测量系统分析课件专题知识讲座

测量系统分析

(MeasurementSystemsAnalysis)测量系统分析课件专题知识讲座第1页主題探討量測系統分析概說量測系統變異類型怎样進行量測系統分析資料類型MSA解析與對策圖形與數字判讀测量系统分析课件专题知识讲座第2页量測系統分析概說製程中所獲取任何數據及量測資料都是『真值』嗎?假如你相信……那麼它們品質(精確性)有多好?你依據為何?客戶也認同嗎?假如你不相信……勢必後續分析，這些資料都不適用，那麼你又該怎麼辦?测量系统分析课件专题知识讲座第3页量測系統分析概說什麼是量測系統分析在量測過程中所得到『量測值』絕不會是『真值』，因為量測者所讀取數據包含了『真值』以及量測『變異』量測系統分析(MSA)提供一種系統性方法，以鑑別出整體製程變異中，有多少是來自於量測系統變異觀察值=實際值+量測誤差测量系统分析课件专题知识讲座第4页量測系統分析概說為什麼要進行量測系統分析確認当前量測系統是否可接收獲得精確量測資料找出量測系統變異源確認改进量測系統方向透過量測系統搜集流程中全部資訊，同時也依據它作為系統修正依據测量系统分析课件专题知识讲座第5页量測系統分析概說一個好量測系統應具備

1.適當鑑別度(Discrimination)及敏感度(Sensitivity)2.在統計管制內3.量測系統變異相對於規格限制必須要小4.有效解析度，且變異相對於製程變異必須要小测量系统分析课件专题知识讲座第6页测量系统所应含有之统计特征测量系统必须处于统计控制中，这意味着测量系统中变差只能是因为普通原因而不是因为特殊原因造成。这可称为统计稳定性。测量系统变差必须比制造过程变差小。变差应小于公差帶。1测量系统分析课件专题知识讲座第7页测量精度应高于过程变差和公差帶两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差帶两者中精度较高者十分之一。测量系统统计特征可能随被测项目改变而变化。若真如此，则测量系统最大变差应小于过程变差和公差帶两者中较小者。2测量系统分析课件专题知识讲座第8页标准国家标准第一级标准(连接国家标准和私人企业、科研机构等)初级标准第二级标准(从第一级标准传送到第二级标准)工作标准(从第二级标准传送到工作标准)

又叫生产标准3测量系统分析课件专题知识讲座第9页0120USLLSL什麼是量測系統變異我們量測系統是否變異太大，而無法發現当前流程變異水準?σ2量測變異(GRR)=σ2再生性(AV)+σ2再現性(EV)σ2總變異(TV)=σ2部品變異(PV)+σ2量測變異(GRR)测量系统分析课件专题知识讲座第10页量測系統變異類型你能够利用魚骨圖，找出可能造成量測系統變異原因!S.W.I.P.E.量測系統變異PersonWorkpieceStandardInstrumentEnvironment量測系統變異來源:测量系统分析课件专题知识讲座第11页测量系统评定测量系统评定通常分为两个阶段，称为第一阶段和第二阶段第一阶段：明白该测量过程並确定该测量系统是否满足我们需要。第一阶段试验主要有二个目标：确定该测量系统是否含有所需要统计特征，此项必须在使用前进行。发觉哪种环境原因对测量系统有显着影响，比如温度、湿度等，以決定其使用之空间及环境。4测量系统分析课件专题知识讲座第12页量測系統變異類型觀察到流程變異短期流程變異樣本內變異因條件改變所產生變異再生性(Reproducibility)長期流程變異實際流程變異量測變異相同條件下量測同一項目所產生變異再現性(Repeatability)準確性(Accuracy)穩定性(Stability)線性(Linearity)测量系统分析课件专题知识讲座第13页第二阶段评定目标是在验证一个测量系统一旦被认为是可行，应连续含有恰当统计特征。常见就是“量具R&R”是其中一个型式。5测量系统分析课件专题知识讲座第14页各项定义量具:任何用来取得测量结果装置，包含用来测量合格/不合格装置,(监视和测量)测量系统：用来取得表示产品或过程特征数值系统，称之为测量系统。测量系统是与测量结果相关仪器、设备、软件、程序、操作人员、环境集合。量具重复性：指同一个评价人，采取同一个测量仪器，屡次测量同一零件同一特征时取得测量值（数据）变差。6测量系统分析课件专题知识讲座第15页量具再现性：指由不一样评价人，采取相同测量仪器，测量同一零件同一特征时测量平均值变差。稳定性：指测量系统在某连续时间内测量同一基准或零件单一特征时取得测量值总变差。7测量系统分析课件专题知识讲座第16页偏倚:指同一操作人员使用相同量具，测量同一零件之相同特征屡次数所得平均值与采取更精密仪器测量同一零件之相同特征所得之平均值之差，即测量结果观察平均值与基准值差值，也就是我们通常所称“准确度”线性：指测量系统在预期工作范围内偏倚改变。8测量系统分析课件专题知识讲座第17页量测系统之测试方法应有书面化程序

