一种基于多向的红外焦平面阵列盲元检测方法_第1页
一种基于多向的红外焦平面阵列盲元检测方法_第2页
一种基于多向的红外焦平面阵列盲元检测方法_第3页
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文档简介

红外焦平面阵列中可能会出现一些故障,例如盲元(deadpixels)、暗电流(darkcurrent)等。这些故障会降低红外焦平面阵列的探测性能,同的盲元检测方法有不同的特点和适用范围。在传统的盲元检测方法中,通常采用单向扫描(如横向扫描、纵向扫描等)的方式进行盲元检测,(一)(二)该盲元点的最终分类结果。分类结果可以分为三类:正确分类的盲元点、误判的盲元点和未分类的盲元点。针对正确分类的盲元点和误判的盲元320×240的红外焦平面阵列进行实验,其中包含了结果如图1(a)所示。可以看出,单向盲元检测得到的结果准确度不高,1单向和多向盲元检测结果对比(a)单向盲元检测结果;(b)多向盲1(b)所示。可以看出,在多向扫描得到的

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