细的规定。

IECTS63342标准主要是为了确保光伏模块在光照和高温环境下能够保持稳定的工作性能，避免因环境因素导致的性

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