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文档简介
1.流量计进行单向流的解释(3种情况的使用条件及方法)
逆流单次测量及相对流量解释方法:
(1)测量方法
在已知井口总流量的前提下,以稳定的电缆速度逆流测量一条涡
轮转速曲线,根据曲线的相对变化估计出各解释层的相对流量。该方
法适用于确定注水井内单相流体的注入剖面,也可用于油水两相中有
一相含量很低而且粘度变化不大的的井中测量。但是,在多相流中,
油,气和水的密度和粘度变化较大,RPS与V/的响应关系比单相流中
的要复杂的多。
(2)基本原理
首先建立一个坐标系,横坐标为电缆速度,纵坐标为涡轮速度。仪
器逆流测量对应的动态响应方程为:
7?/况,=与(匕+。一|叫),(匕+。一%|>0),衣25>0,涡轮正转(1-1)
RPS厂涡轮正转时,涡轮转速;仪器常数;
匕-电缆速度;u/-流体流速;|叫-涡轮启动速度值。
假设流体的性质(主要是粘度和密度)不变或变化不大,并记零流量
层转速为RPS。,根据逆流测量时涡轮流量计的响应方程(1),有:
RPS。=&(%-m/)(1-2)
RPS-RPS()=kvf(1-3-1)
假设流道截面积不变,贝hi=0/(4g),这里。是流量,A是管道截面
积,G,是速度剖面的校正系数,有:
RPS—RPSQ=HE(1-3-2)
记所有解释层以上总流量为。侬,相应的涡轮转速计为RPSM,那么:
RPSm-RPS°=kx第(1-4)
ACV
在i-1个和第,个注入层之间的稳定流动井段内绝对流量为2:
RPS「RPS°=3Qj
A-Cv
相对流量表示为:
Q,=RPS「RPS°(1-6-1)
QmRPS10n—RPS0
变形后:
一RPS「RPS,(1-6-2)
"RPSino-RPSo
式(1-6-2)中的比值项称为相对流量,该式是相对流量解释法的基
本关系式。各层的注入(或产出)量可按照递减法得出,例如第1层
的绝对注入(或产出)量为e,_,-e,o以上是在流道的截面积不变的条
件下讨论的,如果流道的截面积有变化,需要进行校正。
(3)解释步骤
相对流量解释法最关键的问题就是确定出零流量层(流体不流动
的层段,通常是指所有射孔层以下的静液柱)和全流量层(位于所有
射孔层之上)的涡轮转速,然后用内插法确定出每一个注入层的相对
流量。其解释步骤为:
第一,确定零流量层转速RPSo;
第二,确定总流量层的涡轮转速RPS回;
第三,计算每个注入层上方和下方的相对流量,计算单层绝对
注入流量或产出流量。
2.逆流,顺流两次测量及曲线重叠解释方法
(1)测量方法
该方法分别用连续式流量计顺流测量一次,逆流测量一次,并且
保证顺流测量时涡轮反转,将两次测量的涡轮转速曲线在零流量层重
合。由于重合后的上下测量曲线之间的幅度差与流速成正比,可以根
据曲线间的幅度差判断流量。该方法适用于注入井,也适用于生产井;
适用于单相流动,也适用于多相流动。粘度变化时,两条曲线的读数
发生偏移,但偏移量和偏移方向相同,因此,两条曲线间的幅度差不
受粘度的影响,而只体现速度的大小。可以根据两条曲线的中心线的
偏移判断粘度的变化。当中心线向右偏移,表明粘度减小,中心线向
左偏移,表明粘度增大。
基本原理:
以注水井为例,上测时,有涡轮正转响应:
火尸5'=心(»+。-除|)(2-1)
那么上测时,某测点测量的涡轮转速曲线相对于零流量层测量的涡轮
转速曲线的幅度差为:
MPSJ=h0/+匕一|叫)—勺,(匕一|叫)|=h"(2-2)
同理,下测时,有涡轮反转响应:
