数显磁性测厚仪用途 测厚仪常见问题解决方法

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数显磁性测厚仪用途：该测厚仪测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。

相关设备光泽度仪

数显磁性测厚仪参数：■测量范围：O—200m。■执行标准：GB/T1764—89、GB/T13452.2—92、ISO2808—74、■测量精度：（0.7m3%H）*H为标准厚度。

测厚仪原理分类：测厚仪依照测量的方式不同，可大致分为：1、接触式测厚仪接触面积大小划分：■点接触式测厚仪■面接触时测厚仪

2、非接触式测厚仪非接触式测厚仪依据其测试原理不同，又可分为以下几种：■激光测厚仪■超声波测厚仪■涂层测厚仪■X射线测厚仪■白光干涉测厚仪■电解式测厚仪

测厚仪应用：■薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

■涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。

■超声波测厚仪：超声波测厚仪是依据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可接受此原理测量。

■激光测厚仪是利用激光的反射原理，依据光切法测量和察看机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并快速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

■X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度掌控系统，达到要求的轧制厚度。紧要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

漆膜测厚仪注意事项：测厚仪的测试方法紧要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：★在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相像。★测量时侧头与试样表面保持垂直。★测量时要注意基体金属的临界厚度，假如大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。★测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不牢靠的。★测量前要注意四周其他的电器设备会不会产生磁场，假如会将会干扰磁性测厚法。★测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，由于一般的测厚仪试件表面形状的蓦地变化很敏感。★在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。★在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

测定油漆涂料干膜厚度。试验技术特征：通过涂覆前后的比较测量干膜厚度。

参数：★千分表精度：1m。★测量范围：0—1000m。★执行标准：ISO2808—74GB/T134522—92GB/T1764—79、本仪器是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。紧要功能可进行零点校准及二点校准。可对测头进行基本校准。设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。自动关机功能。删除功能：对测量中显现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的全部数据，以便进行新的测量。操作过程有蜂鸣声提示。有欠压指示功能。有错误提示功能。技术指标测量原理：涡流法测量范围：1～1250m测量精度：（3%H+1.5）m（零点校准）[（1～3）%H+1.5]m（二点校准）超声波测厚仪，基于超声波测量原理，可对金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他多种超声波的良导体材料进行厚度测量，也可实现对材料声速的反测。与传统的测量方法相比，超声波测厚仪的优势在于它只要接触到被测工件的一面即可完成测量，其独特的可穿透涂层测厚度的性能为表面涂有油漆或防腐材料的工件厚度检测供应了更加的解决方案，测量前无需处理掉表面的涂层，可以直接测量。被广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等领域的生产设备中各种管道及压力容器腐蚀减薄程度的监测，也可用于对各种板材及各种加工零件做的测量。是提高生产效率与合格率、节省成本必备的专业精密仪器。

功能用途

适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度具有两种测厚模式：发射—回波模式和回波—回波模式，可以穿透涂层进行厚度测量而不计入涂层厚度

具有探头零点校准、两点校准功能,可对系统误差进行自动修正

已知厚度可以反测声速，以提高测量精度

具有耦合状态提示功能

有EL背光显示，便利在光线昏暗环境中使用

有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量

具有自动休眠、自动关机等节电功能

带有USB接口，可以便利、快捷地与PC机进行数据交换

可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用

可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能

本超声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体，一部分超声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，地计算超声波的往还时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。

H=vt/2

式中：H－测量厚度

v－材料声速

t－超声波在试件中往还一次的传播时间