NBT 47013.3-2023 承压设备无损检测 第3 部分：超声检测

CCSH26代替NB/T47013.3—2015承压设备无损检测第3部分：超声检测2023-12-28发布2024-06-28实施根据《中华人民共和国标准化法》《能源标准化管理办法》,国家能源局批准《新能源场站智能化建设基本技术规范》等281项能源行业标准(附件1)、《SpecificationforPreparationofSpecialGeologicalReportonImpoundment-AffectedAreafor等33项能源行业标准外文版(附件2)、《水电工程放射性探测技术规程》等3项能源行业标准修改通知单(附件3),现予以发布。附件：行业标准目录二〇二三年十二月二十八日H标准编号标准名称代替标准(略)NB/TI1474-2023大气环境腐蚀试验出版社2024-06-28NB/T11475-2023瓶式压力容器出版社2024-06.28在用焦炭塔检验出版社2023-12.22024-06-28NB/T11477-2023JB/T50037-1997出版社202312-282024-06-28(略)NB/T470133—2023出版社2024-06-28NB/T47014-2(23NB/T47614-2011出版社2024-06-28NB/T47015-2023压力容器焊接规程出版社2024-06-28NB/T47016-2(23NB/T47016-2011出版社2024-06-28NB/T47028-2023出版社2024406-28NB/T47029-2023NB/T47029-20122024-06-28减温减压装置NB/T47033-2013出版社2024-06-8前言 Ⅲ 12规范性引用文件 13术语和定义 14一般要求 25承压设备用原材料或零部件的超声检测方法和质量等级评定 96承压设备焊接接头超声检测方法和质量等级评定 7承压设备厚度的超声测定方法 8在用承压设备超声检测方法 9超声检测记录和报告 附录A(规范性)超声检测仪电气性能指标要求 附录B(规范性)超声检测用探头性能指标要求 附录C(规范性)双晶直探头性能要求 附录D(规范性)承压设备用板材超声斜探头检测方法和验收标准 附录E(规范性)承压设备用碳素钢、低合金钢制环形和简形锻件超声斜探头检测方法和质量等级评定 附录F(规范性)承压设备用奥氏体型不锈钢环形和筒形锻件超声斜探头检测方法 附录G(规范性)承压设备堆焊层超声检测方法和质量等级评定 附录H(规范性)铝和铝合金制及钛制承压设备对接接头超声检测方法和质量等级评定 附录I(规范性)承压设备奥氏体型不锈钢及镍基合金焊接接头超声检测方法和质量等级评定 附录J(规范性)承压设备曲面纵向对接接头的超声检测方法 附录K(规范性)承压设备曲面环向对接接头的超声检测方法 附录L(规范性)承压设备接管与筒体(或封头)角接接头超声检测方法 附录M(规范性)承压设备T形焊接接头超声检测方法 附录N(规范性)不同类型焊接接头超声检测的具体要求 附录O(规范性)CSK-IIA试块 附录P(规范性)声能传输损耗差的测定 附录Q(规范性)回波动态波形模式 附录R(规范性)缺陷测高方法(一):端点衍射波法测定缺陷高度 附录S(规范性)缺陷测高方法(二):端部最大回波法测定缺陷高度 附录T(规范性)缺陷测高方法(三):-6dB法测定缺陷高度 附录U(资料性)采用成像技术的承压设备超声检测方法 本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的本文件是NB/T47013《承压设备无损检测》的第3部分。NB/T47013已经发布了以下部分： 第1部分：通用要求； 第2部分：射线检测； 第3部分：超声检测； 第5部分：渗透检测；——第6部分：涡流检测； 第8部分：泄漏检测； 第9部分：声发射检测； 第10部分：衍射时差法超声检测； 第11部分：射线数字成像检测： 第12部分：漏磁检测； 第13部分：脉冲涡流检测； 第14部分：射线计算机辅助成像检测； 第15部分：相控阵超声检测。本文件代替NB/T47013.3—2015《承压设备无损检测第3部分：超声检测》,与NB/T47013.3—2015相比，除结构调整和编辑性改运之外，主要技术变化如下，a)明确了对比试块由通用对比试块和专用对比试块组成，并规定了适用范围；b)进一步明确了工艺验证及工艺验证方式等；c)调整了承压设备板材超声检测的适用范围，从6mm～250mm扩大到大于或等于6mm;d)扩大了承压设备纵向对接接头的适用范围，从适用于内外径比≥65%调整到内外径比≥60%;e)增加了承压设备复合钢板壁厚测定方法；f)对附录E“承压设备用碳素钢、低合金钢制环形和筒形锻件超声斜探头检测方法和质量等级评定”进行了整体修改，扩大了适用范围，修改了对比试块及参考反射体，修改了检测g)对附录F“承压设备用奥氏体型不锈钢环形和筒形锻件超声斜探头检测方法”进行了整体修改，扩大了适用范围，修改了检测方法等；h)对附录I“承压设备奥氏体型不锈钢及镍基合金焊接接头超声检测方法和质量等级评定”进行了整体修改，扩大了适用范围，修改了对比试块，增加了检测技术等级，规定了纵向缺陷和横向缺陷的检测方法等；i)新增了资料性附录U“采用成像技术的承压设备超声检测方法”,为可记录超声提供了检测方法。NB/T47013.3—2023本文件由全国锅炉压力容器标准化技术委员会(SAC/TC262)提出并归口。本文件起草单位：合肥通用机械研究院有限公司、中国特种设备检测研究院、上海电气核电设备有限公司、中国第一重型机械集团大连加氢反应器制造有限公司、森松(江苏)重工有限公司、中国科学院声学研究所、浙江省特种设备科学研究院、兰州兰石重型装备股份有限公司、四川佳诚油气管道质量检测有限公司、中国能源建设集团浙江火电建设有限公司、武汉中科创新技术股份有限公司、汕头市超声仪器研究所股份有限公司、浙江优尔特检测科技有限公司、山东瑞祥模具有限公司。本文件主要起草人：阎长周、郑晖、许遵言、周凤革、周裕峰、江雁山、廉国选、陈贤洮、金南辉、宿再春、原可义、程经纬、吴勇、许云伟、林光辉、陈宏龙、柳章龙、魏忠瑞。本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为：——JB4730—1994;——JB/T4730.3—2005; NB/T47013.3—2015。1承压设备无损检测第3部分：超声检测1.1本文件规定了承压设备采用A型脉冲反射法超声检测的方法和质量等级评定要求。1.2本文件适用于承压设备生产和使用过程中金属材料制原材料、零部件和焊接接头的超声检测。1.3与承压设备有关的金属材料制支承件和结构件(包括焊接接头)的超声检测，可参照本文件的规定执行。1.4当采用A型显示和其他显示方式相结合的超声成像技术进行检测时，也可参照本文件的规定下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件，不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T699优质碳素结构钢GB/T11259无损检测超声检测用钢参考试块的制作和控制方法GB/T12604.1无损检测术语超声检测GB/T27664.1无损检测超声检测设备的性能与检验第1部分：仪器GB/T27664.2无损检测超声检测设备的性能与检验第2部分：探头GB/T29460含缺陷聚乙烯管道电熔接头安全评定GB/T30579承压设备损伤模式识别JB/T8428无损检测超声试块通用规范JB/T9214无损检测A型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法JB/T10062超声探伤用探头性能测试方法NB/T47013.1承压设备无损检测第1部分：通用要求NB/T47013.15承压设备无损检测第15部分：相控阵超声检测ISO/IEC17025TestingandcalibrationlaboratoriesGB/T12604.1和NB/T47013.