l

范例l选择量测项目之规格及执行测试环境。l

要求数据搜集、统计及分析之方式。l定义主要条件及标准之作业方式。追溯之标准

测量系统分析课件专题知识讲座第18页选择/制订检定方法

当选择或制订检定方法时，普通考虑之原因以下：(1)

是否使用可追溯国家标准之标准？其适用标准是何级水准？标准通常为评定量测系统准确度之基本。在阶段二评定测试时，应采取盲目测量或是易于取得量测值方式。所谓盲目测试是指看成业者执行量测时，事先不知被测物是否有任何不一样，而在实际量测环境下执行量测。

测量系统分析课件专题知识讲座第19页选择/制订检定方法(1)

检定之成本。(2)

检定所需之时间。(3)

对于非众所皆知条文应给予定义，如再现性、再生性….等。(4)

是否此量测系统所取得之量测将用以比较其它量测系统所取得之量测？如是，则其中之一量测系统应考虑采取可追溯(1)项标准之检定方法。阶段二评定之频率，应视该量测系统之统计特征对设施之主要性而定

测量系统分析课件专题知识讲座第20页分析时机新生产之产品PV有不一样时新仪器，EV有不一样时新操作人员，AV有不一样时易损耗之仪器必须注意其分析频率。9测量系统分析课件专题知识讲座第21页量測值平均與實際值平均差異就是變異程度.經由最準確量測設備量測所得到實際平均值是最好.實際值平均量測值平均準確性量具準確性测量系统分析课件专题知识讲座第22页再現性=“獲得一致性結果”操作者在一段相對短期間內，使用相同量測儀器，對同一零件同一特征量測屡次，所得到量測變異。量具再現性相同量測條件時重覆量測變異也就是管制圖上RChart『組內變異』再現性测量系统分析课件专题知识讲座第23页在一段相對短期間內，因不一样操作者、相同環境、相同量具或相同設定等條件改變，量測同一零件同一特征，所得到量測平均值變異。

量具再生性ABC再生性不一样量測條件間量測變異。也就是管制圖上X-barChart『組間變異』测量系统分析课件专题知识讲座第24页再生性

指作业者变异是定值，由－CHART中比较每一平均值可发觉。再生性或作业者变异之预计标准差作业者变异或再生性为某一作业者最大平均全距与最小平均全距之差，但再生性受量具变异之影响，故必须减去量具变异，即调整后

n:零件数

r:量测次数测量系统分析课件专题知识讲座第25页對同一量具在不一样時間點量測相同部件所獲得最少兩組量測值之平均差異代表其穩定性。Time1Time2穩定性量具穩定性测量系统分析课件专题知识讲座第26页為什麼了解量測系統變異很主要?假如量測系統變異很大,會增加以下事件發生機率:規格範圍內產品會被拒絕,而且規格外產品可能會被接收重點是,我們必須知道實際流程變異中,量測變異到底有多大,而且這個變異有多少是因為量測系統所造成

量測系統變異必須加以驗證测量系统分析课件专题知识讲座第27页量測系統變異可能

扭曲真正製程能力量測系統變異愈高,觀測值相對於真值分散程度也愈大-4-3-2-101234LSLUSL真值觀測值测量系统分析课件专题知识讲座第28页對不適合量測單位

