凌达光电品质训练：制程能力分析

GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程能力分析凌达光电质量训练GIANTPLUSOPTOELECTRONICS大纲名词解释制程能力分析步骤GIANTPLUSOPTOELECTRONICS变异一般与特殊原因一般原因:制程中某些微小而不可避免的原因,现象所此造成之分配与时间的关系是稳定而可重复,可预测的.特殊原因:制程中不常发生但造成制程变异的原因,此现象所造成之分配与时间的关系是不稳定且无法预期的名词解释GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程能力当我们的制程处于稳定状态时,即对制程进行研究分出一般原因与特殊原因,消除特殊原因,只存在一般原因,此时的制程状况处于稳定状态即是我们所谓的制程能力侦查制程是否处于稳定状态,需要借助于管制图,通过管制图找出一般原因与特殊原因,确定制程状况,方可进行制程能力分析GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程准确度Ca(Capabilityofaccuracy)生产中所获得产品数据的实绩平均值(X)与规格中心值(u)其间偏差的程度即称之为(制程准确度),即衡量制程平均值与规格中心值两者间的一致性Ca=实际平均值-规格中心值规格公差/2*100%=(x-u)/T/2*100%注明:当为单边规格时无Ca值GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCa值的评估Ca值越小,品质越佳,为了便于区分制程实绩值(X)的好坏一般将Ca值分成4个等级作为评估的标准.A级:理想的状态故维持现状B级:尽可能调整﹑改进为A级C级:应立即检讨并予以改善D级:采取紧急措施,并全面检讨,必要时应考虑停止生产Ca反应工序实际平均值与规格中心值之间的差异GIANTPLUSOPTOELECTRONICSUCLLCL规格中心值制成平均值Ca=23%GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程精密度Cp(Capabilityofprecision)以规格公差(T)与自生产中所获得产品数据的6个估计绩标准差()其间相差程度,即在衡量规格公差范围与制程变异宽度两者之间相差的程度

Cp值=规格公差6个估计实绩标准差=T/6

双边规格时GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值=规格上限-平均值3个估计实绩标准差=USL-X/3

Cp值=3个估计实绩标准差=X-LSL/3

单边规格时规格下限-平均值GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值的评估Cp值越大,质量越佳,为了便于区分制程实绩估计标准差的好坏,一般将Cp值分成5个等级作为评估的标准.A+级:产品变异如大一些也不要紧,考虑管理的简单化或成本降低方法A级:理想的状态故维持现状B级:确实进行制程管理,使其保持在管制状态,当Cp

接近于1时,恐怕会产生不良品,尽可能改善为A级C级:生产不良品,产品须全数选别,并管理,改善制程D级:质量无法在满足的状态,须进行质量的改善,探求原因.须要采取紧急对策,并重新检讨规格GIANTPLUSOPTOELECTRONICSuLSLUSLCp说明尺寸分布的范围大小﹐并不说明尺寸分布局中心位置的远近

GIANTPLUSOPTOELECTRONICS规格中心值,制成中心值制成中心值Cp=1制程能力指数Cpk将Ca与Cp两值同时参考而对制程作一个客观评价的指标即Cpk,既考虑到变异的宽度,又考虑实绩平均值与规格中心值两者的比较.其计算公式有两种Cpk=(1-K)T6

=(1-|Ca|

)CpK=|X-u|T/2=|Ca|(1)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS当Ca=0时Cpk=Cp(单边规格时,Cpk即以Cp值计之)=Rd2(2)Cpk=Zmin3

Zmin=[Su-X与-(Sl-X)]的最小值d2之参考表GIANTPLUSOPTOELECTRONICS(1)(2)=

i=1n

(Xi-X)n-1(X为所有数据之平均值)=Rd2Zmin=[Su-X与-(Sl-X)]的最小值i=1n

(Xi-X)n-1

=

3

示例:在内胎压出工程其长度规格为750+/-10mm,而十一月份压出工程长度之实际平均值为749mm,实际估计标准差为4mm,计算十一月份之Ca,Cp,Cpk为何?十一月份Ca值=(x-u)/T/2*100%=(749-750)/10*100%=-10%(A级)Cp=T/6=20/6*4=0.83(C级)Cpk=Cp*(1-|Ca|)=0.83*(1-|-10%|)=0.747(C级)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS示例:GIANTPLUSOPTOELECTRONICSProcessCapability制程能力分析