《激光雷达用多面扫描转镜》（征求意见稿）

1T/COEMA****—2024激光雷达用多面扫描转镜本文件规定了激光雷达用多面扫描转镜的术语和定义、技术要求，描述了多面达扫描转镜的试验方法、标识。本文件适用于所有材料类型（包括但不限于金属、玻璃等材料）的激光雷达多面扫描转镜。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T1185光学零件表面疵病GB/T1804一般公差未注公差的线性和角度尺寸的公差GB/T2831光学零件的面型偏差GB/T28046.4道路车辆电气及电子设备的环境条件和试验第4部分：气候负荷GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T2423.3电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.4电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Db：交变湿热（12h+12h循环）GB/T2423.17电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ka：盐雾GB/T2423.22电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GB/T26332.4光学和光子学光学薄膜第4部分：规定的试验方法3术语和定义下列术语和定义适用于本文件。3.1扫描转镜Scanningrotatingmirror能使入射光束按特定的方式与时间顺序进行反射，从而实现光束的偏转，并能使反射光束在像2T/COEMA****—2024面上运动扫描成像，以下简称为转镜。3.2塔型扫描转镜Towerscanningrotatingmirror各反射面向旋转轴线呈一定角度倾斜，呈塔形外观。3.3柱型扫描转镜Cylinderscanningrotatingmirror各反射面平行于旋转轴线，呈棱柱形外观。3.4基准面Datumplane垂直于旋转轴，用于定位的平面。3.5有效反射面Effectivereflectingsurface反射面使用时的有效光学工作范围。3.6角锥偏差Pyramidaldeviation射面角锥偏差为该面相对于基准面的角度偏离公称值的大小，用角度分表示。转镜的角锥偏差上下限为各反射面角锥偏差中的最大值和最小值，又称尖塔差。3.7角度偏差Angledeviation反射面角度偏差为相邻反射面夹角偏离公称值的大小，用角度分表示。转镜的角度偏差上下限为各反射面角度偏差的最大值和最小值。3.8面型偏差Surfaceformdeviation被测光学表面相对于参考光学表面的偏差。[引用：GB/T2831光学零件的面型偏差]3.9光谱反射比Spectralreflectance反射的与入射的辐射能通量或光通量的光谱密集度之比。[GB/T26332.1光学和光子学光学薄膜第1部分定义]T/COEMA****—2024注：光谱反射比的百分比表示形式称为光谱反射率，用符号R（A）表示。3.10入射角Angleofincidence入射光线与入射表面法线的夹角。[GB/T26332.1光学和光子学光学薄膜第1部分定义]3.11表面疵病Surfacedefect光学零件表面呈现的麻点、斑点、擦痕、破边等瑕疵。除镀膜层疵病、长擦痕和破边之外的表面疵病。[引用：GB/T1185光学零件表面疵病]3.12峰谷值Peaktovalley实际表面相对于参考平面的最大距离减去最小距离，简称PV值。3.13轮廓的均方根偏差Rootmeansquaredeviation采样长度内轮廓高度的均方根偏差，简称Rms值。4技术要求4.1材料所用的材料应符合图纸要求。4.2表面质量表面质量应符合图纸要求，若图纸未标注应符合GB/T1185光学零件表面疵病中4.5项目未注公差的要求。4.3线性尺寸及一般形位尺寸所有的线性尺寸以及形位尺寸应符合图纸要求，未注公差尺寸要求应符合GB/T1804未注公差的公差标准中的5.1、5.2要求的表1、表3中的m等级精度。4T/COEMA****—20244.4关键尺寸要求4.4.1机械规格机械规格尺寸宜从表1中选择，机械规格尺寸示意如图1所示，特殊要求也可由供求双方协商确定，应明确说明对应要求以及对应测试方法。图1机械规格尺寸示意图表1机械规格要求表5′1′4.4.2光学规格T/COEMA****—2024有效反射面的光学规格尺寸宜从表2中选择，也可由供求双方协商确定，应明确说明对应要求以及对应测试方法。表2光学规格要求表4.5膜层要求膜层性能要求宜从表3中序号1至序号12中选择，其中序号1至序号7为必检项目，序号8至序号12若客户有检验需求，应按照密封等级IP6K9K（参考GB/T28046.4道路车辆电气及电子设备的环境条件和试验第4部分：气候负荷中附录A的要求）密封后进行试验。