我們應採取什麼行動?若量測儀器允許,應儘可能量測或讀取小數點以下數位值有時量測單位太大或簡易，使量測者為防止(他們相信)讀取噪音(noise)，而在量測時縮短某部分水平應尋求量測單位較小(精度較小)量測儀器测量系统分析课件专题知识讲座第29页不適切量測單位這是最基本量測系統問題之一且並不需要特別研究就能够發現同時可藉由繪製流程輸出結果(推移圖),輕易發現鑑別力不夠是因為量測單位太大,而失去統計分析效果,即當量測單位大於流程標準差時,表示量測鑑別力不夠测量系统分析课件专题知识讲座第30页連續型資料量測系統普通性問題量測單位若太大,則無法適切反应出当前變異量測系統鑑別力不夠,是由於量測進位(round-off)太大不合適量測單位(measurementunits)1234567812345678测量系统分析课件专题知识讲座第31页R&R之分析決定研究主要变差形态对象.使用「全距及平均数」或「变差数分析」方法对量具进行分析.于制程中随机抽取被测定材料需属统一制程.选2-3位操作员在不知情狀況下使用校验合格量具分別对10个零件进行测量,测试人员将操作员所读数据进行统计,研究其重复性及再现性(作业员应熟悉並了解普通操作程序,防止因操作不一致而影响系统可靠度)同时评定量具对不一样操作员熟练度.10测量系统分析课件专题知识讲座第32页10

法則若量測系統要有效偵測流程變異它必須要具備足夠鑑別力(Adequatelevelofdiscrimination)最快方式就是應用10法則量具必須能夠將流程容差(processtolerance)區分為最少十個刻度(incrementsteps),以下圖所表示

容差(Tolerance)量具最大精度 1.0000.100 0.1000.010 0.0100.001規格上限10個以上刻度規格下限测量系统分析课件专题知识讲座第33页针对主要特征(尤指是有特殊符号指定者)所使用量具准确度应是被测量物品公差1/10,(即其最小刻度应能读到1/10过程变差或规格公差较小者;如:过程中所需量具读数准确度是0.01m/m,则测量应选择准确度为0.001m/m),以防止量具鉴別力不足，普通之特征者所使用量具准确度应是被测量物品公差1/5。试验完后,测试人员将量具重复性及再现性数据进行计算如附件一(R&R数据表),附件二(R&R分析汇报),依公式计算並作成-R管制图或直接用表计算即可11测量系统分析课件专题知识讲座第34页資料搜集普通GageR&R研究需符合以下條件要求：2~3位操作者量測10個部件每次量測重複2~3次如此能够讓我們計算以下量測變異：個別操作者及量具組內變異(再現性)不一样操作者組間變異(再生性)测量系统分析课件专题知识讲座第35页資料搜集(續)1.使用實際生產設備2.人員為經常使用該設備操作員3.以經常使用量具進行量測4.依據計劃進行資料搜集5.在現場(shopfloor)進行為了獲取量測系統實際變異(realmeasurementsystem)-我們要在實際流程中執行量測儘可能依日常活動(Businessasusual)來進行這個步驟测量系统分析课件专题知识讲座第36页结果分析:当重复性(AV)变差值大于再现性(EV)时.量具结构需在设计增強.量具夹紧或零件定位方式(检验点)需加以改进.量具应加以保养.当再现性(EV)变差值大于重复性(AV)时.作业员对量具操作方法及数据读取方式应加強教育,作业标准应再明确订定或修订.可能需要一些夹具帮助操作员,使其更具一致性使用量具.量具与夹治具校验频率于入厂及送修纠正后须再做测量系统分析,並作统计.12测量系统分析课件专题知识讲座第37页

测量系统R&R分析(均值——极差法)这里介绍惯用均值——极差法，用来研究测量系统双性：R&R。它也称大样法(LongMethod)。研究R&R前提是测量系统已经过校准，而且其偏倚、线性及稳定性已经过评价并认为可接收。13测量系统分析课件专题知识讲座第38页