RPS“=%(匕+。+麻|)(2-3)
那么下测曲线相对于零流量层的幅度差|A/?PS』为:
1△RPS“|=\k„(vf+vl+叫)-幻(匕+卜M)卜-(2-4)
将两条测量曲线平移,使上下测量的RPS曲线在零流量层重合,平移
后两条曲线的幅度差|A/?PS|为:
\^RPS\=|2y?PS„|+\^RPSp\=\knvf\+\kpVf\=(kn+kp^f\(2-5)
变形得到视流体速度v/的值:
W|=|ARPS|/的,+3)(2-6)
因此,以任意电缆速度逆流和顺流(涡轮反转)测量得到的涡轮
转速曲线,并使其在零流量层重叠,便可求得V/的值,从而确定流量。
(2)解释步骤
采用逆流,顺流两次测量方法最终确定流量一般可以分为以下几
步:
第一,选定一个层段用多次测量最小二乘法确定响应斜率与生;
第二,根据式(2-6)确定视流体速度,如果是涡轮转速曲线幅
度波动比较大,采用幅度平均法取值;
第三,确定流量。如果已知总流量且响应斜率和速度剖面校正因
子不变,可以采用下式确定流量:
-=Sxioo%(2-7)
式中,分别为第i层和全流量层的流量;
1△RPSllARPSi。。卜分别为第i层和全流量层逆流和顺流两次测量曲
线的幅度差。
⑶多次测量及解释方法
逆流单次测量法及其相对流量解释法方便简单,不需要现场刻
度,但却因此导致其精度低,适用范围小,不能校正粘度的影响,局
限于粘度变化不大的井内测量;尽管逆流,顺流两次测量及其重叠法
可以校正粘度的影响,但它没有充分利用测点处的现场刻度线的性
质,因而当测点处的流体性质和零流量层的流体性质相差较大时,其
解释精度也会受到限制。在以上方法的基础上,产生了多次测量的方
法,它是目前国内外应用较多的方法。以下以涡轮正转情况为例进行
说明,涡轮反转情况方法类似。
1)测量方法
该方法要求在测井时分别用至少三个以上不同的电缆速度进行
顺流或逆流测量,获取涡轮正转或反转方向的转速资料,然后采用最
小二乘法拟合出测点的现场刻度曲线,它充分利用了流量计对测点处
流体的响应特点,克服了流体性质差异造成的刻度线斜率及涡轮启动
速度的变化对精度的影响。
2)基本原理
根据涡轮正转响应方程式:
RPSp=^(v1+v/-|v/A|),(vl+v/-|v,ft|>0),RPS>0,涡轮正转
以及:
匕<0,且(W+oT%|)>0,那么RPS>0,涡轮正转,
RPSp=酊(匕+。-|叫)
可以得到:
RPS『%*+仁一|%|)=kp%+bp(3-1)
其中,2=%*厂|叫)。如果用两个不同的电缆速度小,心逆流通
过测点得到两个涡轮转速RPS-APS2并代入式(3-1),可以求得与和
与(表示涡轮正转响应线截距X确定与,勺后,就可以根据式(3-1)
确定视流体速度V/。
由于粘度及上下测涡轮的非对称性影响,实际应用中,为了提高
求解精度,常采用至少三次以上的不同电缆速度进行上测或下测,然
后采用最小二乘法确定与,与。这一方法在粘度和流型变化较大的多
相流中尤为实用。
3)解释方法
拟合出了涡轮流量计在某测点的现场刻度曲线后,还需确定视流体速
度勺和启动速度”。按确定视流体速度和启动速度的解释方法不同。
多次测量法的解释有斜率截距法,启动速度比值法和正反转混合测量
最小二乘法。
实例分析(以气水两相为例):
气水两相流解释主要通过三张解释图版完成,气水流动速度校正模数选择图
版,气水流动速度剖面校正系数与持水率的关系图版,气水流动表观速度与持水
率的关系图版。
已知:yw=O.65,CPS=16,Va=39.8ft/min.
