标准解读
《GB/T 43682-2024 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》是一项国家标准,旨在为亚纳米级厚度的石墨烯薄膜提供一套科学、规范的测试方法。该标准主要关注两个关键参数:载流子迁移率和方块电阻。
对于载流子迁移率的测量,标准规定了详细的实验条件与步骤,包括但不限于样品制备要求、环境温度控制以及电极材料的选择等。通过霍尔效应或磁输运测量技术来确定载流子浓度及其在外部电场作用下的平均漂移速度,从而计算出载流子迁移率值。这一过程需要精密仪器的支持,并且对操作者的技术水平有较高要求。
关于方块电阻的测定,则是基于四探针法或其他类似非接触式方法进行。标准中明确了探针间距、接触方式等具体参数设置指南,确保不同实验室之间能够获得可比性强的数据结果。此外,还特别强调了表面清洁度对方块电阻测量准确性的影响,建议采用适当溶剂清洗样本表面以去除可能存在的污染物。
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....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2024-03-15 颁布
- 2024-07-01 实施
![GB/T 43682-2024纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法_第1页](http://file4.renrendoc.com/view3/M00/06/11/wKhkFmYenuKAcLBPAAElx6TZIGg378.jpg)
![GB/T 43682-2024纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法_第2页](http://file4.renrendoc.com/view3/M00/06/11/wKhkFmYenuKAcLBPAAElx6TZIGg3782.jpg)
![GB/T 43682-2024纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法_第3页](http://file4.renrendoc.com/view3/M00/06/11/wKhkFmYenuKAcLBPAAElx6TZIGg3783.jpg)
![GB/T 43682-2024纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法_第4页](http://file4.renrendoc.com/view3/M00/06/11/wKhkFmYenuKAcLBPAAElx6TZIGg3784.jpg)
![GB/T 43682-2024纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法_第5页](http://file4.renrendoc.com/view3/M00/06/11/wKhkFmYenuKAcLBPAAElx6TZIGg3785.jpg)
文档简介
ICS7104050
CCSA.42.
中华人民共和国国家标准
GB/T43682—2024
纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子
迁移率及方块电阻测量方法
Nanotechnology—Measurementmethodsforcarriermobilityandsheet
resistanceofgraphenefilmsofsub-nanometerthickness
2024-03-15发布2024-07-01实施
国家市场监督管理总局发布
国家标准化管理委员会
GB/T43682—2024
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
原理
4………………………2
设备
5………………………3
器件制备及测量过程
6……………………4
计算方法
7…………………7
不确定度的分析与计算
8…………………9
测量报告
9…………………10
附录资料性化学气相沉积法生长的石墨烯样品的方块电阻及载流子迁移率
A()(CVD)#1……11
参考文献
……………………12
Ⅰ
GB/T43682—2024
前言
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
。。
本文件由中国科学院提出
。
本文件由全国纳米技术标准化技术委员会归口
(SAC/TC279)。
本文件起草单位泰州巨纳新能源有限公司中国科学院上海微系统与信息技术研究所上海巨纳
:、、
科技有限公司烯旺新材料科技股份有限公司厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司泰州飞荣达新材料
、、、
科技有限公司泰州石墨烯研究检测平台有限公司东南大学南京大学电子科技大学深圳高等研究
、、、、()
院清华大学江南大学贵州金特磨削科技开发有限公司福建翔丰华新能源材料有限公司北京石墨
、、、、、
烯研究院有限公司北京孵烯检测认证有限公司欣旺达电子股份有限公司
、、。
本文件主要起草人王浩敏丁荣吕俊鹏谢晓明王慧山孔自强陈晨陈谷一袁文军王兰兰
:、、、、、、、、、、
方崇卿邵悦倪振华王欣然李雪松王琛肖少庆张豪宋宏芳许莉干静洪江彬陈敏严春伟
、、、、、、、、、、、、、。
Ⅲ
GB/T43682—2024
引言
石墨烯薄膜广泛应用于电子器件领域如显示通信和可穿戴设备不同的应用对石墨烯薄膜的载
,、。
流子迁移率和方块电阻有不同的要求而载流子迁移率和方块电阻决定了石墨烯薄膜的性能载流子
,。
迁移率和方块电阻是石墨烯薄膜质量控制和产品开发的关键控制特性从触摸屏到太阳能电池方块
。,
电阻变化了两到三个数量级然而即使由相同的薄膜制成从不同结构的器件中提取的载流子迁移率
。,,
也存在巨大差异本文件的制定有利于规范石墨烯薄膜的霍尔器件形状电极类型电极接触方式测
。、、、
量步骤等提高石墨烯薄膜质量评价体系的科学性降低不同实验条件对载流子迁移率和方块电阻测量
,,
造成的干扰同时本文件规定的测量方法操作简单成本低廉具有良好的经济效益
。,,,。
Ⅳ
GB/T43682—2024
纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子
迁移率及方块电阻测量方法
1范围
本文件描述了亚纳米厚度石墨烯薄膜的霍尔器件样品制备与载流子迁移率及方块电阻测量的原
理设备器件制备及测量过程计算方法不确定度的分析与计算以及测量报告等
、、、、,。
本文件适用于长度和宽度均大于的亚纳米厚度石墨烯薄膜的载流子迁移率
100μm
42和方块电阻的测量
(<10cm/Vs)。
2规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件
。
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件
。
31
.
亚纳米厚度石墨烯薄膜graphenefilmofsub-nanometerthickness
厚度尺寸小于的石墨烯薄膜
1nm。
32
.
霍尔效应halleffect
若对通电的样品施加磁场由于洛伦兹力的影响在与电流和磁场垂直的方向上产生横向电势差的
,,
现象
。
来源有修改
[:GB/T14264—2009,3.111,]
33
.
电阻率resistivity
材料中平行于电流的电位梯度与电流密度之比
。
注电阻率是材料参数中可直接测量的量
:。
来源有修改
[:GB/T4326—2006,2.1,]
34
.
霍尔电场hallelectricfield
在亚纳米厚度石墨烯薄膜31试样上同时加上互相垂直的电场和磁场则试样中的载流子将在第
(.)
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