MSA圖形解說分析%Tolerance=5.15*GRR/(USL-LSL)<30%(與規格公差比)%GRR=(GRR/TV)<30%(與總變異比)LSLUSL總變異TV=PV+GRR零件變異PV量測變異GRR類別型態1型態2型態3型態4%StudyVar<30%>30%<30%>30%%Tolerance<30%>30%>30%<30%判定OK改进量測改进零件數據搜集及改进量測可考量縮小公差或不改进型態1型態2型態3型態4LSLUSLUSLUSLUSLLSLLSLLSL改进量測改进量測改进零件分佈%StudyVar=(GRR/PV)<30%(與零件變異比)22测量系统分析课件专题知识讲座第39页以下举一经典情况说明此方法1确定M名操作者A、B、C……，选定N个被测零件，按1、2、……，编号。被选定零件尽可能反应整个过程变差。1.1测取数据：A以随机次序测取全部数据并统计之，B、C：在不知他人测量结果前提下，以一样方法测量各零件数据并统计之。再以随机次序重复上述测量r次(如2~3次)。14测量系统分析课件专题知识讲座第40页2数据处理2.1极差计算15测量系统分析课件专题知识讲座第41页2.2均值计算16测量系统分析课件专题知识讲座第42页3结果分析以下计算变差均以99%正态概率为基础，即变差=5.15σ。3.1重复性17测量系统分析课件专题知识讲座第43页3.2再现性18测量系统分析课件专题知识讲座第44页3.3测量系统双性（R&R）3.4零件变差零件数N23.6532.7042.3052.0861.9371.8281.7491.67101.6219测量系统分析课件专题知识讲座第45页3.5总变差3.6各变差占总变差百分比%AV=AV/TVX100%%R&R=R&R/TVX100%%PV=PV/TVX100%%EV=EV/TVX100%20测量系统分析课件专题知识讲座第46页应同时将EV、AV、R&R各值与公差带宽度比较，得出各变差占公差带百分比。%R&R可接收条件是：<10%可接收；10~30%——有条件可接收；>30%——不可接收，应改进。21测量系统分析课件专题知识讲座第47页数值<10%误差测量系统可接收.10%<数值<30%误差测量系统可接收或不接收,決定于该测量系统之主要性,量具成本、修理所需之费用等原因，可能是可接收.数值>30%误差测量系统不能接收,须给予改进.进行各种势力发觉问题并更正，必要时更换量具或对量具重新进行调整,並对以前所测量库存品再抽查检验,如发觉库存品已超出规格应马上追踪出货通知客戶,协调处理对策.量具重复性和再现性(R&R)可接收性准则：22测量系统分析课件专题知识讲座第48页习题：XYZ企业依据控制计划中要求针对游标卡尺作R&R分析，选定3名操作者A、B、C，选定10个被测零件，按1、2、……10编号，其所测结果均统计在表17-2中，请依据该表所测结果计算：EV=?,AV=?,R&R=?,PV=?,TV=?,%EV=?,%AV=?,%R&R=?,%PV=?,依据%R&R计算结果请判定此游标卡尺是否符合要求？23测量系统分析课件专题知识讲座第49页量測器具再現及再生性數表作業者/量測次數物件量測值平均值12345678910A123平均值

Xa=全距

Ra=B123平均值

Xb=全距

Rb=C123平均值全距零件(平均值)Xp

X=Rp=R(Ra+Rb+Rc)／作業人數=XDiff(MaxX－MinX)=UCLR

R*D4=LCLR

R*D3=D4=3.27(N=2)‵2.58(N=3);D3=0(=1~7)作業人數：日期：测量系统分析课件专题知识讲座第50页量測器具再現及再生性報告物件名稱(編號)：量測器具：日期：特征：量具編號：執行人：規格：量具形式：由數據表得Ｒ＝Xdiff=Rp=量測分析％製程變異再現性-量具變異(EV)EV＝R*K1＝％EV＝100（EV／TV）＝％量測次數K120.886230.5908再生性-作業者變異(AV)AV＝√(Xdiff*K2)－(EV／nr)＝％AV＝100（AV／TV）＝％零件數ｎ＝量測數r＝作業人數23K20.70710.5231再現性＆再生性（GRR）GRR＝√EV＋AV＝％GRR＝100（GRR／TV）＝％零件變異(PV)PV＝Rp*K3＝零件數K3％PV＝100（PV／TV）＝％20.707130.523140.446750.403060.3742全變異(TV)TV＝

√(GRR)＋PV＝70.3534

ndc＝1.41(PV/GRR)＝80.337590.3249100.3146222222测量系统分析课件专题知识讲座第51页量測系統分析（ＭＳＡ）理由校正合格：僅代表量具在正常操作下為合格

量測過程还有些人、量具及SOP等之變異原因存在，會影響量測結果再現性(EV量具變異)：同一作業者量測同物品相同特征之量測再現能力定義再生性(AV人變異)：不一样作業者量測同物品相同特征之量測再生能力零件間變異(PV)：量測不一样零件相同特征之變異GRR：即EV＋AV之加權平均數，為量具與人之變異情形全變異(TV)：為EV＋AV＋PV之加權平均數，為全部之總變異情形