解:1.把yw=0.65,CPS=16代入气水流动速度校正模数选择图版,该点在0
和14.2中间,水的表观速度选为0;
2.由yw=0.65,水的表观速度选为0,根据气水流动速度剖面校正系数与持
水率的关系图版,得Va/Vm=l.55,Vm=25.7;
把yw=0.65,Vm=25.7代入气水流动表观速度与持水率的关系图版,用内插方法
得
Rw-RJI子,X14.2=10.7ft/min
lg37-lg8.4
T;sg=25.7-10.7=15ft/min
3.计算管子常数Pc
11
P=(7^-0.2541]=[7^x4.8922-0.254]=33.025bbl/d-(ft/min)
c44
4.计算Qw,Qg
Qw=33.025x10.7=353bbl/d
Qg=33.025x15=496kft3/d
3.产出剖面放射性失踪以及沾污校正
油管外壁沾污与套管内壁沾污不易分辨,一般认为套管内壁腐蚀
远比油管外壁腐蚀程度严重。所以在非射孔层位处,凡是示踪曲线幅
度出现大段缓慢抬高,时间推移示踪曲线上幅度下降缓慢,则认为是
套管内壁沾污,消除沾污校正系数为0.32。
在示踪剂测井解释叠合图上,只要把注水层位有关的基线与示踪
曲线包络“校正面积”乘以相应的校正系数就等于注水层部位‘沾污
面积"。
(1)沾污校正解释模型的建立
将沾污面积换算成校正面积之后,还必须按照各小层真实的注水
能力,将其分配到各注水层位上。根据示踪在井下各注水层的分配原
理可知,示踪剂在井下开始分配之前的沾污并不影响资料解释结果。
开始分配后,注水管柱及井下工具处存在的示踪剂沾污,破坏了地层
的吸水量与同位素滤积量及放射性强度三者之间的正比关系,从而影
响解释精度。要提高解释精度,必须对校正过的沾污面积进行归位计
算。
(2)放射性沾污校正步骤:
①绘制自然伽马基线-示踪测井曲线叠合图。测井曲线叠合时,
除非是判断油管内有与注水无关的沾污对其进行平行移动之外,一般
不应进行移动和手工扣除,因为大多数示踪曲线包围的“异常面积"
都可能与注水有关。
②划分注水层并计算异常面积。
③划分示踪曲线沾污井段,分段计算沾污面积。
④判断沾污类型,进行消除沾污面积校正。
⑤计算注水总面积。注水总面积等于各注水层异常面积之和加上
校正后的沾污面积之和。
⑥对各段消除沾污的面积进行归位,计算出校正后的分层注水面
积。
⑦计算分层相对注水量和绝对注水量。
此外,为精确测量同位素示踪污染位置及污染量,提高核示踪同位素
注入剖面解释成果的可靠性,研究利用核示踪同位素位置灵敏探测技
术进行测井的可行性,即示踪Y能谱测井技术。这种技术可以解决同
位素污染类型(特别是组合污染)识别及其污染量的计算方法。
4工程测井中,总结套损的原因
套损主要原因:地质因素,工程技术因素,开发方式因素。
(1)地质因素
①油层压实
油层压实是导致套管损坏的重要因素,在高压异常油气层尤为明
显。高压异常油气层往往是长久压实的,同一深度上的空隙度和渗透
率比正常压实的油气层要高。但随着油气的不断采出,油层压力大幅
度下降,原来由空隙中液体承受的上覆岩层载荷转加给了沉积岩,使
粒间压力增加,油层压实变形。从而使上覆岩层载荷作用到套管上,
使得套管轴向应力和应变增加,导致套管损坏。
②断层
由于原始地层压力的降低和水的侵蚀,破坏了断层结构力的相对
静止状态,造成断层蠕动,且断层上、下盘往往会发生滑动位移,对
穿过断层的套管造成剪切,使得套管变形损坏。
③地震
现代地壳的升降运动(尤其是地震)可以造成套管损坏。地震时,
地层出现高频抖动的水平位移和上下剧烈的颠簸,可能产生新的构造
断层和裂缝,或使原来的构造断层和裂缝活化,往往会使套管遭受严
重的剪切和挤压伸缩而损坏。一般情况下,地震导致的套管损坏过程
是间接的,即地震后岩层产生蠕变,在断裂带作缓慢的水平运动,地
层中的水通过断裂带或因固井质量差的层段进入泥岩。泥岩吸水膨胀
或因应力不均导致套管损坏。
④油井出砂
在油井开采过程中,疏松砂岩的细、粉砂粒流入油水井内,使得
位于出砂层段的套管或衬管附近形成空洞和坑道。当上覆地层压实和