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。锻件检测时，在靠近缺陷处的完好区域内第一次底面回波波幅B。与缺陷区域内的第一次底面回波波幅Br的比值，[用二者相对增益值(dB值)来表示]。2NB/T47013.3—2023密集区缺陷clusteredindications锻件检测时，边长为50mm的立方体区域内同时存在5个或5个以上且其反射波幅均大于或等于某一特定平底孔当量的缺陷反射信号。参考灵敏度referencesensitivity将对比试块上参考反射体的回波高度或被检工件的底面回波高度调整到某一基准时的灵敏度。基准灵敏度evaluationsensitivity在参考灵敏度基础上，考虑对比试块与被检工件之间因表面粗糙度不同、曲率不同、材质差异等因素进行调整后所得到的灵敏度。基准灵敏度主要用于工件的检测和缺陷的评定。扫查灵敏度scanningsensitivity在基准灵敏度基础上，适当提高仪器增益(dB值)后用于实际检测扫查的灵敏度。缺陷高度flawheight缺陷上下端点在工件厚度方向上的距离。回波动态波形echodynamicpatterns探头与反射体相对移动时，反射体回波波幅变化的包络线。1)对于板材和管材，工件厚度t为其公称厚度。2)对于复合钢板，工件厚度t为基材公称厚度。3)对于环形或筒形锻件，工件厚度t为筒体厚度；对于饼形或类似锻件，工件厚度t为其最小厚度；对于其他类型锻件，工件厚度t一般指检测方向上的尺寸，或指沿径向或轴向的尺寸。b)焊接接头：1)对于平板对接接头，焊缝两侧母材厚度相等时，工件厚度t为母材公称厚度；焊缝两侧母材厚度不等时，工件厚度t为薄侧母材公称厚度。2)对于插入式接管角接接头，工件厚度t为筒体(或封头或母管)公称厚度；对于接管与筒体(或封头或母管)安放式角接接头，工件厚度t为接管公称厚度。3)对于T形焊接接头，工件厚度t为腹板公称厚度。4一般要求4.1检测人员4.1.1对超声检测人员的一般要求应符合NB/T47013.1的规定。4.1.2超声检测人员除理解和掌握基本的超声理论和必要的实践经验外，还应具备一定的金属材3料、设备制造安装、焊接及热处理等方面的基本知识，熟悉被检工件的材质、制造工艺及声学特性等，并能对检测中出现的问题能作出分析、判断和处理。4.2检测设备和器材4.2.1超声检测仪器(以下简称“仪器”)和探头产品质量合格证明仪器产品质量合格证中应至少给出预热时间、低电压报警电压或低电压自动关机电压、发射脉冲重复频率、有效输出阻抗、发射脉冲电压、发射脉冲上升时间、发射脉冲宽度(采用方波脉冲作为发射脉冲时)以及接收电路频带等主要性能参数；探头质量合格证中应给出中心频率、带宽、电阻抗或静电容、相对脉冲回波灵敏度以及斜探头声束性能(包括探头入射点或前沿、探头折射角β或K值等)等主要参数。4.2.2仪器、探头和组合性能采用A型脉冲反射式超声检测仪，其工作频率按-3dB测量应至少包括0.5MHz～10MHz频率范围，仪器的性能指标应满足附录A的要求，并按规格型号提供具有ISO/IEC17025认可的第三方4.2.2.2探头圆形晶片直径一般应小于或等于40mm,方形晶片任一边长一般应不大于40mm,探头的性能指标应满足附录B的要求，并按规格型号提供具有ISO/IEC17025认可的第三方实验室出具的证明文件。4.2.2.3仪器和探头的组合性能4.2.2.3.1仪器和探头的组合性能包括水平线性、垂直线性、组合频率、灵敏度余量、盲区(仅限直探头)和远场分辨力。4.2.2.3.2在下列任一情况时应测定仪器和探头的组合性能：a)新购置的超声检测仪器和(或)探头；b)仪器和探头在维修或更换主要部件后；c)检测人员有怀疑时。4.2.2.3.3水平线性偏差应不大于1%,垂直线性偏差应不大于5%。4.2.2.3.4仪器和探头的组合频率与探头标称频率偏差应不大于10%。4.2.2.3.5仪器-直探头组合性能还应符合以下要求：a)灵敏度余量应不小于32dB;b)在基准灵敏度下，对于标称频率为5MHz的探头，盲区应不大于10mm;对于标称频率为2.5MHz的探头，盲区应不大于15mm;c)直探头远场分辨力应不小于20dB。4.2.2.3.6仪器-斜探头组合性能还应符合以下要求：a)灵敏度余量应不小于42dB;b)斜探头远场分辨力应不小于12dB。4.2.2.3.7在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于10dB。4.2.2.3.8仪器和探头组合频率的测试方法应符合JB/T10062的规定，其他组合性能的测试方法应符合JB/T9214的规定。4NB/T47013.3—20234.2.3试块4.2.3.1标准试块4.2.3.1.1标准试块应为具有规定的化学成分、表面粗糙度、热处理及几何形状的材料块，用于评定和校准仪器探头系统性能。本文件采用的标准试块为CSK-IA、DZ-I和DB-PZ20-2。4.2.3.1.2CSK-IA试块的具体几何形状、尺寸及表面粗糙度等符合本文件的规定，DZ-I试块和DB-PZ20-2试块的具体几何形状、尺寸及表面粗糙度等应符合JB/T9214的规定。4.2.3.1.3标准试块的制造和尺寸精度应符合JB/T8428的规定，试块制造商应提供产品质量合格证，并确保在相同测试条件下比较其所制造的每一标准试块与国家标准样品或类似具备量值传递基准的标准试块上的同种反射体(面)时，其最大反射波幅差应小于或等于2dB。4.2.3.2对比试块4.2.3.2.1对比试块应为与试件或被检材料声学特性相似、含有意义明确的参考反射体、用以调节超声检测仪的幅度和(或)时基线，以将所检出的不连续信号(即缺陷信号)与参考反射体所产生的信号相比较的试块。4.2.3.2.2当采用直探头检测时，对比试块所用原材料中不得有大于或等于φ2mm平底孔当量的缺陷。4.2.3.2.3不同被检工件超声检测用对比试块参考反射体的形状、尺寸和数量应符合本文件相关章节及附录的规定。4.2.3.2.4对比试块的尺寸公差在本文件有明确要求时按本文件的规定制作，无明确要求时应按JB/T8428的规定制作。4.2.3.2.5对比试块分为通用对比试块和专用对比试块4.2.3.2.5.1通用对比试块a)通用对比试块的几何形状、尺寸和参考反射体设置按本文件各章节图样规定，其尺寸精b)通用对比试块的制作材料应选用电炉或平炉熔炼的20#优质碳素结构钢，化学成分符合GB/T699的规定，经锻压成形后再作正火处理以确保材质均匀而不存在声各向异性，晶粒度7级～8级；当采用直探头检测时不得有大于或等于φ2mm平底孔当量的缺陷。4.2.3.2.5.2专用对比试块a)专用对比试块与被检工件的材料声学性能(二者间声速偏差率应不超过±1%,用5MHz探头测试的衰减系数相差应不超过±2dB/m)和制造工艺相同或相似。