原則要求人員：日常經常使用該量具人員或訓練合格者(可視情況選2-3人，其中1人最好為品管)對象：管制計劃中所使用之量測器具、設備(同類別只選一支即可)量具：量具刻度最好為規格界線之1/10(最少1/4)計量：普通依照產品類型取5-10PCS，最好依規格公差範圍以常態分配方式取樣，樣本需给予編號做法分析結果%GRR：10%OK；10~30%尚可接收；30%以上需進行改进先由一作業者先對各零件全部做第一次之量測後，接著再重複以上作業(普通需做2-3次)，量測時必須以“量測者不知前次量測結果”為原則，以確保資料之正確性再由另作業者同上述作業進行量測結果填入數據表，在依公式計算出結果EV＞AV：表示量具可能存在異常現象AV＞EV：表示人員訓練及SOP等可能存在異常現象樣本檢具(GO-NOGO)：普通依產品類型取20PCS，NOGO部份最好需有30%以上，樣本需给予編號Ndc：普通需>10表示解晰能力足夠計量檢具各量測結果須完全一樣才判定OK测量系统分析课件专题知识讲座第52页量測器具再現及再生性數表作業者/量測次數物件量測值平均值12345678910A13.153.153.183.183.143.193.153.113.153.1223.153.163.183.193.143.203.143.113.143.123平均值3.1503.1553.1803.1853.1403.1953.1453.1103.1453.120Xa=3.153全距0.000.010.000.010.000.010.010.000.010.00Ra=0.005B13.163.173.193.193.153.213.163.123.153.1223.163.163.183.183.153.203.153.113.143.133平均值3.1603.1653.1853.1853.1503.2053.1553.1153.1453.125Xb=3.159全距0.000.010.010.010.000.010.010.010.010.01Rb=0.008C123平均值全距零件(平均值)Xp3.1553.1603.1833.1853.1453.2003.1503.1133.1453.123X=3.156Rp=0.088R(Ra+Rb+Rc)／作業人數=0.006XDiff(MaxX－MinX)=0.006UCLR

R*D4=0.021LCLR

R*D3=0D4=3.27(N=2)‵2.58(N=3);D3=0(=1~7)作業人數：2日期：89.02.05测量系统分析课件专题知识讲座第53页量測器具再現及再生性報告222222物件名稱(編號)：量測器具：日期：特征：量具編號：執行人：規格：量具形式：由數據表得Ｒ＝0.006Xdiff=0.006Rp=0.088量測分析％製程變異再現性-量具變異(EV)EV＝R*K1＝0.005％EV＝100（EV／TV）＝17.24％量測次數K120.886230.5908再生性-作業者變異(AV)AV＝√(Xdiff*K2)－(EV／nr)＝

0.004％AV＝100（AV／TV）＝13.79％零件數ｎ＝10量測數r＝2作業人數23K20.70710.5231再現性＆再生性（GRR）GRR＝√EV＋AV＝0.006％GRR＝100（GRR／TV）＝20.69％零件變異(PV)PV＝Rp*K3＝0.028零件數K3％PV＝100（PV／TV）＝96.55％20.707130.523140.446750.403060.3742全變異(TV)TV＝