特殊要求也可由供求双方协商确定试验项目，应明确说明对应要求以及对应测试方法。表3膜层性能要求表12膜层无腐蚀，不出现新的起皮、剥离、裂纹、起泡等缺陷。胶合面无3456无新的损伤迹象，如擦痕、剥离78膜层无腐蚀，不出现新的起皮、剥离、裂纹、起泡等缺陷。胶合面无96T/COEMA****—2024膜层无腐蚀，不出现新的起皮、5试验方法5.1测试条件环境温度20+/-3︒C，相对湿度45%-55%的条件下进行检验。（注：高温、低温、盐雾、湿热试验等除外。）5.2表面质量按照GB/T1185描述的方法进行试验。5.3线性尺寸及一般形位尺寸线性尺寸及一般形位尺寸宜采用测量精度不大于尺寸公差带的三分之一到十分之一的经过校验的通用测量设备。5.4关键尺寸5.4.1机械规格要求基准面相关尺寸、面间距均匀度、轴承孔精度、角度偏差、角锥偏差等尺寸宜采用测量精度不大于尺寸公差带的三分之一到十分之一的经过校验的通用测量设备。5.4.2光学规格要求入射角通过反射率测量设备配带的工装保证。光谱反射率宜使用分光光度计或等同测量方式的设备应在有效反射面内进行试验。面型精度T/COEMA****—2024宜使用等厚干涉原理，具有检测光学元件面型功能或接触式测量面型精度的精密仪器。表面粗糙度宜使用具有干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量或接触式测量粗糙度的精密仪器。5.5膜层5.5.1高温试验严酷等级表4高温试验严酷等级表62试验按GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温进行试验，严酷等级参照表4。5.5.2低温试验严酷等级表5低温试验严酷等级表试验按GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温进行试验，严酷等级参照表5。5.5.3温度循环试验严酷等级8T/COEMA****—2024表6温度循环/冷热冲击试验温度严酷等级表ABCDEFGHIJKLMNOPZ表7温度循环试验严酷等级表3219T/COEMA****—2024试验按GB/T2423.22电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化中试验Nb进行试验，单次试验温度变化示意如图2所示，T1、T2温度从表6中选择，严酷等级参照表7。标引序号说明:1停留时间;2初始温度;X持续时间,单位为小时(h);T温度,单位为摄氏度(℃)。图2温度循环试验温度变化示意图5.5.4冷热冲击严酷等级表8冷热冲击试验严酷等级表10kg以下的试样,最大为20s。超过T/COEMA****—2024试验按GB/T2423.22电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化中试验Na进行试验，单次试验温度变化示意如图3所示，T1、T2温度从表6中选择，严酷等级参照表8。标引序号说明:1停留时间;2初始温度;X持续时间,单位为小时(h);T温度,单位为摄氏度(℃)。图3冷热冲击试验温度变化示意图5.5.5附着力严酷等级表9附着力试验严酷等级表缓慢(≈25mm/2s至3s）快(≈25mm/s）疾速(≥25mm/s）试验按GB/T26332.4光学和光子学光学薄膜第4部分：规定的试验方法中规定的试验方法02：T/COEMA****—2024附着力进行试验，严酷等级参照表9。5.5.6摩擦严酷等级表10摩擦试验严酷等级表试验按GB/T26332.4光学和光子学光学薄膜第4部分：规定的试验方法中规定的试验方法01：摩擦进行试验，严酷等级参照表10。5.5.7恒定湿热试验严酷等级表11恒定湿热试验严酷等级表试验按GB/T2423.3电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验中的要求进行试验，严酷等级参照表11。5.5.8循环湿热严酷等级表12交变湿热试验严酷等级表655T/COEMA****—2024试验按GB/T2423.4电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Db：交变湿热（12h+12h循环）试验中的要求进行试验，严酷等级参照表12。5.5.9盐雾试验严酷等级表13盐雾试验严酷等级表试验按GB/T2423.17电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ka：盐雾要求进行试验，严酷等级参照表13。5.5.10溶解性严酷等级表14溶解性试验严酷等级表T/COEMA****—2024试