b)专用对比试块的外形几何尺寸应在一定程度上能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及不同工件厚度对接接头的检测，试块厚度的选择应由较大工件厚度确定。c)若作为4.3.3所规定的工艺验证用途时，还应考虑被检工件中可能存在的缺陷类型、大小、位置和取向并设置相应的参考反射体。4.2.3.2.5.3对比试块选用的一般原则a)对于碳素钢、低合金钢制原材料、零部件或焊接接头，可采用通用对比试块；h)对于中合金钢、高合金钢制原材料、零部件或焊接接头，应采用专用对比试块；c)对于因试块类型选择不同而造成检测结果的差异时，应以专用对比试块为准。54.2.3.3.1模拟试块是指含有模拟缺陷的试块，主要用于检测工艺验证。4.2.3.3.2模拟试块的材料和声学特性应与被检工件相同或相近(声速偏差率应不大于1%,用5MHz探头测试的衰减系数偏差应不大于2dB/m),当采用直探头检测试块所用原材料时，不得有大于或等于φ2mm平底孔当量的缺陷。4.2.3.3.3模拟试块的几何形状、厚度和表面条什均应与被检工件相同或相近。4.2.3.3.4对于焊接接头，其模拟缺陷应采用与被检工件相同焊接方法制备或使用以往检测中发现4.2.3.3.5模拟缺陷的类型、位置、尺寸和数量设置应考虑被检工件中可能存在的缺陷状态。对于焊接接头，应至少包括纵向和横向缺陷，体积型和面积型缺陷、表面和埋藏缺陷等，缺陷长度一般不大于相应承压设备合格质量等级所规定的相同工件厚度的最大允许缺陷尺寸，可由一块或多块同厚度范围的试块组成。4.2.4耦合剂4.2.4.1耦合剂透声性应较好且不损伤检测表面，如机油、化学浆糊、甘油和水等。4.2.4.2耦合剂污染物含量的控制4.2.4.2.1镍基合金上使用的耦合剂含硫量应不大于250mg/L。4.2.4.2.2奥氏体型不锈钢或钛材上使用的耦合剂卤素(氯和氟)的总含量应不大于250mg/L。4.2.5超声检测设备和器材的校准、核查、运行核查和检查的要求4.2.5.1校准、核查和运行核查应在标准试块和对比试块上进行，应使探头主声束垂直对准反射体的反射面，以获得稳定和最大的反射信号。4.2.5.2校准或核查4.2.5.2.1应至少每年对超声检测仪和探头组合性能中的水平线性和垂直线性、组合频率、盲区(仅限直探头)、灵敏度余量、分辨力以及仪器的衰减器精度，进行一次校准并记录，测试要求应4.2.5.2.2应至少每年对标准试块与对比试块的表面腐蚀与机械损伤，进行一次核查。4.2.5.2.3应至少每5年宜将标准试块与国家标准样品或类似具备量值传递基准的标准试块的同种反射体(面)回波幅度进行一次核查，其差值应小于或等于2dB。4.2.5.3运行核查4.2.5.3.1模拟超声检测仪每3个月或数字超声检测仪每6个月至少对仪器和探头组合性能中的水平线性和垂直线性，进行一次运行核查并记录，测试要求应符合4.2.2.3的规定。4.2.5.3.2应至少每3个月对盲区(仅限直探头)、灵敏度余量和分辨力进行一次运行核查并记4.2.5.4.1每次检测前应检查超声检测设备和器材的外观、线缆连接和开机信号显示等情况是否正常。4.2.5.4.2使用斜探头时，检测前应测定探头入射点(前沿)和探头折射角(K值)。4.2.5.5校准、运行核查和检查时的注意事项校准、运行核查和检查时，应将影响仪器线性的控制器(如抑制或滤波开关等)均置于“关”的位置或处于最低水平上。64.3检测工艺4.3.1检测工艺文件4.3.1.1检测工艺文件由工艺规程和操作指导书组成。4.3.1.2工艺规程4.3.1.2.1工艺规程应符合NB/T47013.1的规定。4.3.1.2.2工艺规程应由检测机构依据相关法规、产品标准、有关的技术文件和本文件的规定等进行编制。4.3.1.2.3检测机构还应依据本身的特点、技术能力及资源条件等进行工艺规程编制。4.3.1.2.4当工艺规程依据的相关法规、产品标准、有关的技术文件和本文件的规定有变动时，或者依据的检测机构的特点和技术能力及资源条件等有变化时，检测机构应重新编制或修订工艺4.3.1.2.5工艺规程应规定表1和相关章节及附录所列相关因素的适用范围或要求。相关因素的变化超出规定的范围或要求时(表1中第13～第16项除外),检测机构应重新修订工艺规程。序号相关因素的内容1工件形状包括规格、材质等2检测面(侧)的选取3检测技术(直探头检测、斜探头检测、直接接触法、液浸法等)4斜探头的折射角(K值)及在工件中的波型(横波、纵波);直探头或斜探头标称频率、晶片尺寸、晶片形状及晶片数5检测仪器类型6校准(试块及校准方法)7扫查方向及扫查范围8扫查方式(手动或自动)9结构回波与缺陷信号的辨别方法缺陷定量及评定方法扫查覆盖要求人员资格要求检测面或试块的表面状况要求耦合剂类型或牌号计算机数据采集(使用时)方法；是否需要自动报警和/或自动记录装置(使用时)检测记录及报告要求4.3.1.3操作指导书4.3.1.3.1检测机构应根据工艺规程所规定的相关因素的具体适用范围或要求，并结合被检工件的具体检测要求编制操作指导书。74.3.1.3.2当工艺规程重新编制或修订时，检测机构应编制新的操作指导书。4.3.1.3.3当表1和相关章节及附录所列相关因素发生变化时，尽管此时的变化(表1中第12~第16项除外)并没有超出工艺规程规定相关因素的具体适用范围或要求，检测机构也应编制新的4.3.1.3.4操作指导书的内容应符合NB/T47013.1规定的同时，还应至少包括a)检测技术要求：检测技术(直探头检测、斜探头检测、直接接触法、液浸法等)和检测波b)检测对象：承压设备类别，检测对象的名称、规格、材质和热处理状态、检测时机、检测部位、工件表面温度等。c)检测设备器材：仪器型号、探头规格、耦合剂、试块种类，仪器和探头性能检测的项d)检测工艺相关技术参数：扫查方向及扫查范围、缺陷定量方法和评定要求等。4.3.1.3.5操作指导书在首次应用前应进行工艺验证。4.3.2检测工艺技术要求4.3.2.1检测时机在承压设备的生产和使用过程中，检测时机应符合相关法规、规程、产品标准及有关技术文件4.3.2.2检测技术等级4.3.2.2.1钢制承压设备用原材料、零部件的超声检测，不划分技术等级。4.3.2.2.2钢制承压设备焊接接头的超声检测技术等级分为A级、B级、C级三个等级；若因结构等原因不能完全满足检测技术等级要求时，检测机构应采取有效技术措施并制订专用操作指导书，按4.3.3进行工艺验证。4.3.2.3不同类别检测对象的一般检测方式4.3.2.3.1对于原材料管子的检测，一般采用横波斜入射检测；对于其他原材料及零部件检测，一般采用纵波直入射检测，必要时增加横波或纵波斜入射检测。4.3.2.3.2对于承压设备焊接接头，一般采用横波斜入射检测，检测技术等级为C级时还应增加4.3.2.4检测面(侧)的选取4.3.2.4.1检测面(侧)的选取应综合考虑被检工件的结构、制造工艺、缺陷的可能部位和取向以及检测实施的可操作性等因素。4.3.2.4.2对于焊接接头检测，检测面的选取还应考虑所采用的检测技术等级。4.3.2.5耦合剂的选用及工件表面温度要求实际检测采用的耦合剂应与检测系统设置和校准时的耦合剂相同。采用常规的探头和耦合剂时，被检工件的表面温度应控制在0℃~50℃;若温度超过50℃或低于0℃,可采用特殊的探头或耦合剂；检测系统设置和校准与实际检测温度之差应控制在15℃之内。a)碳素钢、低合金钢制原材料或零部件的检测；b)碳素钢、低合金钢制焊接接头的检测(4.3.3.2规定的除外)。