- 现行
- 正在执行有效
- 2020-01-10 颁布
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基本信息:
- 标准号:IEC TS 62804-1-1:2020 EN
- 标准名称:光伏(PV)组件——检测电位差导致的降解的试验方法——第1-1部分:结晶硅——分层(Delamination)
- 英文名称:Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1-1: Crystalline silicon - Delamination
- 标准状态:现行
- 发布日期:2020-01-10
文档简介
IECTS62804-1-1:2020ENPhotovoltaic(PV)modules-Testmethodsforthedetectionofpotential-induceddegradation-Part1-1:Crystallinesilicon-Delamination是一个关于光伏(PV)模块的测试方法标准,旨在检测由于电位诱导退化(PIED)引起的潜在问题。这个标准特别关注了晶体硅(Crystallinesilicon)组件中存在的分离层(Delamination)现象。
IECTS62804-1-1:2020ENPhotovoltaic(PV)modules-Testmethodsforthedetectionofpotential-induceddegradation-Part1-1:Crystallinesilicon-Delamination详细规定了测试过程和评估方法,包括设备、材料、环境条件、测试步骤、数据收集和分析等。这个标准的主要目标是确保光伏组件在运行过程中的性能和安全性,特别是关于分离层的检测和处理。
具体来说,IECTS62804-1-1:2020ENPhotovoltaic(PV)modules-Testmethodsforthedetectionofpotential-induceddegradation-Part1-1:Crystallinesilicon-Delamination规定了以下测试步骤:
1.准备测试环境:包括清洁和干燥的测试区域、适当的温度和湿度控制、以及用于测量电压和电流的设备。
2.安装和连接组件:按照标准规定的方法安装光伏组件,并确保电源连接正确。
3.进行电位诱发试验:通过给组件施加特定电压来诱发潜在问题,并观察分离层的出现和变化。
4.数据收集和分析:记录测试过程中的电压、电流、温度、湿度等数据,并对数据进行评估以确定是否存在分离层及其程度。
如果测试过程中发现分离层,IECTS62804-1-1:2020ENPhotovoltaic(PV)modules-Testmethodsforthedetectionofpotential-induceddegradation-Part1-1:Crystallinesilicon-Delamination规定了相应的处理方法,包括但不限于修复分离层、重新安装组件或更换组件等。
IECTS62804-1-1:2020ENPhotovoltaic(PV)modules-Testmethodsforthedetectionofpotential-induceddegradation-Part1-1:Crystallinesilicon-Delamina
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