• 现行
  • 正在执行有效
  • 2015-12-14 颁布
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【正版授权】 IEC 63003:2015 EN Standard for the common test interface pin map configuration for high-density,single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505™_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 63003:2015 EN
  • 标准名称：针对采用IEEE Std 1505™标准的高密度单层电子测试要求通用测试接口针脚配置标准
  • 英文名称：Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505™
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2015-12-14

文档简介

1.引脚类型和数量：根据IEC63003标准，电子设备的测试接口引脚可以划分为不同的类型和数量，以满足不同的测试需求。具体数量和类型可以根据不同的设备和应用场景进行调整。

2.引脚功能：每个引脚都有特定的功能，包括信号输入、信号输出、电源、接地等。这些功能可以根据设备的测试需求进行定义和配置。

3.测试接口拓扑结构：IEC63003标准规定了高密度单层电子设备的测试接口拓扑结构，包括总线、分叉线、分支线等。这种拓扑结构有助于简化测试系统设计，提高测试效率。

4.信号接口规范：IEC63003标准规定了测试接口信号的接口规范，包括信号电平、信号频率、信号质量等。这些规范有助于确保测试系统的可靠性和稳定性。

5.测试系统配置：IEC63003标准还规定了测试系统的配置方法，包括测试设备的连接方式、测试流程的控制方式等。这些配置方法有助于简化测试系统的部署和操作。

IEC63003:2015EN标准为高密度单层电子设备的测试接口提供了详细的引脚配置和功能规范，有助于提高测试系统的可靠性和稳定性，简化测试系统的部署和操作。

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