84.3.3.2以下情况时，应采用专用对比试块(此时试块应按4.2.3.2.5.2c)进行制作]或模拟试块进行工艺验证(其中d)项仅能采用模拟试块进行工艺验证],试块应覆盖工艺规程中该类对象范围，至少包含工件规格的最小值和最大值，并选用相应的试块进行工艺验证。a)中合金钢、高合金钢制原材料或零部件母材的检测；b)铁素体型中合金钢、铁素体型高合金钢制焊接接头的检测，其他细晶各向同性和低声衰减金属材料承压设备焊接接头的超声检测；c)铁素体-奥氏体型、奥氏体型钢制焊接接头的检测，异种钢焊接接头的检测，奥氏体焊接接头的检测，镍基合金焊接接头的检测；d)因结构等原因不能完全符合检测技术等级要求的焊接接头；e)本文件相关章节及附录明确规定时；f)合同技术要求或相关方认为必要时。4.3.3.3使用通用对比试块进行工艺验证时，验证内容应包括检测声程范围内灵敏度及灵敏度余量、信噪比等符合检测要求。4.3.3.4使用专用对比试块或模拟试块进行工艺验证时：a)验证内容应包括检测声程范围内灵敏度、信噪比、声束覆盖范围、参考反射体或缺陷的回波或显示等符合检测要求；b)应能够检测出试块中所有设置的缺陷；c)测量的缺陷尺寸(指示长度、高度等)应不小于缺陷实际尺寸；d)对于模拟试块，应能够确定缺陷类型(体积型、面积型等)。4.3.3.5使用专用对比试块或模拟试块进行的工艺验证也可采用超声仿真的方式替代进行，但所采用的仿真技术应经技术验证和现场试验符合实际检测要求，同时提供相关证明文件。4.4安全要求检测场所、环境及安全防护应符合NB/T47013.1的规定。4.5检测实施4.5.1检测准备4.5.1.1在承压设备的制造、安装及在用检验中，超声检测时机及检测比例的选择等应符合相关法规、标准及有关技术文件的规定。4.5.1.2所确定的检测面(侧)应保证工件的被检区域能得到充分检测或100%覆盖。4.5.1.3焊缝的表面质量应经外观检查合格；检测面(探头经过的区域)上所有影响检测的油漆、锈蚀、飞溅和污物等均应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求；表面的不规则状态不应影响检测结果的有效性。4.5.2扫查覆盖为确保检测时超声声束能扫查到工件的整个被检区域，探头的相邻扫查覆盖应大于探头晶片直径或宽度的10%,并符合本文件相应章节及附录的检测覆盖规定。4.5.3扫查速度手工扫查速度应不超过150mm/s;当采用超声成像技术进行检测或全自动扫查时，扫查速度应通过对比试验进行确定。4.5.4基准灵敏度的调整(相对于参考灵敏度)a)耦合补偿：在检测和缺陷定量时，应补偿由对比试块与被检工件表面粗糙度不同引起的9NB/T47013.3—2023b)衰减补偿：在检测和缺陷定量时，应补偿由对比试块与被检工件材质衰减不同引起的灵敏度下降和缺陷定量偏差。c)曲面补偿：在检测和缺陷定量时，对检测面是曲面的工件，应补偿由工件和对比试块曲率半径不同引起的耦合损失差。4.5.5扫查灵敏度扫查灵敏度的设置应符合本文件相关章节及附录的规定。4.5.6缺陷定量a)应按本文件相关章节及附录的规定进行缺陷定量；b)对缺陷进行定量时，应考虑检测面曲率、缺陷深度及声束宽度等对缺陷长度的影响，并进行适当的修正。4.5.7仪器和探头系统的复核4.5.7.1下列任一情况下应对系统进行复核：a)探头、耦合剂和仪器设置参数发生改变；b)怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化；c)已连续工作4h以上；d)工作结束。4.5.7.2扫描量程的复核如果任意一点在扫描线上的偏移量超过扫描线该点读数的10%或全扫描量程的5%(取大值),则扫描量程应重新调整，并对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。4.5.7.3参考灵敏度的复核(基准灵敏度的复核)复核时，在检测范围内如发现参考灵敏度或距离-波幅曲线上任一深度参考反射体回波幅度与校准时相比下降超过2dB,则应对上一次复核以来所有的检测部位进行复检；如回波幅度与校准时相比上升大于或等于2dB,则应对上一次复核以来所有的记录信号进行重新评定。5承压设备用原材料或零部件的超声检测方法和质量等级评定5.1范围本章规定了承压设备用原材料或零部件的超声检测方法和质量等级评定。5.2承压设备用原材料或零部件的超声检测工艺文件原材料或零部件的超声检测工艺文件除应符合4.3的规定外，还应包括表2所列的相关因素。表2原材料或零部件超声检测工艺规程涉及的相关因素序号相关因素的内容1产品型式(板材、管材、锻件等)2检测时机(如热处理前或后)3检测范围4质量验收等级5.3承压设备用板材超声检测方法和质量等级评定5.3.1范围5.3.1.1本条适用于工件厚度大于或等于6mm的碳素钢、低合金钢制承压设备用板材的超声检测方法和质量等级评定。5.3.1.2对于中合金钢板材的超声检测，对比试块原则上应采用相应材质的专用对比试块，检测方法按本条执行，质量等级评定应符合本条的规定。5.3.1.3对于高合金钢(含铁素体型、铁素体-奥氏体型、奥氏体型、高锰奥氏体型等)、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金、铜及铜合金等板材的超声检测，对比试块应采用相应材质的专用对比试块，检测方法参照本条执行，质量等级评定应符合本条的规定。5.3.1.4采用成像技术的板材超声检测方法见附录U,质量等级评定应符合本条的规定。5.3.2检测原则5.3.2.1板材一般采用直探头进行检测。5.3.2.2在检测过程中对缺陷有疑问或合同双方技术协议中有规定时，应采用斜探头进行检测。5.3.2.3可选板材的任一轧制表面进行检测。检测人员认为有必要或技术条件有要求时，也可在板材的上、下两轧制表面分别进行检测。5.3.2.4检测时，应确保板材任一部位的温度(包括厚度方向)不超过50℃,当检测温度高于50℃时，应对检测工艺进行验证。5.3.3探头选用5.3.3.1直探头5.3.3.1.1直探头选用一般应符合表3的规定。在满足本条规定的灵敏度及缺陷判定的基础上，也可以选用其他型式的探头，如多晶直探头(晶片数量大于或等于3)。工件厚度t/mm采用探头标称频率/MHz探头晶片尺寸(推荐)双晶直探头圆形晶片直径10mm～30mm方形晶片或单个方形晶片边长10mm～30mm单晶直探头或双晶直探头检测。规定。当采用液浸法检测工件厚度小于或等于20mm的板材时，也可选用单晶直探头进行当使用双晶直探头检测工件厚度6mm～20mm的板材时，探头性能应符合附录C的当使用双晶直探头检测工件厚度大于20mm的板材时，应选择合适的声束会聚区深度以完成距离-波幅曲线的制作，或者根据工件厚度大小选择不同声束会聚区深度的探头进行厚度分斜探头的选用应符合附录D的规定。5.3.4对比试块5.3.4.1用双晶直探头检测工件厚度6mm～20mm的板材时，可以采用图1所示的CBI阶梯平底试块。5.3.4.2检测工件厚度大于20mm的板材时，对比试块形状和尺寸应符合表4和图2的规定。对比试块参考反射体为φ5mm平底孔，反射体个数至少3个。图1阶梯平底试块(CBI试块)表4承压设备用板材超声检测用对比试块单位为毫米试块编号工件厚度t检测面到平底孔的距离S的试块上的平底孔可加工在不同厚度试块上；3)工件厚度大于250mm时，按50mm一档，每增加一档，平底孔数量增加1个，平底孔深度增加50mm,试块厚度增加50mm,试块宽度不再增加，试块编号按顺序增加；4)根据需要也可在适当深度位置增加反射体；5)公差：孔的直径，±0.1mm;开孔垂直度，±0.1°;其他尺寸，±0.1mm。