• 现行
  • 正在执行有效
  • 2007-11-07 颁布
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【正版授权-英语版】 IEC 62526:2007 EN Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62526:2007 EN
  • 标准名称：半导体设计环境标准测试接口语言(STIL)扩展标准翻译
  • 英文名称：Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2007-11-07

文档简介

IEC62526:2007EN标准是对标准测试接口语言(STIL)的扩展标准，用于半导体设计环境。这个标准提供了半导体设计环境中测试和验证的通用语言，使得工程师可以更容易地描述、模拟和执行测试用例。这个标准为半导体设计环境提供了重要的支持，使得测试自动化成为可能，并且能够更有效地检测和解决潜在的设计问题。IEC62526标准涵盖了多个方面的内容，包括测试脚本的编写、测试场景的描述、测试数据的生成和管理等。此外，该标准还提供了一些额外的工具和资源，以帮助工程师更好地理解和应用这个标准。总之，IEC62526:2007EN标准对于半导体设计环境的测试和验证具有重要意义，为工程师提供了更加全面和有效的支持。

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