高低温与老化测试报告模板

高低温老化测试报告模板产品型号及编号： XXX测试日期: XXX 测试人： XXX一、 测试设备参数表1:测试设备参数表测试设备设备型号硬件版本软件版本DUTXXXXXXXXXNuStreamSmartbits二、 测试目的♦验证新开发产品在高温、低温条件下能否满功耗正常工作，不出现重启、死机等异常现象，且流量稳定。♦验证新开发产品的主要发热器件，在高温环境下满功耗工作时的温度是否超出要求的温度。♦验证新开发的产品能否在高低温条件下正常启动。三、 测试要求和方法3.1、 测试要求♦所有新开发产品必需经过高温12小时、低温12小时的环境测试，且高低温下的设备性能必需与常温时的一致。♦测试时必需使测试设备满功耗工作，并测量不同时刻下主要发热器件的温度。♦因尽量减小其它无线信号对被测设备的干扰。♦新开发产品必需能在高低温条件下正常启动3.2、 测试方法3.2.1IxChariot软件无线流量测试♦测试时要根据不同的产品选择合适的测试设备：1T1R的路由选择1T1R的网卡，2T2R的路由选择2T2R的网卡。♦将待测设备的信号用馈线引出，固定好导温线后放入高低温箱内。♦榙建测试模型：1、 待测设备的信号用馈线引出，通过屏蔽箱与网卡连接。屏蔽箱内网卡可通过馈线或无线与无线信号连接，无线信号需加适当的衰减（60dB）。2、 PC1连接2.4G无线信号，PC2连接有线信号。如果待测设备为双频设备，需新增一台PC3连接5G信号。3、 其余端口可通过网线与NuStream或Smartbits连接。涯如帘吉样腾这科技有限輕司SHENZHENTENDATECHMCHLOGrCO,LTD图1:测试模型框图♦环境条件设置：1、 高温测试：湿度90%情况下先将温箱的温度调至25°C运行2小时，然后升高到45°C运行12小时，回到25C运行2小时。2、 低温测试：湿度0%情况下先将温箱的温度调至25C运行2小时，然后下降到-10C运行12小时，回到25C运行2小时。♦使用Chari。t软件无线向有线发包（测试要求：10Pair,12小时以上），通常测试待测设备的发射能力（此时芯片的功耗大），可以根据情况跑双向。同时每隔一段时间记录下发热器件的温度。3.2.2高低温启动♦待测设备接上串口线，通过CRT软件记录待测设备的启动信息。♦将待测设备放入温箱内，高温启动的环境温度为45C，低温启动的环境温度为-10C。♦控制供电设备定时上下电。四、 测试步骤：4.1、 无线吞吐量测试♦准备好所要测试的网卡和路由，并验证其能正常工作。♦搭建好测试环境，PC相互Ping包确保连路是通的。♦运行ChariotConsole软件，新建一个测试档案，选择AddPair，配置好客户机和服务器的IP地址，选择测试脚本程序，测试10个程线下的吞吐量（测试要求8小时以上）。♦测试时，待测设备应该加散热片（如果有机壳，加机壳测试），并使用相应的设备或工具使其满负载运行，同时每个时间段用点温计测量温度。4.2、 高低温启动♦准备好所要测试的网卡和路由，并验证其能正常启动。♦搭建好测试模型，启动供电设备。♦查看待测设备的启动信息是否有不正常启动的现象。五、 测试数据：5.1、温度测试记录表2：发热器件温度表温度X器件名称、高温测试（45°C）90%湿度预期目标结论(PassorFail)4小时8小时12小时常温测试高温测试XXXW80CW90CXXXW80CW90CXXXW80CW90C5.2、吞吐量测试记录5.2.1高温测试（温度：XXX；衰减：XXX；运行时间：XXX；）添加流量图图2：TX高温吞吐量测试图注：可对流量图做相应的说明5.2.2低温测试（温度：XXX；衰减：XXX；运行时间：XXX；）添加流量图图3：TX低温吞吐量测试图注：可对流量图做相应的说明5.3、高低温启动记录表3：高低温启动记录