图2板材超声检测用对比试块(CBⅡ系列试块)5.3.5基准灵敏度的确定5.3.5.1检测工件厚度为6mm～20mm板材时，用图1所示阶梯平底试块调节，此时用与工件等厚部位试块的第一次底面回波调整到满刻度的50%,再提高10dB,并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度；也可用被检板材无缺陷完好部位调节，此时用被检板材的第一次底面回波调整到满刻度的50%,再提高10dB,作为基准灵敏度。5.3.5.2检测工件厚度大于20mm板材时，按所用探头和仪器在办5mm平底孔试块上绘制距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度。对于因与对比试块表面粗糙度不同造成的表面耦合补偿量超过6dB时，应对检测面进行重新处理。5.3.5.3采用单直探头检测时，如能确定板材底面回波与不同深度φ5mm平底孔反射波幅度之间的关系，则可采用板材无缺陷完好部位第一次底面回波来调节基准灵敏度。5.3.5.4扫查灵敏度应至少比基准灵敏度高6dB。5.3.6检测5.3.6.1耦合方式耦合方式可采用直接接触法或液浸法。5.3.6.2扫查方式5.3.6.2.1对于质量验收等级为TI级和I级的板材，应进行100%扫查(扫查覆盖应符合4.5.2的规定)。5.3.6.2.2对于其他质量验收等级要求的板材：a)在板材边缘或剖口预定线两侧范围内应进行100%扫查(扫查覆盖应符合4.5.2的规定),板材边缘或剖口预定线两侧每侧区域宽度应符合表5的规定。b)对于板材中部区域，可以采用探头沿垂直于板材压延方向且间距不大于50mm的平行线扫查方式，或者采用探头沿垂直和平行板材压延方向且间距不大于100mm格子线扫查方式，扫查示意图见图3;也可以采用100%的扫查方式(扫查覆盖应符合4.5.2的规定);当合同、技术协议或设计技术条件中有明确要求时，也可采用其规定的扫查形式进行检测。5.3.6.2.3使用双晶直探头扫查时，探头的扫查方向应与探头的隔声层垂直。表5板材边缘或剖口预定线两侧区域宽度单位为毫米工件厚度t区域宽度60≤t<1005.3.6.3斜探头检测应符合附录D的规定。5.3.7缺陷的判定和定量5.3.7.1在基准灵敏度下，发现下列2种情况之一即作为缺陷a)缺陷第一次反射波波幅高于距离-波幅曲线，或用双晶直探头检测板厚小于或等于20mm板材时，缺陷第一次反射波波幅大丁或等于显示屏满刻度的50%;b)用双晶直探头检测板厚小于或等于20mm板材时，底面第一次反射波波幅低于显示屏满刻度的50%;c)检测板厚大于20mm板材时，底面第一次反射波波幅低于距离-波幅曲线。5.3.7.2缺陷的定量5.3.7.2.1当缺陷第一次反射波波幅和底面第一次反射波波幅均符合5.3.7.1的规定时，以评级较为严重者为准。5.3.7.2.2使用双晶直探头对工件厚度小于或等于20mm板材进行检测时的缺陷定量：a)使用双晶直探头对缺陷进行定量时，探头的移动方向应与探头的隔声层垂直；b)确定5.3.7.1a)所述缺陷的边界时，移动探头使缺陷波幅下降到基准灵敏度下显示屏满刻度的25%,此时探头中心点即为缺陷的边界点；c)确定5.3.7.1b)中缺陷的边界时，移动探头使底面第一次反射波上升到基准灵敏度下显示屏满刻度的50%,此时探头中心点即为缺陷的边界点。NB/T47013.3—20235.3.7.2.3使用单晶直探头或双晶直探头对工件厚度大于20mm板材进行检测时的缺陷定量：a)使用双晶直探头进行检测和缺陷定量时，探头的移动方向应与探头的隔声层垂直；b)确定5.3.7.1a)所述缺陷的边界时，应移动探头使缺陷波幅下降到距离-波幅曲线，此时探头中心点即为缺陷的边界点，另外还应确定缺陷的反射波幅；c)确定5.3.7.1c)中缺陷的边界范围时，应移动探头使底面第一次反射波上升到距离-波幅曲线，此时探头中心点即为缺陷的边界点。5.3.8缺陷尺寸的评定方法5.3.8.1缺陷指示长度的评定规则用一边平行于板材压延方向矩形框包围一个缺陷，其长边作为该缺陷的指示长度。5.3.8.2单个缺陷指示面积的评定规则a)用一边平行于板材压延方向矩形框包围一个缺陷，矩形框面积则为该缺陷的指示面积即为单个缺陷指示面积；b)多个缺陷其相邻间距小于相邻较小缺陷的指示长度时，按单个缺陷处理，此时单个缺陷指示面积为各相邻缺陷面积之和，缺陷个数合并为1个。5.3.9质量等级评定5.3.9.1板材中部检测区域质量等级评定应符合表6的规定，板材边缘或剖口预定线两侧检测区域质量等级评定应符合表7的规定。5.3.9.2当判定为白点、裂纹等危害性缺陷时，板材质量等级应评定为IV级。5.3.9.3在板材中部检测区域，应按最大允许单个缺陷指示面积和任一1m×1m检测面积内缺陷最大允许个数确定质量等级。如整张板材中部检测面积小于1m×1m,缺陷最大允许个数应按面积比例折算。5.3.9.4在板材边缘或剖口预定线两侧检测区域，应按最大允许单个缺陷指示长度、最大允许单个缺陷指示面积和任一1m检测长度内最大允许缺陷个数确定质量等级；如板材一个边缘或一个剖口预定线(一侧)检测长度小于1m,缺陷最大允许个数应按长度比例折算。等级最大允许单个缺陷指示面积S或平底孔当量D在任一1m×1m检测面积内缺陷最大允许个数单个缺陷指示面积或平底孔当量评定范围最大允许个数工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:20mm²<S≤50mm²工件厚度t>20mm;D≤φ5mm+8dB工件厚度t>20mm:I工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:工件厚度t>20mm:D≤φ5mm+14dB工件厚度t>20mm;ⅡⅢ超过Ⅲ级者注：对5.3.7.1中b)和c)所述缺陷的质量等级(TI级和I级)时按面积进行评定(不考虑工件厚度)。NB/T47013.3—2023表7承压设备用板材边缘或剖口预定线两侧超声检测区域质量等级评定等级最大允许单个缺陷指示长度最大允许单个缺陷指示面积S或平底孔当量D在任一1m检测长度内最大允许缺陷个数单个缺陷指示长度L或平底孔当量评定范围最大允许个数工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:2工件厚度t>20mm:D≤φ5mm+8dB工件厚度t>20mm:I工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:3工件厚度t>20mm:D≤φ5mm+14dB工件厚度t>20mm:ⅡS≤1000mm²25mm<L≤50mm5Ⅲ6超过Ⅲ级者注：对5.3.7.1中b)和c)所述缺陷的质量等级(TI级和I级)时按面积进行评定(不考虑工件厚度)。5.4承压设备用复合钢板超声检测方法和质量等级评定5.4.1范围本条适用于基材厚度大于或等于6mm承压设备用不锈钢-钢、镍-钢、钛-钢及铜-钢等复合钢板的基材与覆层界面结合状态的超声检测方法和质量等级评定。5.4.2检测原则5.4.2.1复合钢板一般选择从覆材侧进行检测，也可选择从基材侧进行检测。5.4.2.2复合钢板一般采用直探头进行检测。当从覆材侧检测时可选用双晶直探头，从基材侧检测时可选用单直探头。5.4.3探头选用宜采用2MHz~10MHz的单晶直探头或双晶直探头，探头晶片有效直径宜在ψ10mm~φ25mm5.4.4基准灵敏度的确定5.4.4.1将探头置于复合板完全结合部位，调节第一次底面回波高度为显示屏满刻度的80%,以此作为基准灵敏度。