地层压力下降时,周围岩石的应力平衡遭到破坏,空洞上已卸载岩石
就可能坍塌,导致对套管的挤压引起套损。这是引起常规稠油疏松砂
岩油藏中套管损坏的主要原因。
(2)工程技术因素
①固井质量
固井质量存在的问题首先是套管外水泥返高不够,固井时水泥浆
返不到地面,卸下顶联接后,套管下沉而变形。其次是封固段质量差,
引起注入水窜入泥岩层,使得泥岩膨胀,挤压套管导致套损。另外固
井泥浆候凝时放热不均匀,产生不均衡轴向应力,使套管变形破裂。
②套管质量
油田发生套管质量问题较为严重,由于套管质量问题而造成报
废的油井,历年来已累计达上千口。
③井眼不规则
井眼不规则造成套管弯曲,影响固井和封井质量。加上高压注水、
断层和井下作业等原因,易使套管变形破裂。
④射孔作业不当
射孔时由于选择的射孔枪型号与套管壁厚配合不当,或由于套管
材质的屈服强度和张力强度过高,套管往往被具有很高穿透力的射孔
弹撕裂或震裂。对多口射孔井的调查表明,任何等级的套管射孔后其
射孔段都有不同程度的损坏,一部分是射孔本身造成的;一部分是由
于射孔后降低了套管的抗挤压强度而造成的。
(3)开发方式因素
①注入水引起套管变形
油层注水后,油层孔隙压力普遍提高,特别是高压注水以后,出
现了一系列新的问题,如岩体移动等造成了套管的损坏,直接影响了
油田的正常生产。注水使地应力集中于井壁上,引起套管变形,此种情
况变形一般呈椭圆形。注水压力减小了岩石的抗剪切强度,增加了注
采压差,使岩石受剪切而破裂。破裂地层在注采压差推动下,从注水
井向采油井方向滑动,处于滑动地层中的套管被推挤变形,这类变形
一般为弯曲变形。注水压力减小岩石的摩擦角,使倾斜的地层易滑动,
致使套管发生变形。注水使泥岩体积膨胀,产生体积力。该力会通过
孔眼释放,在非射孔段,围岩很难压缩,泥岩吸水膨胀,体积力的释
放可能将套管挤压变形,多表现为缩径变形。
②井下作业措施不当
油田开发过程中的增产增注措施不当可造成套管损坏。在低渗透
油藏中,由于压裂作业使套管受内压而损坏。注水井在注水及压裂作
业时,注水压差作用在套管内壁上,放喷时,放喷压差又作用在套管
外壁上,如此反复使套管变形破裂。
③腐蚀引起套管损坏
尽管用于套管的钢材是优质合金钢,但在油田生产过程中,套管
长期浸泡在井液中,在土壤、地层水、泥浆、油和气的长期作用下,
仍会产生腐蚀,在特定条件下,腐蚀还是引起套损的主要因素。
此外,注蒸汽开采稠油,也是引起套损的一个因素。注蒸汽时,
套管、水泥环因热胀冷缩受到影响而损坏。
5电磁探伤仪器的原理和应用
(1)原理:
电磁探伤仪的基本理论是法拉第电磁感应定律。给发射线圈供
一直流脉冲,接收线圈记录一随时间变化的感应电动势。接收线圈产
生随时间变化的感应电动势£:
E=SdB/dtd(p=dSxB
其中:S=S1N<
式中:£感应电动势;S线圈面积;S1单一线圈
面积;N-一线圈匝数;K——磁常数;B——磁场强度;(p——磁
通量。
°当钢管(油套管)厚度变化或存在缺陷时,感应电动势£将发生
变化,通过分析和计算,在单套、双套管柱结构下,可判断管柱的裂
缝和孔洞,得到管柱的壁厚。
1、单层管柱结构
在单层管柱结构下,感应电动势£函数表达式为:
s1=f(T1,p1,51,D,tc)
式中:T1——套管厚度;p1——套管磁导率;51——套管电
导率;D一一套管外径;tc一—井内温度。
(1)套管因射孔、腐蚀、机械加工和撞击等原因造成套管磁导率
M1和电导率b1等参数发生改变,E1幅度值减小,由其计算的厚度
值随之减小。
(2)套管存在裂缝、挫断和孔洞时,导磁介质缺损,发生在套管
上的感生电流减小,E1的幅度值减小,由其计算出的厚度值随之减
小。根据其幅度值,可评价套管的破损程度,指出破损处是否还有铁
磁介质存在。
(3)套管在缩径或扩径的情况下,套管壁相对探头在几何位置上
发生了变化,£1的幅度值相应地增加或减小,在没有损伤的情况下,
套管厚度没有变化,反之套管厚度值小。
2、双层管柱
在双层管柱(油管、套管)时,感应电动势的函数表达式为:
