• 现行
  • 正在执行有效
  • 2016-12-15 颁布
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【正版授权】 IEC 60444-8:2016 EN-FR Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60444-8:2016 EN-FR
  • 标准名称：石英晶体元件参数测量—第8部分：表面安装石英元件试验夹具
  • 英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2016-12-15

文档简介

表面安装石英晶体元件的测试夹具是关于石英晶体元件参数测量的国际标准。它详细说明了用于测量表面安装石英晶体元件的参数的测试夹具的设计和制造要求。以下是该标准的主要内容：

1.测试夹具的设计应考虑到石英晶体元件的特性和要求，以确保准确和可靠的测量。

2.测试夹具应包括一个固定装置，用于固定石英晶体元件，并确保其稳定性和准确性。

3.测试夹具应包括一个测量装置，用于测量石英晶体元件的电气性能参数，如频率、电容和阻抗等。

4.测试夹具应具有足够的刚性和稳定性，以避免在测试过程中对石英晶体元件造成任何不良影响。

5.测试夹具应考虑到石英晶体元件的安装方式和尺寸，以确保其适合各种不同类型和尺寸的石英晶体元件。

6.测试夹具应经过充分的测试和验证，以确保其准确性和可靠性。

7.在使用测试夹具进行测试之前，应进行适当的清洁和维护工作，以确保其性能的稳定性和准确性。

IEC60444-8:2016EN-FR标准为测量表面安装石英晶体元件的参数提供了详细的指导，包括测试夹具的设计、制造、测试和验证等方面。这对于确保石英晶体元件的质量和性能至关重要。

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