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文档简介

电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术培训

费老师男，原信息产业部电子五所高级工程师,理学硕士,“电子产品可靠性与环境试验”杂志编委，长期从事电子元器件的失效机理、失效分析技术和可靠性技术研究。分别于1989年、1992－1993年、2001年由联合国、原国家教委和中国国家留学基金管理委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。他领导的“VLSI失效分析技术”课题组荣获2003年度“国防科技二等奖”。他领导的“VLSI失效分析与可靠性评价技术”课题组荣获2006年度“国防科技二等奖”。2001年起多次应邀外出讲学,获得广大学员的一致好评。【培训对象】系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员，质量可靠性管理和从事电子元器件（包括集成电路）失效分析工程师【主办单位】中国电子标准协会培训中心

【协办单位】深圳市威硕企业管理咨询有限公司

为了满足广大元器件生产企业对产品质量及可靠性方面的要求，我司决定在全国组织召开“电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术”高级研修班。研修班将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲，通过讲解大量实例,帮助学员了解各种主要电子元器件的可靠性试验方法和试验结果的分析方法．课程提纲：

第一部分电子元器件的可靠性试验

1可靠性试验的基本概念

1．1概率论基础

1．2可靠性特征量

1．3寿命分布函数

1．4可靠性试验的目的和分类

1．5可靠性试验设计的关键问题

2寿命试验技术

2．1加速寿命试验

2．2定性寿命保证试验

2．3截尾寿命试验

2．4抽样寿命试验

3试验结果的分析方法：威布尔分布的图估法

4可靠性测定试验

4．1点估计法

4．2置信区间

5可靠性验证试验

5．1失效率等级和置信度

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