• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-03-28 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-28:2017 EN Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device le_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-28:2017 EN
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候测试方法-第28部分：静电放电（ESD）灵敏度测试-带电器件模型（CDM）-器件级别（元件和部件级别）
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-03-28

文档简介

IEC60749-28:2017EN标准主要针对半导体设备，包括机械和气候测试方法的部分内容，详细地阐述了静电放电(ESD)敏感度测试的设备模型(CDM)的设备级别。

IEC60749-28:2017EN标准主要涵盖了以下内容：

1.静电放电敏感度测试的重要性及其应用范围。

2.设备模型(CDM)的定义和基本原理。

3.设备级别的ESD敏感度测试方法和技术。

4.测试环境的要求和设置，包括温度、湿度、气压等参数。

5.测试设备的选择和使用，包括电源、接地、信号发生器等设备。

6.数据采集和处理方法，包括信号分析、数据记录和评估等步骤。

7.测试结果的分析和解读，包括ESD事件的发生概率、影响程度等指标。

在ESD敏感度测试中，IEC60749-28:2017EN标准采用了设备模型(CDM)的方法，这是一种基于统计学的模型，能够模拟设备在静电放电事件下的响应行为。通过设备级别的测试，可以评估设备的ESD防护能力，从而确定设备是否符合安全要求。在实际应用中，测试结果可以为产品的设计、生产和质量评估提供重要的参考依据。

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