√(GRR)＋PV＝0.02970.3534

ndc＝1.41(PV/GRR)＝6.5880.337590.3249100.3146测量系统分析课件专题知识讲座第54页稳定性分析之执行:选取一个样品,並建立可追溯标准之真值或基准值,若无样本则可从生产线中取一个落在中心值域零件,当成标准值,且应针对预期测试值最低值，最高值及中程数标准各取得样本或标准件,並对每个样本或标准件单独测量并绘制控制图.(所以可能是须做三张控制图来管制仪器之高、中、低各端，但普通而言，只需做中间值那个就能够了)24测量系统分析课件专题知识讲座第55页定时(时、天、周)对标准件或样本测量3～5次.注意,決定样本量及频度考虑因素应包括要求多长时间重新校正或修理次数,测量系统使用频度与操作环境(条件)等.将测量(数据)值标記在X-RCHART或X–SCHART上.计算管制界限,确定每个曲线控制限并按标准图判断失控或不稳定状态。25测量系统分析课件专题知识讲座第56页计算标准差,並与测量过程偏差相比较,以评定测量系统重复性是否适于应用.不能够发生此项之标准大于过程标准差之现象，假如有发生此现象，代表测量之变异大于制程变异，此项仪器是不可接收。26测量系统分析课件专题知识讲座第57页稳定性之判定：稳定性之判定普通之方式和控制图之判定方式是一致，(一)不能够有点子超出控制界限，(二)不能够有连续三点中有二点在A区或A区以外之位置，(三)不能够有连续五点中有四点在B区或B区以外之位置，(三)不可有连续八点在控制图之同一侧，(四)不能够有连续七点连续上升或下降之情形；假如有以上之情形，代表仪器已不稳定，须做维修或调整，维修及调整完后须再做校正以及稳定性之分析。27测量系统分析课件专题知识讲座第58页偏倚分析之执行:独立取样法:选取一个样品,並建立可追溯标准之真值或基准值,若无样本则可从生产线中取一个落在中心值域零件,当成标准值,且应针对预期测试值最低值，最高值及中程数标准各取得样本或标准件,每个样本都要求单独分析，並对每个样本或标准件测量10次,计算其平均值,将其当成“基准值”.由一位作业者以常规方式对每个样本或标准件测量10次.並计算出平均值,此值为“观察平均值”.28测量系统分析课件专题知识讲座第59页计算偏倚:偏倚=观察平均值–基准值制程变异=6δ假如需要一个指数，把偏倚乘以100再除以过程变差(或公差)，就把偏倚转化为过程变差(或公差)百分比，偏倚占过程变差百分比计算以下：偏倚%=100[(偏倚)/过程变差]偏倚占公差百分比采取一样方法计算，式中用公差代替过程变差。29测量系统分析课件专题知识讲座第60页判定:针对偏倚之部份，判定之原则为：重要特性部份其偏倚%须<=10%；一般特性其偏倚%须<30%；应依据仪器之使用目来说明其接受之原因。其偏倚%大于30%者，此项仪器不适合使用。30测量系统分析课件专题知识讲座第61页假如偏倚较大，查找以下可能原因：标准或基准值误差，检验校准程序。仪器磨损，主要表现在稳定性分析上，应制订维护或重新修理计划。制造仪器尺寸不对。仪器测量了错误特征。仪器校准不正确，复查校准方法。评价人员操作仪器不妥，复查检验方法。仪器修正计算不正确。31测量系统分析课件专题知识讲座第62页线性分析之执行独立取样法:针对产品所须使用之范围，利用标准件或产品样本(普通区分为五个等分，其范围须包含产品之规格公差之范围)来做仪器之线性分析，假如是采取标准件须有真值，假如是使用产品样本时，则这些产品样本须先经精密测量十次以上，再给予平均，以此当做是「真值」或「基准值」。由一位作业者以常规方式对每个样本或标准件测量10次.並计算出平均值,此值为“观察平均值”.32测量系统分析课件专题知识讲座第63页计算偏倚:偏倚=观察平均值–基准值过程变差=6δ绘图:X轴=基准值Y轴=偏倚其方程式为:y=a+bx再分別计算其截距，斜率，拟合优度，线性，线性%等33测量系统分析课件专题知识讲座第64页公式34测量系统分析课件专题知识讲座第65页判定:针对主要特征其线性度%<5%普通特征其线性度%<10%线性度%>10%以上者判为不合格，此项之仪器不适合使用。35测量系统分析课件专题知识讲座第66页假如测量系统为非线性，查找以下可能原因：在工作范围内上限或下限内仪器没有正确校准最小或最大值校准量具误差磨损仪器仪器固有设计特征36测量系统分析课件专题知识讲座第67页何谓计数型量具就是把各个零件与一些指定限值相比较，假如满足限值则接收该零件不然拒收。计数型量具不能象计量型量具指示一个零件多么好或多么坏，它只能指示该零件被接收还是拒收。37测量系统分析课件专题知识讲座第68页小样法之做法先选取二十个零件来进行。选取二位评价人以一个能预防评价人偏倚方式两次测量全部零件。在选取二十个零件时，必须有一些零件稍许高或低于规范限值。全部测量结果(每个零件测四次)一致则接收该量具，不然应改进或重新评价该量具，假如不能改进该量具，则不能被接收而且应找到一个可接收之替换测量系统。38测量系统分析课件专题知识讲座第69页

A

评价人

B

评价人

1

2

1

2

1

G

G

G

G

2

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3

NG

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4

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8

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9

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