• 现行
  • 正在执行有效
  • 2013-01-16 颁布
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【正版授权】 IEC 61788-17:2013 EN-FR Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducti_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 61788-17:2013 EN-FR
  • 标准名称：超导性-第17部分：电子特性测量-大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
  • 英文名称：Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2013-01-16

文档简介

IEC61788-17:2013EN-FRSuperconductivity-Part17:Electroniccharacteristicmeasurements-Localcriticalcurrentdensityanditsdistributioninlarge-areasuperconductingfilms涉及的内容非常广泛，以下我会详细解释其中的一部分内容。

IEC61788-17:2013标准主要关注超导材料在大型超导薄膜中局部临界电流密度及其分布的测量。具体来说，它涵盖了以下主要内容：

一、标准背景和目的：

IEC61788系列标准主要用于超导材料的性能测试，特别是与超导材料中的电流传输和热力学特性相关的测量。其中，Part17专门关注超导薄膜中局部临界电流密度及其分布的测量。临界电流密度是超导材料的一个重要参数，它描述了材料在低温下能够传输电流的能力。通过测量局部临界电流密度，可以了解超导薄膜中电流的分布和流动情况，这对于理解超导材料的工作机制以及优化超导器件的性能至关重要。

二、测量方法和设备：

为了测量超导薄膜中的局部临界电流密度，需要使用适当的测量设备和测量方法。通常，这包括使用磁场感应和扫描电子显微镜（SEM）等技术。通过在超导薄膜的不同区域上施加磁场，可以观察到电流的流动，并使用SEM来观察电流在薄膜中的分布。此外，还可以使用其他电子显微镜技术，如X射线衍射和光学显微镜等来辅助测量。

三、数据分析和结果解释：

测量结果需要经过详细的数据分析和结果解释。这包括对测量数据的处理、统计分析和模型拟合等步骤。通过这些步骤，可以确定超导薄膜中局部临界电流密度的分布，并了解超导材料的工作机制和性能特点。

四、应用和限制：

IEC61788-17:2013标准适用于各种类型的超导薄膜，包括单层、多层和三维结构的薄膜。这些标准对于研究超导材料的基本物理性质、优化超导器件的设计和制造、以及评估超导应用系统的性能等方面具有重要的应用价值。然而，该标准也受到一些限制，例如测量设备的精度和可靠性、薄膜制备技术的限制等。

IEC61788-17:2013标准对于理解超导材料的工作机制、优化超导器件的性能以及评估超导应用系统的性能等方面具有重要的意义。通过正确的测

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