基于ATPG的逻辑电路老化试验输入矢量选择方法研究的开题报告_第1页
基于ATPG的逻辑电路老化试验输入矢量选择方法研究的开题报告_第2页
基于ATPG的逻辑电路老化试验输入矢量选择方法研究的开题报告_第3页
全文预览已结束

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

基于ATPG的逻辑电路老化试验输入矢量选择方法研究的开题报告1.研究背景与意义随着现代集成电路技术的不断发展和广泛应用，在各种复杂电路中，出现由于器件老化引起的故障现象也越来越普遍。针对这个问题，很多学者已经针对老化测试进行了大量研究，并开发出了不同的老化测试方法，其中，基于ATPG（AutomatedTestPatternGeneration）的老化测试是一种常用的测试方法。在基于ATPG的老化测试过程中，输入矢量的选择对测试结果具有重要影响。不同的输入矢量具有不同的被测对象激励方式，因此选择适当的输入矢量对老化测试结果具有重要的意义。本研究旨在探讨基于ATPG的逻辑电路老化试验输入矢量选择方法，以提高老化测试的准确性和效率。2.研究内容本研究将围绕以下几个方面进行深入研究：(1)基于ATPG的逻辑电路老化测试概述分析。(2)基于ATPG的逻辑电路老化测试输入矢量选择方法研究。(3)基于输入矢量选择方法对逻辑电路老化测试结果进行分析和验证。3.研究方法本研究将采用理论分析和实验验证相结合的方法进行研究：(1)相关文献研究。通过对基于ATPG的老化测试相关文献的综述，总结和归纳相关方法及优缺点，为后续研究提供理论基础。(2)输入矢量选择方法设计。本研究将根据老化测试的特性，设计一种基于ATPG的输入矢量选择方法，并进行实验验证。(3)实验验证与结果分析。采用过程验证和结果验证相结合的方法进行实验验证，并通过数据分析、性能评估等方法对研究结果进行分析和评价。4.预期结果(1)设计出一种基于ATPG的逻辑电路老化试验输入矢量选择方法。(2)分析该方法对老化测试结果准确性和效率的影响。(3)对结果进行验证，通过实验数据分析与性能评估来验证研究成果。5.研究贡献本研究将会在以下几个方面做出贡献：(1)探究基于ATPG的逻辑电路老化试验输入矢量选择方法，提高老化测试的准确性和效率。(2)为逻辑电路老化测试的相关研究提供理论基础和实验方法，对电路老化测试研究具有一定意义。(3)为电路老化测试领域的研究提供新思路和新方法，从而提高电路老化测试领域的研究水平。6.研究计划(1)第一阶段：文献综述和分析。对基于ATPG的老化测试的相关文献进行梳理和分析，总结和归纳该领域研究现状和研究进展。(2)第二阶段：输入矢量选择方法设计。根据老化测试的特性，设计一种基于ATPG的输入矢量选择方法。(3)第三阶段：实验验证与结果分析。采用过程验证和结果验证相结合的方法进行实验验证，并通过数据分析、性能评估等方法对研究结果进行分析和评价。(4)第四阶段：论文撰写。整理并撰写本次研究的文章，包括研究意义、研究内容、研究方法和结论等方面。7.预期时间安排该研究预计在3年的时间内完成，具体时间计划如下：第一年：文献综述和分析。第二年：输入矢量选择方法设计。第三年：实验验证与结果分析，论文撰写和答辩。8.研究经费本研究所需经费约为50万元，主要包括硬

人人文库> 全部分类> 毕业设计 > 开题报告

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论