E2=f(T1,T2,p1,81,82,D1,02,tc,EX)
式中各参数如前,下标2代表油管,EX为内、外管相对位置几何
校正系数。
在正常情况下,钢管磁导率|J,电导率b,外径屏口井内温度tc
都已知,只有钢管壁厚未知。因此,测得感应电动势£1、E2时,将
方程联立求解就可以得到内、外管壁厚度T1、T2O
(2)应用
(1)MAK电磁探伤测井仪可检测仪器外两层钢管的损坏情况,
包括裂缝(纵缝、横缝)、腐蚀、射孔、内外管的厚度等项目。
(2)MA何•在油管中测量套管的壁厚变化及损坏,节省了检查
套管情况时起、下油管的作业费用,这一特点使得对油、水井井身结
构损坏进行普查成为可能。
(3)MA£则井作为一种可为油、水井井身结构做“时间推移测
井”的方法,对及时发现井身结构的变形、控制损坏的进一步发生将
发挥重要的作用。
(4)MAK仪器的小外径使测井的成功率大大提高。
6.水淹层水淹后五行、测井响应储层特性的
变化规律
(1)自然电位:水淹后自然电位曲线幅度较之前减小,且部分
渗透层出现泥岩基线偏移。主要原因是油田长期注水,往往又是污水
回注,注入水在油层内渗流逐渐驱替孔隙内的油,使得各层段内注入
水与原生地层水混合,即混合水趋于淡化最终接近注入水电阻率.混
合水电阻率的变化导致泥浆滤液电阻率和混合水电阻率的比值减小,
使得自然电位测井幅度降低。
(2)声波时差、自然伽马及深浅侧向电阻率:声波时差测井测
量的是地层纵波沿井壁的传播速度,主要反映储层孔隙度变化;自然
伽马测井测量的是地层中天然放射性的强度,主要反映储层岩性及储
层泥质含量的变化。注入水长期冲刷储层,会带走很少量孔隙空间内
的细粒物质,这对整个储层泥质含量(泥质质量分数)影响不大。
(3)微电极:水淹后微电极电阻率测井幅度及幅度差都降低,
水淹程度越高,电阻率下降幅度越大。
(4)电阻率曲线:电位曲线水淹后整体幅度减小,特别在含油
性和物性都较好的高电阻率层段尤为明显。底部梯度电阻率测井曲线
在高阻层底界面显示电阻率极大值.水淹后测井响应的主要变化是电
阻率曲线幅度降低,高阻层底界面电阻率极大值深度位置上移及曲线
光滑程度增加。其原因是注入水驱替孔隙空间内的油可增强岩石的导
电能力,导致电阻率测井响应幅度降低.对于电测曲线幅值较低的差
油层,由于岩性细、孔渗性差,吸水能力不强,水淹程度低,水淹前
后电阻率幅度值变化不明显。,储层渗透性越好的层段,水淹就越严
重,自然电位曲线和电阻率曲线的幅度下降程度则越大。
(5)地层水矿化度与电阻率的变化:边外注水开发和盐水注水
开发油田,其产层的地层水矿化度和电阻率的变化不大。
对于淡水注入开发油田,水淹后由于注入水驱替了油层中的可动
油和可动水所占空隙的一部分,从而使水淹层的孔隙水变为注入水和
束缚水的混合物。然后根据饱和度和电阻率的关系式,当注入水的电
阻率大于地层水的电阻率时,一开始随着注入水进入岩石,岩石的电
阻率是下降的,但随着地层含水总饱和度的增加,地层的电阻率又对
于淡水注入开发油田,水淹后由于注入水驱替了油层中的可动油和可
动水所占空隙的一部分,从而使水淹层的孔隙水变为注入水和束缚水
的混合物。然后根据饱和度和电阻率的关系式,当注入水的电阻率大
于地层水的电阻率时,一开始随着注入水进入岩石,岩石的电阻率是
下降的,但随着地层含水总饱和度的增加,地层的电阻率又开始缓慢
的下降;当地层含水总饱和度达到一定的程度,淡化水的电阻率其主
要作用时又开始上升。
(6)粘土、润湿性、孔隙结构等微观特征与测井与测井响应的
变化
水淹后油层的粘土矿物组分和含量会发生变化,粘土含量整体下
降,蒙脱石、伊利石、高岭石、绿泥石、伊蒙间层、绿蒙间层等的相
对比例也会发生变化。这与各类粘土矿物的分布形式有关。润湿性经
过长期水驱一般向着脱附方向变化,即一般向着亲水方向变化。相应
的,孔隙结构会发生变化,一般由复杂向简单变化。
7.c/o>脉冲中子、伽马能谱饱和度原理和
步骤、
(1)利用(70比和Si/Ca比计算水淹层的剩余油饱和度的公式为:
C/O+k.xSi/Ca-W.