5.4.4.2扫查灵敏度至少应比基准灵敏度高6dB。5.4.5检测5.4.5.1耦合方式耦合方式可采用直接接触法或液浸法。5.4.5.2扫查方式a)对复合钢板应采用100%的扫查方式进行检测，扫查覆盖应符合4.5.2的规定；b)双晶直探头扫查时，探头的移动方向应与探头的隔声层垂直。5.4.6未结合区的测定在基准灵敏度下，第一次底面回波高度低于显示屏满刻度的5%,且明显有未结合缺陷回波存在时(回波高度大于或等于显示屏满刻度的5%),该部位则为未结合缺陷区。移动探头，使第一次底面回波升高到显示屏满刻度的40%,此时探头中心点即作为未结合缺陷区边界点。5.4.7未结合的评定方法5.4.7.1未结合指示长度的评定规则未结合边界范围确定后，用一边平行于板材压延方向矩形框包围该未结合，长边作为其指示长度。当单个未结合的指示长度小于25mm时，可不作记录。5.4.7.2单个未结合面积的评定规则：a)一个未结合按其指示的矩形面积作为其单个未结合面积；b)多个未结合其相邻间距小于20mm时，按单个未结合处理，其面积为各个未结合面积之和。5.4.7.3未结合率的评定任一1m×1m检测面积内，按未结合区面积所占百分比来确定。5.4.8质量等级评定5.4.8.1在复合钢板边缘或剖口预定线两侧区域内(板材边缘或剖口预定线两侧每侧区域宽度应符合表5的规定),未结合的指示长度大于或等于25mm时，复合钢板的质量等级应评定为IV级。5.4.8.2复合钢板质量等级评定应符合表8的规定。表8复合钢板超声检测质量等级评定等级单个未结合指示长度/mm单个未结合面积/cm²木结合率/%I000ⅡⅢ大于Ⅲ级者5.5承压设备用碳素钢、低合金钢锻件超声检测方法和质量等级评定5.5.1范围5.5.1.1本条适用于承压设备用碳素钢、低合金钢锻件的超声检测方法和质量等级评定。5.5.1.2对于承压设备用中合金钢锻件的超声检测，对比试块原则上应采用相应材质的专用对比试块，检测方法按本条的规定执行，质量等级评定应符合本条的规定。5.5.1.3对于承压设备用铁素体型高合金钢锻件的超声检测，对比试块应采用相应材质的专用对比试块，检测方法参照本条的规定执行，质量等级评定应符合木条的规定。5.5.1.4承压设备用碳素钢、低合金钢制环形和筒形锻件超声斜探头检测方法和质量等级评定应符合附录E的规定。5.5.2检测原则5.5.2.2锻件一般应使用直探头进行检测，对筒形和环形锻件还应增加斜探头检测。5.5.2.3检测厚度小于或等于45mm时，应采用双晶直探头进行检测。检测厚度大于45mm时，一般采用单晶直探头进行检测。5.5.2.4当锻件(包括圆柱形锻件)检测方向厚度或长度大于400mm时，应从相对两端面进行全体积检测；当锻件检测方向厚度或长度大于800mm时，可从相对两端面进行检测，两端检测厚度或长度范围至少应重叠10%。如果此时双端检测仍不能超过厚度或长度的1/2时，可用斜探头代替直探头检测直探头不能检测到的部分，在与厚度方向或长度方向垂直的面上进行检测。注：斜探头代替直探头时的检测方法及验收：用规格和材质相同或相近的锻件，在垂直于厚度方向或长度方向，且离检测面合适的深度上加工若干φ2mm长横孔(尽可能覆盖检测深度范围),使用探头折射角为45°左右横波斜探头，制作距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度，扫查方式参照附录E中E.5.3,缺陷定量按E.6,缺陷等级评定按E.7,合格等级为I级。5.5.3探头选用5.5.3.1直探头5.5.3.1.1探头标称频率应为2MHz～5MHz。5.5.3.1.2双晶直探头晶片面积应不小于150mm²,单晶直探头晶片有效直径应为10mm～40mm。5.5.3.2斜探头斜探头的选用应按附录E的规定进行。5.5.4对比试块5.5.4.1对比试块应符合4.2.3.2的规定。5.5.4.2对比试块可用下列材料之一制成：a)被检材料的多余部分(尺寸足够时);b)与被检材料同钢种、同热处理状念的材料；c)与被检材料具有相同或相似声学特性的材料。5.5.4.3单晶直探头对比试块单晶直探头检测采用CS-2试块调节基准灵敏度，其形状和尺寸应符合图4和表9的规定。如确有需要也可采用其他等效对比试块。5.5.4.4双晶直探头对比试块a)工件检测厚度小于或等于45mm时，应采用CS-3对比试块；b)CS-3试块的形状和尺寸应符合图5和表10的规定。全部63/NB/T47013.3—2023表9CS-2对比试块尺寸单位为毫米试块编号试块规格dD试块编号试块规格dDCS-2-12CS-2-124CS-2-24CS-2-13200/22CS-2-32CS-2-14200/444CS-2-15250/22CS-2-52CS-2-16250/44CS-2-64CS-2-172CS-2-72CS-2-184CS-2-84CS-2-19400/22400425CS-2-92CS-2-20400/44400425CS-2-104CS-2-212CS-2-112CS-2-224表10CS-3对比试块尺寸单位为毫米试块编号孔径检测距离L123456789CS-3-125CS-3-245.5.4.5工件检测面曲率半径小于或等于250mm时，应采用曲面对比试块(试块曲率半径在工件曲率半径的0.7倍～1.1倍范围内)调节基准灵敏度，或采用CS-4对比试块来测定由于曲率不同而引起的表面耦合声能损失，其形状和尺寸应符合图6的规定。根据需要，也可以使用其他等效试块。当在凹面进行检测时，应制作相应的凹面对比试块来测定由于曲率不同而引起的表面耦5.5.4.6对比试块CS-2、CS-3、CS-4制造要求等应符合JB/T8428和GB/T11259的规定。5.5.5基准灵敏度5.5.5.1单晶直探头基准灵敏度使用CS-2,依次测试一组不同检测距离的φ2mm平底孔(至少3个),制作单晶直探头的距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度；当被检部位的厚度大于或等于探头的3倍近场区长度，且检测面与底面平行时，也可以采用底波计算法确定基准灵敏度。对于因与对比试块表面粗糙度不同造成的表面耦合补偿量超过6dB时，应对检测面进行重新处理。5.5.5.2双晶直探头基准灵敏度使用CS-3试块，依次测试一组不同检测距离的φ2mm平底孔(至少3个),制作双晶直探头的距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度。对于因与对比试块表面粗糙度不同造成的表面耦合补偿量超过6dB时，应对检测面进行重新处理。5.5.5.3扫查灵敏度至少应比基准灵敏度高6dB。5.5.6检测5.5.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接触法。5.5.6.2工件材质衰减系数的测定a)在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位，调节仪器使第一次底面回波幅度B;或第n次底面回波幅度B₁为满刻度的50%,记录此时仪器增益的读数，再调节仪器增益，使第二次底面回波幅度或第m次底面回波幅度B₃或Bn为满刻度的50%,两次增益读数之差即为(B₁-B₂)或(B₁-Bm)(取绝对值，不考虑底面反射损失)。