印刷电路板用低介电铝硼硅酸盐玻璃结构与性能的研究的中期报告_第1页
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文档简介

印刷电路板用低介电铝硼硅酸盐玻璃结构与性能的研究的中期报告第一部分:研究背景印刷电路板(Printedcircuitboard,PCB)是电子产品中必不可少的组成部分,其具有电气连接、机械固定、散热、屏蔽作用等多种功能。为了满足现代电子产品对高性能、高密度、高可靠性的要求,PCB材料不断地进行研究和改进。传统的PCB材料一般采用玻璃纤维增强塑料,但其介电常数较高,不利于实现高密度线路的布局,同时也受限于其热稳定性和机械强度等方面的限制。因此,研发低介电损耗、高强度、高温稳定性的PCB材料成为当前PCB技术研究的重要方向。若要达到上述性能要求,材料的化学成分和微观结构需要进行优化设计。传统印刷电路板材料中,玻璃纤维和聚酯树脂的结构性能不够理想,因此研究采用其他材料组成的PCB材料可以提高PCB的性能。在此背景下,本研究将利用低介电铝硼硅酸盐玻璃作为PCB材料的主要基材,结合其结构和物理性质,探讨其优势和应用前景。本中期报告主要介绍试验设计和实验结果分析。第二部分:试验设计2.1材料制备本实验采用化学烧结法制备低介电铝硼硅酸盐玻璃,原料包括硅酸铝、硼酸、硅酸和氟化钙。首先,将这些原料按一定的比例混合均匀,并在空气中烘干,以去除其中的水分和杂质。接着,将混合后的粉末放入石英舟中,并加热至1350°C进行烧结。2.2样品制备为了研究低介电铝硼硅酸盐玻璃的电学和机械性质,本实验制备了不同厚度的PCB板样品,并选用标准的IPC(InstituteforInterconnectingandPackagingElectronicCircuits)测试方法进行电学和机械性能测试。2.3实验参数设置本实验主要测试了低介电铝硼硅酸盐玻璃的介电常数、耐热性、机械强度等性能指标。参数设置如下:(1)介电常数测试:采用IPC-TM-650中的测试方法,测试频率为1MHz。(2)耐热性测试:样品放入定温箱中,升温速率为5°C/min,保温时间为30min。(3)机械强度测试:采用三点弯曲法,测试样品尺寸为70mm×5mm×1mm,测试速度为0.5mm/min。第三部分:实验结果和分析3.1介电常数图1展示了低介电铝硼硅酸盐玻璃的介电常数随频率的变化情况。结果表明,低介电铝硼硅酸盐玻璃在1MHz频率下的介电常数约为3.5,比传统PCB材料的介电常数要低很多,表明该材料在高密度布线中具有潜在应用前景。3.2耐热性图2显示了低介电铝硼硅酸盐玻璃在不同温度下的质量损失率。实验结果表明,在800°C以下,该材料的质量损失率非常小,说明其具有很好的耐高温性能。3.3机械强度图3显示了低介电铝硼硅酸盐玻璃在三点弯曲试验中的载荷-位移曲线,并计算得到了其弹性模量和断裂强度。实验结果表明,该材料的弹性模量约为80GPa,断裂强度约为120MPa,与传统PCB材料比较,具有较高的强度和刚度。第四部分:结论和展望本研究通过制备低介电铝硼硅酸盐玻璃,进行了其性能测试。实验结果表明,该材料具有低介

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