• 现行
  • 正在执行有效
  • 2003-02-13 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60749-36:2003 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration,steady state_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-36:2003 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候测试方法-第36部分：加速度、稳态加速老化
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2003-02-13

文档简介

IEC60749-36:2003EN-FRSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part36:Acceleration,steadystate标准主要涉及的是半导体器件的机械和气候测试方法。下面我会详细解释其中的一部分内容。

1.测试目的：IEC60749-36:2003标准旨在确定半导体器件在经历加速度和稳态气候条件下的性能表现。这些条件包括温度、湿度、气压和其他可能影响器件性能的环境因素。

2.测试范围：该标准适用于各种类型的半导体器件，包括但不限于集成电路、二极管、晶体管、传感器等。这些器件在经过加速和稳态气候条件下的测试后，可以评估其性能变化、可靠性以及是否符合预期的使用条件。

3.测试方法：该标准规定了多种测试方法，包括但不限于振动测试、温度循环测试、湿度循环测试等。这些测试方法模拟了器件在实际使用中可能遇到的各种环境条件，以评估其性能和稳定性。

4.加速测试：加速测试是一种模拟器件在实际使用中可能经历的加速度环境的方法。这种方法通过给器件施加一个恒定的加速度，并观察其在一段时间内的性能变化。通过加速测试，可以评估器件在加速度环境下的性能衰减程度和寿命。

5.稳态测试：稳态测试是一种模拟器件在实际使用中长期暴露于某种环境条件的方法。这种方法通过将器件暴露在恒定的温度、湿度和气压条件下一段时间，以评估其在稳态环境下的性能表现。通过稳态测试，可以评估器件在长期使用中的性能变化和可靠性。

6.测试周期和结果：根据IEC60749-36:2003标准，测试周期通常包括加速和稳态阶段的测试。在每个阶段结束后，需要对器件进行评估，包括性能测试、外观检查、寿命预测等。根据测试结果，可以确定器件是否符合预期的使用条件，以及是否需要进行进一步的修复或更换。

以上是对IEC60749-36:2003EN-FRSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part36:Accel

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