NB/T47013.3—2023b)工件厚度小于3倍探头近场区长度(t<3N)时，衰减系数(满足n>3N/t,m>n)按式(1)计算：α=[(B₄-B₁)-201g(m/n)]/2(m-n)t (B-Bm)第n次底面回波幅度与第m次底面回波幅度增益的读数差值(取绝对值)c)工件厚度大于或等于3倍探头近场区长度(t≥3N)时，衰减系数α由式(2)计算：α=[(B₁-B₂)-6]/2t (2)(B₁-B,)第1次底面回波幅度与第2次底面回波幅度增益的读数差值(取绝对值),单位为分贝(dB).d)工件上3处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。5.5.6.3扫查方式a)一般应从两个相互垂直的方向在检测面上作100%扫查(扫查覆盖应符合4.5.2的规定)主要检测方向应符合图7的规定；b)双晶直探头扫查时，探头的移动方向应与探头的隔声层垂直；c)根据合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查，如一定间隔的平行线5.5.7缺陷当量的确定5.5.7.1当被检缺陷的深度大于或等于所用探头的3倍近场区时，可采用距离-波幅曲线法或计算法确定缺陷的当量；对于3倍近场区内的缺陷，应采用距离-波幅曲线法来确定缺陷的当量；也可※图7锻件直探头检测时的主要检测方向(续)5.5.7.2当采用计算法确定缺陷当量时，若材质衰减系数超过4dB/m,应进行修正。5.5.7.3当采用距离-波幅曲线束确定缺陷当量时，若对比试块与工件材质衰减系数差值超过4dB/m,应进行修正。5.5.8.1当判定为白点、裂纹等危害性缺陷时，锻件质量等级应评定为V级。5.5.8.2缺陷的质量等级评定应符合表11的规定。表11锻件超声检测缺陷质量等级评定等级IⅡⅢV单个缺陷平底孔当量由缺陷引起的底波降低量密集区缺陷当量密集区缺陷面积占检测总面积的百分比/%0注1:由缺陷引起的底波降低量仅适用于声程大于近场区长度的缺陷。注2:表中不同种类的缺陷分级应独立使用。注3:密集区缺陷面积指反射波幅大于或等于φ2平底孔当量的密集区缺陷。NB/T47013.3—20235.6承压设备用钢螺栓坯件的超声检测方法和质量等级评定5.6.1范围5.6.1.1本条适用于直径大于或等于M36承压设备用碳素钢和低合金钢螺栓坯件的超声检测方法和质量等级评定。5.6.1.2高合金钢螺栓坯件的超声检测，对比试块应采用相应材质的专用对比试块，检测方法参照本条执行，质量等级评定应符合本条的规定。5.6.2检测原则检测一般应安排在热处理后进行，检测面的表面粗糙度Ra应小于或等于6.3μm。5.6.3探头选用采用2MHz～10MHz的单晶直探头或双晶直探头。5.6.4对比试块5.6.4.1单晶直探头检测时，对比试块的尺寸和形状应符合5.5.4.3的规定。5.6.4.2双晶直探头检测时，对比试块的尺寸和形状应符合5.5.4.4的规定。5.6.4.3径向检测时，应尽可能选择晶片尺寸较小的探头；当螺栓坯件曲率半径小于100mm时，应采用图8和表12所示曲面对比试块的形状和尺寸。单位为毫米试块编号对比试块半RABCDE适用工件曲率半径范围484822≤r<294829≤r<36636≤r<43843≤r<5454≤r<6767≤r<8282≤r≤995.6.5基准灵敏度的确定5.6.5.1单晶直探头基准灵敏度的确定a)轴向检测时、使用CS-2试块，根据检测范围依次测试1组不同深度的φ2mm平底孔(至少3个),制作单晶直探头的距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度；b)径向检测时，使用CS-2试块或图8所示试块，根据检测范围或曲率半径依次测试1组不同深度的φ2mm平底孔，制作单晶直探头的距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度。5.6.5.2双晶直探头基准灵敏度的确定a)轴向检测时，使用CS-3试块，根据检测范围依次测试1组不同深度的φ2mm平底孔(至少3个),制作双晶直探头的距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度；b)径向检测时，使用CS-3试块或图8所示试块，根据检测范围或曲率半径依次测试一组不同深度的φ2mm平底孔，制作双晶直探头的距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度。5.6.5.3扫查灵敏度至少应比基准灵敏度高6dB。5.6.6检测5.6.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接触法。5.6.6.2扫查方式5.6.6.2.1径向检测应按螺旋线或沿圆周进行扫查，行程应有重叠，扫查面应包括整个圆柱表面。5.6.6.2.2轴向检测一般应从螺栓坯件的两端面进行扫查，尽可能避免边缘效应对检测结果的影响。当螺栓较长或受到边缘效应影响时，可从相对两端面进行轴向检测，两端面的检测长度范围至少应重叠10%,如果此时两端面检测仍不能超过长度的1/2时，可用斜探头替代直探头检测直探头不能检测到的部分。注：斜探头代替直探头时的检测方法及验收用规格和材质相同或相近的螺栓，在圆周方向，且离检测面合适的深度上加工若干φ2mm长横孔(尽可能覆盖检测深度范围),使用探头折射角为45°左右横波斜探头，制作距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度；扫查时，移动探头使声束沿轴向作两个相对方向进行100%检测，相邻扫查路径应确保相互覆盖，扫查覆盖率至少应为探头晶片宽度的10%。当缺陷波幅高于或等于距离-波幅曲线时，或判定为白点、裂纹等危害性缺陷时，螺栓坯件的质量等级即为V级。5.6.7缺陷当量的确定一般采用距离-波幅曲线进行缺陷当量的确定。5.6.8质量等级评定5.6.8.1单个缺陷的质量等级评定应符合表13的规定。5.6.8.2由缺陷引起底波降低量的质量等级评定应符合表14的规定。5.6.8.3按表13和表14评定缺陷等级时，应作为独立的等级分别使用。5.6.8.4当判定为白点、裂纹等危害性缺陷时，螺栓坯件的质量等级为V级。表13单个缺陷的质量等级评定等级IⅡⅢV平底孔当量NB/T47013.3—2023单位为分贝等级[ⅡⅢV由缺陷引起的底波降低量(Bc/BF)注：本表仅适用于声程大于近场区长度的缺陷。5.7.1范围5.7.3.2直探头的晶片直径为10mm～40mm,斜探头的晶片面积为300mm²~625mm²。5.7.4.4试块的形状和尺寸应符合图9和表15的规定。表15奥氏体钢型锻件试块尺寸单位为毫米LDLDLDLD———— —— —— ———————-一——5.7.4.5在条件允许时，可在锻件有代表性的部位加工1个或几个话当大小的平底孔或v形槽.代替对比试块进行灵敏度的校准。5.7.5基准灵敏度的确定5.7.5.1当被检锻件厚度小于或等于600mm时，应根据定货锻件厚度和要求的质量等级，在适当厚度和当量直径的平底孔试块上制作距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度。5.7.5.2当被检锻件厚度大于600mm时，应在锻件无缺陷部位将底波调至满刻度的80%,以此作为基准灵敏度。如检测面与底面反射面不平行，也可用φ13mm平底孔试块制作距离-波幅曲线，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度。