So=-----------4-----------------L
Dc,o
式中A,。一为纯油层、纯水层的00比值的差值,它为孔隙度的
函数:Dc/0=0.6"";
c/o一目的层的c/o比值;
Si/Ca一目的层的Si/。比值;
%—C/0比和Si/Ca比交会图上水线在C/0轴上的截距;
勺一00比和Si/Ca比交会图上水线的斜率;
公式的基础是00比和Si比交会图,如图3-15所示。该图是
ATLAS公司利用测井仪器测量实验室中充满淡水和油的砂岩、灰岩、
白云岩而建立的。该公式假设所有的水线都落在一条直线上。且其余
混合岩性的岩石都落在两种岩石点的连线上。
勺和以参数的影响对特定的地区,一般用多个水层的00和
Si/Ca比点在(70和Si/Ca交会图上然后采用拟合的方法找出水线,
确定《和必值,勺和忆的误差会引起计算的含油饱和度的误差。
(2)脉冲中子衰减能谱测井
1.非弹性散射伽马射线测量
本仪器测量地层中阳离子和氧产生的伽马射线,其比值称为
CATQCAT0是(70类型的阳离子与氧的比率测量方法,它采用的不
是碳与氧的比率(C/Q,而是扣除氧的非弹性散射后所有伽马射线与
氧的非弹性伽马射线的比率。,它与含水饱和度有关,对矿化度变化
不敏感,可以用来区分淡水与石油。非弹性测量使用了多个非弹性和
多个俘获能窗,如第4道(高于4.5NV)测量的是氧的6.13MV全
能峰及5.62收V,5.11收V两个湮灭逃逸峰;第0道(高于I05收V)
测量的是所有常见的地层元素在该能级产生的非弹性散射伽马射线,
即‘阳离子”与氧的计数率之和。数据经过综合可以给出总的非弹性
计数率(IRAI)、经过本底校正的非弹性计数率(IWE)、氧计数率
(CRAS)、经过本底校正的氧计数率(CRATE),碳计数率(QI)、硅计数
率(SII)、钙计数率(OM)。IRAI与CRAS的比值(CATQ与00的反应
大体一致,但对油更加敏感,受岩性影响更小。
利用W0计算含水饱和度的方法与C/0比类似。
对于砂岩地层:
C4TQ-1.25吊e盘i依
w一(—0.7+0)—1.25/e2.3u归
对于灰岩地层:
_CAT。,—1.509尸/2%。
W-(-1/+.)_].509/^2206纥
式中CATS一经泥质校正后的OTQ
用,片一分别为砂岩和灰岩地层的套管影响因素,与套管特性有
关,通常取1.1;
。一有效孔隙度;
C一计算常数。
利用第0能量道计数IRATE(即第0道减去本底的计数),可以得
到简化的密度孔隙度公式:
IPHIg)=Cin(IRATE)+D
式中,C与D皆为公式转化常数。
3.俘获伽马射线测量
俘获伽马射线在中子脉冲发射的稍后出现,仪器测量几乎以指数
形式进行的高能中子衰减,在第0能量道设置16个时间窗口,通过
对时间窗口俘获伽马射线的分析,可计算俘获截面乏。通常在高于
25000ng/L子孔隙度(过套管和油管)。的地层水矿化度条件下进行
俘获测量,用于确定含水饱和度和中利用俘获伽马计算含水饱和度的
方法与中子寿命测井类似。
q_8-Il-DIL-况
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