5.7.5.3扫查灵敏度至少应比基准灵敏度提高6dB。5.7.6检测5.7.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接触法。5.7.6.2直探头检测5.7.6.2.1锻件所有被检区域，均应尽可能从2个相互垂直的方向进行检测，检测距离应至少为厚度的1/2。5.7.6.2.2检测盘形或饼形锻件时，采用直探头至少从一个平面进行检测，如有可能还应从圆周面进行扫查。5.7.6.2.3检测圆柱形锻件时，可从整个外表面(侧面和圆周面)用直探头进行检测。当长度与直径之比超过6或轴向长度超过600mm时，应从2个端面以尽可能大的范围用直探头作轴向检测，当衰减等原因使双端检测不能超过轴向长度的1/2时，可用斜探头代替直探头对直探头不能检测到的部分进行轴向检测。注：斜探头代替直探头时的检测方法用外径相同且材质一致的圆柱形锻件，在周向加工1个60°V形槽，V形槽长度为30mm,深度为圆柱形锻件直径(最终成型)的3%(最大为3mm),使用探头折射角为45°左右横NB/T47013.3—2023波探头，当横波斜探头不能满足检测要求时，可选用纵波斜探头；用半跨距法获得V形槽的反射波幅不低于显示屏满刻度的20%,并以此作为基准灵敏度，检测结果按表17进行验收。5.7.6.3斜探头检测奥氏体型不锈钢环形锻件和筒形锻件斜探头检测方法应按附录F的规定。5.7.7缺陷记录5.7.7.1由于缺陷的存在，而使基准灵敏度下的底波降到满刻度25%以下的部位。5.7.7.2缺陷波幅在距离-波幅曲线以上的部位。5.7.8质量等级评定5.7.8.1单晶直探头或双晶直探头检测的质量等级评定应符合表16的规定。5.7.8.2斜探头检测的质量等级评定应符合表17的规定。5.7.8.3在具体进行质量等级评定时，表16和表17应独立使用。表16直探头检测的质量等级评定单位为毫米工件厚度t80<t≤200200<t≤300300<t≤600质量等级IⅡIⅡIⅡIⅡIⅡ缺陷平底孔当量直径或因缺陷引起底波降低后的幅度表17斜探头检测的质量等级评定等级IⅡ缺陷波幅缺陷波幅低于V形槽试块距离-波幅曲线[V形槽深为工件公称壁厚的3%(最大为3mm)]缺陷波幅大于或等于V形槽试块距离-波幅曲线[V形槽深为工件公称壁厚的3%(最大为3mm)]5.8承压设备用无缝钢管超声检测方法和质量等级评定5.8.1范围5.8.1.1本条适用于外径不小于12mm承压设备用碳素钢、低合金钢无缝钢管超声检测方法和质量等级评定。5.8.1.2对于承压设备用中合金钢无缝钢管的超声检测，对比试块应采用相应材质的专用对比试块，检测方法按本条执行，质量等级评定应符合本条的规定。5.8.1.3对于承压设备用高合金钢无缝钢管的超声检测，对比试块应采用相应材质的专用对比试块，检测方法参照本条执行，质量等级评定应符合本条的规定。5.8.1.4本条不适用于分层类缺陷的超声检测。5.8.2检测原则除非要求检测横向缺陷时，一般可只对纵向缺陷进行检测。5.8.3检测设备5.8.3.1检测设备应由超声检测仪器、探头、检测装置、机械传动装置、分选装置及其他辅助装置等组成。5.8.3.2检测时可使用线聚焦或点聚焦探头，单个探头压电晶片边长或直径应不大于25mm。5.8.3.3检测装置检测装置应具有探头相对钢管位置的高精度调整机构并能可靠地锁紧或能实现良好的机械跟踪，以保证动态下声束对钢管的入射条件不变。5.8.3.4传动装置传动装置应能使钢管以均匀的速度通过检测装置并能保证在检测中钢管与检侧装置具有良好的同心度。5.8.3.5分选装置分选装置应能可靠地分开检测合格与不合格的钢管。5.8.4专用对比试块5.8.4.1试块应选取与被检钢管规格相同、材质、热处理工艺和表面状况相同或相似的钢管制备，试块的长度应满足检测方法和检测设备要求。5.8.4.2参考反射体5.8.4.2.1参考反射休形状检测纵向缺陷和横向缺陷所用的参考反射体应分别为平行于管轴的纵向槽和垂直于管轴的横向槽，其断面形状均可为矩形或V形，参考反射体示意图见图10,矩形槽的2个侧面应相互平行且垂直于槽的底面；当采用电蚀法加工时，允许槽的底面和底面角部略呈圆形，V形槽的夹角应为60°。检测时参考反射体形状的选用由供需双方商定。全部矩形槽V形槽a)横向参考反射体试块(CG-C试块)示意图图10参考反射体试块(CG试块)示意图全部V形槽b)纵向参考反射体试块(CG-L试块)示意图图10参考反射体试块(CG试块)示意图(续)5.8.4.2.2参考反射体位置a)纵向槽应在对比试块的中部外表面和端部区域内、外表面处各加工1个，3个槽的公称尺寸相同，当钢管内径小于25mm时可不加工内壁纵向槽。横向槽应在试样的中部外表面和端部区域内、外表面处各加工1个，3个槽的名义尺寸相同，当内径小于50mm时可不加工内壁横向槽。b)当工件厚度与外径之比大于或等于0.2时，试块上规定的内外壁槽均应加工制作。5.8.4.2.3参考反射体尺寸参考反射体的尺寸按表18分为3级，具体级别的选择按有关钢管产品标准的规定执行。表18参考反射体尺寸单位为毫米级别深度壁厚比最小深度深度允许相对偏差/%宽度b长度纵向横向I5不大于深度的2倍，最大为1.540或周长的50%(取小者)Ⅱ8Ⅲ注：参考反射体最大深度为3.0。5.8.4.2.4制作与测量参考反射体可采用电蚀、机械或其他方法加工，对比试样上应有明显的标识或编号，参考反射体深度可用光学方法、覆形方法或其他方法测量。5.8.5基准灵敏度的确定5.8.5.1直接接触法5.8.5.1.1直接接触法检测横向缺陷使用横波斜探头将对比试块上内、外壁参考反射体回波调整至合适高度，用直线连接参考反射体回波高点，该连线及连线范围在考虑相关补偿后即作为基准灵敏度。由于管径的原因，对比试块上无内壁参考反射体时，可用外壁参考反射体的一次反射回波和二次反射回波制作距离-波幅曲线(DAC)。5.8.5.1.2直接接触法检测纵向缺陷a)对于内外径之比大于或等于60%(工件厚度与外径比小于或等于0.2)的钢管检测，使用横波斜探头将对比试块上内、外壁参考反射体回波调整至合适高度，用直线连接参考反射体回波高点，该连线及连线范围在考虑相关补偿后即作为基准灵敏度。由于管径的原因，对比试块上无内壁参考反射体时，可用外壁参考反射体的一次反射回波和二次反射回波制作距离-波幅曲线(DAC),并在考虑相关补偿后作为基准b)对于内外径之比小于60%(工件厚度与外径比大于0.2)的钢管检测，使用横波斜探头并利用对比试块上外壁参考反射体进行校准，即以该参考反射体的回波波高在考虑相关补偿后作为基准灵敏度，用于检测外壁缺陷；同时使用纵波斜探头并利用对比试块上内壁参考反射体进行校准，即以该参考反射体的回波波高(如显示屏满刻度的80%)在考虑相关补偿后作为基准灵敏度，用于检测内壁缺陷。5.8.5.2液浸法5.8.5.2.1对内外径之比大于或等于60%(工件厚度与外径比小于或等于0.2)的钢管检测a)水层距离应根据实际情况(如聚焦探头的焦距)来确定。试块内、外表面参考反射体所产生的回波幅度，使其达到合适的高度，并在考虑相关补c)当内、外壁参考反射体信号使用同一个报警闸门时，此时应尽可能使对比试块内、外表面参考反射体所产生的回波幅度相同，检测仪的报警灵敏度应按照内、外壁的信号中以及周向不同位置的信号中较低幅度的信号进行设定。当内、外壁参考反射体信号使用2个不同的报警闸门时，检测仪的报警灵敏度应按照内、外壁参考反射体在周向不同位置中较低幅度的信号分别进行设定。同时，2个闸门的宽度应满足管壁内各部